G01N 21/21 — свойства, влияющие на поляризацию
Устройство для определения степениочистки металлической поверхности
Номер патента: 840709
Опубликовано: 23.06.1981
Авторы: Костромеев, Кужаров, Новиков, Преждо, Хащина
МПК: G01N 21/21
Метки: металлической, поверхности, степениочистки
...дополнительноизменяется поляризация отраженногоот поверхности исследуемого образца,Сравнение этого излучения с излучением, отраженным от поверхности эталонного образца, позволяет судитьо качественном и количественном составе соединений.Источник 4 электрического поляустановлен на опоре 5 с возможностью 25воздействия на поверхность исследуемо.го образца, расположенного на подложке 3,Опора 5 выполнена с возможностьювращения ее в трех проекциях. 30Расположение источника электрического поля на опоре, выполненной свозможностью вращения ее в трех проекциях, позволяет изменять пространственную ориентацию электрического 35поля относительно поверхности исследуемого образца, добиваясь создания максимальной анизотропии...
Способ определения кристаллографической ориентации
Номер патента: 845578
Опубликовано: 23.02.1982
Авторы: Матвеев, Стусь, Талалакин
МПК: G01N 21/21
Метки: кристаллографической, ориентации
...цзооражсция нс ирсвышаст 1- 2 угловык минут, что цсдоста Г 1 О. Целью изобретения является поьышснисто ности определения крцсталлографической ориентации плоскости на поверхностикристалла,Поставленная цель достигается тем, чтоскалывают кристалл по двум схСжным плоскостям сцайности, определяют кристаллографическую ориентацию этих плоскостей,затем последовательно освсцгаю г товер);.О ности сколов цаправлснцыч пучком света,ц по П 0,10 жсцию Отраженны; лу чей 01 рсдс.ляют ,Оордпнать поверхостей Сколов,Гакжс координаты исковОй плоскости в ла.бораторной системс координат, а кристал 5 лографичсскую ориентацию последней определяют матрц шым црсооразованцсм лабо.раторцык координат.Г 51 20 н а т в о п выс луч лов, явл зеркалах кого пар 25...
Автоматический поляриметр
Номер патента: 918823
Опубликовано: 07.04.1982
Авторы: Алейников, Большаков, Жилеев, Калинов, Кольцов, Лупарев, Опришко, Черников
МПК: G01N 21/21
Метки: автоматический, поляриметр
...длины волны и послупают на анализатор 6. После анализатора 6 световой поток выходит промодулированным по интенсивности и преобразуется фотоэлектронным устройством 7 в электрический сигнал, который поступает на вход усилителя 8. При изменении угла вращения исследуемого вещества с усилителя 8 поступает электрический сигнал на электропневмопреобразователь 13, Дискретный пневматический сигнал с выхода электропневмопреобразователя 13 поступает в управляющие камеры элемента ИЛИ 11 и элемента 10 памяти, Переключившись, элемент ИЛИ 11 соединяет выход сумматора 20 с3 бвращения во второй плюсовой камересумматора;Р - текущее значение линейнонаГрастающего сигнала.Вследствие этого анализатор 6 поворачивается в сторону положительного угла...
Способ определения поляризационно-оптических свойств прозрачных веществ
Номер патента: 922595
Опубликовано: 23.04.1982
Авторы: Абен, Иднурм, Клабуновский, Павлов
МПК: G01N 21/21
Метки: веществ, поляризационно-оптических, прозрачных, свойств
...вращения относительно оптической оси поляриметра, при вращении образца фиксируют минимальный и максимальный углы отклонения анализатора относительно скрещенного с поляризатором положения и по ним судят о величине двулучепреломления и оптической активности вещества.Суть способа поясняется чертежом.Свет от источника .через поляризатор 1 попадает на иссследуемый образец 2, прикрепленный к цилиндрической подложке 3, которая имеет отверстие, совпадающее с исследуемым участком образца. Затем подложка с образцом помещается в стандартный поляриметр между поляризатором 1 и анализатором 4 с воэможностью вращения относительно оптической оси поляриметра, Вращая образец и анализатор, по минимуму интенсивности на его выходе определяют...
Поляризационный интерферометр
Номер патента: 940017
Опубликовано: 30.06.1982
МПК: G01N 21/21
Метки: интерферометр, поляризационный
...луча,Р к Г- соответственно амплитудЮ 1 %Хцные коэффициенты отражения и пропускания для сос 25тавляющих линейно поляризованных лучей с азимутом0 и 90 о3- разность фаз между составляющими луча, воэникаю 30щими при отражении,Интенсивность выходного луча послеанализатора при этом равна1Э=К К 1 уи 29 ЧиХ-МибюиХ-Чь 2 Ф)- У35 - солсо) сов хчм ь 1Учитывая, что б представляет собой модулирующий сигнал, и разлагаяуравнение в ряд фурье, находим, чтопри работе на неветной гармонике величина Ь не оказывает влияния ни налинейность компенсатора, ни на пороговую чувствительность.45Кроме того, неравность коэффициентов К) и Ку, что приводит к изменению азимутов интерферирующих лучей,также не оказывает влияния. Выбранная ориентация оптических осей эле...
Устройство для исследования модели подводного светового поля (его варианты)
Номер патента: 949431
Опубликовано: 07.08.1982
Авторы: Бурдило, Полутов, Шевцов
МПК: G01N 21/21
Метки: варианты, его, исследования, модели, подводного, поля, светового
...исследуемой жидкостью, выполнена в виде сферы с иллюминаторами,расположенными на равном расстоянии один от другого, например, через 45 , ЗО и т .д. (Фиг.З) .Устройство работает следующим образом.В емкость 1 заполняют исследуемую жидкость. В кассету б в кожухе 5 .вставляют рамку без поляризационного Фильтоа. Оси поопусканияфазовой пластинки 11 и поляроида 15устанавливают под 0 , включают источник света 4 и с помощью ФЭУ 19 измеряют интенсивность рассеянной радиации 1, прошедшей через набраннуюкомбинацию поляризационных фильтров.Затем устанавливают оси пропускания фазовой пластинки и поляроидапод углом 90 и измеряют интенсивоность рассеянной радиации 1,2,Затем оси устанавливают под 45и измеряют интенсивность 1 З ,.и,наконец, ось...
Устройство для измерения неоднородностей двулучепреломления в кристаллах
Номер патента: 958922
Опубликовано: 15.09.1982
Авторы: Бредихин, Кузнецов, Новиков
МПК: G01N 21/21
Метки: двулучепреломления, кристаллах, неоднородностей
...для необыкновенного луча, а по - показатель преломлениядля обыкновенного луча в клине 5. Плоско 5 параллельная пластина 4 установлена с возможностью вращения вокруг оси 2Плоское зеркало 7 установлено перпендикулярно оси формируемого источником 1 пучка света. Исследуемыйобразец 1 О помещен10между светоделительной пластиной 3 и плоскопараллельной пластиной 4, причем оптическая ось 2 образца лежит в плоскостиколебаний клина 5 и составляет с осью светового пучка угол О .Устройство работает следующим образом15 Источник 1 формирует монохроматический квазипараллельный пучок света, отдельные лучи которого вследствие расходимости светового пучка наклонены к его осипод различными углами ,Проходя через поляризатор 2, пучоксвета приобретает...
Способ определения распределения плотности газа
Номер патента: 849855
Опубликовано: 15.12.1983
Авторы: Агаджанян, Адонц, Мурадян, Папазян, Хачатрян
МПК: G01N 21/21
Метки: газа, плотности, распределения
...изобретения является определение распределения локальной плотности газа малых концентраций.Это достигается тем, что формируют пучок возбуждающего электромагнитного излучения с циркулярной поляризацией, под углом к нему формируют пучок плоскополяризованного зондирующего электромагнитного излучения, осуществляют пространственное перекрытие возбуждающего и зон дирующего пучков в выбранной точке среды, измеряют угол поворота плоскости поляризации выходящего зондирующего излучения, причем при переходе от одной точки к другой, сохраняют постоянным угол между пучками возбуждающего и зондирующего излучений.Схема установки, на которой можно проводить измерения по определению распределения локальной плотности газа (в плазме или в смеси...
Способ определения времен релаксации основного и возбужденного энергетических уровней
Номер патента: 807775
Опубликовано: 15.12.1983
Авторы: Арутюнян, Ишханян, Папазян, Саркисян
МПК: G01N 21/21
Метки: возбужденного, времен, основного, релаксации, уровней, энергетических
...селективным воздействием 10мощного лазерного излучения на исследуемый уровень 1 .Наиболее близким техническим решением является способ определениявремени релаксации основного и возбужденного энергетических уровнейдля атомарных и молекулярных веществ,основанный на регистрации измененияполяризационных параметров пробногоизлучения, прошедшего через среду,и на исследованиИ зависимости амплитуды сигнала от давления среды 2 .,Исходя из этого определяются релаксационные константы,К недостаткам можно отнести косвенное определение релаксационных25констант.Целью изобретения является непосредственное определение временирелаксации основного и возбужденного энергетических уровней для ато - 30марных и молекулярных веществ.Цель достигается тем, что в...
Способ нефелометрических измерений
Номер патента: 1062573
Опубликовано: 23.12.1983
Автор: Бердник
МПК: G01N 21/21
Метки: измерений, нефелометрических
...измеряет только рассеянное в обоих каналах излучение, а другой - прошедшее через среду излучение в основномканале и рассеянное в опорном канале 21 .Способ позволяет уменьшить погрешности, обусловленные нелинейностьюфотоприемника, принимающего толькорассеянное излучение, поскольку нанего попадают близкие по величинепотоки. Однако погрешности, обусловленные нелинейностью второго Фотоприемника сохраняются.Цель изобретения - увеличение50точности измерений.Поставленная цель достигаетсятем, что согласно способу нефелометрических измерений, включающемупропускание потоков электромагнитного излучения по основному и опорному каналам через исследуемуюсреду, сравнение потоков, выходящихиз исследуемой среды с помощью двухфотоприемников, один из...
Способ спектроскопического исследования адсорбированных и сверхтонких слоев на поверхности пластин полупроводников и диэлектриков
Номер патента: 1099255
Опубликовано: 23.06.1984
Авторы: Александров, Алесковский, Сомсиков, Толстой
МПК: G01N 21/21
Метки: адсорбированных, диэлектриков, исследования, пластин, поверхности, полупроводников, сверхтонких, слоев, спектроскопического
...направляют на пластину со слоем под угломас 1 ф о э,где нэ - показатель преломления пластины без слоя, и регистрируют многократно прошедшее через пластину со слоем излучение.Заказ 4365/37 Тираж 823 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патентф; г. Ужгород, ул. Проектная,4 соответствующую органическим загрязнениям. Промывают пластину СС 6, Я 0и вновь регистрируют спектр в выбранной области (полосы поглощения в области 2940 см"отсутствуют). Наоснове данных результатов удаетсясделать вывод об эффективности отсевки. П р и м е р 2. Пластину кремния диаметром 60 мм и толщиной 350 мкм помещают в держателе на плато приставки к спектрофотометру...
Устройство для измерения температуры
Номер патента: 1111039
Опубликовано: 30.08.1984
Авторы: Барышевский, Евдокимов, Кононов, Лившиц
МПК: G01K 11/00, G01N 21/21
Метки: температуры
...переходе в область температур ниже 0,1 К данное устройствопрактически нереализуемо ввиду необходимости обеспечения однородноготеплового контакта с исследуемымобъектом по всей длине световода.Цель изобретения - расширениедиапазона измерения в область сверхнизких температур (ниже 10" К),Поставленная цель достигаетсятем, что в устройство для измерениятемпературы, содержащее источник излучения, делитель,опорный и измерительный каналы, исследуемый объектФчувствительный элемент, размещенныйв измерительном канале и контактирующий с исследуемым объектом, приемник излучения и регистратор, введен электромагнит, причем чувствительный элемент выполнен из материала, содержащего разонансные к излучению ядра, в качестве источника.излучения...
Способ измерения угла фарадеевского вращения
Номер патента: 1125513
Опубликовано: 23.11.1984
Авторы: Водотовка, Скрипник, Таран
МПК: G01N 21/21
Метки: вращения, угла, фарадеевского
...еговыходов и приемником 12 оптическогоизлучения с фазовым детектором надругом, усилителя 13, аналого-цифрового преобразователя 14, микроЭВМ15, Управление структурной схемойосуществляется по программе, введенной в запоминающее устройствомикроЭВМ 15, и с помощью команд,подаваемых от микроЭВМ 15 к лазеру 1,модулятору 2, ослабителю 3, механизму 16 поворота магнита 6, механизму17 вертикального перемещения образца 7. Индикация результата измерения эффекта Фарадея осуществляетсяпо команде микроЭВМ 15 на цифровоминдикаторе 18.Устройство для осуществленияспособа работает следующим образом.20В исходном состоянии исследуемыйобразец 7 выведен с помощью устройства 17 из оптического канала. Первоначально по,команде микроЭВМ 15включают лазер 1 и...
Устройство для определения поляризационных параметров импульсного излучения
Номер патента: 1130777
Опубликовано: 23.12.1984
Авторы: Александров, Асиновский, Мельцин
МПК: G01N 21/21
Метки: излучения, импульсного, параметров, поляризационных
...соединенную с системой обработки и управления, причем в одном иэ каналов перед анализирующим поляризаторомрасположена четвертьволновая пластинка, перед анализирующими поляризаторами, а в канале, содержащем четвертьволновую пластинку, передчетвертьволновой пластиной дополнительно установлены светоделительные элементы так, что на кажцыйфотоприемник падает излучение, соответствующее одному и тому жеучастку волнового фронта излучения,каждый анализирующий поляризаторснабжен устройством синхронного разворота соединенным с системой обработки и управления, источник излучения выполнен перестраиваемым подлине волны, и снабжен индикаторомдлины волны, соединенным с системойобработки и управления, а перед эа"дающим поляризатором размещен...
Способ определения степени ориентации непрозрачных частиц в рассеивающем слое
Номер патента: 1138713
Опубликовано: 07.02.1985
Авторы: Гуминецкий, Подкамень
МПК: G01N 21/21
Метки: непрозрачных, ориентации, рассеивающем, слое, степени, частиц
...от степени ориентации частицР;на фнг,2 - графики зависимостиприведенного четвертого параметраСтокса, прошедшего слой излученияот угла ориентации частиц 8 в рассеивающем слое при различных напряженностях приложенного к слою ориентирующего магнитного поля,Циркулярность поляризации облучающего светового пучка достигаетсяс помощью стандартного круговогоциркулярного 1 поляризатора, Поляризация прошедшего рассеянного слоемсвета измеряется при помощи анализатора, состоящего из пленочного поляроида и четвертьволновой пластинки,Степень ориентации частиц в слоеопределяется ,по расчетному значениюнормированного четвертого параметраСтоксаЯ = 5 /5 рассеянного света15 - первый параметр Стокса), Дляэтого снимают четыре отсчета регистрирующего...
Способ эллипсометрической спектроскопии
Номер патента: 1140009
Опубликовано: 15.02.1985
МПК: G01N 21/21
Метки: спектроскопии, эллипсометрической
...помощью источ:шка 1 излучения, линзовой системы 2 и моцохроматора 3, модулируется по разности фаз между ортогоцальцо поля ризовацными компонентами излучетшяпомощью возбуждалтого генератором фазового модулятора 5 в состав которого входят расположенные последовательно по ходу луча поляризатор и акгивцый элемент. Далее излучение падает ца исследуемую систему, закрепленную в держателе 6, Отраженное от исследуемой системы т.злучецие проходит через фазосдвигающе устройство 7, сдвиг фаз в котором изменяется и регистрируется, проходит через поляризатор 8 и падает на фотоприемцик 9. Элс.т(тртптесктттт сигнатт с :1 тотоприемника 9 усиливвтся тт широт(опсрл(рстцрл ттредусилителс 10 и далее разделяется на два канала, В первом из цих выделяется и...
Способ определения солености морской среды
Номер патента: 1141314
Опубликовано: 23.02.1985
Автор: Белинский
МПК: G01N 21/21
Метки: морской, солености, среды
...нения зондирующего пучка, формируемого 2 О Фотоприемными устройствами 7. Вход- передающей системой 1, причем переме- ная и выходная грани кубика 6 распощение оптической оси приемной систе- ложены нормально но отношению к оптимы в результате сканирования осу- ческой оси. С помощью плоского зеркаществляется в той же вертикальной ла 8 обе компоненты излучения прошедплоскости (плоскости чертежа), в 25 щего кубики, пространственно сводят- которой лежат главный луч и оптичес- ся. В одном из каналов установлена кая ось передающей системы 1. полуволновая фазовая пластинка 9,Сканирование по направлению поворачивающая плоскость поляриза распространения зондирующего пучка ции линейно поляризованного света на осуществляется путем вращения...
Способ определения качества древесины
Номер патента: 1170978
Опубликовано: 30.07.1985
МПК: G01N 21/21, G01N 21/898
...для беэдефектной древесины.Кроме того, наиболее рационально освещение и измерение рассеянного излучения проводить под углом к нормали к поверхности древесиныоне более 15 при измерении в намправлении роста волокон и не болеео50,при измерении в ортогональном направлении.Излучение, отраженное от древесины, рассеивается. Дефекты, встречающиеся в древесине (например, сучки, прель, перекос текстуры), создают деполяризацию, которая отличается от деполяризации, соэдавае. мой качественной древесиной, и которая может быть использована при автоматическом распознавании этих дефектов. Особенно важно, чтобы ориентация волокон также отражалась на деполяризации (перекос текстуры, поперечная текстура, а также сучки), что позволяет использовать...
Способ определения фазового состояния облаков и аэрозольных сред
Номер патента: 1179169
Опубликовано: 15.09.1985
МПК: G01N 21/21
Метки: аэрозольных, облаков, состояния, сред, фазового
...кристаллизующими реагентами.Целью изобретения является повышение чувствительности измерений идиапазона измеряемых параметров.Способ осуществляется следующимобразом.Пучок линейно-поляризованногоизлучения направляют на исследуемуюсреду (облако, туман). Два приемникапредназначенных для приема излучения, рассеянного под углом,облизким к 180, устанавливают вдвух ортогональных плоскостях, одна из которых совпадает с плоскостью поляризации падающего излучения. С помощью кругового поляризатора трансформируют излучение с линейной поляризацией в излучениес круговой поляризацией и устанавливают масштабным преобразователемили светофильтрами равенство амплитуд эхо-сигналов= , регистрируемых обоими приемниками. Послеэтого исследуемую среду...
Дистанционный способ обнаружения и оценки толщины пленок нефтепродуктов на морской поверхности
Номер патента: 1224680
Опубликовано: 15.04.1986
Автор: Погадаев
МПК: G01N 21/21
Метки: дистанционный, морской, нефтепродуктов, обнаружения, оценки, пленок, поверхности, толщины
...оптическими 40 плоскостями алализатора и отраженного излучения. На выходе фотоприемного устройства появляется периодический сигнал, период которого равен половине периода вращения анализато ра в случае кругового вращения последнего, или периоду цикла приокачании в пределах 0-90 , Для определения толщины пленок нефтепродуктов регистрируют частотный спектр сигнала.При отражении от гладкой водной поверхности зависимость интенсивности излучения .т угла выражается соотношением где 1 . - интенсивность падающего на поляризатор-анализатор излучения; 1 - интенсивность пропущен 1 о" го анализатором излучения, - уголмежду оптическими плоскостями анализатора и излучения при .пинейном характере поляризации.Степенной показатель лежит в пределах 1 и2...
Способ нефелометрических измерений
Номер патента: 1229659
Опубликовано: 07.05.1986
Авторы: Бердник, Васильев, Иванов, Лойко
МПК: G01N 21/21
Метки: измерений, нефелометрических
...установленный так, чтобы принимать только рассеянное в обоих каналах излучение, иприборы 13 и 14 для измерения сигналов с фотоприемников 11 и 12,Способ осуществляется следующимобразом.Излучение от источника 1 в основном канале модулируется с помощьюдискового модулятора 3, приводимогово вращение двигателем 5, поляризуется с помощью поляризатора 9, .проходит через кювету 7 с измеряемойсредой поляризуется вторым поляризатором 10 и попадает на Фотоприемник 11. Рассеянное в основном каналеизлучение попадает при этом на второйфотоприемник 12. Сигналы с Фотоприемников 11 и 12 измеряются с помощьюприборов 13 и 14. Излучение от источника 2 в опорном канале модулируетсядисковым модулятором 4, приводимымво вращение двигателем 6, проходитчерез...
Способ определения оптической постоянной тарировочного образца
Номер патента: 1267229
Опубликовано: 30.10.1986
Автор: Красильников
МПК: G01N 21/21
Метки: образца, оптической, постоянной, тарировочного
...изготовлены иэ материала твердого тела композитной модели.Определение оптически-постоянной производится следующим образом, 35Весь тарировочный образец нагревается до температуры Т;, при которой в диске должны полностью отсутствовать напряжения, При Т, выбищй рается зазор между стопорными гайка ми 5 и кольцом 2 так, чтобы в,циске1 не появились напряжения. Затем тарировочный образец охлаждается со скоростью не более 5 С/ч. Диск 1 стремится сократиться в диаметре больше, чем кольцо 2, так как коэффициент температурного расширения оптически чувствительного материалабольше, чем материала диска. Это приводит к появлению диаметрально 50стягивающих сил. При температуре Тр в конце охлаждения производитсяизмерение порядка полос изохром в центре...
Поляриметр
Номер патента: 1272192
Опубликовано: 23.11.1986
Автор: Кузнецов
МПК: G01N 21/21
Метки: поляриметр
...поток от источника 1 кон - денсором 2 направляется параллельнымпучком через светофильтр 4 на поляризатор 4, оптически активное вещество,которое поворачивает плоскость поляризации на угол, пропорциональныйудельному вращению исследуемого вещества для данной длины волны. Далеесветовой поток проходит череэ,цопол" нительный поляризатор 5, =олунолнсную фазоную пластину 6, вращаемую спостоянной угловой скоростью, и анализатор 8, Интенсивность световогопотока на выходе анализатора 8 равнаЧувствительность, а следовательно 35и точность поляриметра зависят от подавления помехи, т,е. составляющей постоянного тока.Порог чувствительности поляриметра, т.е, минимальный угол рассогласования системы, равен 8 е(1-Р) ьЕ(К. +Кя) где ьХ45 полоса...
Способ эллипсометрических измерений
Номер патента: 1288558
Опубликовано: 07.02.1987
МПК: G01N 21/21
Метки: измерений, эллипсометрических
...Ы и с1 (калибровочный коэффициент) устанавливают с помощью поворота поляризатора 2 и переключателя 3 поляризации. Длительности измеряемых импульсов на фотоприемнике и промежутки между ними равны.Главный угол падения М, определяют по минимуму сигнала на частоте первой гармоники о 3 после анализатора с азимутом , Далее изменяют с помощью, например,.Фарадеевской ячейки или совместного поворота поляризатора 2 и переключателя 3 поляризации азимуты поляризации до значенийи с с 3 2 с ( с(з+ - Ы.,), при которых снова наблюдают минймум на частоте первой гармоникиц 1 , и отсюда определяют эллипсометрический параметр Ч из соотношения 88558 гПриведем конкретный пример, отображающий погрешности измерений поизвестному и,предлагаемому...
Поляризационно-оптический цветовой индикатор температуры
Номер патента: 1290096
Опубликовано: 15.02.1987
МПК: G01K 11/00, G01K 11/12, G01N 21/21 ...
Метки: индикатор, поляризационно-оптический, температуры, цветовой
...поляризованным и попадает на термочувствительный элемент4, выполненный из оптически активного кристалла с достаточно сильнойтемпературной зависимостью спектрального положения изотропной точки, например ИаИН - тартрата тетрагидрата,ИН Н (БеО ), ИаК - тартрата тетрагидрата. Для всего спектра излучения,падающего на термочувствительный элемент 4, изотропное состояние кристалла соответствует лишь определеннойдлине волны света, зависящей от измеряемой температуры. Благодаря оптической активности кристалла, поворачивающей плоскость поляризации проходящего через него света, часть света указанной длины волны, величина которой зависит от толщины и степениоптической активности кристалла,пройдет через поляризатор 5. Остальной свет иного...
Устройство для измерения концентрации атомов и молекул в плазме
Номер патента: 1132668
Опубликовано: 30.07.1987
Авторы: Ахмеджанов, Гитлин, Новиков, Полушкин, Щербаков
МПК: G01N 21/21
Метки: атомов, концентрации, молекул, плазме
...излучения лазераВыбор оптических длин Ь и Ь плеч резонатора обеспечивает совпадение спектрального расположения 20 минимумов потерь, обусловленных интерференцией в обоих плечах резонатора в отсутствие плазмы со спектральным расположением минимумов селективных потерь. Это позволяет соз дать условия, при которых малые спектральные сдвиги квазимод, обусловленные,внесением плазмы, можно регистрировать в виде измеримого изменения интенсивности этих квазимод по срав нению с их интенсивностью в отсутствие плазмы или с интенсивностью квазимод вдали от линии поглощения плазмы..В первом варианте устройства, основанном на использовании эффекта дву-З .лучепреломления, поляризатор и двулучепреломляющая пластина в совокупности образуют элемент с...
Способ измерения разности хода оптически анизотропных объектов
Номер патента: 1383161
Опубликовано: 23.03.1988
Автор: Уткин
МПК: G01N 21/21
Метки: анизотропных, объектов, оптически, разности, хода
...диафрагмой 8,а осесимметричный пучок прохоДит через пустотелый шпиндель 9 станка,приводимый. во вращение приводом 10 инаправляется на центральную в технологическом блоке измеряемую фазовуюпластинку 11, укрепленную на оптическом контакте на нижней стеклянной,планшайбе 12 из отраженного стекла,жестко соединенной со шпинделем 9станка.Прошедшее через фазовую пластинку излучение отражается в обратном 35 направлении изотропным отражателемв виде зеркала 13, напылЬнного навнешнюю поверхность стеклянного притира 14, перемещаемого по блокунаклеенных фазовых пластинок водилом 40 15. Ретроотраженное от зеркала 131383161 заданному. ВНИИПИ Заказ 1286/38Тираж 847 Подписное Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 излучение проходит...
Способ определения постоянной керра
Номер патента: 1396006
Опубликовано: 15.05.1988
Авторы: Байбеков, Спартаков, Толстой
МПК: G01N 21/21
Метки: керра, постоянной
...маскированной анизотропией электрической поляризуемости.Устройство состоит из столика 1 " двумя парами плоскопараллельных электродов 2 (платиновые цилиндрические стержни или пластины), к которым прикладываются электрические поля Е и Е, и кварцевой кюветы 3 с ис Следуемой жидкостью, в которую поме. - Щается столик с электродами.К исследуемой среде прикладываются ,два взаимно перпендикулярных поля: 1:,= Ео, яапаи Есопя (метод скрещенных полей) . Поляризованный свет проходит перпендикулярно к Е-Фи Ь . Тогда вращающий момент прило.женный к молекуле будет50о- ЕЬЕ яп 2 оь - -(Е, яп сои)ЬГ я 1 п 2(90 где , - угол между осью наибольшей поляризуемости и Е у Ф- угол между и и Епредполагается, что частица или молекула расположена так, что оси ее...
Способ ориентации гиротропных кристаллов в поляризационно оптической системе
Номер патента: 1402857
Опубликовано: 15.06.1988
МПК: G01N 21/21
Метки: гиротропных, кристаллов, оптической, ориентации, поляризационно, системе
...и анализатора,когда плоскости поляризации последних совпадают с главными направлениями в кристалле,Если на негиротропный кристаллпослать линейно поляризованный вдольодного из главных направлений свет;то из кристалла выйдет также линейно поляризованный свет, Если поместить такой кристалл между поляриэато. ром и анализатором, то минимуму ин-тенсивности излучения на выходе анализатора будет соответствовать такая ориентация кристалла, поляризатора и анализатора, когда плоскости поляризации последних совпадают с главными направлениями в кристалле.Если послать на гиротропный кристалл линейно поляризованный вдоль одного из главных направлений свет, то из кристалла выйдет эллиптически поляризованный свет.Однако существует такое направление в...
Поляризационно-оптический цифровой термометр
Номер патента: 1500864
Опубликовано: 15.08.1989
Авторы: Габа, Кочан, Степаняк, Столярчук
МПК: G01K 11/18, G01N 21/21
Метки: поляризационно-оптический, термометр, цифровой
...на параллельно соединенные вторые входы первой и второй ключевых схем, на младший адресный вход первого блока памяти 24, а с выхода первой ключевой схемы 19 на вход управления вычитанием реверсивного счетчика 22 и с выхода второй ключевой схемы 20 на вход управления сложением этого же счетчика, на установочных входах которого в параллельном двоичном коде с помощью блока установки 23 установлено целое число периодов Т для известной исходной температуры. Сигнал 11 с выхода операционного усилителя911 также поступает на вход аналогоцифрового преобразователя 21, выходной двоичный параллельный код которого поступает на адресные входы, начиная со второго, первого блока памяти 24, причем число используемых адресных входов зависит от числа...