Патенты с меткой «столике»

Номер патента: 40002

Опубликовано: 30.11.1934

Автор: Аршинов

МПК: G01N 21/21, G02B 21/34

Метки: вращения, микроскопа, одной, плоскости, полусферы, поляризационного, помещенной, расправления, стеклянной, столике, столику

.... мидрдСкопдд-ТЯ ЧЭЧРЗВЛНИ ВРЗЩНИ диодного микроскопа зддя направления д в ОДНОЙ ПЛОСКОСТИ ЧТЕКЧЧЯННОЙ ЙПОЙУвращенияв одной плоскости помещен- .СФЕРЫ, ПОМЗЩЕННОЙ На СТОЛИКЗ- ЭТ ной на ролике стеклянной полусферыПРИПОСОбЛеНИЕГ-СОШОИТ ИЗ: ПРОЗРЧНОИе отличающееся применением выполнен - з/ ДХЖКРДжВЫДФЛЕ-ЕННОЙ аИЗ ПрОЗРЗЧНОИ пла- Ной "изе прозр рудного материайа ддуждди7 дС+ТъЧеС 9 ЙМаССЬ 1 ИЛИ ИЗ СТЕКДЗ- (о вырезаннойпхз ферической чашки двумяЬ" ддУа ЭТЭ (СМь ЧеРТеЖ 1 ВЪТРе 3 аНд ИЗ парайи взаимно перпендикулярных дугд СФЕР 12914014 нашими ШРЗНИЧЕНЗ ДВУМЯ большихжрутов, и уцроенной скользнчпарами 1: 2 И г 45 в 3 диМН ПеРПеНдВКУ щей; по смоченной глицерином или иней а ТЛЯРНЫХ ДУРО-ЧЬШИХ КРУГ 013, ИЗ КЧГОРЫЖ жидкостью поверхности...

Номер патента: 67876

Опубликовано: 01.01.1947

Автор: Казанский

МПК: G01N 21/21, G02B 27/28

Метки: исследования, микроскопа, минералов, оптического, поляризационного, прибор, столике, федорова

...будет больше, и в цепи фотоэлементов возникнет электрический ток. Направление тока и величина его будет определяться отношением разности потенциалов фотоэлементов, т. е. разностью освещенностей последних, иначе говэряотклонением главного сечения оптической индикатрисы от положения биссектрисы угла а в плоскости Я.Аналогичное явление будет иметь место, если линия пересечения главного сечения с горизонтальной плоскостью Р не будет делить пополам угол между проекциями осей 2 и Р на плоскость Р, т. е. не будет совпадать с биссектрисой угла 201Для определения угла оптических осей минерала поворотом столика на 45 главное сечение индикатрисы совмещается с вертикальной плоскостью, проходящей через ось Р. 1 отоэлемент тубуса с осью Я...

Номер патента: 386230

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Марозас, Марозене, Рагульскис

МПК: G01B 5/28

Метки: закрепления, ленты, профилографа, столике

...к основанию рабочего столика профилографа.Однако такое закрепление ленты не дает возможности получить данные высокой точности из-за неодинаковой толщины ленты.Для увеличения точности измерений путем исключения влияния неровностей толщины ленты предлагаемое устройство снабжено прижимной пластиной, располагаемой параллельно основанию, и пластичным телом, причем отрезок исследуемой ленты и пластичное тело размещены на основаниями одно над другим.На фиг. 1 показано описываемое устройство до прессования; на фиг. 2 - после прессова- ния На основании 1 рабочего столика профил графа размещают пластичное тело 2, напр мер смолу, и магнитную ленту 3. Над после неи строго параллельно основанию р агают пластину 4, на которую возде у т прижимным...