Устройство для измерения деформаций материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
.ф, ".": О 1:ЦЬ-,":д4/ ПИСАН ОРСКОМУ СВИДЕТЕ Кг У р:д- Лу 1(71) Научно-исследовательский институт электрофизической аппаратуры им. Д.В.Ефремова(56) Авторское свидетельство СССР М 1224574, кл. О 01 В 11/18, 1986.Авторское свидетельство СССР М 1312379, кл, 6 01 В 11/16, 1987,Авторское свидетельство СССР М 1255857, кл. 0 01 В 11/18, 1987.(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ МАТЕРИАЛОВ(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения деформаций в конструкциях, работающих в условиях сильных магнитнйх полей, радиационных излучений, под вцсоемено. Изобретение относится к измеритель. ной технике и может быть использовано для. измерения деформаций в конструкциях, работающих в условиях сильных магнитных полей, радиационных излучателей, под высоким потенциалом, в.широком диапазоне температур, во взрывоопасных средах,Известно устройство для измерения деформаций материалов, содержащее источник света, световодц, чувствительный элемент, фоторегистратор. Узел стыковки световодов, являющийся чувствительным элементом, выполнен в виде втулки, в кото. рой между торцами световодов расположен растр, шарнирно связанный с ним. На выходном торце второго световода, взаимотором, распо во для измере е источник свеу пучка света одном из торной конец сверой световод, плен в другом рой прозрачваай тройств являмерении вы ом метода ове конструкГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫПРИ ГКНТ СССР ким потенциалом, в широком диапазоне температур, во взрывоопасных средах, Цель " изобретения - повышение точности измерения деформаций материалов и за счет этого - точности определения параметров нап ря-. женно-деформированного состояния конструкций. Свет от источника света с помощью приемного световода подают на чувстви- тельный элемент, наклеенный на исследуемый объект. Чувствительный элемент выполнен в виде подложки, на которой низкомодульным компаундом зафиксированы торцы оптических волокон приемйого и передающего световодов, При деформировании объекта изменяется расстояние между торцами волокон, что приводит к изменению интенсивности света, идущего по передающему световодунаприемник . излучения. По величине изменения интенсивности света судят о величине деформации. 2 ил. действующего с фоторегистра ложен второй растр. Известно также устройст ниядеформаций,содержаще та и расположенный по ход световод, резиновую трубку, в цов которой закреплен выход товода, прозрачный растр, вто входной конец которо о закре конце резиновой трубки, вто нцй растр и фоторегистратор Недостатком известных ус ется большая погрешность из званная несовершенств измерений, заложенного в осн ций устройств.Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является устройстводля измерения деформаций, содержащееисточник света, приемный и передающийсветоводы, соединенные чувствительным 5элементом, выполненным в виде стыковочного узла, приемник излучения и регистратор.Недостатком известного устройства является большая погрешность измерений, 10вызванная большой толщиной чувствительного элемента и отсутствием фиксированной базы измеренийЦель изобретения - повышение точности измерения деформаций материалов и эа 15счет этого - точности определения параметров напряженно-деформированного состо, яния конструкций,Поставленная цель достигается тем, чтов устройстве для измерения деформаций 20материалов, содержащем источник света,приемный и передающий световоды, соединенные чувствительным элементом, выполненным в виде стыковочного узла,приемник излучения и регистратор, чувствительный элемент выполнен в виде подложки толщиной 5-20 мкм, на которой спомощью ниэкомодульного компаунда зафиксированы торцы приемного и передающего световодов, образующие базу 30измерений, в на участке базы измерений наподложку и торцы световодов нанесен антиадгезив.На фиг. 1 представлена блок-схема устройства для измерения деформаций материалов; на фиг. 2 - чувствительный элементустройства, разрез по оптической оси.Устройство для измерения деформацийматериалов содержит источник 1 света, приемный световод 2, чувствительный земент 403, передающий световод 4, приемник 5 излучения и регистратор 6 (фиг. 1).Чувствительный элемент 3 (фиг, 2) выполнен в виде подложки 7 толщиной 5-20 мкм, на которой с помощью низкомодульного компаунда 8(например, эпоксидной смолы) зафиксированы торцы.оптических волокон 9 приемного и передающего световодов 2 и 4, образующие базу измерений, На участке базы измерений на подложку 7 и торцы волокон 9 нанесен антиадгезив 10 (например, каучук СКТ).Устройство работает следующим образом,Свет от источника 1 с помощью приемного световода 2 подается на чувствительный элемент 3, наклеенный на исследуемый объект 11 (фиг. 2), При деформировании объекта 11 изменяется расстояние между торцами волокон 9, что приводит к изменению интенсивности светового потока, передаваемого по передающему световоду 4 на приемник 5 излучения,Наличие чувствительного элемента 3, имеющего малую толщину(диаметр волокна 9+ толщина подложки 7) и практически любую базу измерений, позволяет значительно увеличить точность определения деформации материала и эа счет этого - точность определения напряженно-деформированного состояния конструкции.Формула изобретенияУстройство для измерения деформаций материалов, содержащее источник света, приемный и передающий световоды. соединенные чувствительным элементом,в виде стыковочного узла, приемник излучения и регистратор, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что. с целью повышения точности, чувствительный элемент выполнен в виде подложки толщиной 5 - 20 мкм, на которой с помощью низкомодульного компаунда зафиксированы торцы приемного и передающего световодов. образующие базу измерений, а на участке базы измерений на подложку и торцы световодов нанесен антиадгезив.1747879 фРГ. У Составитель В.КостюченкоРедактор В,Фельд н Техред М.Моргентал Корректор Н.Ревская ма Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул. Гагарина, 101 Заказ 2492 Тираж . Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5
СмотретьЗаявка
4835992, 07.06.1990
НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКОЙ АППАРАТУРЫ ИМ. Д. В. ЕФРЕМОВА
КОВАЛЕВА ИРИНА ДМИТРИЕВНА, СЕМЕНОВ ОЛЕГ ВЛАДИМИРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций
Опубликовано: 15.07.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1747879-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-deformacijj-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения деформаций материалов</a>
Предыдущий патент: Способ бесконтактного определения геометрических параметров отверстий
Следующий патент: Устройство для контроля кривизны поверхности
Случайный патент: Устройство для механизированного ультразвукового контроля сварных швов