Интерференционный длинноволновый отрезающий фильтр

ОП И ИЗОБ К АВТОРСК Сотоз Советски Соцналнстнчесн(1) ). Кл. Ь 02 В 5/28 ее заявки С ПРИСоЕДИНЕНИ (23) Приоритет е 1 деретееаак 1 аататВееете 1 ааетре Иарае раааа азартеееа етарытаа 53) УД(И) Опубликов (45) Лата опубл 05.78, Ьюллете 35.345.8088.8) ования описания 17,0 Е,7 72) авторы изобретения Ф.Макаров и Е.Г,Столов 1) Заявите 4) ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ ДЛИННОВОЛНОВЫЙ ОТРЕЗАЮЩИЙ ФИЛЬТР с т 0 Изобретение относится к оптическому приборостроению и может найти применение в спектральных приборах.В настоящее время испытывается острая потребность в длинноволновых отрезающих фильтрах. Такие фильтры должны обладать ступенеобразной спектральной характеристикой с высоким пропусканием в длинноволновой рабочей областиспектра и низким пропусканием в прилегающей к ней широкой коротковолновойзоне (зоне подавления),11 эвестны конструкции отрезающихФильтров на основе тонкослойных оптических покрытий (11,21,Недостатком известных конструкцийявляется наличие большого количестванеравнотолщинных слоев. Небольшие ошибки в оптических толщинах слоев, неизбежные в процессе изготовления покрытия, приводят к резкому снижению пропускания фильтров в рабочей областиспектра. Указанное обстоятельство делает промышленное изготовление Фильтров чрезвычайно затруднительным.Ближайшим прототипом является система, образованная несколькими элементарными фильтрами, каждый из которыхсостоит иэ чередующихся равнотолщинных слоев с низким(п ) и высоким (п) показателями преломления, отличающимисяя оптическими толщи н амислоев. Зоны подавления элементарныхфильтров смещены и перекрываются (3.5Недостаток такой системы эаключаетя в том, что на спектральной харакеристике имеются глубЬкне провалыкоэффициента пропускания Т в рабочейобласти спектра.1 Целью изобретения является созданиепростого в изготовлении оптическогоинтерференционного длинноволнового отрезающего фильтра с высоким пропусканием в рабочей области спектра, центркоторой расположен на длине волны Л.Сущность изобретения заключается втом, что .в интерференционную систему,состоящую иэ Р элементарных равнотолщинных Фильтров из нечетного числа че- яО редующихся слоев из веществ с низким() и высоким ( Е, ) показателямипреломления, оптические толщины которых возрастают по мере удаления отподложки с показателем преломления 5 тн"ни отношение оптическихтолщин любых соседних элементарныхфильтров равно 1,0 : (1,4+1,б), введены слои: между системой и подложкой споказателем преломления пб я оптичес" ЗО кой толщиной (0,4+0,5)10, где 1 - опти.606152 Формула изобретения Составитель В,Ванторинедактор Н.Ахмедова Техред А.Алатырев Корректор С.Гарасин Заказ 2467/43 Тираж 621 ЦНИИПИ Государственного комиг по делам изобрете 113035, Москва, В, РаушПодписноета Совета Мннистроий и открытийхая наб., л, 4/5 иал ППП Патентф, г. Ужгород, ул. Проектная,ческая толщина слоя первого, считая от подложки, элементарного фильтра систе-, ьв; между 1 и + 1) элементарными фильтрам( слой с оптической толщинОй (1,4116) 1,25 1в 2,3..р), и 5 между системой и воздухом введены слои с оптическими толщинами (1,41,6) 0 5 ф и (0,2-;0,3)Лр и показателями преломленияи а соответственно.На чертеже схематически изображена 1 О конструкция фильтра. Она состоит иэ подложки 1, элементарных фильтров 2,3 Р+1 и введенных слоев, обозначенных заштрихованными прямоугольниками Р+2, Р+32 р+3. 15Такая система обладает высоким коэффициентом пропускания в рабочей облас". ти спектра и несложна в изготовлении. Высокий коэффициент пропускания достигается эа счет введения вьвцеуказанных слоев. При выборе (ц (оптической толщины слоя первого, считая от подложки, элементарного фильтра) следует исходить иэ соотношения (в(0,3-;0,35)Зь,1 гдеЛ 1- коротковолновая граница зоны подавления,Интерференционный длинноволновый отрезающий фильтр, содержащий интерференционную систему, состоящую иэ Р эле" ментарных равнотолщинных фильтров,каждый из которых содержит нечетное число чередующихся равнотолщинных слоев иэ веществ с меньшим (я) и большим (а) показателями преломления, расположенную на подложке с показателем преломления : пс и6, причем оптические толщйны слоев фильтров системы возрастают по мере удаления от подложки,и отнсхяенке оптических толщин любых соседних элементарных фильтров равно 1,03(1,4-:1,6),о т л и ч а ющ и й с я тем,что,с целью увеличенияпропускания фильтра в рабочей области спектра, центр которой расположен на длине волны Лр,введены слои:между сиС" темой и подложкой слой с показателем преломления я 4 и с оптической толщинс(й (0,4 Ф 0,5)фе,где Вр-оптическая толщина слоя первого, считая от подложки,элементарного фильтра; между 1 и (1+1) элементарными фильтрами слой с оптической толщиной (1,441,6)1,25 р и между системой и воздухом введенй слои с оптическими толщинами (1,44 1, 6)рО, 5 1 и (О, 2+О, 3)Лр и показате" лями преломления п 6 иъсоответственно.Источники. информаций, принятые во внимание:при экспертизе:1. Авторское свидетельство СССР В 367401,кл. 9 02 В 5/28, 1970.2. Крылова Т.Н. Интерференционные покрытия, Л., 1973, с. 144.Э, Хасс Г, и др. Физика тонких пленок, т. 5, М., 1972 с, 72,