Патенты с меткой «оптикой»
Двойной микроскоп с поляризационной оптикой
Номер патента: 124191
Опубликовано: 01.01.1959
Автор: Королев
МПК: G01B 9/04, G01N 21/21, G02B 21/00 ...
Метки: двойной, микроскоп, оптикой, поляризационной
...другими известными методами и приборами,На фиг, 1 изображена оптическая схема двойногофиг. 2 - вид поля зрения микроскопа при введении миироскопа; на цилиндрической линзы.Яркий источник с лектор 2, светофильтр б. Изображение щели тив 7 проектируется н ной 1 мм, установлен ает лучи через колризонтальную щель ив б и микрообъекца 8. Щель 9 шири- скости микрообъектная лампа ид 4 и осв лим аторнь ть изучаемо ней фокал) посыл щает го й объект го образ ной пло ета 1 (рту 3 и поляро 5 через кол поверхнос ая в перед124191 тива 7 перпендикулярно к щели Б, задает плоскость падения лучей на поверхность шлифа, Изображение щели б на поверхности изучаемого образца можно рассматривать через второй микроскоп, состоящий из микрообъектива 10,...
Устройство для программного управления металлорежущими станками с экранной оптикой
Номер патента: 137374
Опубликовано: 01.01.1961
Автор: Егудкин
МПК: B23Q 35/38
Метки: металлорежущими, оптикой, программного, станками, экранной
...масштабе М, По такой схеме (оси 1 - 11) работает оптическое отсчетное устройство, когда станок настроен на универсальный режим.Для осуществления центрировки источника света, что особенноважно для получения оптимальных условий освещения, между окуляром8 и экраном 9 включается только на период центрировки оптическая система, проектирующая выходной зрачок окуляра 8 на экран в соответствующем.масштабе, При этом на экране будет видно изображение источника света.При переходе станка на режим программного управления зеркалоб выключается и схема работает по оси - 111. Изображение, даваемоеобъективом 4, в этом случае проектируется в плоскость, сопряженнуюс плоскостью растровой сетки 7 и.далее вторым окуляром 8 в плоскость,сопряженную с...
Спектрограф со сферической зеркальной оптикой
Номер патента: 138392
Опубликовано: 01.01.1961
Автор: Тарасов
МПК: G01J 3/22
Метки: зеркальной, оптикой, спектрограф, сферической
...диспергирующий элемент (призма или дифракционная решетка) установлен на двойном фокусном расстоянии от зеркала камеры, в стороне от его центра кривизны, коллиматорное и камерное зеркала установлены по У.-образной схеме между входной щелью и коллиматорным зеркалом помещена цилиндрическая линза, а для исправления кривизны поля перед фотопластинкой установлена плоско-выпуклая линза.На чертеже изображена оптическая схема спектрографа.Прибор содержит: входную щель 1; цилиндрическую линзу 2; сферическое зеркало 3 коллиматора; диспергирующий элемент (призма или дифракционная решетка) 4; плоское зеркало 5; сферическое зеркало камеры 6; плоско-выпуклую линзу 7; фотопластинку 8. Диспергирующий элемент (призма или дифракционная решетка) 4...
Отражательный клистрон с плоской электронной оптикой
Номер патента: 482831
Опубликовано: 30.08.1975
Автор: Голант
МПК: H01J 25/22
Метки: клистрон, оптикой, отражательный, плоской, электронной
...более прозрачжайшая к отражас присоедГосударственный комитет (32) Приорите Яеоета Министров СССР Известны отражательные клистроны с плоской электронной оптикой, в которых обычно используют два пролета электронов через высокочастотный зазор. Однако при электронной оптике, близкой к плоскопараллельной, когда угол пролета электронов между вторым и третьим пролетами зазора равен или близок к нечетному числу полупериодов колебаний, электроны и при третьем пролете могут отдавать энергию высокочастотному полю, При таком подборе фазы третьего пролета через зазор значительно расширяется диапазон электронной настройки. Для этого количество электронов, третий раз пролетающих зазор, должно быть достаточно велико по сравнению с количеством...