G01N 21/21 — свойства, влияющие на поляризацию

Страница 2

221391

Загрузка...

Номер патента: 221391

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Всесоюзный, Квитницка, Лурье

МПК: G01N 21/21

Метки: 221391

...определяют по оптической активности их водных растворов с последующим перерасчетом солеркания составных частей по известной формуле. 15Для определения оптической активности в три стаканчика отвешивают по 13 г (с точностью + 0,01) издслия полностью и отдельно обеих его составных частей, В случае, если из. дслие может быть взято только в целом ви. 20 де, берут навеску, близкую к 13 г, несколько штук целого изделия и фиксируют величину навески, (В дальнейшем показания сахариметра пересчитывают на 13 г),Каждую из трех навесок растворяют (от дельно) в небольшом количестве теплой воды и переносят в мерную колбу на 100 мл, при этом объем не должен превышать 70 лл. Затем производят осветление растворов. С этой 2целью в мерные колбы добавляют...

Способ определения степени деформации надмолекулярных структур полимеров

Загрузка...

Номер патента: 239639

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Белый, Отдел, Петроковец, Савкин, Свириденок

МПК: G01L 1/24, G01N 21/21

Метки: деформации, надмолекулярных, полимеров, степени, структур

...в поли мерах,под дейсгвием внешних нагрузок. Способ можно использовать как экспресс-метод для оценки механических свойств покрытий. Способ оп надмолекуляр механическогоИзвестен способ определения степени деформации надмолекулярных структур полимеров путем одноосного,растяжения пленочного образца с .последующим визуальным миироскопическим определением в проходящем поляризованном свете, искомой величины.Для усовершенствования известного способа и,повышения точности определения предлагается полимерную пленку наносить на оптичесии прозрачную подложку, а затем производить механическое воздействие с помощью оптически прозрачного инденгора. Изменение структуры во времени фиксируется с,помощью фото- и киносъемки.На чертеже првведена схема...

Способ определения температурной зависимости периода релаксации напряжений

Загрузка...

Номер патента: 246908

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Воропаева, Леонтьева, Резников

МПК: G01L 1/24, G01N 21/21

Метки: зависимости, напряжений, периода, релаксации, температурной

...остаточных напряжений при тепловой обработке определяются релаксацией именно внутренних напряжений.Предложенный способ позволяет измерить температурную зависимость периода релаксации внутренних напряжений в прозрачных кристаллах. Для этого предварительно измеряют двулучепреломление в свободном от внешней нагрузки образце с остаточными напрякениями закалочного типа при непрерывном нагреве его с постоянной скоростью, т, е. величину внутренних напряжений. Затем измеряют двулучепреломление в образце с такой же величиной остаточных напряжений ири ступенчатом нагреве, состоящем из серии последовательных периодов нагрева и выдержки. Измерения проводят в период выдержки постоянной температуры, что позволяет определить температурную...

Способ оценки степени ориентации волокон в прозрачных и полупрозрачных материалах

Загрузка...

Номер патента: 264158

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Вайсман, Зальцман, Украинский, Финкельштейн

МПК: G01N 21/21, G01N 33/34

Метки: волокон, материалах, ориентации, оценки, полупрозрачных, прозрачных, степени

...свойств материалов.Цель изобретения - повысить точность и упростить процесс измерения.По предложенному способу образец бумаги помещают в скрещенную систему поляризатор в анализат, поворачивая образец вокруг оптической оси, измеряют интенсивность света, прошедшего сквозь эту оистему, и вычисляют отношение максимального и минимального результатов измерения.Способ осуществляется следующим образом.Образец бумаги помещают в скрещенную систему поляризатор - анализатор, пропускают через эту систему свет, количество прошедшего света зависит, в частности, от того, как волокна располагаются относительно плоскости поляризации света. В бумаге, как правило, существует преимущественная ориентация волокон в машинном направлении. Поэтому максимум...

Способ контроля содержания волокна в оборотных

Загрузка...

Номер патента: 266554

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Вайсман, Зальцман, Мирочник, Финкельштейн

МПК: G01N 21/21, G01N 33/34

Метки: волокна, оборотных, содержания

...сре да - анализатор.Предлагаемый способ позволяет исключить влияние неволокнистых взвесей и растворенных веществ на получаемый результат,На чертеже показана принципиальная схе ма для осуществления описываемого способа.Свет от источника 1 с помощью зеркал 2, 3 и конденсаторов 4, б разделяется на два параллельных пучка, Один из пучков проходит сквозь поляризатор б, анализатор 7 и попа дает на Ьотоэлемент 8, 9. Прозрачную емкость 10, по которой проходит контролируемая сус. пензия, размещают между поляризатором и анализатором. Сквозь нее проходят оба пучка света - поляризованный и естественный.Пучки света, воздействуя на фотоэлементы, вызывают возникновение фототоков, пропорциональных интенсивностям световых потоков.Это отношение...

Способ определения стойкости стекла в спаях с металлом к электролизу

Загрузка...

Номер патента: 269588

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Левин, Мазурина, Пронкин

МПК: G01L 1/24, G01N 21/21

Метки: металлом, спаях, стекла, стойкости, электролизу

...в наиболее критических местах, а именно в местах спая стекла с металлом.На чертеже приведена схема установки, осуществляющей данный способ,Установка состоит из термостата 1 с передним 2 и задним 3 прозрачными окнами, терморегулятора 4, термопары б, электрической цепи, составленной из токоподводящих кон тактов б, источника 7 стабилизированного напряжения, прибора 8 для регистрации и записи тока, прибора 9 для регистрации количества электричества. Перед передним окном термостата находится оптическая система 10, 10 увеличивающая объект, за задним окномосветительная система 11. Для наблюдения картины механических напряжений в образце 12, помещенном в термостат, осветительная система содержит поляризатор 13, а оптичес кая - анализатор 14. Для...

Способ определения перемещения светового поляризованного луча

Загрузка...

Номер патента: 321789

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Короткое, Мартынов

МПК: G01J 4/04, G01N 21/21, G02B 26/08 ...

Метки: луча, перемещения, поляризованного, светового

...этого вещества луч проходит сквозь вторую прозрачную грань 4 (гипотенузу).Далее любым известным способом (линзой, зеркалом) свет фокусируется на фотоприемник 5, перед которым установлен поляроид- анализатор 6. Плоскость поляризации анализатора любым известным способом (механически илп электрически) качается в пределах от 0 до 90 по отношению к той плоскости поляризации, которую имеет первичный луч Л,.321780 оставитель В. ЗверевТехред А. Камышникова рректор О. Тюрина дактор Н. Корченк ад, 17 Тираж 473 з 39/1 Подписное ипография, пр. Сапунова, 2 Этот угол поворота определяется при помощи анализатора по максимуму сигнала на фотоприемнике.Максимальный сигнал с фотоприемника и сигнал о соответствующем повороте плоскости поляризации...

Модуляционный способ определения

Загрузка...

Номер патента: 307385

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Гречушников, Чудаков

МПК: G01N 21/21

Метки: модуляционный

...не содержит пе- З 0ременной составляющей. Если синтезирующая система настроена на регистрацию только переменной составляющей видеосигнала с удвоенной частотой вращения поляризатора, то при таком наблюдении оптической неоднородности недефектвным участкам объекта в трансформированном изображении будут соответствовать затемненные места. Отсюда вытекает полная аналогия с результатами, получаемыми при использовании теневого метода.При просвечивании дефектных или анизотропных участков аксиальная симметрия нарушается, что приводит к частичной поляризации суммарного излучения, проходящего через исследуемую точку объекта, т. е. полное излучение на выходе объекта состоит из двух компонент, естественного и поляризованного света....

345421

Загрузка...

Номер патента: 345421

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Пеньковский

МПК: G01J 4/04, G01N 21/21

Метки: 345421

...пластинку 6.Если модулятор е возбужден, а пучоксвета, падающий нормально к плоскости 25кристалла модулятора, находится в центремодулятора, то после прохождения света через модулятор состояние поляризации не изменится и по-прежнему будет характеризоваться точкой 2 на сфере (см. фиг. 2). 30Состояние же поляризации светового пучка после прохождения вращающейся четвертьволновой пластинки б (см. фиг. 1) прцэтом всегда характеризуется точками ца экваторе сферы (см. фиг, 2) и соответствует, 35например, точке 1, если рассматриватьмгновенное значение ориентации главногонаправления пластинки б, соответствующееточке 4,Другими словами, после прохождения вращающейся четвертьвол новой пластинки 6получают снова плоскополяризованный монохром атический...

Устройство для определения постоянной верде прозрачных сред

Загрузка...

Номер патента: 347640

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Бужинский, Заводчиков, Клейман, Кудр, Лейкин, Оболенский

МПК: G01J 4/04, G01N 21/21

Метки: верде, постоянной, прозрачных, сред

...полризатора 4, изготшпата, пучок свеван, Компенсаторсердечн;ком 5, в3сто для установки исследуемого образца б, создает магнитное поле, силовые линии которого направлены параллельно пучку света. Магнитооптический модулятор света 7, в сердечник которого помещено стекло ТФ, обеспечивает модуляцию светового потока по интенсивности. Поляризационная призма-анализатор 8 ориентирована так, чтобы ее плоскость поляризации была расположена под углом 90 к плоскости поляризации призмы-поляризатора. Тогда в идеальном случае количество света, прошедшего через призму-анализатор, равно нулю. Положение призмы-анализатора, которая может поворачиваться вокруг вертикальной оси относительно неподвижной призмы-поляризатора, фиксируется с помощью...

Способ контроля поверхности металлизированных оснований резисторов

Загрузка...

Номер патента: 347815

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Скл, Тесеоглу, Чулок

МПК: G01N 21/21, H01C 17/00

Метки: металлизированных, оснований, поверхности, резисторов

...и мо ет быть использовало в производстве резис оров. Известцые способы контроля поверхности металлизированных оснований резисторов, основанные на использовации поляризованного света, имеют недостаточную точность контроля и це предоставляют возможности их авгоматизации.Предлагаемый способ не имеет этих недостатков и отличается от известных тем, что производят поляризациоццый анализ интенсивности луча, отраженного от контролируемой поверхности, причем фазовые сдвиги компоцентов луча сводят к минимуму.Предлагаемый способ заключается в том, что поверхность исследуемой детали с помощью спиральной развертки освещают точечным лучом, диаметр которого соизмерим с размерами мицимальцых дефектов. Отраженный луч подается на фотоприемццк. На...

Способ раздельного количественного определения сорбита и маннита в их смеси

Загрузка...

Номер патента: 388219

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Институт

МПК: G01N 21/21

Метки: количественного, маннита, раздельного, смеси, сорбита

...растворы готовятследующим образом: к раствору, содержащему1 ЧаМо 04 2 г 10 и гексит (3 - о 7 О) в молярномотношении 3: 1, а также МаХО из расчета0,006 г на 1 г молибдата, добавляют разбавленную серную кислоту до необходимого значения рН.Величины р 1-1 растворов молибдатных комплексов измеряют в термостатированной трубкедлиной 1 дм на спектрополяриметре СНУ-Ев интервале 408 - 680 нм с точностью +0,01.Наблюдаемые величины углов вращения составляют 3 - 5 при концентрации гекситов57На основании фиг. 2 найдены величиныудельного вращения молибдатных комплексовсорбита и маннита при рН 5,2: а, 86, ам0 (при 420 нм) и ас 45 и а 13 (при480 нм).Общая методика определений.К объему У мл) водного раствора смеси,содержащей сорбит и маннит с...

Поляриметр

Загрузка...

Номер патента: 396600

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Запасский

МПК: G01J 4/04, G01N 21/21

Метки: поляриметр

...4 и падает на сильно хроматическую фазовую пластинку б. За пластинкой 5 установлен вращающинся с частотой о анадизатор б. Если поляризация выходящего из пластинки света изотропна по углам, т, е. свет неотличим от неполяризованного, то на фото- приемник 7, нечувствительный к поляризации, падает немодулированный по интенсивности световой поток. Когда свет обладает квазиэллиптичностью, или частично линейно поляризован, то световой поток, падающий на фото- приемник 7, будет промодулирован по интенсивности по сиц закону с частотой г,Этот сигнал усиливается по напряжению усилителем 8, синхронно детектируется детек. тором 9, усиливается по мощности усилите. лем 10 и поступает на реверсивным двига396600 Составитель В, ЗверевТехред А,...

Устройство для определения оптико-механических

Загрузка...

Номер патента: 397822

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Бычков, Рашкован

МПК: G01N 21/21

Метки: оптико-механических

...1 показано 1 релложеццсе устройство, разрез влоль оси; ся фпг. 2 - поперечный разрез по 4-."1.В стан у 1,ввпцчсна трусчятая стойка На стойку посажены полшнпцпкп,5, па яПмжных ОООЙмах которых цяхсдитс 51 пустотелый диск -1. Полтпп)цикп ф)ккспрустся т 11 и- жРмцымп гайкам:1 5 и ф:ггурными выступам. 6, выполненным:1 ня труочатой стойке. С помощью НО. ров:ых стекол 7 с впутрснцпм д 1- ско 4 жестко св 5 зяц внепцц сплошцс:1 диск 8, Пскпсв.1)е стекла фгксцротс 51 Вцеицимт фасо;Ным:.1 9:1 внутре)цпмп простымп 10 прРРКР)1:ым:1 гяйкРмп, На в,ешцей позе 11 хности гаек ГО мсются каназ:, лля нрнволны. ремней.Во вне)пнеске ноомально к осч вра. щения сделаны лва отверстия с везьбоц лля за:)олпепия раоочего зазора исследуемой жидкостью, которые...

401888

Загрузка...

Номер патента: 401888

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01B 11/16, G01N 21/21

Метки: 401888

...анизотропип внутри пространственного объекта заключается в следующем. Используя геометрическое представление поляризации света по 11 уапкаре, любое состояние поляризации света можно однозначно отобразить точками М (2 р, 2 у) сферы, причем широта точки 2 р определяет форму эллипса колебаний через отношение его осей В и А, а долгота 2 у равна удвоенному углу между избранным направлением отсчета Х, в плоскости фронта волны и паправле 1 шем большей оси эллипса. 1 очки северной полуссреры отображают колебания с правым вращесшем светового вектора, а южнопс левьв .Измеряя интенсивность света, рассеянного в отдельных точках среды на пути просвечивающего луча в двух направлениях в плоскости, перпендикулярной лучу (отыскивая макспмаль401888...

402786

Загрузка...

Номер патента: 402786

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01N 21/21

Метки: 402786

...соединенный с при радуированным в единицах из ины. дмет етения Способ непрерывнволокна в оборотнычающийсв срависшедшего сследусмэтой средой потокитем, что, с цельюрения, интенсивностставляющей прошедют с интенсивностьполучают сигнал, ядержания волокна,присоединением заявкириоритет Известен способ непрерывного контроля содержания волокна в оборотных и сточных водах, заключающийся в сравнении интенсивностей прошедшего исследуемую среду и рассеянного этой средой потоков излучения.В предлагаемом способе для повышения точности измерения интенсивность деполяризованной составляющей прошедшего излучения сравнивают с интенсивностью рассеянного излучения и получают сигнал, являющийся функцией содержания волокна.На чертеже дана схема для...

402787

Загрузка...

Номер патента: 402787

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01N 21/21

Метки: 402787

...центра луча любого известного типа. Конус 2 устанавливают на лазере так, что его ось точно совпадает с осью луча. Компенсатору 3 придают такую форму, что при соединении его с конусом можно получить плоскопараллельную пластину круглого сечения (для обеспечения неизменного хода луча). Поляроид - анализатор 4 помещают в точке наблюдения,На структуре поляризованного луча до поляроида-анализатора (см. положение а) линии штриховки условно показывают ориентацию плоскостей поляризации различных частей луча.При точной ориентации центра поляроида 4 на центр луча 1 на выходе поляроида (см. положение б) наблюдают чередование концент рически темных и светлых колец, центр которых совпадает с центром луча. Число и ширина колец зависят от...

Способ измерения компонент тензора нелинейной поляризуемости монокристаллов класса dzd

Загрузка...

Номер патента: 363021

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Институт

МПК: G01J 4/04, G01N 21/21

Метки: класса, компонент, монокристаллов, нелинейной, поляризуемости, тензора

...компонент тензора нелинейной поляризуемости монокристаллов класса В.,д, с целью одновременного измерения абсолютных и относительных значений последних, измеряют зависимость интенсивности излучения второй гармоники, возникающей в плоскопараллельном образце, вырезанном параллельно кристаллографической оси Х, от угла а между плоскостью колебания электрического вектора и плоскостью, проходящей через оптическую ось кристалла и нормаль к образцу. Затем по величине интенсивности при а = О определяют абсолютное значение 44, а по отношению интенсивностей при а = О и а = - относительное значение4 где 1(от) и 1(2 а) - интенсивности излучения основной частоты и второй гармоники соответственно;5 1 - толщина образца;п(от) и п(ао) - его показатели...

365677

Загрузка...

Номер патента: 365677

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01J 4/04, G01N 21/21, G02B 26/08 ...

Метки: 365677

...плоскость поляризации (секция 2"), но имеющего 30 одинаковый коэффициент преломществом в секции 2. Далее излучеруется цилиндрической линзой д идиафрагмой 4 на два луча 1 и 1через поляроид 5, фильтр б, фокусзами 7 и поступает на фотоприемнхода которых снимаются электрипалы, поступающие на усилителивый детектор 11 и индикатор 12.ниям последнего судят о величинелуча.Поляроид 5 вращается от элеля 1 З.Расщепление луча 1 на два (1 иходимо для получения разности фазприемниках, возникающей за счетплоскости поляризации луча, прошедцию 2Вел ие ичины сигналов на фотопрбыть представлены в виде;Е, = Е, сов(ы 8+ ),Еа: Езлтсов И 8 Ез - сигналы на фотоприемникахЕ, - величина сигналов до пороида 5;.в - угловая скорость вращения поляроида 5;1 -...

Устройство для измерения распределения

Загрузка...

Номер патента: 368526

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Абрамов, Мома, Невский

МПК: G01N 21/21

Метки: распределения

...и фотоприемиик 10. Фотоприемник соединен электрически с входом широко полосного усилителя 11, имеющего переменный коэффициент усиления. Выход усилителя 11 соединен одновременно с входом узкополосного усилителя 12 силнала иа частоте модуляции света обтюратором и входом узкопо- О лосного усилителя 13 сигнала на частоте питания электромагнита. Усилитель 13 связан с широкополосным усилителем 11. Выход усилителя 12 подсоединен к входу системы записи сигнала 14.25 Луч монохроматического плоскополяризованного инфракрасного света от источника излучения 1 модулпруется механическим обтюратором 2 и с помощью фокусирующей сис мы 8 собирается на пластине 6 из исслед 30 мого полупроводникового материала, Пе36852 Ь Фиг Г Составитель Ю. Громов Техред...

Способ контроля прозрачных граненых камнёй

Загрузка...

Номер патента: 370506

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вител, Нроектно, Техники, Фаерштейн, Шевченко

МПК: G01N 21/21, G01N 33/38

Метки: граненых, камнёй, прозрачных

...Изобретение относится к способам визуального контроля дефектов на гранях камня,Известен способ контроля прозрачных граненых камней путем направления светового потока на контролируемый камень через поляризатор,Целью изобретения является повышение ф фективности контроля качества граней ка и снижение утомления органа зрения.Это достигается тем, что световой поток поляризованного луча направляют на грань камня под углом, равным углу Брюстера.Световой поток от осветительного прибора 1 (см. чертеж) проходит через поляризатор 2 и, отражаясь от поверхности контролируемого камня 3, направляется в глаз 4 контролера. Зеркальная составляющая светового потока,яьляющаяся источником ослепления, гасится самим камнем, ориентированным относительно...

Способ измерения величины оптической активности веществ

Загрузка...

Номер патента: 374972

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Тумерман

МПК: G01N 21/21

Метки: активности, величины, веществ, оптической

...плоскостью поляризации, представленный иа чертеже источником 1 света, монокроматором 2 и равномерно вращающимся с круговой частотой ю яицсйцым поляризатором 8, попадает па светоделитсльное устройство 4, которое делит его на два луча: 1 и 11. Луч 1 проходит через линейный поляризатор 5 и попадает на фото- приемник 6, формируя в нем опорный электриз ческиц сигнал. Лучпроходит через кювету7 с исследуемым веществом, затем через линейный поляризатор 8 и воздействует на фото- приемник 9, возбуждая в ием рабочий электрический сигнал. Сигналы фотоприемников 6 и 9 1 О после про.сождения через фильтры, настроенные иа частоту 2 щ, лучи 1 ц 11 соответственно, поступают ид вход фазоцзмеритсльцого устройства 10. Результат измерения фазы...

378128

Загрузка...

Номер патента: 378128

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Институт

МПК: G01J 4/04, G01N 21/21

Метки: 378128

...13.При спектрофотометрических измеренияхкювету с исследуемым веществом помешаютна пути одного из лучей У или 11, а контрольную кювету с чистым растворителемна пути другого луча, Сигнал, получаемыйв приемнике 13, является,в этом случаеизмерительным. Опорный сигнал создаютлучом Ш, который проходит через анализатор 14, укрепленный в поворотном узле сотсчетным приспособлением, и воздействуетна светоприемник 15.Токи приемников 13 и 15 после усиления подают в фазоизмерительное устройство 16, измеряющее и регистрирующее разность фаз между измерительным и опорнымсигналом.При вращающемся с циклической частотой И) поляризаторе 4 и неподвижных анализаторах 6 и 7 сила фототоков 4 и ,1 создаваемых лучами 1 и 11, будет определяться законамн...

I библиотека

Загрузка...

Номер патента: 381006

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Йсесоюзна, Пеньковский, Трофимов

МПК: G01N 21/21, G02F 1/01

Метки: библиотека

...викаллоя. Кольцо 5 напрессовано на тонкий стаканчик б из диамагнитного материала, например титана. Плоскости пружин совпадают с радиальными плоскостями, проходящими через центр вращения диска 1.Внутри ротора закреплен оптически активный элемент 7 типа поляроида, призмы, фазовой пластинки и т, п на который нормально к его плоскости падает пучок света.Ротор введен с небольшим зазором в неподвижный статор, содержащий шихтованное железо 8 и смещенные в пространстве обмотки 9, питаемые синусоидальными токами разных фаз. Обмотки создают вращающееся магнитное поле, например, с частотой а=400 гц, направление вращения которого периодически меняется с помощью электрической схемы с частотой, близкой или равной частоте собственных колебаний...

412535

Загрузка...

Номер патента: 412535

Опубликовано: 25.01.1974

МПК: G01J 4/04, G01N 21/21

Метки: 412535

...устройство состоит из цифрового диска 13, шкалы 20, фиксатора с зубчатым диском 21 и призмой 22, подушки 23 и лентопротяжного механизма 24, а кроме того, кассеты 25 с бланком 2 б, нумератора 27 и механизма перемещения подушки и кассеты, включающего в себя электродвигатель 28, редуктор 29, кулачки 30 - 32 и систему рычагов 33 - 42 и тяг 43 - 45.Сахариметр работает следующим образом.Световой поток источника излучения 1 проходит через конденсор 2, модулятор-поляризатор 3, кювету 4, компенсатор 5 и светофильтр б и попадает на фотоприемник 7. При заполнении кюветы 4 измеряемым раствором в цепи фотоприемника появляется сигнал разбаланса, который после усиления усилителем 8 подается на управляющую обмотку электродвигателя 9,...

415340

Загрузка...

Номер патента: 415340

Опубликовано: 15.02.1974

МПК: G01N 21/21

Метки: 415340

...и технологического контроля.Основное авт. св,264158 выдано цд способ оценки степени ориентации волокон и прозрачных и полупрозрачных материала, 10 например, бумаге путем измерениятесв- ности света, прошсднего через образсц, помс щенцый в скреценную систему полрзато 11 аализатор., Образец поворачивают вокруг оптической оси и вычисляют отношение макси мальной интенсивности света к мцнимдлы;ой.Недостатком этого способа является исключительная чувствительность его к измененшо некоторых физических свойств бумаги, например веса. 20Цель изобретения - повышение точности производственного контроля.Достигается это тем, что анализаор вращают относительно плоскосп ц поляризацш поляризатора. 25На чертеже представлена принципиальная схема...

415559

Загрузка...

Номер патента: 415559

Опубликовано: 15.02.1974

МПК: G01N 21/21, G01N 21/41

Метки: 415559

...10 -см. 10Предлагаемый способ позволяет повысить точность определения. Это достигается тем, что при измерениях свободную поверхность пленки вначале помещают в среду, оптически менее плотную, и производят измерение раз ности фаз между перпендикулярно и параллельно поляризованными компонентами отраженного от пленки света, а затем пленку помещают в среду, оптически более плотную.Способ осуществляют следующим образом. 20 Пленку приводят в оптический контакт с прозрачной средой; имеющей показатель преломления меньший, чем показатель преломления измеряемой пленки, и измеряют Л 1 - разность фаз между параллельной и перпенди кулярной составляющими отраженного света. Затем пленку приводят в оптический контакт с прозрачной средой, имеющей...

Магнитооптический трасформатор тока

Загрузка...

Номер патента: 699402

Опубликовано: 25.11.1979

Автор: Пушкарев

МПК: G01N 21/21, G01R 15/24

Метки: магнитооптический, трасформатор

...10 напоследовательно включенные соленоиды компенсационных ячеек Фарадея699402 Формула изобретения Устройство работает слецуюшимобразом,Лучи света от источника 1 постуГпают на светоделителии 2 и, отразившись от них, следуют через поляризаторы 3 и 3 и компенсационныеячейки 4 и 4 в измерительные5ячейки Фарадея 5 и 5 и далее отраРзившись от поворотных зеркал 7 и 71возвращаются, обратно, проходят измерительные 5 й 5 и компенсационные4 и 4 ячейки Фарадея и через поляризаторы 3 и 3, служащие одновременно анализаторами, поступают на фотоприемники 8 и 8.В исходном состоянии, когда токопровод б обесточен, световые потоки,поступающие на фотоприемники, благодаря симметрии оптической схемы устройства равны, При этом ЭДС, возбуждаемые в них, также...

Способ определения качества поли-мерной пленки

Загрузка...

Номер патента: 819639

Опубликовано: 07.04.1981

Авторы: Батырев, Гдалин, Зарецкий, Кечекьян, Попов, Семенов

МПК: G01N 21/21

Метки: качества, пленки, поли-мерной

...пленки, 819639На фиг. 1 схематически изображены углы расхождения рефлексов рассеяия; нафиг. 2 - устройство для осущесгвленияпредлагаемого способа.Устройство имеет лазер 1, измеряемуюпленку 2, плоскость которой перпендикулярна лучу лазера, и анализатор 3, За последним расположен диск 4 с эксцентрично установленным на нем фотоприемником.5, например фотодиодом. Ось вращения дискасовпадает с оптической осью устройства.Устройство работает следующим образом.Измеряемая пленка 2 просвечивается поляризованным лучом света, например лучом лазера 1, в котором при прохождениичерез пленку образуется рефлекс рассеяния,Анализатор 3, установленный за пленкой,выделяет рефлексы рассеяния, улавливаемый фотоприемником 5,При вращении диска 4 на выходе...

Устройство для измерениятемпературы

Загрузка...

Номер патента: 821960

Опубликовано: 15.04.1981

Авторы: Габа, Костецкий, Романюк

МПК: G01K 11/18, G01N 21/21

Метки: измерениятемпературы

...4 Т(1), при К=К(Ц период Т зависит от температуры. Зависимость Т(1) учитывается при градуировке. В этом отношении неудобными могут показаться материалы, обладаюцие в рабочем диапазоне фазовыми переходами, в районе которых, как правило, имеют место значительные температурные аномалии, усложняющие градуировку и вид градуировочной кривой. В свою очередь, при создании приборов узкоцелевого назначения подобные резкие аномалии могут оказаться полезными.Искомая температура среды можетать представлена такими слагаемыми+щТ+1= +где 1 - известная исходная темпераФтура запуска (настройки)прибора, отвечающая дую=0 ищ=Оу щ - число минимумов фототока,зарегистрированных при изменении температуры датчика от исходной 1 О до искомойТ - период...