Способ контроля кристаллизации кондитерскихмасс
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 221345
Авторы: Айзинов, Дмитриева, Климовцева, Кокашинский, Московска, Никифорова
Текст
баюз Советских Социдлиотичеохи Ресотбдннс присоединением за МПК 6 02 с 1 А 23 д УДК 535.511:664,149иоритет Комйтет по деламобретений и открытиРри Сосете МинистраоСССР 1.1968. Бюллетень2 ликован Дата опубликования описания 4,Х,1 авторыизобретен М, Айзинов, Л, П, Дмитриева, Г. Р, Кокашинский, 3. Ги В. Н, Никифорова овцев Красный Октябрь Заявител сковская кондитерская фа СПОСОБ КОНТРОЛЯ КРИСТАЛЛИЗАЦИИ КОНДИТЕРСКИ МАСС2 50 мк) массы, от на столике а и определяют ка, величина коржанию кристалтонкого слоя (толщиной 25 -Предметное стекло закрепляполяризационного микроскоинтенсивность светового пототорого пропорциональна соделов сахарозы в массе.По предлагаемому способуределять степень кристаллкондитерских изделий,Известен способ контроля кристаллизациикондитерских масс, например ирисной, в процессе производства (а также готовых изделий) путем микроскопирования исследуемогообразца в световом потоке. 5Для повышения точности контроля согласно предлагаемому способу микроскопирование осуществляют в проходящем через исследуемый образец поляризованном световом луче, измеряя при этом интенсивность световогопотока в объективе микроскопа, величина которого прямо пропорциональна содержаниюкристаллов в массе,Предлагаемый способ заключается в следующем,1По ходу технологического процесса отбирают пробу кондитерской массы, например ирисной. Определенное количество (15 - 20 иг)пробы помещают между двумя предварительно нагретыми до 100 С предметными стеклами. После этого стекло сдвигают относительно другого для получения на каждом стекле можно также оптчности готовых бретени едмет и Способ кских масс,изводстваемого обрацелью повскопированляризованнпри этом ипоследующсталлов. исталлизации кондитеррисной, в процессе прооскопирования исследуающийся тем, что, с ности контроля, микровляют в проходящем пом луче с измерением ти светового потока с ением содержания крионтроля кр например т путем микр зца, от.гич ышення то ие осущест ом светово нтенсивнос им определ
СмотретьЗаявка
1133247
Ю. М. Айзинов, Л. П. Дмитриева, Г. Р. Кокашинский, Г. Климовцева, В. Н. Никифорова, Московска кондитерска фабрика Красный Окт брь
МПК / Метки
МПК: G01N 21/21, G01N 33/02
Метки: кондитерскихмасс, кристаллизации
Опубликовано: 01.01.1968
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-221345-sposob-kontrolya-kristallizacii-konditerskikhmass.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля кристаллизации кондитерскихмасс</a>