Аксютов
Способ определения показателя преломления металлов
Номер патента: 717635
Опубликовано: 25.02.1980
Автор: Аксютов
МПК: G01N 21/46
Метки: металлов, показателя, преломления
...излучения исследуемойповерхности, а также большая трудоемкостьметода, обусповленная тем, что для определения оптических постоянных на однойдлине волны необходимо знать спектральную характеристику отражательной и иэлучательной способности практически вовсем оптическом диапазоне спектра,Известен также способ определенияпоказателя преломления металлов путемизмерения спектральной яркости их поверхности для излучения, поляризованно.го параллельно плоскости излучения 21,Недостатком этого способа являетсяограниченность спектрального и температурного диапазонов его применения, Поскольку с увеличением угла падения излучения яркость его быстро уменьшается, для ее измерения необходим высокий уровень излучения,Этот уровень...
Устройство для измерения оптических свойств материалов
Номер патента: 682801
Опубликовано: 30.08.1979
Автор: Аксютов
МПК: G01N 21/48
Метки: оптических, свойств
...4, отражатель 5, ослабитель 6, исследуемый образец 7, фотоприемник 8.Элементы 2, 5, 4 образуют опорный канал, а элементы 3, 6, 4, 7 - измерительный канал. В качестве светоделителя 4 служит плоскопараллельная пластинка из оптического материала, прозрачного в спектральной области измерений. В качестве отражателя 5 и ослабителя 6 служат пластинки из того же оптического материала, идентичные светоделителю, расположение которых поотношению к оптической оси соответствующего канала аналогично расположению светоделителя 4. Отражательные свойства зеркала 3 идентичны отражательным свой ствам зеркального модулятора 2. Ослабитель 6 снабжен подвижной, обеспечивающей возможность выведения его из канала с последующим установлением его в...
Способ определения спектральных направленно-полусферических коффициентов отражения
Номер патента: 543855
Опубликовано: 25.01.1977
Авторы: Аксютов, Холопов
МПК: G01N 21/48
Метки: коффициентов, направленно-полусферических, отражения, спектральных
...коэффициентов отражения необходимо измерить угол ю 6, при котором интенсивность отраженного от образца света в два раза меньше интенсивности света, от-о раженного образцом в зеркальном направлении. Для случая нормального падения угол половинной интенсивности о по индикатрисе обратного очражеййя определяется из выражения, следующего иэ уравнения эллипсаЬ щ(осоойй-сон Йа ) /мийо,130%, (2)где ф - отношение осей эллипса при нормальоном падении света на образец, коэффициент яркости которого в обратном направлении равенПо индикатрисе обратного отраженияопуеделяют параметры (1 и М, характеризуюшие вклад направленного коэффициента яркости в зеркальном направлении равномерно-рассеянной компоненты отражения, с учетом которой...
Устройство для измерения нелинейности фотоприемников
Номер патента: 458715
Опубликовано: 30.01.1975
Авторы: Аксютов, Мелентьева, Холопов
МПК: G01J 1/04
Метки: нелинейности, фотоприемников
...частотой и фор мой модуляции, близкой к прямоугольной.Измерение нелинейности ведется в следующей последовательности,Источники 1 и 2 выводятся в рабочий режим и стабилизируются. При полностью за крытой щели 7, т, е. при отсутствии света в огветительном канале 1 и неработающем моду ляторе 16 (лопасть модулятора 16 не перекрывает.оптического пути пучков света), с помо щью щели 8 в осветительном канале 2 при ра 25 ботающем модуляторе 15 устанавливается некоторый поток, которому соответствует выходной сигнал Ло приемника 17. Выбранное значение выходного сигнала определяет тот уровень чувствительности приемника, относитель но которого измеряется нелинейность.3Нелинейность определяют по формулеК=М1Ф1 (л)где Л - значение сигнала;р У) -...
Фотографический пирометр
Номер патента: 434279
Опубликовано: 30.06.1974
Авторы: Аксютов, Скворцов, Холопов
МПК: G01F 1/10
Метки: пирометр, фотографический
...эталонного источника с известной яркостной температурой и получение необходимого числа реперных отметок на фотопленке одновременно с изображением исследуемого излучающего объекта.Это достигается тем, что в оптическую систему между эталонным источником излучения и плоскими зеркальнымп отражателями введены светоделптели, число которых определяет число реперных точек.На чертеже показан один из вариантов схемы фотографического пирометра,Пирометр содержит фотокамеру 1, объектив 2 фотокамеры, светочувствительную пленку 3, объект 4 измерения, блок 5 эталонного источника, эталонную температурную лампу 6, отградуированную по яркостной температуре, диафрагму 7, коллиматорную линзу 8, набор 9 светоделительных пластинок, плоские зеркала 10 и...
Установка для измерения спектрального коэффициента излучения материалов при высоких
Номер патента: 365585
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Аксютов, Холопов
МПК: G01J 5/00
Метки: высоких, излучения, коэффициента, спектрального
...также на входную щель дополни тельного приемного устройства б, Фиксируется выходной сигнал У дополнительного приемного устройства б, пропорциональный яркости щели при температуре Т, т, е. Ь (Х, Т) (1), Далее, уменьшением температуры трубки до 30 некоторого значения Тф с помощью приемного365585 10 или, исходя из условия линейности дополнительного приемного устройства, можем записать;(12) 15 Таким образом, при измерениях на описываемой установке значение спектрального коэффициента излучения материала определяется как отношение сихналов, измеренных 20 на дополнительном приемном устройстве прирабочей и вспомогательной температурах, возведенное в степень, равную отношению длин волн, установленных на допечнительном и основном приемных...