Способ определения деформаций образца
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 669183
Авторы: Буйновский, Ларин
Текст
ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(22) Заявлено 06.1276 (21) 2427899/25-28 Союз Советскик Социалистических Республик(51)М. Кл.2 с присоединением заявки Йо 6 01 В 11/16 Государственный комитет СССР по делам изобретений н открытий(71) Заявитель 41 СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ОБРАЗЦ Изобретение касается определения деформаций с применением муаровых полос.Известен способ определения деформаций, который заключается в том, что5 на исследуемую поверхность образца наносят эталонный растр, образец деформируют. Растры до и после деформации фотографируют, Совмещая деформиро-О10 ванный растр с эталонным, получают картину муаровыхполос, по которой строят график перемещения точек деформируемого тела, Дифференцируя. этот график, определяют значения деформаций точек тела (1, 15Однако из-эа низкой точности этого способа при небольших значениях деформации образуется малое количество муаровых полос.20 Известен способ определения деформаций образца, заключающийся в том, что на образец наносят растр с заданным шагом, деформируют образец, изготавливают две копии деформированного растра, накладывают их одну на другую, сдвигают в направлении координатных осей, и фиксируют картину муаровых полос, по которой определяют деформации Г 21Трудоемкость указанного способасвязана с тем, что при сдвиге необходимо постоянно определять порядок муаровых полос по номеру линий деформированного растра.Целью изобретения является снижение трудоемкости и повышение точностиопределения деформаций,Это достигается тем, что после фиксации картины муаровых полос измеряютрасстояния между ними, затем дополнительно сдвигают деформированные растры, измеряют сдвиг муаровой полосы,по которым определяют деформацию образца.Сущность способа заключается в том,что на поверхность образца, напримердиаметром 50 мм наносят растр шагом0,4 мм. Образец обжимают на величину6. Полученный растр фотографируютпосле деформации, затем путем фотографирования изготовляют копии деформированного растра, накладывают их однуна другую и сдвигают одну копию относительно другой на 0,05 мм, В результате сдвига появляются муаровые полосы, Фиксируют положение этих полос иизмеряют между ними расстояние.Затем дополнительно сдвигают однукопию относительно другой на величи.Заказ 3645/31 Тираж 86 5 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035 Москва ЖРа шская наб.Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 ну О 2 мм и определяют отношение ве-1Рличины перемещения растра к величине перемещения муаровой полосы, Зная это отношение и расстояние между муаровыми полосами, определяют шаг растра как произведение этих величин, Деформацию в точке на поверхности образца определяют делением разности значений шага растра до и после деформации на шаг растра до деформации,Использование предлагаемого способа позволит повысить точность опреде-Ю ления величины деформации образца тогда, когда неизвестными являются параметры растра (шаг и геометрия растра), а также снизит трудоемкость способа эа счет исключения операции определения номера линии растра. Формула изобретения20Способ определения деформаций образца, заключающийся в том, что на образец наносят растр с заданным шагом, деформируют образец, изготавливают две копии деформированного растра,накладывают их одн 1 на другую, сдвигают в направлении координатных осей ификсируют картину муаровых полос, покоторой определяют деформации, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью снижения трудоемкости и повышения точности определения деформаций,после фиксации картины муаровых полосизмеряют расстояния между ними, затемдополнительно сдвигают деформированные растры, измеряют сдвиг муаровойполосы, по которым определяют деформацию образца.Источники информации, принятые вовнимание при экспертизе .1. Паркс А. и Дюрелли В, Анализ деформаций с использованием муара, М.,Мир, 1974, с, 175-183,2. Паркс А., Дюрелли В, Анализ деформаций с использованием муара, М.,Мир, 1974, с. 184-192.
СмотретьЗаявка
2427899, 06.12.1976
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8173
ЛАРИН ГЕННАДИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, БУЙНОВСКИЙ АНАТОЛИЙ МИХАЙЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, образца
Опубликовано: 25.06.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-669183-sposob-opredeleniya-deformacijj-obrazca.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения деформаций образца</a>
Способ определения деформации многослойного образца
Номер патента: 1262279
Опубликовано: 07.10.1986
Авторы: Беспалов, Кучерова, Кучеряев, Михина, Пивоваров, Федоров
МПК: G01B 11/16
Метки: деформации, многослойного, образца
...у которых оболочку вьшолняк)т из сплава АД 1, а сердечник из сплава 1201, причем внешний диаметр образца 7,2 10 м, диаметр сердечника 3,6 10м, длина образца 1,2 10 м "- 35 В меркдиальной плоскости разъема конт рольных однослойных и двухслойных образцов механическим способом наг)сят одинаковый растр с шагом 0,2 10м, причем па одну плоскость наносят продольный растр, и 40 на другую поперечный. Для предотврац 1 ения разрушения растров в про 1 ессс пластической деформации на плоскости раз ьема наносят слой графитаПосле этого собрг- пые образцы помещают в обоз)чкс из спл- ва АД 1 с толщиной стенки 2,0 10и заходным конусом, равным углу конусности мат - рицы. Образцы подвергают гидропрессов- нию при температуре 693 К с коэффициентами вытяжки...
Способ получения муаровых полос
Номер патента: 684300
Опубликовано: 05.09.1979
МПК: G01B 11/16
...на поверхность изделия наносят растр, деформируют изделие и получают картину муаровых полос путем сравнения с эталонным растром, накладываемым на поверхность изделия 12.Недостатком известного способа является невысокое качество картины муаровых полос из-за невысокой точности совмещения растров. Целью изобретения является повышение качества картины муаровых полос.Указанная цель достигается тем, что эталонный растр наносят на поверхность изделия.Способ осуществляется следующим образом. На поверхность исследуемого изделия механически или фотоспособом наносят растр, деформируют изделие, наносят на поверхность изделия эталонный растр и получают картину муаровых полос. Точное совмещение растров путем использования одной и той же системы...
Способ измерения деформаций многослойных образцов
Номер патента: 937987
Опубликовано: 23.06.1982
МПК: G01B 5/30
Метки: деформаций, многослойных, образцов
...рентгенонепро. нипаемый материал, рентгенографируют образец до нагружения и после нагруже- з ния, сравнивают снимки и по результатам сравнения определяют деформацию образца, нанесение рентгенонепроницаемого мате-. риала осуществляют путем введения его в поры каждого слоя материала исследуеО мого образца.Способ осуществляется следующим образом.В процессе изготовления многослойного образца нанесение рентгенонепрони цаемого материала осуществляют путем введения его в поры каждого слоя материала исследуемого образца, например вакуумированием. для этого в вакуумную камеру помещают разобранный образец 2 О с напиленными частицами рентгенонепро кидаемого вещества и создают вакуум. Во время процесса вакуумирования очищаются опоры образца и...
Способ получения и фиксирования картины муаровых полос
Номер патента: 1716323
Опубликовано: 28.02.1992
Авторы: Колмогоров, Конников, Макарова, Скиба, Ширинкин
МПК: G01B 21/00
Метки: картины, муаровых, полос, фиксирования
...возможных значений шага сетки растра на телевизионном экране зависит от размера экрана, разрешающейспособности телевизионного экрана. Растрсетки на экране телевизионной камеры удобен для случая, когда объект подвергается растяжению, В случаях же сжатия используют шаг сетки растра, наносимый на поверхность объекта заведомо меньшей величины,чем шаг сетки растра на телеэкране, или, как ранее указывалось, перемещают объектив камеры, удаляя его от объекта,На поверхность исследуемого объектананосятсетку растра любым иа известных способов, Затем сетку растра на поверхности объекта проектируют через обьектив на видикон приемной телевизионной камеры. которая взаимодействует с растром видикона, образуя картину муаровых полос на экране,...
Устройство для определения скоростей наростания деформаций в образцах, подвергаемых ударному испытанию
Номер патента: 9558
Опубликовано: 31.05.1929
Автор: Чебышев
Метки: деформаций, испытанию, наростания, образцах, подвергаемых, скоростей, ударному
...в момент разрыва образца.Предлагаемое устройство состоит из записывающего камертона К, укрепленного на опоре В для испытуемого образца в машине для ударного испытания материалов и снабженного острием, соприкасающимся с приемником записи, в ви. де, напр. пластинси П, помещенной на другой опоре А испытуемого образца в той же машине. Поверхность приемника лежит в плоскости параллельной движению ударной части испытательной, машины : и покрывается для получения записей колебаний воском, сажей илит. п. (фиг. 1, 2),В процессе испытания (напрмаятниковым копром типа Шарпи)вследствие деформаций испытуемого образца, опоры А и В получают относительное друг к другуперемещение, а вместе с ними такое же перемещение получают иукрепленные на них...
Предыдущий патент: Устройство для центрирования изображений
Следующий патент: Устройство для контроля формы светового волнового фронта
Случайный патент: Установка для приготовления асфальтовых смесей