G01N 21/21 — свойства, влияющие на поляризацию

Приспособление к столику для поляризационного микроскопа для расправления вращения в одной плоскости помещенной на столике стеклянной полусферы

Загрузка...

Номер патента: 40002

Опубликовано: 30.11.1934

Автор: Аршинов

МПК: G02B 21/34, G01N 21/21

Метки: полусферы, столике, одной, плоскости, поляризационного, стеклянной, расправления, столику, микроскопа, вращения, помещенной

.... мидрдСкопдд-ТЯ ЧЭЧРЗВЛНИ ВРЗЩНИ диодного микроскопа зддя направления д в ОДНОЙ ПЛОСКОСТИ ЧТЕКЧЧЯННОЙ ЙПОЙУвращенияв одной плоскости помещен- .СФЕРЫ, ПОМЗЩЕННОЙ На СТОЛИКЗ- ЭТ ной на ролике стеклянной полусферыПРИПОСОбЛеНИЕГ-СОШОИТ ИЗ: ПРОЗРЧНОИе отличающееся применением выполнен - з/ ДХЖКРДжВЫДФЛЕ-ЕННОЙ аИЗ ПрОЗРЗЧНОИ пла- Ной "изе прозр рудного материайа ддуждди7 дС+ТъЧеС 9 ЙМаССЬ 1 ИЛИ ИЗ СТЕКДЗ- (о вырезаннойпхз ферической чашки двумяЬ" ддУа ЭТЭ (СМь ЧеРТеЖ 1 ВЪТРе 3 аНд ИЗ парайи взаимно перпендикулярных дугд СФЕР 12914014 нашими ШРЗНИЧЕНЗ ДВУМЯ большихжрутов, и уцроенной скользнчпарами 1: 2 И г 45 в 3 диМН ПеРПеНдВКУ щей; по смоченной глицерином или иней а ТЛЯРНЫХ ДУРО-ЧЬШИХ КРУГ 013, ИЗ КЧГОРЫЖ жидкостью поверхности...

Приспособление к столику поляризационного микроскопа для кристаллооптических измерений

Загрузка...

Номер патента: 40003

Опубликовано: 30.11.1934

Автор: Аршинов

МПК: G01N 21/21, G02B 21/34

Метки: микроскопа, столику, поляризационного, кристаллооптических, измерений

...экватора, Угол азимута измеряется а столике микроскопа угломмежду начерченной на плоскости вспомогательного сегмента линией ХБ и центральной линией дужки. начерче:Ной нацеллюлоидной ленте.2, Полусфера со скользящим сегментом(Протрактором) (фиг, 3), Длв Определения сф.-ричеслих координат наклона олусферы более , крупных размеров, около 35 .и,1, врашаюшейся в плоско. вогнуто линзе, мож 110 предложить / скользящий по полусфере сегмент.Се "мент (протрактор), изготовленный из стекла или пластической массы, слегка смочем-ный глицерином, скользит одноьременно как пополусфере, так и по подставке ь виде вогнуто-плоской лйнзы, Скользящий сегмент(протрактор) с толшиной стенки между сферическими его поверхностями около 3 - 4,с,г имеет форму...

Прибор для спектроскопического определения содержания кремния и хрома в чугуне

Загрузка...

Номер патента: 42730

Опубликовано: 30.04.1935

Авторы: Мандельштам, Ландсберг, Леви, Райский, Цейдин

МПК: G01N 21/21, G01J 3/14, C01G 37/00 ...

Метки: спектроскопического, хрома, чугуне, прибор, кремния, содержания

...вать накачество выполняемого металла. Эксплоатация слектральной установки, не требуя дефицитных реактивов, обходится, значительно дешевле химических анализов.Экземпляр предлагаемой установки работает на 1 Государственном пвтозаводе им, Сталина в Москве. К производству . этих установок в массовом масштабе приступил ВООМП на заводе ЛОМЗ.Сущность предложения заключается в том, что окулярная головка прибора снабжена двумя окулярами, из которых один - простой предназначен для определения хрома, а второй, соединенный с поляризационным фотометром, для определения кремния.На чертеже фиг. 1 изображает вид : предлагаемого прибора;. фиг, 2 в в по. стрелке А на фиг.1; фиг. 3 - схему колебательной цепи для искрового промежутка.Предлагаемый...

Способ анализа прозрачных веществ

Загрузка...

Номер патента: 42731

Опубликовано: 30.04.1935

Автор: Пасечник

МПК: G01N 21/21

Метки: веществ, анализа, прозрачных

...вещество в магстоянного напряСпособ анали состоящих из д определения уг поляризации пр отличаю щнйся лиза оптически помещают иссле нитное силовое жения,Эксперт и редактор ИГ н.шток ип. печатный Трудф. зэк 3383 ри В лабораторной практике широко применяется способ определения конценграции оптически деятельных растворов, например сахара, посредством поляриметра. Настоящее изобретение имеет целью расширить область применения способа поляриметрического исследования и применить его также для анализа оптически недеятельных веществ.Как известно, оптически недеятельное прозрачное вещество, помещенное в магнитное поле, становится оптически деятельным по направлению магнитных силовых линий,Величина вращения плоскости поляризации зависит от...

Способ производства нефелометрических измерений

Загрузка...

Номер патента: 60788

Опубликовано: 01.01.1942

Автор: Брумберг

МПК: G01N 21/21, G01N 21/27

Метки: производства, измерений, нефелометрических

...приборе необходимо установить зависимость степени деполяризации света от концентрации взвешенных частиц (йри постоянной толщине слоя жидкости). После этого можно пользоваться прибором, не применяя эталонов сравнения.Концентрацию частиц можно определить,и другим путем, добиваясь определенного значения степени .поляризации при изменении толления применяется в поляризовлометре за кюветой с жидкостьы и дифференциальная схемащины слоя жидкости. Этот вариант поляризационного нефелометра может быть осуществлен добавлением к колориметру Дюбоско наставных поляризационных деталей.Схема поляризационного нефелометра для объективных измерений изображена на фиг, 2, Свет из источника 7, пройдя через светофильтр 8, поляризуется призмой 9 и затем...

Поляриметр

Загрузка...

Номер патента: 63413

Опубликовано: 01.01.1944

Автор: Кудрявцев

МПК: G01J 4/00, G01N 21/21

Метки: поляриметр

...компенсационного приспособления Использована ячейка Керра, по величине напряжения на обкладках которой определяется компенсационный угол поворота плоскости поляризации.На пути лучей в обыкновенном поляриметре включается ячейка Керра К, которая используется в качестве компенсатора Поляриметр-а. Напряжение на обкладки компенсатора податся с потенциометра Е,градуированного в углах вращения ПЛОСКОСТИ ПОЛЯРИЗЗЦИН.Сопротивление г служит для установки на нуль. Переключатель Пизменяет полярность источника питания в случае измерения левовращающих растворов. Измерения производятся как на обычном объективном поляриметре, только вместо вращения лимба анализатора вращают ручки потенциометра, начиная по порядку от больших значений сопротивлений и...

Поляриметр

Загрузка...

Номер патента: 63640

Опубликовано: 01.01.1944

Автор: Кудрявцев

МПК: G01J 4/00, G01N 21/21

Метки: поляриметр

...схема такого поляриметра указана,ка ертеже. Электромагнит 3 с сердечником из тяжелого флинта Ф имеет обмотку для изменения силы тока, в цепь которой вк;почен магази- сопротивлений К, градуированный в градусах углов вращения плоскости поляризации света, Для установки компенсатора на нуль последовательно с магазином сопротивлений К вк;почено переменное сопротивление г, а для изменения полярности подводимого напряжения установлен переклочатель П,При производстве измерений уг 1 а Вращения плоскости пс 1 яризации света доводят силу тока в обмотке злект-,омагнита 3 при помощи маазина сспрстВлснийдс такс) величины, при которой достигается ксмпенсаци 51 уг,1 а Вращсни 51 плоскости поляризации, причем измереше последнего производят по величине...

Прибор для оптического исследования минералов на столике федорова поляризационного микроскопа

Загрузка...

Номер патента: 67876

Опубликовано: 01.01.1947

Автор: Казанский

МПК: G02B 27/28, G01N 21/21

Метки: микроскопа, прибор, поляризационного, исследования, столике, федорова, оптического, минералов

...будет больше, и в цепи фотоэлементов возникнет электрический ток. Направление тока и величина его будет определяться отношением разности потенциалов фотоэлементов, т. е. разностью освещенностей последних, иначе говэряотклонением главного сечения оптической индикатрисы от положения биссектрисы угла а в плоскости Я.Аналогичное явление будет иметь место, если линия пересечения главного сечения с горизонтальной плоскостью Р не будет делить пополам угол между проекциями осей 2 и Р на плоскость Р, т. е. не будет совпадать с биссектрисой угла 201Для определения угла оптических осей минерала поворотом столика на 45 главное сечение индикатрисы совмещается с вертикальной плоскостью, проходящей через ось Р. 1 отоэлемент тубуса с осью Я...

Приспособление к столику поляризационного микроскопа

Загрузка...

Номер патента: 69110

Опубликовано: 01.01.1947

Автор: Аршинов

МПК: G01N 21/21, G02B 21/34

Метки: столику, микроскопа, поляризационного

...приспособления к столику поляризационного микроскопа,В металлическом кольце У приспособления (фиг, 1), снабженном двумя рисками в плоскости оси У, поворотно установлено второе металлическое кольцо 2.Кольцо 2 имеет сферическую внутреннюю поверхность и служит для помещения и вращения в нем стеклянной гемисферы вокруг ее центра. По окружности кольца 2 нанесены четыре риски, Вместо массивной стеклянной гемисферы в приспособлении применена полая гемисфера, причем гемисфера снабжена переставным по высоте металлическим диском, позволяющим помещать на нем разрезы кристаллов при использовании предметных стекол различной толщины,В приспособлении, изображенном на фиг, 2, для упрощения вращения гемисферы вокруг осей, находящихся в плоскости,...

Приспособление к столику поляризационного микроскопа

Загрузка...

Номер патента: 69111

Опубликовано: 01.01.1947

Автор: Аршинов

МПК: G02B 21/34, G01N 21/21

Метки: столику, микроскопа, поляризационного

...7 расположена в плоскости, секущей экваториальну ю плоскость сферы основания в направлении одного из основных меридианов, Внутренняя поверхность основания 7 выполнена сферической и ограничена широтными кругами, например, в 1 - 2 наверху и в 60 - 70 внизу (фиг. 1 а) или в 35 наверху, в 70 внизу (фиг, 16).На фиг, 1 а и 16 буквами а,и й обозначены различные положения гед 9 тлисферы / в основании 7; цифралги 00/ и 002 - различные положения оптической оси минерала, цаходящегос на предметном стекле 9 (фиг, 1 б), и буквали д, и о., - цанесенные карандашом на гемисфере / малые круги в плоскостях, перпендикутрных соответствующим положениям оптической ос лиеерал.К вертикальным цпоскостял основаи 7 у конце ыреза прикреплены дужки ,разделенцье...

Способ определения полярности вырезанных кварцевых пластин и характера вращения в них плоскости поляризации света

Загрузка...

Номер патента: 82700

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Мячиков

МПК: G02B 27/28, G02B 1/02, G01N 21/21 ...

Метки: пластин, плоскости, вырезанных, света, полярности, кварцевых, вращения, характера, них, поляризации

...ГГЯСТИИ И ХЯРЯКТЕРЯ ВРЯЩЕИИ 5 В ИИ ПГОСКОСТИ ГО, риз 21 ил света, имеюии 11 ц.,1 ью про;упр дить получеиие ОракОВЯ:1- пях пластин при изготовлеиии кварцевых стаоилизаторов, заклОчаюиис 5 в том, что ГОГ 15 рпОсть и,астии и харяктер вращеиия В иих плоскости поляризации света определяют Визяльпьм пяблподеиием фигур яс: еризма.Предваритегп.ио протрав,еии 10 плавикоВОЙ кислотой ВьКВЯРЦЕВУО ИЛЯСТИПУ ) В-ЦЮТ ТОЧЕЧПзХ ИСТОПИКОМ СВЕТЯвизуально наблюдают в отраженном свете фигуры астеризма.На фиГ. 1 показапа фиГра астеризх 2, дявае)ая по,Ожите,п.ио ориентироваппой пластьпой кварца правого врацения; иа фиг. 2 - Ч)иг,- ря Ястсризся, даваемя 51 ОтриГяте,ьио ОриеитирОВяи 110 п п,1 Ястииой квя)- ца ИРЯВОГО ВРащеии 51; ПЯ фиГ. 3 и 4 -фиГУРы...

Измерительный вспомогательный сегмент к поляризационному микроскопу

Загрузка...

Номер патента: 86847

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Аршинов

МПК: G02B 21/26, G01N 21/21, G02B 27/28 ...

Метки: микроскопу, сегмент, поляризационному, вспомогательный, измерительный

...одно деление меридиана и одно деление широты.86847На плоскости сегмента нанесены диаметр и перпендикулярный к нему радиус; этот диаметр нанесен в плоскости дуг меридианов, начерченных на сферической поверхности сегмента, радиус в плоскости начерченного на этой поверхности экватора.Второй вариант сегмента (фиг, 2) отличается от первого варианта видом нанесенной на сго сферическую поверхность сетки. На одной, например левой половине центральной части сферической поверхности сегмента, нанесены дуги меридианов и широтных кругов, соответствующие левой половине центральной части сетки, дуги меридианов от центральной части сетки до дуги меридиана, отстоящего от центральной части сетки на 44, и дуги широтных кругов, отстоящие от дуги...

Способ определения зрелости и крепости хлопкового волокна

Загрузка...

Номер патента: 86874

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Тюрк-Эйгес

МПК: G01N 21/21, G01J 3/46

Метки: крепости, хлопкового, волокна, зрелости

...во-синие 1. Фиолетовые или фиолето- во-синие 1, Прозрачные красные 1. Прозрачные красные Мертвые По процентному содержанию волокон различных групп зрелостиопределяется сорт волокна по примерной таблице 2,Та блица 2 Отбор П 11 К у у 1 ный до я о Сорт Процент содержания волокон 15 - 59 30 - 44 20 - 36 28 и ниже77 и вы- 7650 - 69 ше Для средневолокнистых хлопков и тонковолокнистых АЗ,АЗДля тонковолокнистых хлопков и средне- волокнистых сортовПобеда" 1228, 1225, 611, ОДи цветных 70 - 72 73 и выше 1 - 1620 - 23 20 - 36 23 - 45 6 - 20 1,5 - 7 25 - 50 10 - 25 2 - 10 26 - 55 15 - 20 0 - 7 1 - 12 5 - 13 0 - 3 0 - 5 0 - 6 3 - 17 Для определения крепости волокна по интерференционной окраске установлены коэффициенты прочности (см. таблицу 3) для...

Способ устранения поляризации фотоэлемента

Загрузка...

Номер патента: 91510

Опубликовано: 01.01.1951

Автор: Карасев

МПК: G02B 27/28, G01N 21/21

Метки: поляризации, фотоэлемента, устранения

...Г яр 32 ц)1 и каГод 2.11 а фиг.Показана схема фотозлсктрн цского прибор, ь котором поляризаЦи 51 Отоэзс(снт( ДостГГаетс 5 прсдг 12 ГЯ( мы) ОНОСОбом; на фиг. ) изображена лема, поясняющая способ.срСсд ОКНОМ ФООЭЛЕМСНТЗуСТЗНЯВ,НВЯЮ) 1,1001(01 2)ГГЛ,ГОЛ ЬН) Ю ГГГсИГк 2 из исляндскО 0 ипата тол 1 цинон в 0 - 111,5Г, вьрезв.1) ю ПЯРаЛ,СЛГНО ОГТп ССКОГ ОСИ И ОРНсптНРОВОЧНУЮ ОСЬЮ ПОД )т,ОМ 45 К плоскости поляр;1 зации фотокатода. 3( ПГГетинко 1 2 уста:овлен вращаюппи "51 ГОГЯРизатОР 3.с)бозначи 5 (фиг. 2) угол между плоскостью поляризации вращающсося поляризатора Р и плоскостью поляризации Р, через о, где: оо - угловая скорость вращения поляризатора, 1 - время.Если А - амплитуда колебаний плоско поляризованного :вета, то проекции этой...

Способ химического контроля пивоваренного производства

Загрузка...

Номер патента: 95778

Опубликовано: 01.01.1953

Автор: Лернер

МПК: G01N 21/21, C12C 7/04

Метки: производства, химического, пивоваренного

...водой до 100 г (не считя гсся пустойкогоы) и огдслк;т жпд(:ость от осадка центрифугиро)яппем,) (, 15 О" С С НИ 51 30" С 1 ОРП (3 СХ М 3(В) ОГ 3 0 ГОПРЯ 10 Т ПСТГ) 40 .е. (1)1 ьтря), пом,цяот 3) 1 ср 310 н 1;)О,гл 0,Ом, дооя 3 Л 51101 ПГ) О .К СВИНЦОВ.ГО КС, СЯ И ТННИНЯ П ДОЛПВЯ 0 ДО Х 1 ЕТПконцептриро)яппьо рясгвором суг 4)ягя пярп. с,одержимое колбызпс"гичпо и "рссп 1 ят, цньп,труют Рр(з су. ой складчатый фильтри поля)пзмю в 100 мггметровой Трмбкс,С оде рж 1 нис рясч).)Пм х у л с.во до 1 л5 51 ч сп 5 и солодВьчис 5 о 1 по (1)ОР,Ули с)( 1)100 вгдс:у - углео,(ы раствормыс " п( рссчет( Пя )яхмял ;роцсггахПЯ (.1 ХОС 13 СЦЕС 130"т) 100 1 3)5,80л 5) 0;рс, с си 15 с)ях.агп пг 1 1 еп ны и носс Отдс, ц.Ни 51 ( )и, ьт ПЯ га Осядос прои)11)яО Г д...

Способ определения толщины и показателя; преломления тонких пленок

Загрузка...

Номер патента: 104005

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Карасев

МПК: G01B 11/06, G01N 21/21, G01N 21/43 ...

Метки: пленок, показателя, преломления, тонких, толщины

...устройства Й (последнее - необязательно), модулируется, причем модуляция светового потока достигает 100 7 о.Для определения азимута поляризации слукит источник белого света 5 лучи которого проходят через жестко связаш)ый с компецсатором К поляроид Р (а также поляроид Р.,), вращавшийся поляроид Р, ц падаю; на катод Фотоэлектронного умножитсля (или Фотоэлемента ФЗУ, соответственно фотоумножителя ФЗУ-З), Когда плоскости колебания поляроидов Р, ц Рсовпадают, то мскду фототоками в Фотоуможитслях (или Фотоэлементах) нет сдвига фаз. Когда поляроид Ра поворачивается, то между Фототокамц возникает сдвиг фаз, равцьш углу поворота плоскости поляризации. Сдвиг фаз измеряется логометром Е (типа фазометра). Для определения отцо 1 цения амплитуд...

Способ анализа пивного сусла

Загрузка...

Номер патента: 104305

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Лернер

МПК: G01N 21/21, G01N 33/02

Метки: пивного, сусла, анализа

...суслаРВ - содержание рсдуцнрующих веществ в г/100 млсус 1 а (на г гюкоз ),Фильтрованное сусло раствора А наливают в поляризационную трубку на 200 мл и определяют угол вращения д в сахаримстре, после чего рассчитывают показатель удельного вращения сусла по формуле:1"0а 1 ъ 4 Х 0,3469 Х 10011)2 ХПа где КЪ - удельное вращение исходного сусла в градусах;д, - показатель угла вращенияв градусах линейной шкалы;4 - коэффициент разведения;2 - длина поляриметрическойтрубки в дециметрах;П - плотность сусла в % весов;гг - удельный вес сусла. Пример:(31 С =1,592 РВ+0,02 дг. Для сусла сорта рижского:С =1 536 РВ+0,023 а (4) П р н м с р: Содержание рсдуцирую щих веществ при о 11 рсделенин по Бертрану: д =19,75 П= 11,45 с/= 1,0461 РВ=4,6 г глюкозы...

Способ контроля качества отжига стеклоизделий

Загрузка...

Номер патента: 114801

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Блох, Захариков

МПК: G01N 21/21

Метки: стеклоизделий, качества, отжига

...способ контроля качества отжига стеклоизделий по кольцевой пробе с помощью известного для этой цели прибора - полярископа.По сугцествующей методике для количественной оценки качества отжига стеклоизделий по кольцевой его пробе необходимо в полярископ вмонтировать кальцитно-поворотный компенсатор. Этот оптический прибор дефицитный и пользоваться им довольно сложно.При просмотре кольцевой пробы в ее торце видно нейтральное кольцо, ао обе стороны которого располагаются различные по знаку напряжения.Местоположение этого нейтрального кольца зависит от качества отжига. При равномерном охлаждении стеклоизделия в процессе его отжига нейтральные линии находятся на равном расстоянии от поверхностей трубы. При несимметричном охлаждении линии...

Устройство для вращения (качания) плоскости поляризации света

Загрузка...

Номер патента: 120661

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Кондрашков

МПК: G01J 4/00, G01N 21/21

Метки: поляризации, качания, плоскости, света, вращения

...твердых телах. Лучи света от источника 1 направля 1 отся к поляризатору 3 и в пространство между пл торов Керра К этим конденсаторам подаются от исто электрические напряжения, одинаковые по а сдвинутые друг относительно друга на угол В результате взаимодействия электриче рах 4 и б с потоком поляризованного света кости поляризации, частота которого зависит к конденсаторам напряжения.о, так как оно ти поляризацн нены два кон через конденсо енные электри е, но сдвинуть позволяет 1. Это доденсатора р и поляческие на 1 е на 90 чника тока мплитуда 90. ских полей происходит от частотьв переменные частоте, но конденсатооворот плосриложен ного дмет изоорете н ния (качания) плоскости поляризации свеем, что, с целью вращения (качания) плоУстройство...

Способ измерения напряжений в дисковых спаях стекла с металлом по поляризационно-оптическому методу

Загрузка...

Номер патента: 121578

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Инденбом

МПК: G01B 11/16, G02B 27/28, G01N 21/21 ...

Метки: напряжений, стекла, металлом, поляризационно-оптическому, дисковых, методу, спаях

...кинескопа). Отсутствие прямого способа контроля величины напряжений взаимодействия стекла и металла В дисоом спас Ведет к зпачптсльл 1 ьгм трсд:го:тям г изводстве различных электровакуух 111 ых приборов, таких как магнетроны со стеклянными окнами выводов энергии или металло-стеклянные кинескопы.Описываемый способ заключается в следующем. Пучок плоскополяризованного света из поляризатора пропускается через середину сная под произвольным углом к нормали так, чтобы плоскость поляризац:1 и составляла с плоскостью падения луча угол 45. После прохождения чсрез исследуемую стеклянную пластину толщиной г 1, луч света попадает в анализатор, служащий для измерения разности хода лучей б. вь 1 шсдших из стекла обычным способом,...

Двойной микроскоп с поляризационной оптикой

Загрузка...

Номер патента: 124191

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Королев

МПК: G01N 21/21, G02B 21/00, G01B 9/04 ...

Метки: оптикой, двойной, микроскоп, поляризационной

...другими известными методами и приборами,На фиг, 1 изображена оптическая схема двойногофиг. 2 - вид поля зрения микроскопа при введении миироскопа; на цилиндрической линзы.Яркий источник с лектор 2, светофильтр б. Изображение щели тив 7 проектируется н ной 1 мм, установлен ает лучи через колризонтальную щель ив б и микрообъекца 8. Щель 9 шири- скости микрообъектная лампа ид 4 и осв лим аторнь ть изучаемо ней фокал) посыл щает го й объект го образ ной пло ета 1 (рту 3 и поляро 5 через кол поверхнос ая в перед124191 тива 7 перпендикулярно к щели Б, задает плоскость падения лучей на поверхность шлифа, Изображение щели б на поверхности изучаемого образца можно рассматривать через второй микроскоп, состоящий из микрообъектива 10,...

Микрополяриметр для определения малых толщин пленок

Загрузка...

Номер патента: 125060

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Дерягин, Гаврилов, Зорин, Воропаева

МПК: G01J 4/00, G01B 9/10, G01N 21/21 ...

Метки: малых, толщин, микрополяриметр, пленок

...фиг. 2 и 3 - его конструкция.Для однозначного и быстрого измерения толщин пленок, превышающих длину волны света, пленку следует освещать лампочкой накаливания или вольтовой дугой и рассматривать отраженный свет через спектроскоп прямого зрения (при освещении параллельными лучами) или с помощью спектрального окуляра. В обоих случаях в спектре отраженного света будут видны темные полосы интерференции, по числу, поло125060жению и контрастности которых определяют толщину пленки, что достигается также комбинацией поляризационного микроскопа со спектральным окуляром,Микроскоп 1 имеет пластинку четверть волны и анализатор-поляроид с лимбом для отсчета углов поворота анализатора, расположенные перед объективом микроскопа. За окуляром...

Способ определения концентрации свободных электронов в плазме

Загрузка...

Номер патента: 128201

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Васильева, Грановский, Савоськин

МПК: G01J 4/00, G01N 21/21

Метки: плазме, электронов, концентрации, свободных

...разрешающую способность способа.Одна из ВОзмОжных схемизмерений представлена на чеотеже. Луч от источника инфракрасного излучения, включающего в себя канденсорну 1 о оптическую систему 1, проходит через модулятор 2, монохроматор 3 и поляризационное приспособление 4, после чего пропускается сквозь исследуемую плазму б в направлении, параллельном направле - нию действующего в ней магнитного поля.По выходе из плазмы пучок проходит сквозь анализирующее поляризационное приспособление 6 и регистрируется селективным приемным устройством 7, настроенным на частоту модуляции пучка.Из-за поворота плоскости поляризации пучка в плазме при наличии магнитного поля меняется энергия излучения достигающего приемника.Измерение концентрации...

Способ регистрации поляризационно-оптических явлений в оптически активных средах и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 143569

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Гзовский, Осокина, Шифман

МПК: G01N 21/21, G01J 4/04

Метки: оптически, явлений, средах, регистрации, активных, поляризационно-оптических

...значения и, где и - любое целое число. При вращении поляризатора 2 и анализатора д фаза переменного напряжения на выходе моста зависит от величины угла 0=(о 1 й, где о - угловая скорость;- угол угасания, а амплиту 7 да пропорциональна величине интенсивности света 1 ах=1 оз 1 п, Л, где Х - длина волны; 1 - разность хода лучей.Сигналы с мостовых схем 18, 19 подают соответственно на усилители 20, 21. Угол угасаниялучей определяют измерением фазы периодически изменяющейся интенсивности светового потока на выходе анализатора 3, для чего сигнал с выхода усилителя 20 подают на один вход фазометра 22, На второй вход последнего подают опорный сигнал с генератора 4, Фазометр 22 выдает сигнал, пропорциональный углу угасания .Сигнал подают на...

Конденсационный гигрометр

Загрузка...

Номер патента: 152105

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Плотников

МПК: G01N 21/21, G01W 1/11

Метки: конденсационный, гигрометр

...2 падает под углом на металлическое зеркало 3, разделенное на две равные части, одна из которых изолирована от охладителя теплоизолирующей прокладкой 4 и служит только для сравнения. На другую половину зеркала выпадает роса, Отраженный от зеркала 3 плоско-поляризованный пучок лучей проходит через анализатор 5 и попадает в глаз 6 наблюдателя.В момент выпадения росы часть зеркала, на которую она выпадает, теряет поляризующее свойство и становится светлее, чем другая часть. Момент появления светового контраста между обеими частями зеркала 3 и является моментом отсчета точки росы. Если между зеркалом и анализатором установить чувствительную пластинку 7, например слюдяную, которая дает возможность получить интерференционные полосы, то...

160009

Загрузка...

Номер патента: 160009

Опубликовано: 01.01.1964

МПК: G01N 21/21

Метки: 160009

...выше названной. По найденным значениям поляризации составляют систему уравнений, число которых должно быть равно количеству углеводов, содержащихся в растворе. Следовательно, решив систему уравнений, находят количество углеводов в растворе.П р и мер. Известно, что в испытуемом растворе содержится сахароза, глюкоза, фруктоза и рафиноза. При длине волны Л= 589,3 мл 1 к удельное вращение сахарозы+ 66,53, глюкозы+ 52,7, фруктозы - 93,78 и рафинозы + + 123,01. Находят удельное вращение этих сахаров (пользуясь модельными растворами известной концентрации) еще для трех длин волн Л Л и Лз. Затем определяют четыре раза значение поляризации для исследуемого раствора при Л = 589,3 мл 1 к, Л Л. и Лз (длина трубки 100 мл 1). При этом получают...

Прибор для определения зрелости хлопковоговолокна

Загрузка...

Номер патента: 166525

Опубликовано: 01.01.1964

Авторы: Эйгес, Гурвич

МПК: G01N 21/21

Метки: зрелости, прибор, хлопковоговолокна

...зрелости хлопкового волокна сначала устанавливают оптические плотности испытуемого образца и эталона и одлисная группа11 б АвторыизобретенияЗаявитель Центральный напромышленности сравнивают 4пускаем ости р обри эталон.Для этого образец 12 и эталон поочередно5 помещают на пути светового потока, идущегоот осветителя 1 через разделительное зеркало 8, зеркала 5 и б, разделительное зеркало 4 к светоприемнику 2, от которого усиленные электронным усилителем И электриче.10 ские сигналы фиксируются на шкале индикатора 11. Затем испытуемый образец, имеющийодинаковую с эталопом плотность, помещаютна диафрагму 9 и определяют зрелость хлопкового волокна, пропуская световой поток че рез поляризатор 7, диафрагму 9, анализатор 8, светоприемник...

Инфракрасный микроскоп

Загрузка...

Номер патента: 194356

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Рагузин, Иванова, Гирина

МПК: G02B 27/28, G02B 21/00, G01N 21/21 ...

Метки: инфракрасный, микроскоп

...5Перемещение второго компонента Вдоль оптпческой осп в случае необходимости (при СМСНЕ ООЪСКТПВОВ) ООЕСПЕЧИВЭСТ НЕИЗМСННОЕ положеНе плоскости изобРЯРкения Вьходного зрачка обьективов на экране ЗОПа). Оба 10 компонента имеют ахроматическуО еОэрскцию для всего исследуемого интервала длин волн, Сочетание двух положительных компонентов с промежуточной плоскостью изображения оказывается удачным и в отношеши 15 положения ирпсовои диафрагмы (с минимальным раскрытием 0,5 лиц), назначение которой заклочается в выделении из всего светового пучка лучей той его части, которая принадлежит изучаемому зерну кристалла. Габариты 20 и положение коноскопической системы в оптической схеме прибора позволяют оформить ее конструктивно на одном револьвере с...

200223

Загрузка...

Номер патента: 200223

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Нетребко, Копытов

МПК: G01J 4/04, G01N 21/21

Метки: 200223

...точке на поверхности которого фокусируется обьективом 7. Отразившись от зеркала,находящегося за прозрачным образцом, илизеркального слоя 8 на непрозрачном образце,свет снова проходит оптически активный материал, объектив, пол прозрачное зеркало, вторую четвертьволновую пластинку 9, анализатор 10 и призмой 11 разделяется иа два луча, которые с помощью призм 12 и объективов 13 через светофильтры 14 попадают на фотоумножители 15. Фотоумножители, питаемые источником высокого напряжения 16, позволяют регистрировать интенсивность моиохроматических лучей с помощью регистрирующего устройства 17, в качестве которого при статическом нагружении используют чувствительные микроамперметры и самопишущие микроампермилливольтметры, а при динамическом...

Способ контроля кристаллизации кондитерскихмасс

Загрузка...

Номер патента: 221345

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Дмитриева, Кокашинский, Московска, Айзинов, Никифорова, Климовцева

МПК: G01N 33/02, G01N 21/21

Метки: кондитерскихмасс, кристаллизации

...соделов сахарозы в массе.По предлагаемому способуределять степень кристаллкондитерских изделий,Известен способ контроля кристаллизациикондитерских масс, например ирисной, в процессе производства (а также готовых изделий) путем микроскопирования исследуемогообразца в световом потоке. 5Для повышения точности контроля согласно предлагаемому способу микроскопирование осуществляют в проходящем через исследуемый образец поляризованном световом луче, измеряя при этом интенсивность световогопотока в объективе микроскопа, величина которого прямо пропорциональна содержаниюкристаллов в массе,Предлагаемый способ заключается в следующем,1По ходу технологического процесса отбирают пробу кондитерской массы, например ирисной. Определенное...