Интерференционный фильтр

(11) 539284 ОПИС АНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ(51) М, Кл,з С 02 В 5/2 с присоединением заявки Государственный комнте Совета Министров ССС 23) Приоритет 6. Бюллетень Ъ Опубликовано 53) ДК 35 345 ло делам изобретении н открытий88.8 Дата опубликования описания 22.12,7 72) Автор изобретени) ИНТЕРФЕРЕ опт узк таточри по - 15 А лосы пропускания м ушири ввиду значительнрассеяние при бтия.Для улучшениции оптическихфильтра в нем сжуточный слой ирого зеркала вь я и обесхарактерилои первграничаполнены ечения стабилизастик предлагаемого ого зеркала, промещий с ним слой втоиз окислов, напринапри(фторис 4 имеет промежуслой 9 Изобретение относится к области ического приборостроения, в частности к ополосным интерферентгионным фильтрам.Известны интерференционные фильтры, содержащие две или несколько групп чередующихся слоев диэлектриков с высоким и низким показателем преломления и толщиной в четверть длины волны( 1, 2).Известен также интерференционный фильтр, содержащий подложку, прозрачную в заданной области спектра, с нанесенным на нее покрытием, выполненным в виде двух многослойных зеркал с чередующимися слоями с высоким и низким показателями преломления, причем толщина слоев равна четверти длины волны, разделенных промежуточным слоем, толщина которого кратна половине длины волны (3).Однако известный фильтр имеет недос но высокий коэффициент пропускания п ых потерь на поглощениеольшом числе слоев покрь мер, тантала и кремния, а остальные слои второго зеркала - из диэлектриков, например, из сернистого цинка н криолита, причем показатель преломления диэлектрика с высоким 5 показателем преломления больше соответствдощего показателя преломления окислов, а показатель преломления диэлектрика с низким показателем преломления мсньше соответствующего показателя окислов.1 О На чертеже представлена схема предложенного интерференцнонного фильтра.Интер фсренцнонный фильтр содержит оптическуо подложку 1, прозрачную в заданной области спектра, на которую нанесено покры тне в виде многослойных зеркал 2 и 3, разделенных промежуточным слоем 4. Многослойное зеркало 2 выполнено из чередующихся слоев 5 и 6 окислов с высоким пн и низким и показателями преломления, например, из 20окислов тантала и кремния, причем толщина слоев равна 1/4 Х. Зеркало 3 содержит чередующиеся слои диэлектрика 7 и 8 толщиной 1/4 Х с высоким и", и низким а" показа телями прело.,;лсння соответственно мер, нз сернистого цинка н крполита .ого магния). Промежуточный слойтолщину, кратную 1/2 Р,. При этом ЗО точный слой 4 и граничащий с ни539 э 84 Фор мул а изобретен и я А;, ф,бЮ.;1 7 л 1 е;1 ед .;1, Еечс 7 ав 1 едакто 1 С. Хейфиц КО):еати с 1. Лук Лас:а 3004 15 11 а; ч: 1 ц 1,.1 а 1..7; .:7 7 О.;. е;а С.еиеа . ,из.1:ае С.,.ииО 7 аф иа.аи 1 д а,зеркала 3 выполнены из окислов, Показаели преломления окислов и и и и диэлектрил Пков и и и удов отворяет оотпогисппо 7 НН, П 7., 77,Предложенная конструкция позволяет уменьшить общее количество слоев по срав - нению с фильтрами, целиком состоящими из оилов г тем са 7 ы: Сократ 7 ггь 7 р,7 дос 7 кост 7 их изготовления.Предлагаемый фильтр может быть выполнен с иовы пенным пропусканием при пслуширине полосы пропускапия монсе 1.0 - 15 Л. Интерференционный фильтр, содержащий подложку, прозрачную в заданной ооласти спектра, с нанесенным на нее покрытием, выполненным в виде двух многослойных зеркал с чередующимися слоями с высоСим и низким показателями преломления, причем толщина слоев равна четверти длины волны, раздслснных промежуточным слоем, толщина которого кратна половине длины голны, отлив ающ; й с я асм. что, с цельо улучшения и обеспе си 7 стабилизации оптических характери сп,к, слои первого зеркала, промежуточныйслой и граничащий с ним слой зторого зеркала выполнены пз окислов, например, тантала и кремния, а остальные слои второго зеркала - из диэлектриков, например, из сернис тс о ци.ка 7; криолита, причем показате,7 ьпреломления диэлектрика с высоким показателем преломления больше соответствующего показателя преломления окислов, а показатель преломления диэлектрика с низким показате лем преломления меньше соответствующегопоказателя преломления окислов,Источники шформацпи, принятые во внимание при экспертизе:0 1. Авт. сь.384090, М. кл. 6 02 В 5/28,1971.2. Лвт. св. Ло 365674, М. кл, 6 02 В 5/28,