Патенты с меткой «кристаллооптических»
Приспособление к столику поляризационного микроскопа для кристаллооптических измерений
Номер патента: 40003
Опубликовано: 30.11.1934
Автор: Аршинов
МПК: G01N 21/21, G02B 21/34
Метки: измерений, кристаллооптических, микроскопа, поляризационного, столику
...экватора, Угол азимута измеряется а столике микроскопа угломмежду начерченной на плоскости вспомогательного сегмента линией ХБ и центральной линией дужки. начерче:Ной нацеллюлоидной ленте.2, Полусфера со скользящим сегментом(Протрактором) (фиг, 3), Длв Определения сф.-ричеслих координат наклона олусферы более , крупных размеров, около 35 .и,1, врашаюшейся в плоско. вогнуто линзе, мож 110 предложить / скользящий по полусфере сегмент.Се "мент (протрактор), изготовленный из стекла или пластической массы, слегка смочем-ный глицерином, скользит одноьременно как пополусфере, так и по подставке ь виде вогнуто-плоской лйнзы, Скользящий сегмент(протрактор) с толшиной стенки между сферическими его поверхностями около 3 - 4,с,г имеет форму...
Столик к микроскопу для кристаллооптических измерений
Номер патента: 115957
Опубликовано: 01.01.1958
Авторы: Колодяжный, Цуринов
МПК: G02B 21/28, G02B 21/30
Метки: измерений, кристаллооптических, микроскопу, столик
...и обеспечивает возможность работы в диапазоне температур от минус 160 до плюс 250" при любом повороте ис"чедуемого кристалла вокруг опти- ческОЙ Осп микроскопа. Это достигается тем, что часть корпуса стол 1- ка, жестко скерпленная с лимбом микроскопа, выполнена поворотнои относительно нагревательных и охлаждающих устройств.На чертеже изображен предлагаемый столик в разрезе.Столик выполнен из двух частей: пеподв 11 жной 1 и поворотной 2. На неподвижноЙ части столика смонтирован электрический нагреватель 3 и охлажда 1 сщее устройство 4, к которому по патрубку 5 подается жидкий азот. Поворотная часть столика жестко скреплена с лимбом микроскопа Для обеспечения возможности полных кристаллооптических измерений, внутри его установлена линза...