Патенты с меткой «интерференционный»

Номер патента: 1651111

Опубликовано: 23.05.1991

Авторы: Егорова, Лаппо

МПК: G01J 3/45

Метки: интерференционный, спектрометр

...передней фокальной плоскости, так что за входньм объективом 8 идет параллельный пучок лучей, Зеркало 7, сдвинутое вдоль нормали к нему на расстояние , вносит поперечный сдвиг итерферирующих пучков на величину Т = 42 Гдля известного прибора и на величину Т = 4 е ехп 22 ОЗО для предлагаемого. Когерентные, попарно параллельные лучи, сдвинутые в поперечном направпении на величину40 Т, интерферируют в задней фокальной плоскости объектива 8 образуя здесь интерферограмму источника 1 излуче. ния В плоскость инт ерфер огр аммы Ус4 5 танавливается линейный Фотоприемник 9, сигнал с элементов которого после усиления преобразуется с помощью вычислительного устройства в спектр.Для варианта интерферометра с зеркалами 4 и 5, расположенными подауглом 06...

Номер патента: 1659792

Опубликовано: 30.06.1991

Авторы: Авербух, Перельман, Поторока, Сопов, Федотова, Штейман, Щербаков

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, поглощения, показателя, преломления

...Операция ЭГодЛЗацИИ )Гх)",О)К 61 Лвна Весовую функцию.1(эждь Й фрэГме 1 т ЭГОдиэиру тся с пгМОШЬЮ З(Одх)эацЛОННОЙ фуНКцииЭусссполушириной 8 см, цэ г)1 р(1 анн -: о,:-осительно )еоед 1 нь,)рай г(ентэ, почегоВЫПОЛНявтСя КС(х)ПЛ 6(СНОВ ,урЬ 8-Ир;( Бвазование (раз)егэост(: 40(ЗБ точек 1, В 1 )лу(ехной интербе ОГ:Зиме автомат 4 че(,к(прОГрэммЙ Опред 8 ляк)г.я величинь Отнод(ЕНИЯ х Э 1 Н6 Ь()НО,;И Перво О реЛе(СЗАл к интенсивности нулевого А,це-Трального максимума) И рЗССТОЯ Ле Й э Ме) (ду Э ГИМИ рефяеКСЭМИ С КоорДИНЭТЭМИ Х 1 И,)",О э =;1 "ХОВыражение для расчета тесретического спектра поопускзния гредстэвляет собой отношение квадрата модуля амплитуды прошедшего све.а к квэдра.у амплитуды пада(ощего света.(омплекснуО В 1 хгЛитуд( ПрОШ 8...

Номер патента: 1665227

Опубликовано: 23.07.1991

Авторы: Арефьев, Корнеев, Лебедев, Рожков, Шерешев

МПК: G01B 11/26

Метки: измеритель, интерференционный, объектов, поворота, углов

...9 касается дна 7 кюветы6, а показатель преломления иммерсионнойжидкости 8 равен показателю преломлениячетырехгранной пирамиды 9, 35Интерференционный измеритель работает следующим образом.Когерентный коллимированный световой пучок лазера 1 расширяется телескопической системой 2 и направляется через 40светоделитель 3 на отражательный блок 4,предназначенный для скрепления с контролируемым объектом (не показан), Попадаяна отражательный блок 4, пучок лучейделится на пять пучков лучей. Первый 45опорный, пучок лучей отражается от светоделительных боковых поверхностей 10 четырехгранной пирамиды 9 и посылается вобратном направлении, сохраняя угловуюориентацию падающего пучка лучей. Остальные информационные четыре пучка лучей проходят через...

Номер патента: 1668864

Опубликовано: 07.08.1991

Авторы: Карпова, Смирнов, Шаркин

МПК: G01B 11/30

Метки: интерференционный, лазерный, плоскомер

...оптическойоси, визирную, марку 3 и блок обработкиинформации, измерительный блок в видеустановленного с возможностью перемещения вдоль оси корпуса 5 с тремя наконечниками 6 - 8, один из которыхустановлен с возможностью перемещенияперпендикулярно оптической оси, и последовательно расположенных вдоль оптической оси корпуса 5 уголкового отражателя9, двух пар оптических клиньев 10, 11 и 12,13 и второго уголкового отражателя 14.Плоскомер содержит также две оптические пластины 15 и 16, расположенные с-1противоположных сторон корпуса 5 и предназначенных для создания замкнутой оптической системыПлоскомер работает следующим образом,Луч лазерного интерферометра 1 направляется плоским зеркалом 2 через оптическую пластину 15 в измерительный блокна...

Номер патента: 1670391

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Кондратов, Контиевский

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 17/08 ...

Метки: вогнутых, интерференционный, поверхностей, цилиндрических

...проектируют в фокальную плоскость объектива 4. Оптический элемент 5 выполняют в виде пластины толщиной б. определяемой из соотношенияб - Я(19,81054 п - 53 02046 п + 58, - 32,34114 п + 9,05130 п - 1,01889 пб), где В - радиус кривизны цилиндрической поверхности 8;и - показатель преломления материала оптического элемента 5,Оптический элемент 5 устанавливают между фокальной линией 9 контролируемойповерхности 8 и самой поверхностью 8, Эталонную поверхность 6 оптического элемента 5 совмещают с фокальной линией 9 контролируемой поверхности 8.Эталонную поверхность 6 оптического элемента 5 и контролируемую поверхность 8 детали 7 освещают вышедшим из объектива 4 параллельным пучком лучей, перпендикулярных эталонной поверхности 6.Между линзой 2 и...

Номер патента: 1670405

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Гладырь, Степанов

МПК: G01B 21/00

Метки: интерференционный, объекта, положения

...потока света. прошедшего через отверстия, Движение центра отраженного от зеркала 4 опорного пучка осуществляется с помощью зеркала 4, которое приводится в колебательное движение виброприводом 5 от непрерывного сигнала опорного генератора 15. Это вызывает изменение интенсивности1670405 35 света в центре и на краю интерференционного поля соответственно.Сигилы с фотоприемников 7 и 8, усиленные усилителями 9 и 12, подаются на компараторы 10 и 13, которые дискретизируют фазу сигналов так, что одному периоду сигнала соответствует один импульс. Образованные таким образом импульсы подаются на схему 14 совпадения. Одновременно импульсы с компаратора 10 подаются на вход сумматора 11, который начинает и заканчивает счет этих импульсов по сигналам,...

Номер патента: 1674038

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Елисеев, Раводина

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, отражающий, светофильтр, узкополосный

...слоев; падающий луч 3 белого света; выходящий луч 4 монохроматического света; монохромати ческий луч 5, испытавший отражение только от одной системы слоев; Р 1 - угол падения света на фильтр; а - угол выхода света из фильтра; ф, Тг - угль преломления;,В угол между равными гранями призмы; 20 а 1, о 2 - углы падения света на 1-е и 2-е отражающие интерференционные покрытия.При падении луча света 3 на грань АС призмы 1 свет преломляется, проходит че рез призму и падает на 1-е покрытие под углом а 1, Отраженные от системы полу прозрачных слоев лучи. интврферируют, в результате чего под этим же углом от 1-го покрытия отражается луч 5, имеющий длину 30 волны 4, равную разности хода лучей, отраженных от соседних полупрозрачных слоев...

Номер патента: 1682950

Опубликовано: 07.10.1991

Авторы: Елисеев, Попова, Раводина, Стенина

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, отражающий, светофильтр

...приблизительно 2 нм, Положение этой полосы изменяется в спектре в пределах 50 нм при изменении положения фильтра относительно падающего света. Отражающий интерференционный фильтр позволяет получить узкую (2-10 нм) полосу отражения, имеет высокую контрастность, а область перестройки в зависимости от конструкции фильтра охватывает 50 - 200 нм, Перестраиваемые фильтры могут быть использованы для облучения различных обьектов, например биологических, для селективного поглощения света с длиной волны источника возбуждения при получении спектров комбинационного рассеяния и люминесценции. формула изобретения Отражающий интерференционный светофильтр, содержащий подложку из оптически прозрачного материала и систему 5 прозрачных и...

Номер патента: 1682951

Опубликовано: 07.10.1991

Авторы: Летяго, Лупашко, Овчаренко

МПК: G02B 5/28

Метки: зоны, интерференционный, оптический, отражения, отрезающий, расширения, узкополосного, фильтр, фильтра

...и узкополосного фильтров. а при известный отрезающий фильтр испольэовать невозможно иэ - эа отсутствия полного перекрытия областей низкого про 1682951гускания отрезающего и узкополосного фильтров.Рассчитывают спектральные зависимости пропускания фильтра (фиг. 2),конструкцию которого можно представить в видеОо 3 (2 Н Н 2Ц 2 НО, (3)и узкополосного фильтра состоящего из слоев тех же веществ. Кривые 1,1 - соответ 1ственно отрезающий и узкополосный фильтры при пн = 2,0, и. =: 1,32 кривые 3,2 -1 соответственно отрезающий и узкополосный фильтры при пн =2,2, и.=1,32.Рассчитывают спектральные зависимости пропускания для шести возможных конструкциях отрезающих фильтров. Все кривые симметричны относительно ю = 1 и характеризуются...

Номер патента: 1693371

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Москалев, Смирнова

МПК: G01B 11/06

Метки: интерференционный, объектов, плоскопараллельных, прозрачных, толщины

...с и Ь . Таким образом, перемещение зеркала интерферометра в воздушной ветви на величину Л = 1 до полногЬ наложения всех интерференционных полос в обеих интерференционных картинах позволяет непосредственно определить толщину т исследуемого образца,тСоставитель Б,ЕвстратовТехред М.Моргентал КоРРектоР М,шароши Редактор О.Головач Заказ 4067 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 Способ осуществляют следующим образом,Монохроматический пучок света полупрозрачным зеркалом 2 разделяется на два луча 3 и 4, при этом лу 3, дойдя до зеркала 7, возвращается и, отразившись от...

Номер патента: 1702259

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Алексеев, Филимонова

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, монокристаллов, показателей, преломления

...направлению распространения света в кристалле отвечает свое значение (и- п") и соответственно свое значение периода Лпространственной модуляции рассеянного света, а следовательно, и свое 30 значение периода б контрастных интерференционных полос, наблюдаемых со стороны грани кристалла, оротсгональной биссектрисе угла между соответствующими главными осями оптической индиктрисы, 35Именно это и определяет возможность, облучая кристалл, например, в двух различных направлениях (,в той или иной плоскости облучения и измеряя периоды б; и б соответствующих интерференционных кар тин, а также зная длину волны Аобпучающего кристалл света, определить численные значения разности показателей преломления (и- и") и(п - и") в данном направлении в...

Номер патента: 854123

Опубликовано: 30.05.1992

Авторы: Агапова, Егорова

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, спектрометр

...устройства,Укаэанная цель достигается тем,что в интерференционном спектрометре,содержащем источник излучения, проек-:тирующую оптику, систему отклоняющихзеркал, дифракционную решетку и фотоприемн зеркалльныхкционо одноажатевыполн уголка ная ре го из На чертеже представлена схема предлагаемого устройства.Спектрометр содержит источник 1 излучения, формирующий обьектив 2, плоское зеркало 3 с отверстием в центре, первый уголковый отражатель, образованный зеркалами 4, 5, причем на поверхность зеркала 4 нанесена дифракционная решетка, второй уголковый отажатель, образованный зеркалами 6,7,нализирующий обьектив 8,фотопник 9,ра осуществляетРабота спектроме ся следующим образо Пучки лучей от и ходя объек ифрФточника 1, проверстие в...

Номер патента: 845548

Опубликовано: 30.05.1992

Автор: Егорова

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, спектрометр

...теференционном спектроме мрасположенные по ходу(54)(57) ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПЕКТРОМЕТР, содержащий расположенные по хо"ду луча входную диафрагму, коллимирующий объектив, светоделитель, состоящий из двух призм, фокусирующий объектив и фотоприемник, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышениясветосилы, светоделитель выполнен издвух различных подобных призм, рабочие грани которых алюминированы, аугол между алюминированными и прозрачными гранями больше прямого. афрагму, коллимирующий объектив, светоделитель, состоящий из двух призм, фокусирующий объектив и фотоприемник, светоделитель выполнен из двух различных подобных призм, рабочие грани которых алюминированы, а угол между алюминированными и прозрачными гра нями больше...

Номер патента: 1739188

Опубликовано: 07.06.1992

Авторы: Нестеров, Ольмезова

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, компаратор, линейных, перемещений

...пучка, отраженного от отражателя 8,Интерференционный компаратор работает следующим образом,Монохроматический свет источника 1 после прохождения коллиматора 2 парал1739188 50 55 лельным пучком падает на светоделитель3. Часть света направляется светоделите-.лем 3 в измерительный канал интерферометра, В измерительном канале пучок света 5зеркалом 4 направляется на дополнительное зеркало 5, отразившись от которого попадает на зеркало 6, и затем, отразившисьот него, попадает на отражатель 7, укрепленный на каретке 11, Отразившись от стражателя 7, пучок света последовательнопроходитв обратном направлении - зеркала 6, 5, 4, светоделитель 3-и поступает черезобъектив 9 в счетчик 10 интерференционных полос. 15Другая часть пучка света от...

Номер патента: 1744669

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Елисеев, Попова, Раводина

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, отражающий, светофильтр

...половину соответствующеи длины волны Л 1, Л 2, - ,Л,фотоэмульсии, в котором сформированы системы эквидистантных чередующихся прозрачных и полупрозрачных из солей серебра слоев. При этом расстояние между полупрозрачными слоями в каждой системе составляет половину длины Л 1, Л 2, - Лп, (сСистема эквидистантных слоев форми с, руется за счет создания в слое фотоэмуль- сО сии стоячих волн при облучении его излучением от эталонного источника с линейчатым спектром и последующей химической обработки,При падении излучения на слой фото- эмульсии, в котором сформировано п систем эквидистантных слоев с расстоянием между ними, равным Лп/2, под углом Ъ светофильтр обеспечивает отражение всего набора длин волн Л . Если Лп есть набор характерных...

Номер патента: 1744670

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Елисеев, Попова, Раводина, Стенина

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, светофильтр, селективный

...устройства попал напервый побочный максимум другого фильтрующего устройства, т, е. контуры полос отражения составляющих фильтрующихустройств должны быть сдвинуты один относительно другого на расстояние Л.1, отминимума до первого побочного максимума,При интерференции К пучков света содинаковыми амплитудами ближайший кглавному максимуму минимум получаетсяпри разности фаздмин =2 7 гй(1)Первый побочный максимум находитсяпри разности фаз3 7 гдмаксМТогда разность фаз Л Я между ближайшим к главному максимуму минимумом ипервым побочным максимумом будетЛЛд = дмакс дмин = -К(3)Соответствующая такой разности фазразность длин волн будетЛ= Лд - , (4)гл 2 Мгде 4 - длина волны, используемая приизготовлении фильтрующего устройства;М - число...

Номер патента: 1747877

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Торчинский, Федорцов, Чуркин

МПК: G01B 11/06

Метки: интерференционный, полупроводниковых, слоев, толщины

...всему спектру составляет от единиц до десятков минут. Это приводит к большой длительности процесса измерений и делает способ неприменимым при массовом контроле полупроводниковых слоев впроизводственных условиях.Цель изобретения - повышение производительности измерения.Поставленнаяцель достигается тем, чтона измеряемый слой направляют монохроматическое излучение, а затем регистрируют отраженное от слоя (или прошедшее через него) излучение и путем измерения угла падения излучения на измеряемый слой получают угловую зависимость интен. сивности отраженного слоем (или проведшего через него) излучения, а по угловому расстоянию между экстремумами полученной зависимости определяют толщину слоя,Согласно общей теории интерференциикоэффициент...

Номер патента: 1748110

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Елисеев, Раводина

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, отражающий, светофильтр, узкополосный

...коэффициент отражения светофильтра и расширить диапазон выделяемых длин волн, Светофильтр состоит из ромбоидного сечения, выполненной из призмы прозрачного материала с показателем преломления п, на две равные смежные грани которой с углом /3 между ними нанесены системы чередующихся эквидистантных прозрачных и полупрозрачных слоев. Две другие грани с углом у между ними являются входной и выходной, Угол у= 23, если Р 90 и у =360 - 2 р, если р 90, 2 ил,точка падения лу нь фи тра; Р, 6 - точки у слоистые системы.юанеФильтр работает следующим образом.При нормальном падении света на грань А призмы АВСО счет без преломления и с минимальными потерями проходит в тело фильтра до слоистой системы на грани - ф АВ (фиг, 1) или ВС (фиг. 2), падает...

Номер патента: 1748111

Опубликовано: 15.07.1992

Автор: Михайлов

МПК: G02B 5/28

Метки: диэлектрический, интерференционный, узкополосный, фильтр

...ширины полосы пропусканиядостигается тем, что зависимость ширины25 полосы пропускания от пс оказывается более сильной по сравнению с прототипом.При этом диапазон изменения пс остаетсятем же и определяется только ассортиментом веществ, которые могут быть использоЗО ваны при нанесении интерференционногопокрытия,Необходимое для получения заданнойширины полосы значение пс обеспечивается или за счет подбора вещества или смесиЭ 5 веществ с подходящим показателем преломления, или использованием в качестве Ссистемы слоев из имеющихся в распоряжении веществ.В последнем случае возможно плавное40 управление значением пс, осуществляемоепутем изменения толщин отдельных слоев всистеме С,Увеличение контрастности достигаетсяза счет того, что при...

Номер патента: 1748112

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Бочкарев, Лупашко, Овчаренко, Стеценко

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, фильтр

...графическое решение интерференционного уравнения, поясняюсцее принцип работы фильтра; на фиг, 3 - расчетные угловые зависймости расщепления полос пропускания интерференционных фильтров.Интерференционнцй фильтр (фиг. 1) содержит чередующиеся слои двух диэлектриков В с высоким п и Н с низким п показателями преломления, образующих два зеркала 1, разделенных центральным слоем 2, причем зеркала включают четвер тьволновце слои для длин волн, определяемых выражением (1), слои 3 и по два 4 прилегающих к центральному слою слоя 4 с оптической толщиной в нечетное число раз больше остальных слоев зеркала, Конструкция фильтра может быть представлена в ви-. де И(ВН)цврН 2 В с 1 нов И(НВ), (2)50 или в видей(ВН)В сНоВ 2 Н сВс 1 Н ВМ(НВ), (3) где М + 1...

Номер патента: 1763882

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Базыкин, Михальченко, Рюмин, Яковлев

МПК: G01B 9/02

Метки: гетеродинный, интерференционный, перемещения

...(3)Оз(с) = Огпсоз(К ЛХ+ 2 е/и),Оп(т) = Огпсоз(К Л Х + (и - 1) к/и).50Сдвинутые по фазе на. л/и сигналы (3) поступают на логический блок 6, где из и сигналов получают 2 п импульсов на период интерференционной полосы (период фазового сдвига световых волн).Импульсы поступают на реверсивный счетчик 7, который в зависимости от направления перемещения производит сложение или вычитание импульсов и представляет информацию о перемещении в соответствующих дробных долях длин волн Л/2 п в виде цифрового кода.Направление перемещения анализируется в логическом блоке 6, который формирует сигнал "прямой " и "обратный ход" для реверсивного счетчика, Анализ направления производится по опережению или запаздыванию любых двух сигналов (3), поступающих в...

Номер патента: 1775602

Опубликовано: 15.11.1992

Автор: Гуров

МПК: G01B 21/00

Метки: геометических, интерференционный, образца, параметров

...расширением номенклатуры геометрических параметров образца.Предлагаемый интерференционный способ измерения геометрических параметров образца, использующий измерения при последовательном изменении положения образца путем его вращения и поступательного перемещения в эталонном интерферометре, заключается в том, что помещают образец в эталонный интерферометр, получают две интерференционные картины при отражении света от отражателей эталонного интерферометра и каждого из двух противоположных участков поверхности образца, осуществляют фотоэлектрическое преобразование одновременно двух интерференционных картин. восстанавливают распределения фазы в интерференционных картинах, по которым определяют величины зазоров по всей площади каждой...

Номер патента: 1803734

Опубликовано: 23.03.1993

Авторы: Леун, Телешевский

МПК: G01B 21/00

Метки: геометрических, интерференционный, параметров

...усиления. Соответствие между комбинацией логических состояний после ИФ 12 и коэффициентами усиления У 10 приведено. в таблице. Абсолютные значения Кус 1 и Кус 2 соотносятся следующм образом: Кус 1КусгС помощью УУ 13 также осуществляется перестройка УФД 9 путем введения дополнительного фазового рассогласования между измерительным и опорным частотными сигналами для реализации функции смещения поля допуска, а также для введения необходимой коррекции при изменении условий окружающей среды.Сущность способа заключается в сочетании трех физических эффектов, реализованных в данной измерительной схеме,1. Известно, что в функции преобразования цепи акустооптоэлектронной ПОС имеется линейный участок, где зависимость между изменением фазового сдвига...

Номер патента: 1810750

Опубликовано: 23.04.1993

Авторы: Курибко, Селезнев

МПК: G01B 11/24

Метки: интерференционный, кривизны, оптических, поверхностей, радиуса, сферических

...способ.Способ осуществляется следующим об-разом,Перед контролируемой поверхностью 1устанавливают пропускающую образцовуюголограмму 2, которую освещают соосный сней когерентный коллимированный пучком3 света, С помощью голограммы 2 в ее симметричных порядках дифракции, например,в+1-м и 1-м, +2-м и -2-м и т,д., в проходящемсвете из пучка 3 формируют два направленных на поверхность 1 гомоцентрических когерентных пучка 4, 5 света с центрами,соответственно 6 и 7, расположенными нарасчетном расстоянии 2 Р один от другого.Ручки 8, 9 света с.центрами 10, 11 соответственно, полученные отражением от повер- .хности 1 пучков 4 и 5 соответственносовмещают на голограмме 2, Возникающиепри совмещении пучков 8, 9 интерференционная картина...

Номер патента: 1830445

Опубликовано: 30.07.1993

Авторы: Курибко, Селезнев

МПК: G01B 11/24

Метки: интерференционный, кривизны, оптических, поверхностей, радиуса, сферических

...Направляют пучок 8 света на поверхность 4 и полученный из него отражением от нее пучок 12 света с центром 11 направляют на голограмму 2, спомощью которой преобразуют его в прошедшей сквозь голограмму 2 в обратном свете ходе лучей квазиколлимированный пучок 14 света,Направляют пучок 9 на поверхность 4 и получают из него отражением от поверхности 4 пучок 15 с центром 16 направляют на голограмму 3, с помощью которой преобразуют его в прошедший сквозь голограмму 3 в обратном ходе лучей квазиколлимированный пучок 17 света, Совмещают с эталонным пучком б света оба пучка 14, 17 и регистрируют с помощью светоделителя 18 и объектива 19 на экране 20 одновременно две интерференционные картины 21, 22 сопоставляют их и по взаимному...

Номер патента: 1554573

Опубликовано: 30.11.1993

Автор: Бондаренко

МПК: G01N 21/45

Метки: абсолютного, интерференционный, коэффициента, преломления

...14 служит винт с микро- метрической резьбой. В качестве регистратора 9 интерференционной картины использован приемник электромагнит- наго излучения с соответствующей областью спектральной чувствительности с токаизмерительным прибором (например, для белого света используют фотодиод ФД КП с микроамперметром М, а также . коан для визуальной регистрации интерфе,;е.;цианной картины), В качестве фотопримка 24 используют фотодиод ФДКП,Способ осуществляют следующим образом, Для создания интерференционной картины в вакууме освещают интерферометр 1 источником 6 широкополосного излучения через конденсор 7 и прозрачное окно 8. Перемещением отражательного элемента 5 с помощью механизма 14 перемещения добиваются получения интерференционной карти н ы...

Номер патента: 1498192

Опубликовано: 30.05.1994

Авторы: Мищенко, Ринкевичюс

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, рефрактометр

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ РЕФРАКТОМЕТР, содержащий два интерферометра, первый из которых включает источник коллимированного белого света, оптически связанный с первой светоделительной пластиной и установленными по ходу прошедшего первую светоделительную пластину излучения измерительной кюветой, первым зеркалом, а также установленным по ходу отраженного от первой светоделительной пластины излучения вторым зеркалом, второй светоделительной пластиной, оптически связанной с первым фотоприемником, соединенным выходом с входом блока регистрации нулевого положения ахроматической полосы, а второй интерферометр включает источник монохроматического излучения, оптически связанный с третьей светоделительной пластиной и установленным по ходу прошедшего третью...

Номер патента: 1322790

Опубликовано: 30.05.1994

Автор: Мищенко

МПК: G01N 21/45

Метки: газа, интерференционный, показателя, преломления

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ ГАЗА, включающий пропускание четырех коллимированных лучей через четыре соответствующие им кюветы интерферометра Рэлея, жестко скрепленные между собой, попарное сведение лучей с формированием двух интерференционных картин, введение в одну из кювет исследуемого газа и изменение параметров его состояния, определение изменения порядка интерференции по изменению взаимного смещения интерференционных картин по окончании изменения параметров состояния газа, по которому судят о показателе преломления газа, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, по окончании изменения параметров состояния газа кюветы вращают в двух различных плоскостях, параллельных оптической оси...

Номер патента: 1549419

Опубликовано: 10.07.1996

Авторы: Ильичев, Полторацкий, Савченко

МПК: H01L 29/80

Метки: интерференционный, квантовый, полевой, транзистор

Квантовый интерференционный полевой транзистор, содержащий подложку из арсенида галлия с кристаллографической ориентацией (001) с последовательно расположенными на ней каналами в виде слоев арсенида галлия n-типа проводимости с барьерным слоем GaAlAs между ними и сформированные на подложке контакты стока, истока и затвора, отличающийся тем, что, с целью упрощения конструкции, барьерный слой выполнен в виде совокупности кластеров, образующих в кристаллографических направлениях (110) и (001) регулярную структуру с периодом, равным 1 3 длинам волн де Бройля, и имеющую толщину а каналы ориентированы вдоль кристаллографического направления (110).

Номер патента: 1230316

Опубликовано: 10.07.2000

Авторы: Байков, Лузе

МПК: H01L 39/22

Метки: датчик, интерференционный, квантовый, сверхпроводящий

Сверхпроводящий квантовый интерференционный датчик, содержащий параллельно соединенные контуры квантования в виде полостей в массивном сверхпроводнике, зазор между ними и пленочный контакт Джозефсона, отличающийся тем, что, с целью обеспечения помехозащищенности датчика, массивный сверхпроводник состоит из основания с размещенным на нем изолятором-подложкой для пленочного контакта Джозефсона, заглушки, прижимающей изолятор к основанию, крышки и двух цилиндров, стоящих на основании и соединенных сверху планкой с винтом, осуществляющим электрическое соединение пленочного контакта Джозефсона с планкой, при этом полости образованы основанием массивного сверхпроводника, боковой стенкой крышки и...