Патенты с меткой «оптических»

Страница 35

Способ определения лучевой прочности оптических стекол

Загрузка...

Номер патента: 1569664

Опубликовано: 07.06.1990

Авторы: Бейтерякова, Дворский, Комарова, Маслов

МПК: G01N 3/42

Метки: лучевой, оптических, прочности, стекол

...например, в оптико.шютршшщщюшштшшшпъЦелью изобретения является повышение экономчности и снижение трудоАемкости способа.Способ осуществляют следующим образом. .В образец исследуемого оптического стекла при постоянной нагрузке внедопределяют величину микротвердости, по которой с учетом корреляционной зависимости судят о величине объемной или поверхностнойлучевой прочности оптического стекла."П р и м е р . При определении лучевой прочности силикатнх оптических стекол получают следующую корреляционную зависимость между микротвердостью и лучевой прочностью исследуемых стеколгде Рлучевая прочность исследуемого стеклаВт/смг;РО = 5 Вт/см при определении объемной лучевой прочности; РО = 2,3 Вт/смг при определении поверхностной лучевой прочности;...

Устройство спектрального уплотнения и разделения оптических каналов

Загрузка...

Номер патента: 1569768

Опубликовано: 07.06.1990

Авторы: Киреев, Лаздиньш, Спигулис

МПК: G02B 5/28

Метки: каналов, оптических, разделения, спектрального, уплотнения

...селекции каналов.Целью изобретения является увеличение числа оптических каналов с эа"данной последовательностью по длинамволн.На Фиг . 1 представлена схема предлагаемого устройства, на Фиг. 2 -конструкция узла регулировки угларазвода и поворота Фильтров .Устройство содержит первый 1 ивторой 2 иитерференционные фильтрыи узел 3 регулировки угла развода иповорота Фильтров,фильтр 1 жестко закреплен наповоротном столике 4 с винтом 5 регулировки угла поворота. Фильтр 2 закреплен в держателе 6который имеет общую ось вращения со столиком 4и может быть повернут относительнонего,(и Фильтра 1) вращением винта7 регулировки развода, Торец винта7 пружиной 8 прижимается к опоре 9,жестко связанной со столиком 4,Устройство работает...

Способ компенсации фазовых искажений при передаче оптических сигналов по одномодовому волоконному световоду

Загрузка...

Номер патента: 1569770

Опубликовано: 07.06.1990

Авторы: Захидов, Касымджанов, Миртаджиев

МПК: G02B 6/27

Метки: волоконному, искажений, компенсации, одномодовому, оптических, передаче, световоду, сигналов, фазовых

...На выходе световода 6 набЕг разности Фаз из-за наличия собственного двулучепреломления (примощностиизлучения (0,5 Вт наведенным двулучепреломлением можно преНебречь) компенсируется Фазовойпластиной 9 и анализатором 10, т.е.оии поочерсдно подстраиваются до полного исчезновения сигнала на Фотоприемнике, При этом фазовая пластика3/4 и анализатор поворачиваются науголотносительно ориентации главной оси .световода. Затем мощностьнакачки Рн увеличивается до значения , в 22 Вт, определенного для применяемого световода из приведенного выражения. По мере увеличения мощностинакачки возрастает наведенное двулучепреломление, что контролируется 40по уменьшению угла у, соответс твующего минимальному значению сигналапри данном значении Рн.При Р я...

Устройство для юстировки оптических элементов

Загрузка...

Номер патента: 1569775

Опубликовано: 07.06.1990

Автор: Затоненко

МПК: G02B 7/00

Метки: оптических, элементов, юстировки

...шпонки, позволяющейосуществлять их.относительное осевоеперемещение,Столик 4 посредством осей 16 и 17 шарнирно связан с коромыслом 5 и.корпусом 8, На коромысле закреплена акустооптическая ячейка 18.Устройство работает следующим образо. Грубая юстировка устройства по уг-.,лу Брегга осуществляется поворотомстолика 4 червячной парой 2 и 3. Точ-.5ную юстировку осуществляют в два этапа,меняя структуру механизма юстировки,На первом этапе предварительнопроводится стопорение оси-винта 7 отосевого перемещения. Для этого затягивают гайку 12 и сцепляют вилку 11с корпусом 8, Вилка удерживает осьвинт через ее буртик 9 от осевого перемещения, но дает еР возможностьвращаться. Винт 13 отпускается и егоконическая шейка выходит из контактас резьбовым...

Модулятор разности хода двух оптических пучков

Загрузка...

Номер патента: 1569789

Опубликовано: 07.06.1990

Авторы: Княжеченко, Мамедов, Соколовский

МПК: G02F 1/01

Метки: двух, модулятор, оптических, пучков, разности, хода

...11 11ственно-издательский комбинат Патент , г, Ужг ул. Гагарина, 10 Произв Изобретение относится к приборостроению, в частности может быть использовано в интерферометрах, Фурьеспектрометрах видимого и ближнего5 ИК-диапазонов,Цель изобретения - увеличение скорости модуляции и повышение вибростойкости конструкции.На фиг. 1 изображен модулятор, 10 общий вид; на фиг. 2 - сечение А-А на фиг, 1; на фиг, 3 - сечение Б-Б на фиг.Модулятор содержит корпус 1, в котором установлен привод 2 вращательного движения, на оси 3 вала которого крепится переходной фланец 4, на котором установлена первая плоскопараллельная пластина 5, к которой прикреплена вторая плоско параллельная пластина 6, повернутая относительно пластины 5 на угол с.Модулятор...

Способ обработки шариков из оптических материалов

Загрузка...

Номер патента: 1572794

Опубликовано: 23.06.1990

Авторы: Акрамовская, Николаев, Оробинский

МПК: B24B 11/02

Метки: оптических, шариков

...гнездах шириной 4 Рш при/скорости вращения ведущего диска30 об/мин и нагрузке на прижимнойдиск 3 кг диаметр шариков уменьшается на 0,2 мм, При ширине гнезда, равной 5 Рш, тех же режимах обработки иразмерах ведущего и прижимного дисков диаметр шариков уменьшается наО,3 мм, Вследствие этого значительноувеличивается припуск на обработку,а значит, и расход. материала, крометого, возникает опасность проваларазмера, Таким образом, наиболее оптимальной и удобной в эксплуатации5при обработке шариков диаметром менее 1 мм явпяется ширина гнезда Ь(2-3)Рш, так как в этом случае прп тех же режимах и времени обработки диаметр шариков уменьшается на 0,015- 0,05 мм. Причем скорость вращения ведущего диска и величина нагрузки на прижимной диск не...

Способ обработки поверхностей оптических деталей

Загрузка...

Номер патента: 1574436

Опубликовано: 30.06.1990

Авторы: Климович, Филонов

МПК: B24B 13/00

Метки: оптических, поверхностей

...данным определяют износостойкость заготовки. Полученные значения указанных параметров позволясти инструмента выдел 1 ют кольцевые 30 ны и Выполняют их с рдзличе 10 й из носостойкостью, Соглдсно изобретению износостойкость кольцевых зон определяют по формуле К "; = х(сов Х./ /1 .Р Р "., - К, где К ", - коэффициент износостойкости зоны 1К коэффициент износостайкости детали; сР - угол между ндпрднлением силы и нормалью к рабочей поверхности ин - струмента в зоне;",. - средняя.,ст скорость скольжения в зоне 1.;. среднее давление в зоне 1; к - ко фициент, здвисяш 11 й от материала бочей поверхности .Инструмента,ют определить необходимуюкость кольцевых зон инструформуле я скорость скольжезоне1574436 кольцевых зон инструмента определя -ют...

Устройство для обработки оптических деталей

Загрузка...

Номер патента: 1574437

Опубликовано: 30.06.1990

Авторы: Губин, Мальцева, Прокопьев, Соколов

МПК: B24B 13/00

Метки: оптических

...защиты от брызгохлаждающей жидкости на станине икорпусе шпинделя 4 закреплены ограждения 51 и 52. Привод суппорта 2 содержит двигатель 53, редуктор 54,цепную передачу 55 и вал 56, накотором смонтирован суппорт 2,Устройство работает следующимобразом,Перед началом работы ролик 29 устанавливают в верхнее положение попазу 30, при этом шпиндель 4 с инструментом 28 поднимается над деталью 57, Для осуществления обработки деталей 57 включают двигатель 41,движение от которого через шестерни42-46 передается шпинделю 4,.приэтом инструмент 28 ,вращается, Одновременно от вала 48 через шестерни 49 и 50 движение передается шпинделю 3 детали 57, От двигателя. 53через редуктор 54, передачу 55, вал56 движение передается суппорту 2,который начинает...

Материал для оптических покрытий

Загрузка...

Номер патента: 1574551

Опубликовано: 30.06.1990

Авторы: Возняк, Карфидов, Корпан, Магунов, Остафьев, Цагина, Шкляр

МПК: C03C 17/245

Метки: материал, оптических, покрытий

...1983.Справочник технолога-оптика/ПодЛ.: Машизобретение относится к оптически риалам и может быть испольэовахлоридных растворов с последующей сушкой осадка при 150-160 С в течение суток прокалкой шихты при 850- 900 С в течение 4-6 ч, помола прессуе мого материала и прессованием таблеток под давлением 500-600 кг/см ио обжигом их на воздухе при 1000 С в течение 6-10 ч,Из таблеток электронно-лучевым испарением в вакууме в установке УРМ.279,060.наносили высокопреломляющие слои на ненагретые поддожки К-Я.о Температура подложки 25010 С, Остаточное давление в рабочей камере 10 - 10 тор, Скорость напылеония слоя 5-10 А с.1574551 Формула изобретения 1 О Коэффициенты,% Термостойкость в Количество слоев Материал Состав поглощения...

Способ изготовления оптических деталей

Загрузка...

Номер патента: 1576502

Опубликовано: 07.07.1990

Авторы: Бардин, Щербаков

МПК: C03B 25/04

Метки: оптических

...бестоного картоолир уют оба ос - агревают дет .ли С, выдерживают е 4 ч и охлаж1576502 Формула и э обр етенияСпособ изготовления оптических деталей путем нагревания деталей до температуры выше верхней границы температуры отжига стекла охлаждения и последующей механической обработки, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения механической прочности детали при со" хранении оптических параметров, пе" ред нагреванием деталей теплоизолируют их рабочие поверхности, после нагрева до температуры выше верхней границы температуры отжига осуществляют изотермическую выдержку а охлаждение ведут со скоростью 50 - 300 град/ч. Составитель Т.ПарамоноваРедактор Н.Гунько Техред М.Ходанич Корректор М.Максимишинец Заказ 1827 Тираж 389...

Устройство для обработки оптических деталей

Загрузка...

Номер патента: 1577941

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Каспер, Маляренко, Юринок, Якимахо

МПК: B24B 13/00

Метки: оптических

...движения инструмента. Для предотвращения самопроизвольного отделения корпусов 2 от поводков 6 при замене заготовок корпус 2 имеет резьбу, которой он соединяется с фиксирующей гайкой 21. Устройство работает следующим образом.Устройство устанавливается на заготовку оптической детали. Палец 20 устанавливают в сферическую полость 19 гайки 18 и осугцествляют силовое замыкание. Среда под давлением подается в полость диафрагмы 15. При этом пружина 11 разжата, толкатель 10 с гайками 9 находятся в верхнем положении, поводки 6 находятсяв начальном угловом положении. Корпуса 2 с рабочими элементами 3 расположены так, что в краевых зонах устройства коэффициент заполнения абразивным материалом наибольший. Заго 5 10 15 20 25 30...

Способ обработки поверхностей оптических деталей

Загрузка...

Номер патента: 1577942

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Абдулкадыров, Горшков, Савельев, Семенов

МПК: B24B 13/00

Метки: оптических, поверхностей

...и скорости обработки и являющийся постоян- НОЙ Величиной для кауждой )аоки1Г "ЕК УаР - уде.уьОе давление ицсту)умен па цадста ",ьТг скорость обработки, определяемаяЦОС КОНВРа).лЕЛЬНЫМ ХРУОВЫЦ ДВИ.жеискя - количество узлов квадратной:етки,пе 1)с кРываем ых и тР у ментом оли ровальником.РСЗ ЮЛМЧЕЦНОЕ ЗЦИЦЕНС )УУ РЕа,лилув) СЯ нрсм)1 ц рсбьва ция инструмента В О рестцостя:. каждой точки. Эта скорость мала по уравнены.о с Оскоростью обработки и поэтому при расчете времени пребывания инструмента це учитывается. В тех сл чаях, КО:)собходим холостой переход иСтрумс;та, утобы не былО повтОреция раосты 1 а ИК 01 у.-Лбу) учасГКЕ, ДавЛЕНИЕ ца ИНС руМСНТ снимается к отк,ночается Вра;цение шпинделя инструмента, обеспечивающее ппоскоцараплельцое...

Устройство для контроля дефектов оптических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1326004

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Стерлигов, Суббота, Ширшов

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, оптических, поверхностей

...от источника 1 расширяется до необходимого размера коллиматором 2 и двумерным сканирующим устройством 3 разворачивается в растр вдаль взаимно перпендикулярных направлений, а затемфокусирующим объективом А фокусируется на исследуемую поверхность, установленную в держателе 5. Свет, рассеянный дефектом, находящимся на исследуемой поверхности, преобразуется зеркалом 6 в пучок, близкий .к параллельному, который затем зеркалом 7 фокусируется в изображение дефекта на поверхности фотоприемника 8. При контроле .прозрачных деталей прошедшие пучки света выводятся из схемы после отражения от плоского зеркала 9.При наличии поверхностных дефек-. тов с размерами, значительно превышающими длину волны источника света, рассеянный свет. направлен в...

Способ изготовления оптических линз

Загрузка...

Номер патента: 1579736

Опубликовано: 23.07.1990

Автор: Гузман

МПК: B24B 13/00

Метки: линз, оптических

...оси, необходимый при центрировании. Затем алмазным инструментом обрабатывают цилиндрические (круглят), торцовые поверхности, которыми линза базируется в5 О изделии, снимают необходимые Фаски, Полирование - аналогично существующему. После чего производят снятие детали с оправки. Окончательная промывка, контроль детали в проходящем свете производятся аналогично сущест 55 вующим способом, На этом обработка де" тали завершается, Предлагаемым способом можно обрабатывать и первую исполнительную поверхность и осуществлять операцию полирования.Заготовку линзы 1 с предварительно обработанной первой исполнительной поверхностью приклеивают к оправке 2 с осевой 3 и торцовой 4 базами, определяющими положение оси 5 оправки. Базами 3 и 4...

Способ блокировки оптических деталей

Загрузка...

Номер патента: 1579737

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Козерук, Филонов

МПК: B24B 13/005

Метки: блокировки, оптических

...помощью электродвигателя 35, редуктора 36, винта 37 и гайки 38 накопитель 20 смещают в направлении от центра сферической поверхности приспособления 1, что позволяет пружине 23 смесить конусообразную втулку 22 в противоположную сторону, которая сжимает цанговую втулку 21 и обеспечивает Фиксацию оставшихся в накопителе 20 деталей 4Затем включают электродвигатель 41, вращательное движение которого через редуктор 42, червяк 43, зубчатый сектор 40, рычаг 39, стойку 34 и держатель 29 поворачивает накопитель 20 в меридианной плоскости вокруг центра сферической поверхности обрабатываемой детали на угол 2 О и, совместив ось симметрии накопителя 20 с осью симметрии первой цанговой оправки 3 на первой окружности приспособления 1, загружают цанговую...

Измерительный микроскоп для контроля качества оптических деталей и систем

Загрузка...

Номер патента: 1580159

Опубликовано: 23.07.1990

Автор: Феоктистов

МПК: G01B 9/04

Метки: измерительный, качества, микроскоп, оптических, систем

...пластинка 3перпендикулярна оптической оси 00микроскопа, боковой сдвиг между интерферирующими фронтами равен нулю. 55Интерференционная картина имеетвид концентрических колец, число которых зависит от толщины пластинки 3, и не дает информации об искажениях волнового фронта. Конфигурация интерференционной картины подобна конфигурации контролируемой детали или зрачка контролируемой системы. Для получения информации об искажениях волнового Фронта необходимо ввести боковой сдвиг между интерферирующими фронтами. Боковой сдвиг вводится поворотом пластинки 3 вокруг оси, совмещенной с плоскостью шкалы 4. Угол поворота пластинки 3 составляет несколько градусов от исходного положения. Направление сдвига устанавливается поворотом пластинки 3 вокруг...

Способ устранения неоднозначности кодирования в волоконно оптических преобразователях

Загрузка...

Номер патента: 1582172

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Кудинов, Марков, Мармазеев, Поздняков, Солодкова

МПК: G02F 7/00

Метки: волоконно, кодирования, неоднозначности, оптических, преобразователях, устранения

...11 света и волоконнооптический кодирующий элемент 12,входные торцы которого разбиты на группы45 по 8 дискретов в каждой груйпеьвыход каждого 1-го дискрета разведен в двоичном коде по 1-й выходной группе. Число разрядов К может быть определено из условия50К = ЬОС (1) - ЬОС 111) где 1 - общее количество дискретовкодирующего элементаИ - количество элементов во входной группе,т.е. при 1 = 1024 получают К =ЬОСь 1024 - ЬОС 8 = 10 - 3 = 7. Кроме того, устройство состоит из восьми линеек фотоэлектрических преобразователей 13, каждая из которых содержит семь фотоэлектрических преобразователей, соответствующих восьми выходным группам кодирующего элемента, восьми 7-входовых схем ИЛИ 14, входы которых соединены с выходами соответствующих...

Способ контроля оптических толщин слоев при нанесении на подложку многослойных покрытий

Загрузка...

Номер патента: 1585669

Опубликовано: 15.08.1990

Авторы: Байгильдин, Гайнутдинов

МПК: G01B 11/06

Метки: многослойных, нанесении, оптических, подложку, покрытий, слоев, толщин

...отсюда получены формулы (3) и (4).Для второго слоя из (6) получаем формулу (2).Нанесение первого слоя прекращается по достижении им определенной величины, Очевидно, что наименьшаяошибка в толщине слоя получается когда нанесение слоя прекращается в точке перегиба, т.е. в точке, гдеДифференцируя дважды (5), получа-.ют формулу (1)Доказательство расширения диапазона показателей преломления наносимых слоев и подложки. Т = 3.+Б+Рф(5) Я ного Я 0 14 ---2Нанесение слоя прекращают по достижении потоком прошедшего (отраженного) излучения экстремального значения.При выполнении указанных условий оптическая толщина каждого слоя равна 0,25 ДЭто вытекает из следующих рассуждений: п ип - показатели преломления череП+ 1дующихся слоев.Поток пропущенного...

Корреляционная система передачи и приема оптических сигналов

Загрузка...

Номер патента: 1587655

Опубликовано: 23.08.1990

Автор: Кочетов

МПК: H04B 10/00, H04J 3/08

Метки: корреляционная, оптических, передачи, приема, сигналов

...имеющее место искажение передаваемого сигнала по основному каналу не влияет на качество его приема 1в приемниках 4, так как в предлагаемой корреляционной системе с помощью блока 12 измерителей среднего значения числа Фотоэлектронов отслеживается и поддерживается постоянным значение этих фотоэлектронов с большей тактовой частотой опроса, цем частотой измерения корреляции., Для этого тактовые входы коррелометров 7 подключены к вьоду синхронизатора 1 О непосредственно, а тактовые входы измерителей 12 среднего значения фото- электронов соединены с выходом синхронизатора 10 через умножитель 14 тактовой частоты.За счет автоматической стабилизации величины среднего значения числа и Фотоэлектронов сохраняется укаэанный закон их...

Устройство для контроля оптической передаточной функции оптических систем

Загрузка...

Номер патента: 1589099

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Галибин, Дубиновский, Ерохов, Тарасенко

МПК: G01M 11/02

Метки: оптических, оптической, передаточной, систем, функции

...частотывращения электродвигателя 9, причемтаким образом, чтобы мгновенная скоРость перемещения иэображения растрапо анализирующей диафрагме остава"лась постоянной и равной тому значению, что и при отсутствии вибраций.Частота модуляции сигнала на выходеприемника излучения остается постоян 5ной и равной начальному значениюТаким образом, благодаря компенсациивибраций основания исключается дополнительная погрешность измерения.Режим шагового движения диска ну"жен для юстировки стенда и его зада"чей является фиксация диска в любомпроизвольном угловом положении. Работа устройства в этом режиме происходит следующим образом. Чтобы оста.15новить тест-объект 2 в заданном положении, первоначально уменьшают частоту вращения электродвигателя 9...

Блок оптической связи оптических логических блоков

Загрузка...

Номер патента: 1596340

Опубликовано: 30.09.1990

Автор: Вербовецкий

МПК: G06F 13/14

Метки: блок, блоков, логических, оптических, оптической, связи

...15, первый выход которого через телескоп1 б оптически связан с лазером 17,а второй выход куба является выходомузла 3. Оптически управляемый транспарант может быть выполнен на основе жидких кристаллов. Узел 3 может ,состоять также, например, из оптически связанных дифракционной решетки и матрицы голограмм, которые могут быть выполнены, например, на отбеленных фотослоях или желатиновых слоях. Узел 4 синхронизации (фиг.2) может содержать генератор 18 синхроимпульсов и формирователи 19 и 20управляющих сигналов.Блок оптической связи оптическихлогических блоков работает следующим образом,Предположим, чтологический блокА, имеющий 1. (где= 1, 2, Зг;г - число логических ячеек в блокеА) выходов, необходимо оптически связать с К (где К = 1, 2, Зп;...

Интерферометр для контроля клиновидности оптических пластин

Загрузка...

Номер патента: 1597527

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Соловьев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, клиновидности, оптических, пластин

...зрения изображенияполос интерференционной картины постоянной ширины независимо от расстояния между отражателями 8 и 9. Объек 2 О тив 4 с рефлектором в виде зеркал 6и 7 образуют телескопическую систему,Контролируемую пластину 13 устанавливают на столик 5 так, чтобы нор 25 мали к ее рабочим граням составлялинебольшой угол с оптической осьюобъектива 4, Пучки лучей источника 1излучения (например, лазера) проходятчерез конденсор 2, светоделитель 330 и объектив 4 и параллельным пучкомпадают на грани контролируемой пластины 13 и после отражения от них проходят через объектив 4, отражаютсяот светоделителя 3, и последовательно35 отразившись от зеркал 6 и 7 рефлектора, падают на отражатели 8 и 9 в виде волнового Фронта. Перед...

Способ измерения функции передачи модуляции оптических систем

Загрузка...

Номер патента: 1597653

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Сторожев

МПК: G01M 11/00

Метки: модуляции, оптических, передачи, систем, функции

...2 час, сть35каждье М иульссв П.вырабатывает одинимпульс П, т.,е. делит частоту вМ раз (на Фиг.2 показано в качествепримера деление в 4 раза). ИмпульсыП по длительности равны периоду40следования импульсов У, но сдвинутыотносительно них на половину периода.Полученный сигнал открывает аналоговый ключ 11, разрешаощий прохождениена измерительный прибор 13 каждого 45М-го импульса входного напряжения Б,.Напряжение на входе нзмериельнсгсприбора 13 предст вляйт собой входноенапряжение П, из каждьх М ичу- совкоторого исклсчеь груп;и из Мимпульсов. Зтс аналогично понижениюпространственной частоты тест-объекта в М раз.а(Образом может быть нрсведена градуирсвка на пониженных пространственньгх частотах. Посла градуировкианалоговый (лсч включгетсл...

Способ контроля качества поверхности оптических деталей

Загрузка...

Номер патента: 1597657

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Дымшиц, Палто, Юдин

МПК: G01M 11/00

Метки: качества, оптических, поверхности

...фотоприемника 9 (например, ФЭУ).С помощью предлагаемого устройства предлагаемый способ контроляреализуется следующим образом.При подаче напряжения на электропроводящие слои 2 и 4 в диэлектрическом слое 3 создается электрическое 30поле. Вследствие этого узкая спектральная полоса (или линия) поглощения испытывает смещение (эффектШтарка). При освещении диэлектрика3 монохроматическим излучением 8 отисточника б интенсивность луча, про-,шедшего сквозь слой 3, изменяется, авследствие отражения от контролируемой поверхности проходит сквозь слой3 дважды. Изменение интенсивностилуча 8,зависит от величины штарковского смещения полосы поглощения, которое определяется значением электрического поля в диэлектрике.Если поверхность детали 5 не имеет...

Способ обнаружения структуры оптических неоднородностей атмосферы

Загрузка...

Номер патента: 1597816

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Полканов

МПК: G01W 1/00

Метки: атмосферы, неоднородностей, обнаружения, оптических, структуры

...меньше их исходного числа (без дискриминации). В блоке 13 происходит сортировка этих максимумов и минимумов в две независимые последовательности, генерация нормированной последовательности, отбор интервалов между импульсами нормированной амплитуды (+1 или - 1) их сортировка по величине и суммирование числа интервалов определенной протяженности. В результате по команде с пульта 1 получаем на выходе блока 13 распределение числа интервалов в зависимости от протяженности интервала (спектр интервалов). Следующий этап анализа - анализ зависимости спектра интервалов от уровня дискретизации. Исходный спектр и отфильтрованный сигнал - в блоке 12. С пульта 1 и блока 11 на входы блока 12 поступают команды на выставление уровня дискриминации,...

Способ изготовления тонкопленочных оптических волноводов из оксидных материалов

Загрузка...

Номер патента: 1597823

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Редько, Хомченко

МПК: G02B 6/10

Метки: волноводов, оксидных, оптических, тонкопленочных

...и парциальном давлении кислорода (2 - 5) 10тор, при этом показатели преломления распыляемой мишени и и подложки л удовлетворяют соотношению, придля оптоэлектронных систем передачи и обработки информации. Цель изобретения - расширение класса материалов для изготовления тонкопленочных оптических волноводов с минимальной волноводной дисперсией и упрощение технологии их изготовления. Способ заключается в осаждении тонкой волноводной пленки на подложку путем распыления мишени в газовой среде при общем давлении 8 10- 2 10тор и парциальном давлении кислорода (2 - 5) 10 тор. При этом показатели преломления распыляемой мишени и подложки зависят от относительных катионных фракций используемых материалов и удовлетворяют соотношению, приведенному в...

Многополюсный разъемный волоконно-оптический соединитель для многожильных оптических кабелей

Загрузка...

Номер патента: 1597824

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Буйницкий, Загородний, Мартынов, Нефедов, Полищук, Щекотихин

МПК: G02B 6/36

Метки: волоконно-оптический, кабелей, многожильных, многополюсный, оптических, разъемный, соединитель

...скобами 19, планки 21 с набором винтов 22, цилиндрические ролики 25, направляющий ролик 27, фиксирующиеся на стопорной планке 29. Затем вставляется технологический ролик, затем ролики 25 и 27 прижимаются пластиной 23 и Г-образной планкой 24 бокового прижима и с помощью крепежа детали фиксируются,Подготовленное к сборке световолокно вводится через канавки узла 9 в канавки, образованные цилиндрическими роликами 25. Затем закрепляются световолокна 33 без защитной оболочки с помощью узла 11 и снимаются установленный предварительно технологический упор. Излишняя длина световолокон в защитной оболочке укладывается в камеру-накопитель 8, Технологический ролик удаляется. Затем производится зажим световолокон по защитной, оболочке с...

Устройство для крепления оптических деталей в корпусе

Загрузка...

Номер патента: 1599826

Опубликовано: 15.10.1990

Авторы: Дмитренко, Науменко

МПК: G02B 7/18

Метки: корпусе, крепления, оптических

...температурныекоз Ьфици енты линейно горасширения материала оправы и зеркала соответственно.Прогиб термокомпенсационной шайбы 5 определяется по формулег г1 сч Э -йу л- , .4 Ь 100где 1 - удельный прогиб термобиметаллического материала; Ач = Т-Т - разность температур;Ь - толщина термобиметалла;Э - диаметр шайбы;Йдиаметр отверстия в центрешайбы.Таким образом, условием термокомпенсации является равенствоЬуЬАВ" 1,где 3 - глубина проточки на прижимных планках,Покажем на примере расчет глубины проточки на прижимных планках,наружного диаметра П шайбы из термобиметаллического материала марки ТБ 1132 (ТБ 32) (ГОСТ 10533-86) со слоями иэ железоникелевых сплавов: активный слой - из сплава марки 24 НХ, а пассивный слой - из сплава марки 42 Н,...

Способ контроля волнового фронта в оптических системах

Загрузка...

Номер патента: 1599691

Опубликовано: 15.10.1990

Автор: Ивонин

МПК: G01B 11/00, G01M 11/00

Метки: волнового, оптических, системах, фронта

...в симметричных относительно оптической оси точках, коррелятор 10 (типа Х 6 - 4).Способ осуществляется следующим образом.Лазерное излучение от лазерапропускают через телескоп 2, пропускают по атмосферной трассе 3, разбивают на ряд зон амплитудным экраном 4 при максимальной входной апертуре 5, телескопом 6 формируют частотную плоскость амплитудного экрана 4 и проецируют ее на плоскость 7 регистрации, в которой установлены приемники 8 и 9 излучения, Оптический сигнал в точках местонахождения приемников превращают в электрический и обрабатывают на корреляторе К 6 - 4 в режиме измерения кросс-корреляционной функции сигналов от приемников 8 и 9, определяя корреляцию К 1,. сигналов от приемников 8, 9 и дисперсию каждого сигнала 01;,...

Способ контроля качества оптических систем

Загрузка...

Номер патента: 1601512

Опубликовано: 23.10.1990

Авторы: Бабак, Беляев, Махотько

МПК: G01M 11/00, G01N 15/00, G01N 15/02 ...

Метки: качества, оптических, систем

...модуляции приемного элемента (на фиг. 1 отсутствует) блока 7.После регистрации пространственно периодический сигнал, преобразованный в электрический, обрабатывается в блоке 8 путем усиления и детектирования, а затеи воспроизводится в виде спектра амплитуд пространственно периодического сигнала, находящегося в Функциональной зависимости от пространственной частоты сигнала,Информацию о дисперсной системе получают путем анализа характера изменения спектра амплитуд пространственно периодического сигнала, как Функции пространственной частоты,в частности, по отношению амплитуд сигналов нулевой и фиксированной частот, или путем анализа характера изменения пространственного распределения интенсивности в плоскости приемного элемента блока 7...