Способ определения концентрации свободных электронов в плазме
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 128201
Авторы: Васильева, Грановский, Савоськин
Текст
128201 Класс 42l, Звв21 Д, 211 в г 11 ЮИР 9гуЬа 1 ЫО 11 йг СССР СА И АВТОРСКО воски Грановский и В А, Васильева, В СПОСОБ ОПРЕД СВОБОДНЫХЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИ ЕКТРОНОВ В ПЛАЗМЕ% 641422/23 в Когиигет но делам изоб 1 нтенийри Совсте Министров СССР явлено 16 октября 1959 г. за открытийлетене изобретений М 9 за 1960 иковано вИзмерение концентрации свободных электронов в газовой плазме нри наличии магнитного поля сопряжено со зпачительньгми трудностями. Существующие способы разделения обладают сравнительно небольшггй пространственной разрешающей способностью.Отличительной особенностью описываемого способа является применение направленного инфракрасного излучения, которое пропускают через плазму, а о концентрации электронов судят по углу поворота этого пучка или по изменению его интенсивности. Применение плоскополяризованпого пучка инфракрасного излучения повьнпает пространственнуо разрешающую способность способа.Одна из ВОзмОжных схемизмерений представлена на чеотеже. Луч от источника инфракрасного излучения, включающего в себя канденсорну 1 о оптическую систему 1, проходит через модулятор 2, монохроматор 3 и поляризационное приспособление 4, после чего пропускается сквозь исследуемую плазму б в направлении, параллельном направле - нию действующего в ней магнитного поля.По выходе из плазмы пучок проходит сквозь анализирующее поляризационное приспособление 6 и регистрируется селективным приемным устройством 7, настроенным на частоту модуляции пучка.Из-за поворота плоскости поляризации пучка в плазме при наличии магнитного поля меняется энергия излучения достигающего приемника.Измерение концентрации электронов может производиться: 1) при больших углах поворота плоскости поляризации - прямым измерением этого угла путем соответствующего поворота анализа ора;2) при малых углах вращения по измерению интенсивности проходящего п чка.Яо 12820 1 рсдмст изобретения бретений и открытий при Совете Министров ССС Комитет по деламелактор Н. И. Мосин 7 одп. к пеп, 11,17-60 г,ираки 830 епа 25 коп. спй отдел. Лак. 3310 Информационно.падатглОбъем 0,17 и. л. гпографпп Комитета по делам изобретений и открытий прп Сонете Миппстроп ССС Москва, 1 етровка, 4.Способ определения коцснтрацин свободных электронов в плазме при наличии магнитного поля, о т л и ч а о ц и й с я тем, что, с пельо повышения разрешающей способности, плоскополяризованный пучок инфракрасного излучения пропускают через плазму, а о концентрации судят по углу поворота этого пучка или по измецснию его и 1 тенсивцостц.
СмотретьЗаявка
641422, 16.10.1959
Васильева И. А, Грановский В. Л, Савоскин В. И
МПК / Метки
МПК: G01J 4/00, G01N 21/21
Метки: концентрации, плазме, свободных, электронов
Опубликовано: 01.01.1960
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-128201-sposob-opredeleniya-koncentracii-svobodnykh-ehlektronov-v-plazme.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения концентрации свободных электронов в плазме</a>
Предыдущий патент: Призор для определения механического состава почв
Следующий патент: Способ анализа газа
Случайный патент: Машина для очистки орехов от околоплодника