Способ интерференционного определения деформаций
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1705701
Автор: Черновол
Текст
(19) (11) 1 А 01 В 11 1 РИ ГКНТ СССР ЕТЕНИЯ(56) ТесЬпэи75-80. юл, М 2вол88.8)МесЬапй, 1983, ч, 4 2,я схема наблюиг. 2 - екл-инГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ ИСАНИЕ ИЗО ТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬС ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО Я ДЕФОРМАЦИЙие относится к измеритель- ожет быть использовано при деформированного состояй методом спекл-интерфероизобретения - расширение мерений. Освещают обьект излучением, записывают рограмму объекта, после на(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИ (57) Изобретен ной технике и м исследовании ния конструкц метрии. Цель диапазона и когерентным спекл-интерфе Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследовании деформированного состояния конструкций методом спекл-интерферометрии.Цель изобретения - расширение диапазона измерений.На фиг. 1 изображена оптическадля записи спекл-интерферограмм и дения субъективных спеклов; на ф схема для оптической фильтрации сп терферограммы.На оптической схеме показаны когерентное излучение 1. освещающее поверхность объекта 2, устройство 4 сдвига изображений, объектив 3. плоскость 5, в которой при записи спекл-интерферограммы располагается фоточувствительный слой регистратора, а при наблюдении субъективных спеклов гружения объекта вновь на ту же фотопластинку записывают спекл-интерферограмму объекта, восстанавливают полученную двух- экспозиционную спекл-интерферограмму и регистрируют картину интерференционных полос. После этого вновь осуществляют нагружение объекта и одновременно наблюдают картину субъективных спеклов в плоскости записи спекл-интерферограммы, и по ее изменению в процессе нагружения судят о порядке интерференционных полос, При наблюдении картины спеклов может фиксироваться как направление смещения спеклов на выделенном участке, так и величина этого смещения; Затем по интерференционной картине с учетом определения порядков полос рассчитывают деформацию объекта. 2 з,п. ф-лы, 2 ил. располагается плоскоСть фокусировки микроскопа 6, Схема оптической фильтрации спекл-интерферограммы 8 включает непрозрачный экран 9 с отверстием и сходящийся пучок 7 света.Способ осуществляют следующим образом (фиг.1).Излучение 1 лазера, рассеянное поверхностью объекта 2, проходит через устройство 4 сдвига иэображений и объектив 3 и попадает в точку плоскости 5, в которой располагается светочувствительный слой фотопластинки, При деформировании поверхности объекта 2 фазы световых лучей, попадающих в точку плоскости 5, изменяются пропорционально линейной комбинации перемещений и деформации поверхности объекта 2 и на той же фотопластинке повторно записывают спекл-интерферог1705701 фа 8.2Составитель В,Климовадактор М.Кобылянская Техред М.Моргентал КоРРектоР М,Дем роизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина квз 188 Тираж ВНИИПИ Государственного комитета по изобрет 113035, Москва, Ж, Раушс
СмотретьЗаявка
4739725, 25.10.1990
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4725
ЧЕРНОВОЛ АЛЕКСЕЙ НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, интерференционного
Опубликовано: 15.01.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1705701-sposob-interferencionnogo-opredeleniya-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ интерференционного определения деформаций</a>
Предыдущий патент: Устройство для контроля толщины пленок, в процессе напыления осаждением в вакуумной камере многослойного оптического покрытия
Следующий патент: Автокорреляционный способ статистической оценки погрешности формы оптической поверхности детали
Случайный патент: Устройство для пункции полых органов