Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов

ZIP архив

Текст

(61) 11618 (21) 39043 (22) 03.06 (46) 15.10 (72) .А,в х еип98 поний.ельнуюыми в ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ 36/24-09(56) Авторское свидетельство СССР В 1161898, кл. С 01 К 27/26, 1983. ,(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ (57) Изобретение относится к контрольно-измерительной техник о сравнению с авт.св. У 1 16 18 зво ляет сократить время измереУстройство содержит измериткамеру (ИК) 1 с расположенн,8012641 ней активным элементом 2 и СВЧ-переключателем 10, резистор 3, усилитель 4 с регулируемым коэффициентом усиления, операционный усилитель 5, два ключа 6 и 12, усилитель 7, элемент памяти 8, индикаторный прибор 9 и два источника питания (ИП) 11 и 13. При подключении СВЧ-переключателя 10 и ИП 11 синхронно через ключи 6 и 12 замыкается цепь инверсного входа через усилитель 7, в результате чего отпадает необходимость в выоде измеряемого образца из ИК 1, что приводит к сокращению времени, .затрачиваемого на проведение измерений, Цель достигается введением СВЧ-переключателя 10, ИП 11 и ключа 12. 1 ил.126/ 09 Другим возможным и реализованным вариантом СВЧ-переключателя 10 является конструкция, аналогичная вышеописанной с использованием вместо Рз -диода дополнительного диодаГанна, гецерирующего СВЧ-сцгнал счастотой, близкой к частоте генерации активного элемента 2,Устройство для измерения парамет 0 ров диэлектрических материалов работает следующим образом,Отсчет величины диэлектрической проницаемости проводится по шкалеиндикаторного прибора при приложе 15 ции измерительной камеры 1 к измеряемому образцу,При подключении СВЧ-переключателя 10 происходит резкое уменьшениечувствительности всего устройства к20 нагрузке, в качестве которой служитизмеряемый образец, что создаетусловия для воспроизводимой. калибровки отсчетцого уровня. При этом резкое уменьение чувс гвительности мо 25 жет происходить как вследствие внесения СБЧ-переключателем 10 дополгительиых потерь, так и вследствиевнесения им доголнительного фазовогосдвига, Прц подклочении СВЧ-переклю 30 тателя 10 к источнику 11 синхроннозамыкается цепь инверсного входачерез усилитель 7 в результате чего отпадает необходимость в выводезеряелого образца из измерительной камеры 1, что приводит к сокрацецпо времени, затрачиваемого на про,зедецце измерений,Изобретение относится к коцтроль -но-измерительной технике и можетбыть использовано для неразрушающего контроля материалов.Цель изобретения - сокращениевремени измерений,На чертеже изображена конструкцияустройства для измерения параметровдиэлектрических материалов.Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов содержит измерительную камеру 1, которая может быть выполнена в видеотрезка прямоугольного волцоззода,коаксиальной или микрополосковой линии, диэлектрического резонатора,в которой установленактивный элемент 2, например, в вид. диода Гатца,СВЧ-транзистора, лавинно-пролетногодиода и дрВ цепи питания активного элементаустановлен резистор 3, сигнал с ;отозого через усилитель / с регулируемым коэффициентом усиления, выполненный в вице нолевого транзисторас изолированным затвором, постуаетна операционный усилитель 5, соединенный через кзвоч 6 с усиззителем 7 рца входе которого вклочец элемент 8памяти, ьапример в ззлДе конденсатор.Сигнал с операционного услителя по ступает ца иДикаторн. прибор 9,В измерительной камере 1 наряду с к,тивпым элелецтол 2 расположен СЫЧ-переключатель 10, источник 11 витания,допозиитсльцый ключ 12, соецццеццьп 1механически с ключом 6, источник13 иГтация В виде истоцика цапряже -ния, подключеццыц к активному элементу 2 через резистор 3.Синхронность включения в простец- Устройство для измерения параметшем случае может быть реализована, ров диэлектрических материалов поесли дополнительный ключ 12 соединя- авт,св.1161898, о т л и ч а юется с ключом 6, образуя двухпози- щ е е с я тем, что, с целью сокрационный ключ,45щения времени измерений в него ввеСВЧ-переключатель 10 может быгь децы СВЧ в переключате, установленэыпол 11 ел например В виде Р, "1 По пый в измерительной камере, источникда, расположенного в металлпинском питания и дополнительный ключ, вклютержцевом держателе, удаленном от чецный между выходом источника питаплоскости размещения активного эле 50ния и управлязощим входом СВЧ-пере,мегта 2 на/2, где- длина ключателя, при этом дополцительныиволны в прямоугольном волцоводе, клоч механически связан с клачом,Сосагзитех Б. ЕжовРедактор ,Редзц Техред Л.Сердюкова Корректор Е,РошкоЗаказ 5557/46 Тираж /28 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Г 1 оскза, )К, Раушская цаб д, 4/5Производстве 1 зцо-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул". Проектйая, /

Смотреть

Заявка

3904336, 03.06.1985

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2572, НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ МЕХАНИКИ И ФИЗИКИ ПРИ САРАТОВСКОМ ГОСУДАРСТВЕННОМ УНИВЕРСИТЕТЕ, МОСКОВСКИЙ АВИАЦИОННЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. СЕРГО ОРДЖОНИКИДЗЕ

УСАНОВ ДМИТРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, СКРИПАЛЬ АЛЕКСАНДР ВЛАДИМИРОВИЧ, КОРОТИН БОРИС НИКОЛАЕВИЧ, ЛИЦОВ АНДРЕЙ АНДРЕЕВИЧ, ГРИШИН ВАСИЛИЙ КОЗЬМИЧ, СВИРЩЕВСКИЙ СТАНИСЛАВ БРОНИСЛАВОВИЧ, СТРУКОВ АНАТОЛИЙ ЗАХАРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрических, параметров

Опубликовано: 15.10.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1264109-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-parametrov-diehlektricheskikh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов</a>

Похожие патенты