Способ определения деформаций поверхности изделий

)5 6 ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕВЕДОМСТВО СССР(ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ тение отн е, в частно устройств ченным дл подвижно ьевой фор емя ее ра хода и во в У Изобреной техникритуальнымпреназнасмещенийуформ литдруга во врхолостогоала В форм осится .к измерительсти к оптическим измеам их осуществляющим, я определения малых й и неподвижной полмы друг относительно боты, то есть во время ремя заливки материВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(56) Авторское свидетельство СССР )ч. 1522019; кл. 6 01 В 5/14, 1989.;Авторское свидетельство СССР М 1.379614, кл. 6 01 В 11/16, 1986, (54)СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЙ(57) Изобретение относится к измерительной технике, предназначен для определения малых смещений подвижной и неподвижной полуформ литьевой формы друг относительно друга. Целью изобретеИзвестен способ определения зазора между внутренними формообразующими поверхностями деталей литьевых форм, заключающийся в том, что в зазор вводят вкла,цыш, смещают одну из поверхностей отнбсительно другой. В качестве смещения измеряют величину смещения наружных поверхностей деталей, а величину зазора определяют разницей между размером ния является повышение точности определения деформаций. Размещают на поверхности изделия уголковый отражатель, направляют пучок излучения на одну иэ граней отражателя, регистрируют характеристики излучения, отраженные от другой грани отражателя, и судят о деформациях поверхности иэделия, на изделии размещают второй уголковый отражатель ортогонально по отношению к первому, направляют пучок излучения на одну из его граней и регистрируют характеристики излучения, отраженные от другой грани, о деформациях поверхности изделия судят по измеренным значениям смещений отражателей, а направление пучка излучения и регистрацию характеристик отраженного излучения производят одновременно для обоих отракателей. 3 ил,вкладыша и величиной смещения наружных поверхностей деталей,Недостатками этого способа являются невозможность определения зазора между формообразующими поверхностями во время заливки материала в литьевую форму, то есть во время ее работы, а также малая производительность измерений и невозможность непрерывного измерения искомого зазора,За прототип выбран способ определения деформации поверхности иэделия, при котором на поверхности изделия выполняют паз призматической формы со светоотражательными гранями и по измерению характеристик отраженного от светоотражательной грани луча судят о деформации поверхности иэделия. Недостатком этого способа является низкая точность измере1795270 5 10 15 50 55 ния, т.к, здесь определяется только одна составляющая вектора смещения контролируемого объекта,Целью изобретения является устранение недостатка прототипа, то есть повышение точности определения деформаций.Поставленная цель достигается за счет того. что в известном способе определения деформаций, поверхности изделий, заключающемся в том, что размещают на поверхности изделия уголковый отражатель, направляют пучок излучения на одну из граней отражателя, регистрируют характеристики излучения, отраженные от другой грани отражателя и судят о деформациях поверхности изделия, на изделии размещают второй уголковый отражатель ортогонально по отношению к первому, направляют пучок излучения на одну из его граней и регистрируют характеристики излучения, отраженные от другой грани, о деформациях поверхности изделия судят по измеренным значениям смещений отражателей, а направление пучка излучения и регистрацию характеристик отраженного излучения производят одновременно для обоих отражателей.На фиг,1 показан вид на подвижную и неподвижную части литьевой формы; на фиг.2 показан разрез А-А на фиг.1; на фиг.3 - разрез Б-Б на фиг.1.Способ измерения смещения полуформ литьевой формы заключается в том, что в подвижной полуформе 1, содержащей пуансон 2, центрирующие втулки 3, размещают ортогонально друг другу два уголковых отражателя - угловых зеркала 4 и 5. В неподвижной полуформе 6, содержащей центрирующие колонки 7, матрицу 8, литниковые каналы 9, напротив угловых зеркал 4 и 5 располагают 4 оптических канала 10, 11, 12, 13. Причем в каналах 10 и 12 размещают осветительные системы, а в каналах 11 и 13 - наблюдательные системы.При смыкании полуформ 1 и 6 в ход лучей между осветительной и наблюдательной системой попадают зеркала 4 или 5, При смещении полуформ 1 относительно полФормула изобретения Способ определения деформаций поверхности изделий, заключающийся в том, что размещают на поверхности изделия уголковый отражатель, направляют пучок излучения на одну из граней отражателя, регистрируют характеристики излучения,уформ 6 (из-за силы тяжести, или усилий при впрыске материала) пуансон 2 смещается относительно матрицы 8, при этом происходит смещение зеркал 4 и 5 на величину У и Х соответственно. Из-за того, что угол в зеркалах 90, лучи выходящие из них, смещаются на величины 2 Х и 2 У соответственно, что и фиксируют в наблюдательных системах, расположенных в каналах 11 и 13. То есть мы получаем, что вектор смещения неподвижной полуформы относительно подвижной полностью определяется величинами своих составляющих, При этом способе определяется величина То есть при смещении полуформы нанекоторую величину происходит смещение20 пучков на удвоенное значение этой величины. Устройство, осуществляющее этот способ, состоит из (фиг.2, 3) осветительной системы источника света 14, конденсатора 15, шкалы с риской 16, объектива 17, отклоняющей системы - углового зеркала 4 и 5, наблюдательной системы - объектива 18, шкалы с делениями 19, объектива 20, плоского зеркала 21 и экрана 22 (фиг.1).Устройство работает следующим обраПри сомкнутых полуформах 1 и 6 лучи отисточника света 14, освещают с помощью конденсатора 15, шкалу 16. Объектив 17 проецирует шкалу 16 в предметную плоскость объектива 18, при этом лучи - отражаются от углового зеркала 4 и 5. Объектив 18 строит изображение шкалы 16 в плоскости сетки с делениями 19, а объектив 20 проецирует сетку 19 на экран 22.40 Технико-экономическая эффективность предлагаемого изобретения заключается в повышении точности измерения, которая позволит точнее определить смещение полуформ, что в свою очередь уве личивает их ремонтоспособность, что даетэкономию примерно 500 руб. на одну литьевую форму. отраженные от другой грани отражателя. и судят о деформациях поверхности изделия, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности определения деформаций, на изделии размещают второй уголковый отражатель ортогонально по отношению к первому, направляют пучокизлучения на одну из его граней и регистрирувт характеристики излученияотраженные от другой грани, о деформациях поверхности изделия судят по измеренным значениям смещений отражателей, а направление пучка излучения и регистрацию характеристикотраженного излучения производят одновременно для обоих отражателей.1795270 Редакто аказ 422 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 здательский комбинат "Патент", г. Ужгород. ул.Гагарина, 101 роизводстве Состав Техред г.З. ль Л.РыжиковМоргентал Корректор Н.Слобод