Интерференционный фильтр

Союз Советскив Социалистическиз Республик(23) Приоритет -С 02 В 5/28 Государственный комитет СССР по делаи изобретений и открытий(71) ЗаяемтЕЛЬ Ленинградский ордена Ленина и ордена Трудового Красного Знамени государственный университет им. А.А. Жданова(54) ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫИ ФИЛЬТР Изобретение относится к области интерференционных покрытий физики тонких пленок и может найти широкое применение в оптике, астрономии, спектральных и космических исследованиях.Известны интерференционные фильтры, которые содержат стеклянную, кварцевую или какую-либо другую прозрачную подложку, два четвертьволновых зер 10 кала, образованных чередующимися слоями диэлектриков с различными показателями преломления, между зеркалами расположен промежуточный диэлектрический слой с оптической толщиной, кратной половине длины световой волны 1.Известен также интерференционный фильтр следующей конструкции: подложка, два четвертьволновых зеркала, разделенных промежуточным слоем, оптическая толщина которого обычно не превышает Л (21. Однако такой фильтр не может одновременно обладать малой полушириной и большим пРопусканием. Это обусловлено влиянием поглощения в четвертьволновых слоях, образующих зеркала интерференцнонного фильтра. ЗО Цель изобретения - сужение полосыпропускания промежуточного слоя,т.е.усовершенствование интерференционного фильтра, приводящее к уменьшениюего полуширины без уменьшения пропускания.Это достигается тем, что в известном интерференционном Фильтре, содержащем подложку, два четвертьволновых зеркала, разделенных промежуточным слоем, оптическая толщина которого кратна половине длины волныизлучения, пропускаемого Фильтром,промежуточный слой выполнен многослойным,На чертеже представлеиа конструкция предлагаемого интерференционногоФильтра.Он содержит подложку 1, два четвертьволновых зеркала 2 и 3, междукоторыми находится многослойный промежуточный слой 4. В качестве промежуточного слоя используется система чередующихся слоев диэлектриков,Промежуточный слой выполнен многослойным потому, что простое увеличение толщины его невозможно, так каквещества, применяемые для созданияинтерференционных фильтров в видимойобласти спектра (сернистый цинк ЕпЯ,,0033 700 Сернистый цинк,криолит 93 17,Н Н 4 В 4 НЕЕВ 0038 0,91 рнистый цинкиолит и космиче спектральнаниях. астрономии ких исслед ормула изобретения аз 2759/67Подпи сн ое ЦНИИПИ 3Тираж 587 2 зкриолий ИаИГ, фтористый магний М 9 Г 2), при толщинах более 1,5 мкм растрескиваются. Путем же использования промежуточной системы из чередующихся слоев диэлектриков, оптическая толщина которых кратна половине длины световой волны, можно получить промежуточный слой с большой эффективной толщиной и в соответствии с этим уменьшить ширину полосы пропускания интерференционного фильт ра. Полуширина спектральной кривой Р 1 15,Н,ВН 2 ННВ92 17.Н.ВН 4 Н 4 В 4 НЕ Здесь Л - длина волны, для которой пропускание Т фильтра максимально: Т - Тмд,- полуширина полосы пропусканйя Фильтра.Характеристики фильтра Р 1 взяты из работы Е 2,Фильтры 99 2 и 3 имеют предлагаемую конструкцию. Из таблицы видно, что при одинаковом числе четвертьволновых слоев, образующих зеркало интерференционногоФильтра, Фильтры предлагаемой кон -струкции имеют существенно лучшиехарактеристики,Технико-экономический эффект применения предлагаемого интерференционного Фильтра состоит в увеличении чувствительности регистрирующей аппаратуры, Предлагаемое устройство может быть использовано сразу, так как оно не предусматривает изменения технологии изготовления диэлектрических светофильтров, во многих областях науки и техники: оптике,фильтра уменьшается потому, что она,как известно, обратно пропорциональна толщине промежуточного слоя. П р и м е р . Выли рассчитаны и изготовлены интерференционные фильтры предлагаемой конструкции и их свойства сравнены с известными по литературным данным свойствами таких же фильтров ранее применяющейся кон-. струкции. Данные сравнения приведены в таблице Интерференционный фильтр, содержащий подложку с нанесенными на неедвумя четвертьволновыми заркалами,35 разделенными промежуточным слоем,оптическая толщина которого кратнаполовине рабочей длины волны излучения, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью сужения полосы пропуска 40 ния, промежуточный слой выполнен изнабора слоев, оптическая толщина которых кратна половине рабочей длиныволны,ИСточники информации, принятые вовнимание при экспеРтизе1, Крылова Т.Н, ИнтерференционныеФильтры, Л., 1973, с, 12-17,2. Фурман Ш,Л. и др. Изготовлениеузкополосных интерференционных Фильтров с относительной полушириной,меньшей 0,005. Л., 1969, с. 7-12. Филиал ИПП Патент, г.ужгород,ул.Проектная