Микрополяриметр для определения малых толщин пленок
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Ля 125060 Класс 426, 21 СССРфЛФСТМ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Б. В, Дерягин, В. И. Гаврилов, 3. М, Зорин и Т. Н. ВоропаеваМИКРОПОЛЯРИМЕТРЗаявлено 12 января 1955 г. за576782/26Опубликовано в Бюллетене изобретений24 за 1959 г.Существующие оптические методы измерения толщин пленок, основанные на измерении интенсивности отраженного света (интерференционные методы), неприменимы к очень тонким пленкам, толщина которых значительно меньше длины волны освещающего света, а для измерения пленок, толщина которых значительно больше длины волны, эти методы (как и поляриметрические) неудобны из-за неоднозначности определения толщины.Поляриметрический метод, хотя и применим к пленкам, толщина которых доходит до одного ангстрема, но обычно при этом применяют сложные и дорогие приборы (поляризационные спектрометры), не обеспечивающие высокой точности измерений и предполагающие, что пленка равномерна по толщине.Предлагаемый прибор, выполненный в виде вертикального гониометра с осветителем, поляризатором, поляризационным микроскопом в качестве анализатора и со спектральным окуляром, может быть использован для измерения как интерференционным, так и поляриметрическим методами пленок, толщиной от нескольких ангстрем до нескольких микронов. Применение в приборе поляризационного микроскопа позволяет исследовать пленки, неравномерные по толщине, удешевляет аппаратуру, упрощает ее сборку 1 поляризационные микроскопы выпускаются серийно) и повышает возможность измерительной схемы.На фиг. 1 изображена принципиальная оптическая схема микрополяриметра; на фиг. 2 и 3 - его конструкция.Для однозначного и быстрого измерения толщин пленок, превышающих длину волны света, пленку следует освещать лампочкой накаливания или вольтовой дугой и рассматривать отраженный свет через спектроскоп прямого зрения (при освещении параллельными лучами) или с помощью спектрального окуляра. В обоих случаях в спектре отраженного света будут видны темные полосы интерференции, по числу, поло125060жению и контрастности которых определяют толщину пленки, что достигается также комбинацией поляризационного микроскопа со спектральным окуляром,Микроскоп 1 имеет пластинку четверть волны и анализатор-поляроид с лимбом для отсчета углов поворота анализатора, расположенные перед объективом микроскопа. За окуляром расположена съемная спектральная насадка к окуляру. Осветитель 2 имеет два сменных источника света, Источником белого света служит лампа 3, помещенная в кожух с воздушным охлаждением. Источник монохроматического света дает зеленую линию ртутной дуги и состоит из лампы ПРКсо светофильтром, помещенной в кожух с водяным охлаждением. Осветитель имеет рабочую щель, проектируемую объективом на образец и аппаратурную щель, За объективом, по ходу светового луча, расположен поляризатор-,поляроид, снабженный лимбом для отсчета углов поворота поляризатора. Образец укрепляется на столике 4 с кронштейном, который перемещается на колонке б.Осветитель и микроскоп при помощи планетарной передачи совместно вращаются вокруг горизонтальной оси, проходящей через точку пересечения их оптических осей, Углы поворота осветителя и микроскопа отсчитываются по лимбу и нониусам и могут изменяться в пределах 30 - 220. Ось вращения осветителя и микроскопа закрепляется на колонке 5, расположенной на массивном основании б. Осветитель и микроскоп могут перемещаться вдоль оптической оси. В горизонтальной плоскости прибор устанавливается тремя подъемными винтами по двум уровням 7 и 8, укрепленным на основании.Предмет изобретенияМикрополяриметр для определения малых толщин пленок поляризационным и интерференционным методами, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью исследования неоднородных по толщине пленок и повышения их точности определения, он выполнен в виде совокупности вертикального гониометра и служащего анализатором поляризационного ми, кроскопа, снабженного спектральным окуляром.
СмотретьЗаявка
576782, 12.01.1955
Воропаева Т. Н, Гаврилов В. И, Дерягин Б. В, Зорин З. М
МПК / Метки
МПК: G01B 9/10, G01J 4/00, G01N 21/21
Метки: малых, микрополяриметр, пленок, толщин
Опубликовано: 01.01.1959
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-125060-mikropolyarimetr-dlya-opredeleniya-malykh-tolshhin-plenok.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Микрополяриметр для определения малых толщин пленок</a>
Способ модуляции света звуковыми волнами
Номер патента: 50325
Опубликовано: 01.01.1937
Автор: Симунин
МПК: G02F 1/11
Метки: волнами, звуковыми, модуляции, света
...ство, части, в возре т изобретения Способ модволнами, отлпути монохрополагают устего на двекоторых прохченном внутрванной трубыподвергаемомволн, с цельнейшем сведетерференции,дуляцию света вымн то на а расющее на из аклюолиро. ковых дальия нно монн. Пеяатннй Трудф, Зэк. Предлагаемый способ мо света звуковыми волнами имее устранить влияние инерции ственных колебаний, служащ чиной искажений,Для осуществления этого, с изобретению, на пути монох ческого луча света (от обще щейся точки) располагают уст разделяющее его на две равнь Одна из этих частей проходи духе, заключенном внутри акустически изолированной трубы, а другая - в воздухе, подвергаемом воздействию звуковых волн. Это воздействие осу. ществляется, например, через посредство...
Устройство для термической деструкции масел
Номер патента: 1105815
Опубликовано: 30.07.1984
Авторы: Ашкинази, Куракин, Порай-Кошиц, Ряполов, Ряполова, Сомов
МПК: G01N 33/28
Метки: деструкции, масел, термической
...продольные пазы 9 и для обеспечения промежуточного контакта разогретого масла с газовой средой выполнены кольцевые канавки 10.Торцы емкости 1 герметично закрыты верхней 11 и нижней 12 торцовыми крышками. Верхняя торцовая крышка 11 имеет каналы для подвода газовой среды и испытуемого масла и обогревается торцовым нагревателем 4. Нижняя торцовая крышка 12 имеет каналы для отвода испытуемого масла и газовой среды.В цилиндре двигателя внутреннего сгорания нагрев происходит нерав 5 10 15 20 25 30 номерно. В момент вспышки больше нагреваются головка поршня и гильза цилиндра в районе камеры сгорания, где температура максимальна. По мере удаления от камеры сгорания температура стенки цилиндра уменьшается, Кроме того, масло между...
Устройство для автоматического измерения малых толщин пленок
Номер патента: 104007
Опубликовано: 01.01.1956
Автор: Карасев
МПК: G01B 11/06, G02B 27/28
...переменная составляющая фототока будет скомпенсирована.На вторую обмотку логометра подается ток, питающий синхронный электродвигатель, который вращает второй поляризатор, В результате, отраженный от пленки свет, пройдя через пластинку 10 четверть волны, плоско поляризуется, причем азимут поляризации зависит от толщины пленки.Плоско поляризованный свет, пройдя третий вращающийся поляризатор 11 и второй деполяризатор 12, поступает на второй фотоэлектронный умножитель 1 З. Одновременно на третий фотоэлектронный умножитель 14 поступает свет, не отраженный от пленки и прошедший через третий поляризатор, второй деполяризатор и четвертый поляризатор 15, установленный так, чтобы переменные составляющие фототоков в обоих фотоумножителях были бы...
Микроскоп падающего света
Номер патента: 468206
Опубликовано: 25.04.1975
Автор: Брумберг
МПК: G02B 21/00, G02B 21/06, G02B 27/28
Метки: микроскоп, падающего, света
...свойствами светоделительной грани 3 интерференционной призмы 2. Второй Вектор, от которого необходимо избавиться, проходит насквозь и поглощается черным покрытием, нанесецньм ца противоположную грань призмы 2,Поля.,цзОВапныц свет, Отраженньп 1 приз ыоц 2 В сторону Объектн 11 а 1, рассет 1 вается В наблюдаемо.ы объекте н, Возвращаясь в микроскоп В деполярцзованпом виде, обеспечнвает через окуляр 5 пабл 1 оденпе микроструктуры объекта. При этом в направлении ск,ляц,з призмой 2 не бу,тет пропущен свет, отраженный линзахи ооъсктцва 1, а от рассеянного и деполярцзованпого объектом света будет пропущен лишь один вектор, перпендикуляр468206 Предмет изобретения 15 Составитель М. ЛебедевТехред Л, Казачкова Редактор Т, Иванова Корректор Т....
Датчик для контроля толщины анодной пленки
Номер патента: 727979
Опубликовано: 15.04.1980
МПК: G01B 7/06
Метки: анодной, датчик, пленки, толщины
...и изоляционной втулки,закрепленной в одном из стаканов, штыри установлены во втулке, а в донышкедругого стакана выполнены отверстия дляпрохождения штырей.На фиг. 1 представлен датчик для кон-троля толщины анодной пленки, общий 1вид на фиг. 2 - сечение А-А фиг. 1.Он содержит верхний стакан 1, токо.провод в виде штырей 2, изоляционнуювтулку 3, нижний стакан 4, пружины 5штырей 2, изоляционную шайбу 6, пружину 20,Корпус датчика составляет верхний стакан1 и,нижний стакан 4. Верхний стакан1 корпуса имеет круговой выступающийпоясок 10 для пальцев рук. В верхнемстакане 1 на резьбе 11 установлена изоляционная втулка 3, в которой размещеныштыри 2, подпружиненные в направленииоси перемещения. Штыри закреплены отвыпаденияизоляционной шайбой 6....
Предыдущий патент: Безщелевой монохроматор
Следующий патент: Способ определения влажности в грунтах, порошках, технических маслах и простых растворах и прибор для осуществления способа
Случайный патент: Устройство для уплотнения -кода