Патенты с меткой «оптических»
Устройство для обработки оптических поверхностей деталей
Номер патента: 673427
Опубликовано: 15.07.1979
Автор: Наумов
МПК: B24B 13/00
Метки: оптических, поверхностей
...и водил пересекаются в упомянутом центре.На чертеже изображено устройство, поперечный разрез.В оправке 1 укреплено изделие 2. Эластичный инструмент 3 выполнен, например, из резины с поверхностным алмазным включением (обработку можно производить и свободным абразивом)В центре кривизны обрабатываемой поверхности 4 расположена сферическая:опора 5 шпинделя"инструмента 3 (в случае вогнутых поверхностей) .или шпинделя изделия (в случае выпуклых поверхностей) . Опора 5 соединена с рычагом б, связанным с двумя эксцентриковымн водилами 7; приводиьвтми в синхронное вращение, например, шестернями 8 от центральной приводной шестерни 9, Оси водил и шестерен пересекаются в центре сферической опоры 5Работает ус-.ройство следующим об" разом.При...
Устройство для механической обработки оптических деталей с асферическими поверхностями
Номер патента: 673428
Опубликовано: 15.07.1979
Авторы: Кульбачный, Панин
МПК: B24B 13/00
Метки: асферическими, механической, оптических, поверхностями
...при изготовлениикаждой новой детали менять промежуточный копир.Наиболее близким техническим решением является устройство для шлиФования и полирования выпуклых и вогнутых асферических поверхностей, содержащее подвижную каретку, закрепленную на параллелограммной подвеске, на ко-, торой установлен дополнительнйй парал- лелограмм, управляемый сменным устройством, обеспечивающим в процессе обработки качание инструмента вокруг заданной точки 2, Это устройство сложно по конструкции и в обслуживании. и я тем, что ус ни ой обработки с асФерическими по ащее режущий ннструм о перемещения,выпол ирного параллелограмм бжено кулачковым мех слом, шарнирно соеди омым звеном параллелог673428 Формула изобретения ЦНИИПИ Заказ 3978/13 Тираж 1011...
Устройство для определения прозрачности оптических трасс
Номер патента: 673951
Опубликовано: 15.07.1979
Авторы: Кельдиватов, Макаров, Мирумянц, Федотьева, Филиппов
МПК: G01W 1/00
Метки: оптических, прозрачности, трасс
...и контрольный каналы, состояшие из плоских зеркал, конденсоров, модулятора, узла выходного коллимирующего объектива, отражателя, выполненного 40 в виде сферического зеркала с радиусом кривизны, равным длине измерительной базы, приемного зеркала, расположенного симметрично выходному объективу относительно оптической оси отражателя вблизи его центра кривизны, а также приемного устройства (диафрагма), источник излучения располокен на оптической оси выходного коллимируюшего объектива, приемное зеркало наклонено к оси пучка на угол, тангенс которого больше или равен отношению полушири ны пучка к двойному фокусному расстоянию приемного зеркала, а оптическая ось выходного зеркала совмещена с осью выходного пучка излучения.На чертеже...
Способ приготовления желатинографитовой массы для оптических модуляторов освещенности
Номер патента: 674992
Опубликовано: 25.07.1979
МПК: G01J 3/02
Метки: желатинографитовой, массы, модуляторов, оптических, освещенности, приготовления
...этого способа является низкое качество модуляторов, изготовленных с его использованием иээа интенсивной коричневой окраски коплоидно-графитового раствора,Цель изобретения - повышение качества модуляторовЭто достигается тем, что полученный раствор коллоидно-графитового препарата отстаивают в течение одних суток, затем верхний слой раствора удаляют, а осадок разбавляют в 500 мп дистиллированной воды, перемешивают, отстаивают в течение одних суток, вновь верхний слой раствора удаляют, а осадок повторно разбавляют в 500 мл дистиллированной воды, перемешивают и вводят в желатиновый расплав.После проведения данных операций желатино-графитовый раствор поливают на стекло.Использование предлагаемого способа позволяет облегчить...
Цифровой измеритель энергии одиночных импульсов оптических квантовых генераторов
Номер патента: 676939
Опубликовано: 30.07.1979
Автор: Зюбан
МПК: G01R 21/00
Метки: генераторов, измеритель, импульсов, квантовых, одиночных, оптических, цифровой, энергии
...б импульсов раоотает в непрерывном режиме, ключи б, 8 и 10 закрыты, счетчик 7 л преобразователь 12 отношения количества импульсов установлены на нуль. При поступлении от ОКГ на вход пиродетектора 1 одиночного импульса, последний преобразуется в энергию видеоимпульса, который поступает на обмотку записи МГЭ 2 и переводит его сердечник (магнитопровод) из исходного состояния полного насыщения в некоторое промежуточное, определяемое магнитнои индукцией В,вхВ, = В, + У,(О)й,5 Ю 1о где В, - магнитная индукция сердечникаМГЭ 2 в исходном состоянии;5 - площадь сечения сердечникаМГЭ 2;а, - число витков записывающей обмотки МГЭ 2;0,(Ц - напряжение входного видеоимпульса;т- длительность входного видеонмпульса. Одновременно входной видеоимпульс на...
Способ блокирования оптических деталей
Номер патента: 677889
Опубликовано: 05.08.1979
Авторы: Деревенский, Дулькин, Майстренко
МПК: B24B 13/00
Метки: блокирования, оптических
...одинаково и од.новременно, форма сопрягаемых поверхностейдетали и планшайбы изменяется идентично, таккак температура и скорость понижения ее вовсех точках объема детали и нланшайбы поддерживается одинаковой, При повторении процессовпогружения, выдержки и дальнейшего регулируемого охлаждения перед операцией окончательной доводки обрабатываемой поверхности детали уменьшается возможное влияние деформациисмоляных шариков при обработке от действияинструмента и изменения температуры. В резуль.тате этих мер деталь после закрепления на планшайбе находится в ненапряженйом разгруженномсостоянии, и заданная при обработке точностьне ухудшится после расклейки,При реализации предлагаемого способа необ.ходимо соблюдать, следующую...
Многоэлементный инструмент для шлифования и полирования оптических поверхностей деталей
Номер патента: 677890
Опубликовано: 05.08.1979
Авторы: Глеб, Городкин, Лысянный, Хохленков, Шульман, Якимахо
МПК: B24B 13/00
Метки: инструмент, многоэлементный, оптических, поверхностей, полирования, шлифования
...упругой мембраны 4 с нанесенным на нее слоем электропроводящего материала 5 с одной стороны и прикрепленными к ней рабочими элементами 6 с другой стороны, диэлектрических перегородок 7, образующих с электродом 2 и мембраной 4 полость, заполненную электрореологической суспензией 8. Многоэлементный инструмент устанавливается на обрабатываемую деталь 9, покры. тую слоем абразивной жидкости 10. Деталь 9 приводится в движение от внешнего источника677890 Формула изобретения Составитель А, К Техред З,Фанта ва Корректор Е. Пап дактор И. Карпас Заказ 4473/6 Подписное го комитета ССий и открытий Тираж 1012 ИИПИ Государственнпо делам изобрет 3035, Москва, Ж, ЦН(на схеме не показан). Напряжение к электро.дам подводится от источника...
Диафрагма для кнтроля оптических деталей, диаметром свыше 1000 мм
Номер патента: 678275
Опубликовано: 05.08.1979
Авторы: Горшков, Кравчук, Шевелев
МПК: G01B 11/24
Метки: диаметром, диафрагма, кнтроля, оптических, свыше
...расстояний между осями отверстий.Для достижения этой цели части экрана выполнены в виде набора взаимно перпендикулярных жестких лент, а в расположенных в узлах3их пересечения отверстиях размещены калиброванным по внутреннему диаметру втулки, Навтулках могут быть укреплены (со стороны-" детали) опоры, свободные концы которых ле.жат на поверхности, повторяющей поверхностьконтролируемой детали.На фиг. 1 представлена диафрагма, общийвид; на фиг, 2 - то же, сечение,Диафрагма состоит из каркаса 1, на которомукреплен экран, состоящий иэ взаимно перпен.дйкулярных жестких лент 2 с отверстиями 3под измерительные втулки 4, кбординирующиецентры отверстий взаимно перпендикулярнойпары лент 2, На измерительных втулках 4 состороны зеркала 5 укреплены...
Способ контроля отклонения профиля асферических поверхностей оптических деталей
Номер патента: 679790
Опубликовано: 15.08.1979
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: асферических, оптических, отклонения, поверхностей, профиля
...является низкая производительность контроля. Это вызвано длительностью процесса выставления оптических элементов в схеме контроля иэ -за жестких допусков на взаимное положение зеркал.Цель изобретения - повышение точности и производительности контроля.Поставленная цель достигается тем,что вершину контролируемой поверхности устанавливают в центре кривизйыэталонного сферического зеркала,На чертеже изображена схема, реализующая предлагаемгй способ контроля,Способ предназначен для контроляасферических поверхностей высокогопорядка, радиус при вершине у которых превосходит 100 м и профиль контролируемой поверхности определенуравнениемХ = ау + ву +4В предлагаемом способе для контроля асферических поверхностей высокого порядка оптических...
Устройство для юстировки оптических элементов
Номер патента: 679908
Опубликовано: 15.08.1979
Авторы: Бакалов, Пастухов, Сапелкин
МПК: G02B 7/00
Метки: оптических, элементов, юстировки
...двух секций, соединенных междусобой тремя радиальными, расположенными по окружности через равныепромежутки, перемычками, размещенными в плоскости, перпендикулярнойоси устройства, а регулировочныеи контрвинты расположены соосно иопираются на свободные концы внутренней секции держателя,На фиг. 1 изображен общий видустройства; на фиг, 2 - разрез поА-А на фиг. 1.Устройство для юстировки оптических элементов содержит держатель 1,б 79908 иг Фиг. 1 дписй 58 ЦНИИПИ Заказ 4785/40 Филиал ППППатент ., г. Ужгород, ул, Проектная разделенный на две секции 2 и 3,соединенные между собой перемычками 4.Оптический элемент 5 закреплен насекции 3, имеющей выступы б, на которые опираются регулировочные винты7, ввернутые в крышку 8 и контрвинты...
Станок для асферизации оптических деталей
Номер патента: 680862
Опубликовано: 25.08.1979
Авторы: Кузнецов, Рошак, Хабиров
МПК: B24B 13/00
Метки: асферизации, оптических, станок
...линейный инструмент 3. Смешением штока 10 по кривошипу 8 устанавливают требуемую величину 2 еразмаха инструмента по меридиональному сечению заготовки и смешением подшипника 15 с направляющими13 по кривошипу 9 устанавливают величину 2 е размаха инструмента по сагиттальному сечению заготовки,Программное устройство 7 регулируютна расчетную программу перемешения ка-,ретки 6. Путем подбора навесок на державку 14 устанавливают рабочую нагруз- .ку Р на инструмент, определяемую нормами абразивной обработки оптических поверхностей.Согласно исходным параметрам расчетапрограммы пультом управления станка устанавливают требуемые значения частотывращения кривошипно-шатунного механизмаи шпинделя кулачка.Инструмент 3, имеюший рабочую...
Устройство для генерирования оптических символов для записи на фотохромный материал
Номер патента: 681440
Опубликовано: 25.08.1979
Авторы: Васильев, Орелкин, Рольбин
МПК: G06K 15/20
Метки: генерирования, записи, материал, оптических, символов, фотохромный
...15, дветоделительный фильтр 16,16фотохромную пластинку 17, проекционныйобьектив 18 и экран 19,Элементы 12 и 18 образуют проекционную систему.1Устройство работает следующим обрзом.Звдакнций код символа от источника10 информации поступает нв группу входов блока 9 сравнения кодов. При вращейании знаковой матрицы 2 с фотоэлектрических датчиков 8 на другую группу входов блока 9 сравнения кодов поступаюткодовые сигналы соответствующие знакуматрицы, находящегося в этот момент наоптической оси источника 1 ультрафиолетового излучения. При совпадении кодаисточника информации с кодом датчиков,блок 9 сравнения кодов вырабатывает им.пульс, который через блок 11 запуска за-пускает источник 1 ультрафиолетового излучения и световой импульс,...
Устройство для измерения оптических свойств материалов
Номер патента: 682801
Опубликовано: 30.08.1979
Автор: Аксютов
МПК: G01N 21/48
Метки: оптических, свойств
...4, отражатель 5, ослабитель 6, исследуемый образец 7, фотоприемник 8.Элементы 2, 5, 4 образуют опорный канал, а элементы 3, 6, 4, 7 - измерительный канал. В качестве светоделителя 4 служит плоскопараллельная пластинка из оптического материала, прозрачного в спектральной области измерений. В качестве отражателя 5 и ослабителя 6 служат пластинки из того же оптического материала, идентичные светоделителю, расположение которых поотношению к оптической оси соответствующего канала аналогично расположению светоделителя 4. Отражательные свойства зеркала 3 идентичны отражательным свой ствам зеркального модулятора 2. Ослабитель 6 снабжен подвижной, обеспечивающей возможность выведения его из канала с последующим установлением его в...
Многоэлементный инструмент для шлифования и полирования оптических деталей
Номер патента: 683886
Опубликовано: 05.09.1979
Автор: Хуснутдинов
МПК: B24B 13/00
Метки: инструмент, многоэлементный, оптических, полирования, шлифования
...окую подушку, выполненную в крышкеввиде участка сегмента кольцевого углубления и соединенную с гидроаккумуляторомпри помощи гибкого шланга 8. Колодки 2,соответствуюшие различным зонам обра 25батываемой детали, расположены между собой концентрично с некоторым интервалом.Рабочие элементы 1, выполнены, например,в виде многогранника, закреплены на колодках 2 таким образом, что они на стыкедвух смежных колодок образуют чередую- зОШиеся друг с другом выступы и впадины.При этом выступы, образованные на однойколодке, совмещены со впадинами на другой смежной с ней колодки с сохранениемзазора между рабочими элементами в пределах 1 - 2 мм.Колодки 2 одновременно связаны с двумяи более толкателями 3, расположенными водной кольцевой зоне....
Способ получения производных аденина или их оптических изомеров
Номер патента: 684036
Опубликовано: 05.09.1979
Авторы: Зариня, Килевица, Лидак, Поритере, Шлуке
МПК: C07D 473/34
Метки: аденина, изомеров, оптических, производных
...0,62 г Ь -й -ф-(5-амино-хлорпиримидннип)-диаминопропионовойкислоты, растворяют ее в смеси 0,67 мпсоляной кислоты и 14 мл ортомуравьинового эфира, Раствор выдерживают при комнатной температуре 4-5 ч. Выпавший осадок отфильтровывают (0,4 г), растворяютв 40 мл 25%-ного водного аммиака ивыдерживают при 100 С 15 ч в стеклянной ампуле, Далее раствор упаривают в 684036вакууме досуха, к остатку добавляют воду, осадок отфильтровывают и кристаллизуют из воды. Попучают 0,41 г (17%)% 34,72СНО Мб ОН 20Вычислено, %; С 39,99; Н 5,04;0 К 34,93,П р и м е р 2. ф -(Аденинил)- -А-алин ин,Получают аналогично примеру 1. Вы-.ход 18%, т.пл, 248-250 С (из воды).Литературные данные 248-250 С 11.П р и м е р 3. Ь -И-Тозип-ф-(аденин ил) - оС-алания,Раствор 1,64 г...
Интерферометр для контроля качества оптических деталей
Номер патента: 684296
Опубликовано: 05.09.1979
Автор: Кузнецов
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, качества, оптических
...4 установлен смеццый свстодслитсль 9 и 1 остироВочняя НР 0.1 юлятсгьцяя систсля 10 с пс.рс. крсстием.Прсллягясчый ицтс рферочетр работает сг 1 сдчк)псич Обря:50 м.1 л чок свстс) От моцох 170 ыятичсского источцикя 1 излучения после отракения от плоских зеркал 2 и 3 расширяется телескопической спстечой 4, затем микрообъектив 5 преобразует его в схолящийся пучок, лучи которого по нормалям прохолят одну половицу сферической поверхцости свстоделитсльного блока 6 и собираются в центре кривизны эталонной поверхности а, образуя црслметцую светящукся точку О. От поверхности а свет частично отражается и, возвращаясь по нормалям, создает волновой фронт сравнения с цецтроч в точке О. Другая часть света без преломления проходит поверхность а и падает...
Способ получения тиенотиенилкарбонилфенилалкановых кислот или их оптических изомеров или их солей
Номер патента: 691093
Опубликовано: 05.10.1979
Авторы: Даниель, Жан-Луи, Клод
МПК: A61K 31/38, C07D 495/02
Метки: изомеров, кислот, оптических, солей, тиенотиенилкарбонилфенилалкановых
...Смесь постепенно нагревают.примерно в течение 1 .ч. до кипения, ки,пятят 6 ч.в токе хлористого водоро" да, затем реакциойную смесь концентрируют путем отгонки метанола припойиженном давлении (40 мм рт.ст.)до половийы ее обьема. Остаток выливают в 2000 мл дистиллированнойводыи экстрагируют четыре аза1000 мл (в целом) хлористого мети"лена. ЭкСтракты сушат безводнымсульфатом натрия, перемешивают с3-г растительной сажи, Фильтруют и Выпаривают, Остатбк (131,5 г) растворяют;в 500 мл кипящего.диизопропилового эфира и поддерживают в кипящем состоянии в течение 1 ч. с 1 г растительной сажи. После Фильтрациигорячим раствор охлаждают 1 ч при4 С. Появившиеся кристаллы отделяют Фильтрацией, промывают дважды100 мл (в целом) охлажденного...
Устройство для измерения оптических коэффициентов преломления и плотности
Номер патента: 693181
Опубликовано: 25.10.1979
Авторы: Герценштейн, Казачков, Казачкова, Каринский
МПК: G01N 21/46
Метки: коэффициентов, оптических, плотности, преломления
...насканисторе) первого импульса от нулевого- порядка не зависит ни от параметровисследуемого вещества, ни от особенностей ультразвуковой дифракционнэй решетки, а его амплитуда 0 определяется как оптической плотностью исследуемого вещества, так и влиянием ультразвуковой дифракционной решетки.Временное положение и амплитуда 0второго импульса от первого порядка дифракции зависит от оптических свойстввещества и параметров ультразвуковойдифракционной решетки.Следовательно, ца выходе устрэйстваможет быть зарегистрирована вмичина:рт,где 6 -коэффициент учитывающий час 81 4тэту ультразвуковых колебаний и параметры электронной схемы;- временной интервал междуположениями импульсов, соответствующихдифракционным пучкам нулевого и...
Активный материал для оптических квантовых генераторов
Номер патента: 693500
Опубликовано: 25.10.1979
Авторы: Баранов, Вещунов, Житников, Романов
МПК: H01S 3/09
Метки: активный, генераторов, квантовых, материал, оптических
...в ультрафиолетовой области являются кристаллы ВаГа,РН, в которых полоса люминесценции с максимумом при 290 нмнаиболее эффективно возбуждается светомс длиной волны 220 нм, полоса люминесценции с максимумом при 350 нм - светом сдлиной волны 230 нм. Для оптической накачки ОКГ может использоваться мощнаяводородная лампа или гармоники импульсных лазеров,По сравнению с известными предложенный активный материал для перестраиваемых ОКГ позволяет получить новые рабочие частоты генерации от ближней ультрафиолетовой до инфракрасной области (вдиапазоне длин волн 0,25 - 1 м), в 5 - 10раз расширить диапазон- перестраиваемыхчастот ОКГ и расширить рабочий диапазонтемператур до 300 К: Формула изобретения 3гурацию внешней электронной оболочки (и) д оп з,...
Способ преобразования оптических изображений
Номер патента: 695588
Опубликовано: 30.10.1979
МПК: G06K 11/00
Метки: изображений, оптических, преобразования
...их вявляется аналогом изображения, проеци деформационные колебания, модулируютруемого блоком 9 на пленку 4 ими электрические сигналы и измеряют .Введение новой последовательностиопЕ ,амплитуду,ртезульъирующих сигналов, пораций позволило существенно повысить точ- которой судят об электрическом воспроизость преобразования оптических изобра- ведении оптического изображения.жений в электрические сигналы.10Источники,информации, принятые воФ о р,м у л а и з о б р е т е,н,и я внима 1 ние при экапертизе:1, Патент США3789240, кл, 307-223,Способ преобразования оптических апублик. 1974,изображений, основанный на проецирова 2. Патент Англии1270012, кл, 6 4 Книи оптического изображения и форми- опублик, 1972" (прототип),ы4 Й-",....
Способ получения производных 1, 4-бензодиоксана в виде рацематов или оптических изомеров или их солей
Номер патента: 700063
Опубликовано: 25.11.1979
МПК: A61K 31/4439, C07D 405/12
Метки: 4-бензодиоксана, виде, изомеров, оптических, производных, рацематов, солей
...сушат.После перекристаллизацйи в метаноле и абесцнечивания актинирананным углем получают 10,1 г хлоргидрата ив (2,3-дигидро,4-бенно"диоксин-ил) -4- 5-хлора-(1 Н) --индол-ил=1-пиперидинэтанола нвиде смеси двух рацематон диасте"реоизамеров, которая имеет нидбелого тнердого нещества, т.пл.210 С.Найдено,Ь: С 61,2; Н 5,9 л 6,4;С 6 15,7Вычислена,%: С 61,47; Н 5,83;Ы б,".3; С 15,78, 700063 10Найдено,;:, С 66,0 у Н 4,9 у СК 13,1 уИ 10,4Вычислено,: С 66,06 у Н 4,80 уС 6 13,0 у И 10,27,СтадияБ. 1-ацетил" 4- Б-хлоро-(1 Н)-индол"3"илу -пиперидин.В 420 мл этанола вводят 8,49 г1-ацетил- (.5 хлоро-(1 Н)-индоп-ил"1,4-дигидропиридина и850 мг окиси платины и поглощаютводород да на .ыщения, Фильтруют,праполаскивают этанолом, упаривают досуха.Получают 9 г...
Интерферометр для измерения неплоскостности оптических поверхностей
Номер патента: 700778
Опубликовано: 30.11.1979
Авторы: Андреев, Кравченко, Смирнова
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, неплоскостности, оптических, поверхностей
...6, измерительный столик 7, контрольную сетку8, выполненную в виде двух прямыхвзаимно параллельных прозрачныхштрихов 9 (см,фиг.2) на зеркальномпокрытии, Фотоприемники 10; матовыйэкран 11, микровинт 12, электронныйбдок 13 обработки и светОиндикаторы 14.Пластина 4 с образцовой поверхностью 5 и контролируемая поверхность1 5 с изделием 1 б образуют интерференционную пару. Фотоприемники 10 установлены под штрихами 9 сетки 8 наизмерительном столике 7, стоят одинпротив другого под разными штрихамии попарно соединены по дифференциаль.ной схеме в электронном блоке 13обработки,Источник света должен быть монохроматичным и с малой расходимостьюлуча, например газовый лазер.Работает интерферометр следующим .образом.Луч источника света,...
Устройство для получения асферических поверхностей оптических даталей
Номер патента: 701772
Опубликовано: 05.12.1979
МПК: B24B 13/00
Метки: асферических, даталей, оптических, поверхностей
...следующим образом, Корпус 1 предварительно устанавлива-.ют относительно станины 9 так, чтобы эластичный элемент 7 из резины или резиноподобных35 материалов мягко контактировал с периферии- ной поверхностью заготовки 8, а поверхность подушки 5, выставленная без биения относительно оси вращения планшайбы 4 и закрепленная на.ней, совмещалась с поверхностью заготовки, являясь продолжением ее геометрической формы.Инструменту 10 через пиноль 11, вал .13,клиноременную передачу, шкив 18, которой смонтирован на валу, и каретку 16 сообщают45перемещение от программного механизма по меридиональному сечению асферизуемой поверх.ности и плоско-параллельное круговое движение с эксцентриситетом "е" вокруг оси вала 13, кроме этого он совершает...
Устройство для обработки оптических поверхностей
Номер патента: 701773
Опубликовано: 05.12.1979
Авторы: Витриченко, Мамонов, Прохоров, Степанов, Трушин
МПК: B24B 13/00
Метки: оптических, поверхностей
...5 в наборе соответствует количеству кольцевых эон, накоторые разделена обрабатываемая деталь (фиг. 3). При вращении шпинделя 7,несущего деталь 14, инструмент 12, последовательно посещает каждый из выделенных секторов детали. При этом датчик угла 6, установленный на оси 1 7 3вращения нгнинделя 7, вырабатывает сигнал, значение которого соответствует номеру, присвоенному текущему сектору, Указанный сигнал согласован с управляющим входом 9 коммутатора 8 (аналогичного коммутатору 3), который послецовательно, в зависимости от сигнала датчика 6, включает программные элементы 10 (аналогичные элементам 5) в цепи управления того же самого механизма прижима. Количество программных элементов 10 в наборе соответствует количеству секторов, на...
Устройство для блокировки оптических деталей
Номер патента: 703299
Опубликовано: 15.12.1979
Авторы: Жданов, Журавлев, Коваленко, Косяков, Невров, Петрухин
МПК: B23Q 3/06
Метки: блокировки, оптических
...дляблокировки устанавливается на выступы10 базировочного стола 11. Оптическиедетали 12 устанавливаются между неподвижной 1 и подвижной 2 губками.Работает устройство следующим образом. Устройство для блокировки оптическихдеталей устанавливается на базировочный стол 11 так, чтобы неподвижная губка 1 и направляющий элемент 3 опирались на выступы 10. При этом должна быть обеспечена параллельность направ 40ляющего элемента 3 поверхности базировочного стола 11,С двух сторон направляющего элемента 3, между неподвижной 1 и подвижной 2 губками; устанавливают заготовки оп 45тических деталей 12 так, чтобы плоскости заготовок, подлежащие обработке, лежали на поверхности базиповочного стола.Затем с помощью пневмоцилиндра 7 через шток 6 сообщают...
Жидкостный компенсатор для оптических приборов
Номер патента: 705252
Опубликовано: 25.12.1979
МПК: G01C 5/06
Метки: жидкостный, компенсатор, оптических, приборов
...по;габаритам со.поставим с обычным сферическим уровнем,его целесообразно испольэовать в оптических45 отвесах, предназначенных для установки прибо.ров под точкой, Возможно также применениежидкостного компенсатора в двустороннемавторедукционном оптическом отвесе, Авторе 705252ппотностью, образующая положительную линзу,имеет объем, обеспечиваемый соотношениемрадиусов кривизны, равным:1 1где т " - радиус кривизны дна ампулы;Ь - радиус кривизны поверхности разде.ла двух жидкостей;п,и пг - показатели преломления жидкостейс меньшей и болыпей плотностямисоответственно,.1 с - коэффициент компенсации,Ампула компенсатора может быть заполнена гомологом нафталина с показателем преломления 1,5 - 1,7, а жидкостная линза образована...
Способ получения новых ди-или тетрагидробенз изоиндолинов или их изомеров или рацемических смесей этих оптических изомеров или их солей
Номер патента: 707521
Опубликовано: 30.12.1979
Авторы: Вольфганг, Роланд, Эмиль
МПК: A61K 31/403, C07D 209/12
Метки: ди-или, изоиндолинов, изомеров, новых, оптических, рацемических, смесей, солей, тетрагидробенз, этих
...в 540 мл триамида гексаметилфосфорной кислоты прикапывают при охлаждении и перемешиванииРаствор 275 г, й-циннамилтрифторацетамида в600 мл триамида гексаметилфосфорнойкислоты. После окончания газовыделения прикапывают раствор 248,5 головоамилбромида в 540 мл триаьидагексаметилфосфорйой кислоты и смесьперемешивают в течение 16 ч при 25 С.После этого реакционную смесь выливаютна воду и экстрагируют простым эфиром. Высушенный над сульфатом натрияэфирный раствор упаривают и маслянистый остаток хроматографируют толуолом на 1,5 кг силикагеля,Фильтрат при упаривании дает Б,Н-бис-(транс-циниамил) -трифторацетамид в виде маслянистого остатка.ИК-спектр (СНС 1) 690, 968 смПриобычных условиях получаюттакже посредством восстановления (ЗаВЯ, 4 ЯВ, 9...
Способ получения тиенотиенилкарбонилфенилалкановых кислот или их оптических изомеров или их солей
Номер патента: 707522
Опубликовано: 30.12.1979
Авторы: Даниель, Жан-Луи, Клод
МПК: A61K 31/381, C07D 495/04
Метки: изомеров, кислот, оптических, солей, тиенотиенилкарбонилфенилалкановых
...подкисляют до рЯдобавлением водного 12 н.раствора соляной кислоты и экстрагируют 4 раза в 280 мл в цеЛом эфира, Соединенные эфирные экстракты,промывают 3 раза в 150 мл в целЬм дистиллированной воды, высушивают над безводным сульфатом йатрия и выпаривают, Остаток (23 г) растворяется в 50 мл кипящей уксусной кислоты и раствор, в который добавлейо 2.-г растительной сажи, фильтруют, затем перемешивают 17 часов при:температуре, близкой к 20 С. Появившиеся крйсталлы отделяют фильтрацией, промывают 8 мл холодной уксус.ной кислотыи высушивают при понижен-номдавлейии (20 мм рт.ст.) при температуре, близкой к 20 С в присутствии гндроокиси калия в таблетках. Таким образом получают 9 г 2-(2-тиено,2-о)тиенил-З-карбонилфенил)-пропионовой киСлоты,...
Станок для обработки оптических поверхностей деталей
Номер патента: 709339
Опубликовано: 15.01.1980
МПК: B24B 13/00
Метки: оптических, поверхностей, станок
...8 с коробкой подачи 9,смонтированный на левом торце консолии сообщвюцсий через ходовой винт 10 суппорту 7 подачу перед началом каждого 10двойного хода стола, а также быстроеустановочное перемещение; рычажный механизм, связывающий стол с консолью исодержащий сдатун 11, один конец которого соединен со столом, середина - с рычагом 12, в другой конец - с подзуном13 при помощи дополнительного рычага14, регудируемого по длине, рычаг 12другим концом соединен с консодью; гитару обката и реверсивный механизм, через которые установлена связь между движением шаговой подачи сулпорта с инструментом и перемещением лодзунв 13.Глубина резания устанввдиввется перемешением каретки 15 с инструментом при 25помоши винта 16 и рукоятки 17,При помощи...
Устройство для измерения характеристик оптических систем
Номер патента: 711410
Опубликовано: 25.01.1980
Авторы: Козиков, Кутенич, Фильчев, Харитонов, Шабельницкий
МПК: G01M 11/02
Метки: оптических, систем, характеристик
...При этом отклонение пучкаэлектронов в горизонтальном и вертикальном направлениях осуществляетсякак обычно в кинескопах с помощью отклоняющих катушек 2, Через исследуемую оптическую систему 3 последовательно во времени передается в пространстве элемент за элементом каждаяточка тест-объекта, имеющая, например, вид штрихов, Яа выходе фотоэлектрического преобразователя 4(этот преобразователь выполняется,например, на основе ФЭУ) образуетсяэлектрический сигнал О .Поскольку распределение яркоститест-объекта на экране кинескопа соответствует оцномерному распределениюОл(т,), то по апостериорному измереннолу электрическому распределениюОл, снимаемому с усилителя 5 (назначение усилителя 5 - это согласование фотоэлектрического преобразователя 4...