Патенты с меткой «интерференционный»

Номер патента: 536446

Опубликовано: 25.11.1976

Авторы: Горский, Лебедев

МПК: G01R 33/02

Метки: интерференционный, магнитометр

...на уровне отверстий, Выход фотодетектора 14 соединен со вторым входом фазометра 11, выход которого через детектор 15 подключен к регистратору 1 б. Устройство работает следующим образом.Свет исследуемого источника через коллиматор 1 проходит модулятор поляризации 2, В плоскости зеркал интерферометра Майкельсона 5 локализуется интерференционная картина. Благодаря модуляции поляризации продольной компоненты магнитного поля источника излучения происходит периодическое смещение центра тяжести спектральной линии. Последнее влечет периодическое изменечие фазы интерференционной, картины. Изображение интерференционной картины объективом б строится в плоскости модулятора интерференционной картины - диска 7, частота вращения которого, намного...

Номер патента: 539284

Опубликовано: 15.12.1976

Автор: Лаврищев

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, фильтр

...показателя окислов.1 О На чертеже представлена схема предложенного интерференцнонного фильтра.Интер фсренцнонный фильтр содержит оптическуо подложку 1, прозрачную в заданной области спектра, на которую нанесено покры тне в виде многослойных зеркал 2 и 3, разделенных промежуточным слоем 4. Многослойное зеркало 2 выполнено из чередующихся слоев 5 и 6 окислов с высоким пн и низким и показателями преломления, например, из 20окислов тантала и кремния, причем толщина слоев равна 1/4 Х. Зеркало 3 содержит чередующиеся слои диэлектрика 7 и 8 толщиной 1/4 Х с высоким и", и низким а" показа телями прело.,;лсння соответственно мер, нз сернистого цинка н крполита .ого магния). Промежуточный слойтолщину, кратную 1/2 Р,. При этом ЗО точный слой 4 и...

Номер патента: 544864

Опубликовано: 30.01.1977

Авторы: Горшков, Пуряев, Скибицкий, Харитонов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, вогнутых, интерференционный, оптических, поверхностей, формы

...е. значительная область поверхности останется непроконтролированной.Целью изобретения является обеспечениевозможности контроля поверхностен с больЗз шими отклонениями от сферы.544864 Составитель Л. Лобзова Корректор Н, Аук Техред Е, Петрова Редактор Т. Пилипенко Заказ 309 Изд.148 Тираж 729 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., и. 4/5Типография, пр. Сапепова, 2 Это достигается тем, что эталонное сферическое зеркало перемещают вдоль его оптической оси, последовательно совмещая кольцевые зоны отображения источника света на контролируемой поверхности с его отображением на сферическом зеркале, и судят о правильности формы контролируемой поверхности...

Номер патента: 545854

Опубликовано: 05.02.1977

Авторы: Гиржман, Густырь

МПК: G01B 9/02

Метки: длины, интерференционный, концевых, мер, плоскопараллельности

...меры 8, а с помощью блока зеркал 9 и 10 правую поверхность меры. После отражения все пучки света поступают в объектив 4 и полупроз 1 рачной пластиной б направляются в наблюдательную систему 11, состоящую из откидывающейся отрицательной линзы и зрительной трубы небольшого увеличения. Интерференцпонные зеркала б и7 со светоделительными покрытиями, нанесенными по всей площади пластин, смещены относит;льно оптической оси интерферометра. Это позволяет осветить обе измерительные поверхности меры и получить три интерференционные картины; две - в зазорах междуповерхностями мер и отражающими поверхностями интерференпионных зеркал,и одну - в промежутке между интерференционными зеркалами,Контро.ь плоокогара;лельносги производится следующим...

Номер патента: 553566

Опубликовано: 05.04.1977

Авторы: Макаров, Столов

МПК: G02B 5/28

Метки: длинноволновый, интерференционный, оптический, отрезающий, фильтр

...между Ьым и (+1)-ым ( = 1,2 р) элементарными фильтрами введен слой с тем же показателем преломления и с оптической толщиной (1,411,6) 3- 11,25 Р ( го - оптическая толщина слоя первого, считая от под. ложки, элементарного фильтра системы), а между системой и воздухом введен слой с показателем преломления пц и с оптической толпвтной (1,4 в :1,6)г 0,5 Рч, Кроме того, лля расширения ра. бочей области фильтра и увеличения пропускания на фильтр со стороны воздуха нанесен слоя с, показателем преломления о, н опшческой толщи. ной (0,210,3) Лу.Иа чертеже изображена конструкция предлагаемого фильтра.Она состоит иэ подложки 1, элементарных фильтров 2,3 , р+1 и введенных слоев, обозначен. ных заштрихованными прямоугольниками р+2, р+3,2 р+3.Такая...

Номер патента: 568838

Опубликовано: 15.08.1977

Авторы: Олейник, Хайрулина, Чайковский

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, размерам, распределения, функции, частиц

...измерении размеров частиц; (Ъ(а) ) - средняяЦ скорость движения частиц радиуса а; - . -- относительное разрешение спектроанализа тора.Функцию 1(а) определяют, исходя из условий эксперимента. Для случая разделения частиц по скоростям посредством наложения внешнего силового поля: где Р (а) - сила, действующая на частицу радиуса а; 5 - поперечное сечение частицы; о - ее плотность; С - коэффициент сопротивления,Когда разделение частиц по скоростям производится посредством создания градиента скорости потока, расчет Р(а) ароводят, исходя из уравнения движения частиц в турбулентных потоках. Если о о, (о, - плотность среды), оно имеет следующий простой вид: где У, - проеиция скорости потока на ось х: 11,. - проекция скорости частицы радиуса а...

Номер патента: 570768

Опубликовано: 30.08.1977

Авторы: Брикс, Волкова

МПК: G01B 9/02

Метки: абсолютного, интерференционный, пластин, плоскопараллельных, показателя, преломления

...предлагаемогоспособа показано на чертеже,Устройство содержит спектральную лампу10 1, конденсор 2, объектив коллиматора 3, интерференционный фильтр 4, плоскопараллельную пластину 5 из исследуемого вещества,объектив б, фотодиод 7, электронное регистрирующее устройство 8.15 Покрытую с двух сторон полупрозрачнымпокрытием плоскопараллельную пластину изисследуемого вещества вводят в пучок лучеймонохроматического света, выходящий из осветителя, состоящего из спектральной лампы,конденсора, объектива коллиматора и интерференционного фильтра. С помощью объектива на фотодиоде получают интерференционную картину многолучевого типа. Сигнал фотодпода анализируют электронным регистри 25 рующим устройством 8 для определения дробной части порядка...

Номер патента: 593081

Опубликовано: 15.02.1978

Автор: Гершун

МПК: G01J 3/26

Метки: интерференционный, спектрометр

...верхних (нижних) секторов диафрагм 8 и 12 совпадает с ииж- ЗО ними (верхними) секторами этих диафрагмкак в лучах, которые проходят интерференционную часть спектрометра, не отражаясь от зеркал 7 и 9, так и в лучах, которые отражаются от этих зеркал. Интерференционные кольца в плоскости диафрагм 8 и 12 наблюдаются только в лучах, которые не отража. ются от зеркал 7 и 9. Для остальных лучей контраст интерференционной картины равен нулю вследствие клина, введенного наклоном этих зеркал, так как нижняя часть спектрометра представляет собой только светоделительную схему, а не интерферометр с обратнокрутовым ходом лучей. Объективами 18 н 15 изображения диафрагм 3 и 12 проектируются на плоскость зеркального прерывателя 16, который...

Номер патента: 599158

Опубликовано: 25.03.1978

Автор: Рачков

МПК: G01B 9/02

Метки: величины, интерференционный, линейных, перемещений, угловых

...зеркал 2, 3, зеркала 4, укрепленного на подвижном объекте, фотоприемника 5, пьезоэлектрических модуляторов 6, 7 и опорного низко-частотного генератора 8 модулирующих сигналов,Процесс измерения величины линейныхи угловых перемещений заключается в следуюшем,Монохроматическое излучение источника1 направляют в интерферометр, модулируютего и разделяют полупрозрачным зеркалом2 на опорное и измерительное излучение.Измерительное излучение направляют к зеркалу 4, закрепленному на объекте. измерения.Отразившееся от зеркала 4 и затем от зеркала 2 измерительное излучение попадаетна фотоприемник 5, с помощью которого, чпполучая интерференционную картину, дудятоб измеряемой величине. Опорное излучение полупрозрачным зеркалом 2 направляют...

Номер патента: 606097

Опубликовано: 05.05.1978

Авторы: Дубков, Киселев

МПК: G01B 9/02

Метки: датчик, интерференционный, линейного, перемещения

...числу. Огибающая становленныа акой инт7разностью хлятора спекния по волн лиэким к дя интерферлинейногосвета), с све ной мод луч ному иэобреционный датремещения ержащий по Изобретение относится кизмерительной технике и моиспользованО в частности дгических целей в лабораторрийных фурье спектрометрахционных измерителях линейнщений и вибраций.Известны интерференционные дконтроля линейного перемещения,щие для контроля за прохождениеремещающегося объекта через опрную точку в исследуемом интервалремещений и содержащие оптическучасть ) 11.В момент прохожденируемую точку оптическавырабатывает оптическибающая которого имеетЭтот максимум служитв электрической части енционные датчики контроля ремещения нашли широкое фурье спектрометрах, где...

Номер патента: 606152

Опубликовано: 05.05.1978

Авторы: Макаров, Столов

МПК: G02B 5/28

Метки: длинноволновый, интерференционный, отрезающий, фильтр

...( Е, ) показателямипреломления, оптические толщины которых возрастают по мере удаления отподложки с показателем преломления 5 тн"ни отношение оптическихтолщин любых соседних элементарныхфильтров равно 1,0 : (1,4+1,б), введены слои: между системой и подложкой споказателем преломления пб я оптичес" ЗО кой толщиной (0,4+0,5)10, где 1 - опти.606152 Формула изобретения Составитель В,Ванторинедактор Н.Ахмедова Техред А.Алатырев Корректор С.Гарасин Заказ 2467/43 Тираж 621 ЦНИИПИ Государственного комиг по делам изобрете 113035, Москва, В, РаушПодписноета Совета Мннистроий и открытийхая наб., л, 4/5 иал ППП Патентф, г. Ужгород, ул. Проектная,ческая толщина слоя первого, считая от подложки, элементарного фильтра систе-, ьв; между 1 и + 1)...

Номер патента: 575917

Опубликовано: 30.07.1978

Авторы: Бергер, Дерюгин, Михеенко

МПК: G01J 1/00

Метки: интерференционный, лазера, пучка, распределения, сесечнию, фазы

...перемещать поперек пучкаэкран с отверстиями вместе с диафрагмой ифотоприемником с шагом, равным расстоянию между отверстиями. В этом случае величина Ьсростается постоянной и ее можно определенным образом исключить. Тогда измеряемая разность фаз равнаЬгр (х;) = р (х;+ Ьх) - р (х;),где- номер шага;Ьх - расстояние между отверстиями.Если фазу в центре пучка положить равной нулю, то на Й-том шаге от центра фазабудет равна Таким образом, можно измерить распределение фазы с шагом Ьх, Существенно, что при реализации способа высокая точность измерения распределения фазы достигается при достаточно малом расстоянии между фотоприемником и экраном с отверстиями.На фиг. 1 изображена блок-схема установки для измерения распределения фазы в пучке...

Номер патента: 626304

Опубликовано: 30.09.1978

Авторы: Михлин, Оспищев

МПК: F16L 55/04

Метки: гаситель, интерференционный, пульсаций

...цель достигается тем, что гаситель 15выполнен в виде диска с крышками, причемодин из каналов представляет собой отверстие в центральной части диска, а другой -спиральные канавки, расположенные наторцах диска и сообщающиеся между собой 20отверстием, выполненным по его периферии,а с выходной и входной полостями гасителя - в центральной его части,На фиг. 1 схематично показан предлагаемый гаситель в разрезе; на фиг, 2 - вид на 25торец диска.Гаситель состоит из диска 1, па торцахкоторого выполнены спиральные канавки 2,сообщающиеся между собой отверстием 3,выполненным по периферии диска, а с вход 2ной 4 и выходной 5 полостями гасителя - в центральной части диска. Диск установлен между крышками 6 и 7 с уплотнениями 8 и 9. Подвод и отвод рабочей...

Номер патента: 630523

Опубликовано: 30.10.1978

Авторы: Гершун, Егорова

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, спектрометр

...следующим юбразом.35 40 ПараллельнъЙ пучок коллимщрозаЛного объективом 1 авета разделяется на аветоделителе на два, падаюцие ооотзепспвенно па решетки б,и 7 примерио .по,нррмал. Поаколыу 1 решетии имеют аиммецричную нарезку штрхов, то в празые и левые их ,псрядки дифрагирует;римерно разное количество радиациями, причем в правые порядки дифрапирует рабочая длина,волны Л, а в левые - рабочая дляна волны Х 2. Плоские зеркала 8, 9 у 1 становлены таким образом, что угол падевия на них длин воли Х и л равен 45, вследствие чего указанные длины (зели точно следуют предписываемому схемой обратно-ируговому,ходу и,после зторичной:ифрищии и раком биьации на светоделителе интерферируют в напразле;нии выходного объекпив,а 2. Для тогда, чтобы длины...

Номер патента: 634063

Опубликовано: 25.11.1978

Авторы: Скворчевский, Усатый

МПК: F16L 55/04

Метки: гаситель, интерференционный, пульсаций

...в канале15 яение пульсаций давления рабочейдостигается путем интерференцииаления, благодаря различной длинелов. пает в ам: четв товую длину.5. Гвсреди волн дв 1 телью изобретении является регулирвание частоты подавляемых пульсаций.Иостигается онв тем, что в каналетановлена подвижная в осевом направлнин полая втулкаНа чертеже изобргаси тель. Пля регулирования частоты подавляемых пульсаций втулку 6 перемещают посредством хвостовика 7 в осевом направлении, изменяя этим соотношение длин каналов. ажен описываемый скому и газовому приводу использовано для гашения к гидрввличеи может бытьпульсаций давлпроводах.нный гасительпроводах, выазных каналов,1 .еренционный гав корпусе котоеся с входнойтеля винтовая имеет корпус 1 с входной 2 3...

Номер патента: 640225

Опубликовано: 30.12.1978

Авторы: Ванюрихин, Горштейн, Мещерский, Соболь

МПК: G02B 5/30

Метки: интерференционный, поляризатор

...- повышение степени 25 поляризации излучения и надежности работы ннтерференциониого поляризатора.Цель;1 остигается тем, что в предлагаемом иитерферснцпонном поляризаторе на последнем слое интерференцпоиного покры тия дополнительно нанесен слой оптического диэлектрического материала с показателем преломления, равным показателю преломления материала призм, а скрепление призм осуществлено оптическим контактом. 5На чертеже схематично показан интерфсрсиционный поляризатор.11 оляризатор состоит из призм 1, 2, На гипотсиузиой грани призмы 2 иаиссеиы чередующиеся по показатс,по преломления 10 слои 3 из диэлектрического материала. Оптическая толщина слоев в направлении распространения излучения в них равна л(4, где л - длина волны...

Номер патента: 648852

Опубликовано: 25.02.1979

Авторы: Архипов, Лысенко, Паршин

МПК: G01J 3/26

Метки: интерференционный, спектрометр

...колебаний интерференционного модулятора.Спектрометр работает следующим образом.Модулятор 1, периодически изменяя разность хода интерферометра, производит селективную модуляцию спектра с частотой ъ 11 . Переменный сигнал на этой частоте выделяется приемно-регистрирующим устройством 3. Амплитуда 1 О этого сигнала пропорциональна функции Бесселя первого рода первого порядка от амплитуды Е. колебаний интерференционного модулятора 11 О -,(К -- ,ЕХеЛгде К - параметр, зависящий от конкретного исполнения интерференции модулятора;Х - длина волны, на которую настроен спектрометр.При условии начальной разности хода оо = ф функция Бесселя имеет максимум при= 1,84, что соответствует нулеЬ вому значению первои производнои Нахождение нулевого...

Номер патента: 573107

Опубликовано: 15.05.1979

Авторы: Жиглинский, Парчевский, Путилин, Эльснер

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, фильтр

...слоев диэлектриков,Промежуточный слой выполнен многослойным потому, что простое увеличение толщины его невозможно, так каквещества, применяемые для созданияинтерференционных фильтров в видимойобласти спектра (сернистый цинк ЕпЯ,,0033 700 Сернистый цинк,криолит 93 17,Н Н 4 В 4 НЕЕВ 0038 0,91 рнистый цинкиолит и космиче спектральнаниях. астрономии ких исслед ормула изобретения аз 2759/67Подпи сн ое ЦНИИПИ 3Тираж 587 2 зкриолий ИаИГ, фтористый магний М 9 Г 2), при толщинах более 1,5 мкм растрескиваются. Путем же использования промежуточной системы из чередующихся слоев диэлектриков, оптическая толщина которых кратна половине длины световой волны, можно получить промежуточный слой с большой эффективной толщиной и в соответствии с...

Номер патента: 662848

Опубликовано: 15.05.1979

Авторы: Гордеев, Колмаков, Хлебников

МПК: G01N 21/00

Метки: газа, газоанализатор, интерференционный, концентрации, метана, раздельного, углекислого

...возможно изменение комбинации анализируе.мое вещество - сравнительное вещество, позвоЗ ляет устранить ошибку в определении концентра.ции углекислого газа, проводить независимоеопределение концентрации углекислого газа,сократить время раздельного анализа метана иуглекислого газа и упростить анализ.16 Интерференционный газоанализатор для раз дельного определения концентрации метана иуглекислого газа, например, в рудничной атмосфере, содержащий газовоздушную камеру с каналами, поглотители воды и углекислого газа,о т л и ч а ю щи й с я тем,что, с цельюповы щения точности определения концентрации угле.кислого газа, газовоздупщая камера имеет пятьканалов,при этом второй и пятый каналы сое.диненфс заборником воздуха,первый и четвертый -через...

Номер патента: 685996

Опубликовано: 15.09.1979

Авторы: Голубева, Рожнов, Степуро, Черемухин

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, узкополосный, фильтр

...интерференции - очень большим. В-третьих, усложняется эксплуатация фильтра; появ ляется необходимость в контроле за клиновидностью расстояния между подложками с зеркалами с помощью сложной оптико- электронной схемы.Целью изобретения является получение интерференции порядка 1 в 1 в видимой области спектра.Это достигается тем, что в предлагаемом фильтре на поверхностях подложек выполнены углубления, а отражающие слои нанесены на плоские основания этих углублений, 20 параллельные исходным поверхностям подложек.На чертеже показан описываемый фильтр, содержащий (прозрачные) подложки 1, 2 с углублениями 3, 4, на основаниях которых 45 напылены зеркала 5, 6. Поверхности подложек отполированы с высокой точностью и соединены на оптическом...

Номер патента: 664496

Опубликовано: 25.12.1979

Автор: Соллогуб

МПК: G01B 11/06

Метки: интерференционный, клиновидности, пластин, прозрачных

...угла б и достигает максимального (Тох =1)30твенно где о ГИ11 (;ЙЮ ЛИ+11 Е(8Е ф(1 11 г;С значений при угле б равном, соответс Ьп иЗ(ьмф) где в - целое числ 4При изменении клиновидности отношейие. этих величин изменяется в пределахО+ 1 з 1КВ 1 ИИспользуя выражения 1, 2, 5, 6 можно доказать, что в случае лазерного пучка с осевой мметрией . = У (.Г), (7) т; иак 7. сии т.е. указанное отношение является Ьункциеи приведенной клиновидности Г =(д - ди.Д аметр пучка, Х . длина волньц, причем, показатель преломления и пластины служит парамет. ром этой функции,Вид функции 1 (Г) определяется распределением интенсивности в лазерном пучке и может быть рассчитан с помощью выражения (5).Для получения воспроизводимых результатов целесообразно...

Номер патента: 708144

Опубликовано: 05.01.1980

Авторы: Данилина, Каменщиков, Комиссаров

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, плотности

...0,05 длины волны света, и невозможность определенияпрофиля распределения плотности, т.е. недостаточный динамический диапазон. Бель изобретения - повышение точностяизмерения и расширение динамического диапа.зона,Это достигается тем, что в интерференцион.ном способе измерения плотности оптическипрозрачных веществ создают одновременноспектроинтерференционные трехлучевую и двухлучевую картины, в рабочем участке спектратрехлучевой картины формируют не менеедвух изапик, определяют длину волны одногоиэапика и измеряют спектральные расстояниямежду соседними изапиками в исходном и рабо"чем состоянии. По наклону двухлучевых полос определяют направление изменения плотности и судят об ее абсолютном значении.Для определения профиля плотности...

Номер патента: 711352

Опубликовано: 25.01.1980

Авторы: Корнеева, Молочников, Эйдинов

МПК: G01B 11/26

Метки: интерференционный, угломер

...так, что направления падения пучков интерферометра на отражатель 7 симметричны оси 0-0 и пересекают ее под уг 45 оРаботает интерференционный угломер следующим образом.Параллельный пучок света, поступающий от осветителя 1, делится 20 светоделительной пластиной 2 на цва пучка, которые с помощью зеркал 3 и 4 направляются на отражатель 7. Затем, отразившись от зеркал 5 и б, пучки возвращаются по первоначальному пути на светоделительную пластину 2, интерферируя между собой, При повороте вала 8, связываемого с измеряемьи объективом, вследствие углового перемещения отражателя 7 меня- ЭО ется разность хода лучей в двух ветвях интерферометра, что приводит к смещению интерференционной картины, которое регистрируется блоком 9.Принимая...

Номер патента: 711648

Опубликовано: 25.01.1980

Авторы: Француз, Шмаль

МПК: H01L 39/02

Метки: дифференциальный, интерференционный, квантовый, постоянного, прибор, сверхпроводящий

...сосдипены между собой собеих боковых сторон.Такое г.шолнение корпуса обеспечивает полную электрическую цзоляьььподвух точечцььх контактов друг от другаи позволяет производить раздельную регу 25лировку точениях контактов, т,е. получчть ццентцчпьье контакты и осуцествить их проверку в рабочем режиме,после чего производится электрическоесоединение двух боковых сторон и данное сворхпроводящее устройство будетработать в реьотче сверхпроводяьпегомагнгцтомотра. Тала чертеже изображенпоперечный разрез прибора плоскостью,проходящей через точе лп.ье контакты,35перпендикулярно осям пгоскостец отверстий. Прибор состоит ьз сверхььроводяшего корпуса 1 с отверстц.:Ми 2,Точечпьье контакты 3 расположены на кор 40пусе, .коптактпый Вклады., вставляется...

Номер патента: 715927

Опубликовано: 15.02.1980

Автор: Литвиненко

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, резольвометр

...сЛуч свет тво работает следующим образом,а от источника 1 расширяется с по.конической системы 2 и попадаето на зеркало 3 и фотопластинкуую в держателе фотоматериала 5.ическую пластинку 4 попадает какс телескопическойсистемы 2, такенный от зеркала 3. В плоскостики эти лучи интерферируют. Ин.ная картинка фиксируется на715927 4 поворотного механизма, меняющего его поло жение системы зеркалофотослой относительно облучающего йх света. Кроме того, запись информации на фотопластинку производится эа одну экспозицию, что позволяет увеличить точность и ускорить процесс измерений. 10, Интерференционный резольвометр, содержащий отклоняющее зеркало, отличающийся тем, что, с целью упрощения конструкциии повышенйя точности измерений, зеркало вы 15...

Номер патента: 721667

Опубликовано: 15.03.1980

Авторы: Кольцов, Михеев, Розов, Шуренков

МПК: G01B 9/02

Метки: зеркальных, интерференционный, линейных, перемещений, угловых, элементов

...зеркало 2, четнертьнолнонуюпластину 3, полупрозрачное зеркало 4,неподвижный отражатель 5 и поднижныйотражатель б, связанный с механическим объектсм, поляризационные фильтры7, 8 и диафрагмы фотоприемников 9,10. Схема электронной обработки сигналон нключает фотоприемник 11 опорного сигнала (7 о, фотоприемник 12 измерительного сигнала П, фотоприемник 13 сдвинутого на четверть периодасигнала з, формирователя прямоугольных сигналов 14, 15, 16, осущестнля 721667вшие клиппирование входных сигналовс Фотоприемников, Формирователи 17,18 счетных импульсов на положительный перепад клиппированных сигналов,блок управления коммутацией 19, состояние выходного сигнала которогоопределяется фаэоным соотношениемвходных сигналов (либо + - , либо--...

Номер патента: 737817

Опубликовано: 30.05.1980

Авторы: Комраков, Шапочкин

МПК: G01N 21/46

Метки: диэлектрических, интерференционный, переменной, пленок, показателя, преломления, толщины

...того, уточняющим признаком способа является то, что изменение угла падения освещающего пленку пучка осуществляют в плоскости, параллельной ингерференционным полосам в пленке и перпендикулярной ее поверхности.В этом случае наблюдаемое изменение ширины полосы полностью обуславливается изменением угла падения световых лучей на пленку и не требуетсявведения дополнительных поправок, учитывающих проекционные искажения интерференционной полосы.Способ позволяет определить показатель преломления в пленках переменной толщины не измеряя оптическую толщину пленки ни в одной ее точке. Однако, если оптическая тблщина пленки иэвестна в какой-нибудь ее точке с погрешностью не превышакщей величины, соответствующей одному порядку интерференции...

Номер патента: 741121

Опубликовано: 15.06.1980

Авторы: Земсков, Кобелев, Сагалович, Терещенко, Шаймарданов

МПК: G01N 21/46

Метки: интерференционный, рефрактометр

...рабоче го плеча интерферометра, а на одном из свободных концов вала жестко укреплены два концевых выключателя. При этом вал может перемещаться вдоль оптической оси кюветы, а интерферометр выполнен по 35 схеме Майкельсона. На чертеже приведена принципиальная схема интерференционного рефрактометра,Интерференционный рефрактометр состоит иэ двухлучевого интерферометра типа Майкельсона, образованного отражаюшими элементами 1, 2 и разделяющим элементом полупрозрачным зеркалом 3, кюветы 4 с исследуемым веществом, вала 5, вмонтированного в клювету, концы которого выходят наружу, двух концевых выключателей 6, жестко укрепленных на одном конце вала, и счетчик 7 интерференционных полос. Отражающий элемент 1 интерферометра жестко закреплен внутри....

Номер патента: 748125

Опубликовано: 15.07.1980

Авторы: Густырь, Пучков, Томашевский

МПК: G01B 9/02

Метки: длины, интерференционный, интерферометров

...9 импульсов, полупрозрачные зеркала 10 и 11, лазеры 12 и 13, контролируемый интерферометр 14.Интерференционный способ измерения длины интерферометров осуществляется следующим ббразом.Пучок света от источника 1 света с непрерывным спектром излучения (в диапазоне длин волн Л - Лг ) проходит коллиматор, состоящий из отрицательной линзы 3 и положительной линзы 4, и параллельным пучком падает на интерферометр 14. После объектива 5 сходящийся пучок света, проектирующий изображение источника 1 света на входную щель монохроматора 7, проходит монохроматор 7 и на выходе его регистрируется световой поток с помощью фотоумножителя 8 со счетчиком 9 импульсов. С целью воэможности регистрации изменений светового потока с помощью Фотоумножителя 8...

Номер патента: 752140

Опубликовано: 30.07.1980

Авторы: Голубенко, Лобанов

МПК: G01B 9/02

Метки: идентификации, интерференционный, препаратов, фармацевтических

...микрометрическим винтом нулевых полос верхней подвижной системы интерференционных полос с нижней неподвижной системой, Так как наличие сброса характеризовало появление дополнительной третьей ахроматической полосы на верхней подвижной системе интерференционных полос, то совмещение проводилось вначале по крайней правой, а затем по крайней левой ахроматичной полосе верхней подвижной системы и по показаниям микрометрического винта записывалось соответствующее смещение.Для определения хроматических сдвигов готовилась серия стандартных растворов исследуемого вещества в интервале концентраций 0,2 - 5,0 мг/л через каждые 0,3 мг. Для фентоламина гидрохлорида в качестве растворителя применялась вода, а для бутадиона 0,1 н. раствор едкого натра,...