Способ контроля геометрических параметров диэлектрических объектов

Номер патента: 1317275

Автор: Федотов

ZIP архив

Текст

/08 4 С 0 ЕНИ па об ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ ОПИСАНИЕ ИЗ ВТОРСНОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ(53) 621.317.39,531.71 (088.Ь) (56) Патент Японии В 58-29841, кл, С 01 В 7/08, 1983.Авторское свидетельство СССР В 1019232, кл, С 01 В 7/08, 1980. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ (57) Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля геометрических параметров диэлектрических объектов - их ширины, длины или толщины - и имеет целью повьппение производительности контроля, Устройство для осуществления данного способа содержит измерительный конденсатор 1, камеру влажности, подключенный к одному электроду изме 80131727 рительного конденсатора 1 источник 2переменного тока и подключенный кдругому электроду измерительный блок3. При осуществлении способа объект4 перемещают в пространство междуэлектродами и заполняют его пространство влажной средой, подготовленнойс помощью камеры влажности. После выдения конденсата на поверхности ъекта, образующего электропроводное покрытие 5, определяют изменение емкости конденсатора 1 по сравнению с начальным значением до осаждения конденсата. По изменению емкости определяют контролируемый параметр (толщину, длину или ширину), предполагая, что все прочие геометрические параметры объекта неизменны. Благодаря малой трудоемкости нанесения электропроводного покрытия повьппается производительность контроля. 1 ил,1317275 Изобретение относится к измерительной технике иможет быть исполь Составитель И,КислицынТехред А,Кравчук Корректор В,Бутягай Редактор К,Волощук Заказ 2412/Зб Тираж 677ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, ЖРаушская наб д, 4/5 Подписное Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул. Проектная, 4 эовано для контроля геометрических параметров диэлектрических волокон и иэделий из пластмассы, например ши рины и толщины неэлектропроводных лент и т,п.Целью изобретения является повышение производительности контроля за счет упрощения технологии нанесения электропроводного покрытия на диэлектрическое изделие.На чертеже показана конструкция устройства для реализации способа контроля геометрических параметров диэлектрических объектов,Устройство содержит измерительный конденсатор 1, к одному из электродов которого подключен генератор 2 переменного тока, а к другому электроду - измерительный блок 3. Между электродами измерительного конденсатора 1 помещают с воздушным зазором относительно них контролируемый диэлектрический объект 4, На его поверхность в процессе измерений наносят электро- проводное покрытие 5, например, в виде пленки водного конденсата. Для этого пространство между электродами измерительного конденсатора 1 запол 30 няют влажной воздушной средой, подготовленной с помощью камеры влажности (не показана), в которой размещают конденсатор 1 с объектом 4, Начальную температуру влажной среды устанавли вают большей, чем температура объекта контроля, а относительную влажность - большей, чем ее критическое значение (точка образования росы) при температуре объекта контроля. Вследствие того, что при указанных условиях температура объекта контроля ниже точки росы влажной среды, .на его поверхности конденсируется пленка влаги - электропроводящее покрытие 5. С помощью измерительного блока 3 определяют изменение емкости измерительного конденсатора 1 относительно его начальной емкости, Так как его емкость однозначно зависит (при постоянной площади контролируемого объекта 4), например, от толщины объекта или (при постоянной толщине объекта) от его ширины (диаметра или длины), то по изменению емкости измерительного конденсатора может быть определен контролируемый геометрический параметр.Благодаря тому, что процесс нанесения электропроводного покрытия достаточно прост и может быть автоматизирован, повышается производительность контроля. Формула изобретения Способ контроля геометрических параметров диэлектрических объектов,заключающийся в том, что на контролируемый объект наносят электропроводящее покрытие, помещают его междуэлектродами измерительного конденсатора, определяют изменение емкостиэтого конденсатора и по его величинеопределяют контролируемый параметр,отличающийся тем, что,с целью повышения производительностиконтроля, контролируемый объект устанавливают с воздушным зазором относительно электродов измерительного конденсатора, а электропроводящее покрытие наносят путем размещения измерительного конденсатора во влажнойвоздушной среде с температурой, превышающей температуру объекта контроля, и относительной влажностью, превышающей ее критическое значение притемпературе объекта контроля,

Смотреть

Заявка

3972003, 05.11.1985

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4132

ФЕДОТОВ ВЛАДИМИР КОНСТАНТИНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 7/06

Метки: геометрических, диэлектрических, объектов, параметров

Опубликовано: 15.06.1987

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1317275-sposob-kontrolya-geometricheskikh-parametrov-diehlektricheskikh-obektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля геометрических параметров диэлектрических объектов</a>

Похожие патенты