Кутенич
Устройство для измерения характеристик оптических систем
Номер патента: 711410
Опубликовано: 25.01.1980
Авторы: Козиков, Кутенич, Фильчев, Харитонов, Шабельницкий
МПК: G01M 11/02
Метки: оптических, систем, характеристик
...При этом отклонение пучкаэлектронов в горизонтальном и вертикальном направлениях осуществляетсякак обычно в кинескопах с помощью отклоняющих катушек 2, Через исследуемую оптическую систему 3 последовательно во времени передается в пространстве элемент за элементом каждаяточка тест-объекта, имеющая, например, вид штрихов, Яа выходе фотоэлектрического преобразователя 4(этот преобразователь выполняется,например, на основе ФЭУ) образуетсяэлектрический сигнал О .Поскольку распределение яркоститест-объекта на экране кинескопа соответствует оцномерному распределениюОл(т,), то по апостериорному измереннолу электрическому распределениюОл, снимаемому с усилителя 5 (назначение усилителя 5 - это согласование фотоэлектрического преобразователя 4...