G01N — Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
Крутильный маятник
Номер патента: 851192
Опубликовано: 30.07.1981
МПК: G01N 11/16
Метки: крутильный, маятник
...фиг. 3 - форма пластины, по которой устанавливают параллельностьплоских опор.Крутильный маятник содержит упру, гий элемент 1, выполненный в видеплоской пластины, один конец которого закреплен в неподвижном зажиме 2, 040а другой - в подвижном зажиме 3 инерционной детали 4 (диска). С нижнейстороны диска 4 расположены неподвижно верхняя 5 и нижняя б плоские камневые опоры. Плоскости этих опор параллельны плоскости упругого элемента 1 (фиг. 2) и расположены на вертикальной оси, совпадающей с осями упругого и инерционного элементов. Кро-ме того, опоры 5 и б разверноуты от- я 0носительно друг:друга на 180 , т,е.их плоскости являются продолжениемодна другой.Опоры 5 и б закреплены на муфтах7 и 8, которые допускают регулиРовкУугла...
Устройство для определения вязкоупругиххарактеристик твердых материалов
Номер патента: 851193
Опубликовано: 30.07.1981
Автор: Левченко
МПК: G01N 11/16
Метки: вязкоупругиххарактеристик, твердых
...плите,На чертеже схематически представленопредлагаемое устройство.Устройство включает манометр 1, штуцер 2 наддува, верхнюю заглушку 3, направляющие 4, уровнемер 5, отрезок трубы 6из исследуемого материала, тензодатчик 7,динамический датчик 8 давления, систему 9регистрации переменной деформации стенкитрубы, систему 10 регистрации переменногодавления, подвижную опору 11, линию 12заправки трубы жидкостью, ударную плиту13, нижнюю заглушку 14, фиксатор 15, кран16 уровнемера и заправочный кран 17.Устройство работает следующим образом.Отрезок трубы 6 из исследуемого материала, заглушенный с двух концов, с подключенным в нижней части динамическимдатчиком 8 давления или тензодатчиком 7устанавливают на подвижную опору 11, которую поднимают...
Диффузионный газоанализатор
Номер патента: 851194
Опубликовано: 30.07.1981
Автор: Илясов
МПК: G01N 13/00
Метки: газоанализатор, диффузионный
...дросселю 16 и регулятору 17 расхода непрерывно подводится газ-носитель, а в тройник 15 непрерывно поступает анализируемый газ. Потоки чистого газа-носителя и смеси газа-носителя с анализируемым газом поступают соответственно в каналы 1 и 2, причем по каналу 2 газовая смесь прокачивается с постоянным объемным расходом, равным, например, расходу газа-носителя в канале 1. В период времени, когда потоки движутся около окна 5, происходит диффузия компонентов анализируемой смеси из канала 2 в канал 1, а в обратном направлении через окно диффундирует газноситель. 11 ри этом в каналев направлении х, начиная от плоскости окна, в каждом сечении создаются объемные концентрации каждого из компонентов, которые зависят от величины коэффициентов...
Устройство для измерения поверхностногонатяжения жидкостей
Номер патента: 851195
Опубликовано: 30.07.1981
Автор: Мордасов
МПК: G01N 13/02
Метки: жидкостей, поверхностногонатяжения
...Р,. Это давление после повторителя 14 поступает на вход дросселя 16. Расход газа (;), через дроссель 16 с ростом давления Р, на его входе увеличивается, так какЯ, = Ю(Р, - Рг),где Я, - проводимость дросселя 16;Р- давление после дросселя 16, На вход струйной трубки 18 поступает расход газа (,) = Я, + (,)где Я- расход газа, устанавливаемый регулятором 19 расхода воздуха и являющийся постоянной величиной.Струйная трубка 18 расположена под углом к плоскости уровня жидкости. При поступлении воздуха на вход струйной трубки и при взаимодействии газовой струи с поверхностью жидкости на последней образуется углубление, совершающее при пороговой скорости набегающей газовой струи, зависящей от величины поверхностного натяжения жидкости,...
Осмометр
Номер патента: 851196
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Бугров, Кирсанов, Крестьянкин, Лещинский, Матросов, Суханова
МПК: G01N 13/04
Метки: осмометр
...исходном состоянии измерительная головка 1 занимает верхнее положение, при котором термощуп 2 и вибратор 3 находятсяв воздухе. Кювета 5 с исследуемой пробойпомещается в камеру охлаждающего устройства 14, которая частично заполнена незамерзающей жидкостью (антифризом ),Температура в камере поддерживается схемой 15 автоматического регулирования назаданном уровне.При переводе измерительной головки 1в нижнее положение автоматически включается кнопка 11 ПУСК, термощуп 2 и вибратор 3 опускаются в кювету 5 с исследуемой пробой так, что термощуп 2 оказываетсяв центре пробы, а сама кювета 5 погружается в антифриз.С выхода генератора 12 через кнопку 11ПУСК, элемент ИЛИ 9 и электромагнитнуюсистему 4 включается вибратор 3 с частотой 11, При...
Пылесигнализатор
Номер патента: 851197
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Бершов, Буянский, Власенко, Климов, Поляков, Протопопов, Сивуха
МПК: G01N 15/00
Метки: пылесигнализатор
...чувствительный элемент пылесигнализатора.Пылесигнализатор содержит чувствитель ный элемент 1, установленный в криволинейном патрубке 2 с входным фланцем 3, сопрягаемым с воздушным фильтром (не показан), и выходным фланцем 4, сопрягаемым с двигателем (не показан).Чувствительный элемент 1 содержит пластину-изолятор 5 с нанесенным на нее проводящим слоем 6, выполненным из никельфосфорного сплава толщиной 0,1 мкм. На проводящем слое 6 размещены контактные шины 7 - 9, выполненные из химически 1 осажденного олова толщиной 0,1 мм и шириной 1 - 2 мм и образующие два участка 10 и 11 проводящего слоя 6, один из которых между шинами 7 и 8 является рабочим участком 10, а другой между шинами 7 и 9 - компенсационным участком 11. Рабочий 10 о и...
Аэрозольный фотоэлектрический анализатор
Номер патента: 851198
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Анкилов, Бородулин, Гольдман, Гривин, Куценогий, Семенов, Фоменко
МПК: G01N 15/02
Метки: анализатор, аэрозольный, фотоэлектрический
...анализатора.Анализатор содержит осветитель 1, проточную кювету 2 с осветительной зоной,измерительный канал, состоящий из положительной линзы 3 с диафрагмой 4 полязрения и последовательно соединенных фотоприемника 5, усилителя 6, ключа 7 и амплитудного анализатора 8, а управляющий,канал состоит из положительной линзы 9,диафрагмы 10 поля зрения и последовательно соединенных фотоприемника 11, усилителя 12, формирователя 13 управляющегонапряжения, выход которого соединен с управляющим входом ключа 7.Анализатор работает следующим образом,Осветитель 1 создает в проточной кювете 2 осветительную зону, Пролетающиечерез эту зону аэрозольные частицы создаютимпульсы рассеянного света. Часть светасобирается линзой 3 измерительного каналаи...
Датчик регистрации паровых пузырей вдвухфазном потоке
Номер патента: 851199
Опубликовано: 30.07.1981
МПК: G01N 15/06
Метки: вдвухфазном, датчик, паровых, потоке, пузырей, регистрации
...поверхности зонда, чередуясь с горячими спаями на расстоянии друг от друга, не превышающем размер парового пузыря.На чертеже схематически изображен датчик с усилителем и шлейфным осциллографом.Датчик регистрации паровых пузырей вдвухфазном потоке расположен над грею- ЗОщим элементом 1 и представляет собой зонд,на чувствительной поверхности которого установлены несколько последовательно соединенных термопар 2 (например,хромель-копель, на чертеже Х - хромель, К - копель),причем количество их зависит от длины греющего элемента и отрывного диаметра паровых пузырей. Как горячие, так и холодные спаи термопар установлены на чувствительной поверхности, чередуясь друг сдругом, на расстоянии, . не превышающем 4 Оразмер парового пузыря....
Способ определения водопоглотительнойспособности гигроскопичных материалов
Номер патента: 851200
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Антоневич, Иванов, Носкова, Петровский
МПК: G01N 15/08
Метки: водопоглотительнойспособности, гигроскопичных
...при общей тенденции к уменьшению ее с увеличением фактора разделения. Нижний предел фактора разделения обоснован условиями полного формирования осадка и замещения воздуха порового пространства материала водой. С увеличением фактора разделения выше минимального значения величина водопоглотительной способности понижается. В связи с этим необходимо задать максимально допустимое значение фактора разделения по условиям единообразия методик и точности, В основу определения верхнего допустимого значения фактора разделения положено отношениех = 1,33,нь Ит. е. допускается варьирование фактора разделения в достаточно широких пределах для стандартного анализа.Практически все типы лабораторных центрифуг в эти пределы укладываются, т. е....
Установка для исследования суффозионнойустойчивости грунтов
Номер патента: 851201
Опубликовано: 30.07.1981
Автор: Хоменко
МПК: G01N 15/08
Метки: грунтов, исследования, суффозионнойустойчивости
...механические воздействия на частицы грунта отдвижущихся деталей,На фиг, 1 изображена предлагаемая установка, вид спереди, частичный разрез; нафиг, 2 - то же, вид сверху, метный разрез; на фигЗ - схема, иллюстрирующаяработу устройства, создающего сквозныенарушения в водоупорной системе; нафиг. 4 - общая схема работы установки.Установка имеет изготовленную из прозрачного материала переднюю 1, заднюю 2,боковые 3 и 4 стенки, дно 5, две водоупорные 6 и две опорные 7 перемычки, вставныеперфорированные перегородки 8, закрепленные в вертикальных пазах передней 1 и задней 2 стенок, и водоупорную систему, состоящую из находящейся в центре неподвижной водоупорной пластины 9 и двух выдвижных опорных пластин 10 с рукоятками 11,на которые опираются...
Проточная кювета
Номер патента: 851202
Опубликовано: 30.07.1981
Автор: Прищепов
МПК: G01N 21/09
...концентрация исследуемого вещества, тем дальше от торцовой стенки, на которую падаетсветовой пучок, находится выходное отверстие в нижней стенке кюветы.На фиг. 1 схематически представленапредлагаемая проточная кювета; на фиг. 2 -разрез А - А на фиг. 1.Проточная кювета содержит боковыестенки 1 и 2, верхнюю и нижнюю стенки 3и 4, торцовые стенки 5 и 6, плоскопараллельные перегородки 7 - 17, дополнительные выходные отверстия 18 - 23 в нижней стенке,кюветы, выходное и входной отверстия 24и 25.Устройство работает следующим образом,Раствор, подаваемый через входное отверстие 25, заполняет пространство междуперегородками и стенками кюветы, где создается гидродинамический поток, в которомпроисходит ориентация молекул и микрочастиц раствора. На...
Влагомер
Номер патента: 851203
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Ахунов, Джаппаров, Мусаев, Мухитдинов
МПК: G01N 21/17
Метки: влагомер
...наб., д од, ул. Прое 4/5 тная, устройство 7, второе дифференцирующее устройство 8, триггер 9 с раздельными входами, счетчик 10 и схему 11 совпадения. Два дифференцирующих устройства представляют собой блок регистрации.Устройство работает следующим обра зом.Кювета 5 облучается двумя потоками Щи Фол на опорной и измерительной длил, ланах волн соответственно. Проходящие через объект потоки излучения Фи Фл равны1 10 соответственноФ ф -ко 1 су.1 ьл,= оЕЕ1 1Ф:ср -ктл,- где гп 1 - масса вещества;гп а - масса влаги; 15 1 с и с 2, - коэффициенты поглощения на длинах волн А, иПоток на опорной длине волны изменяется по экспоненциальному законуФй -- А ефеВ момент равенства потоков Ф и Ф имеемфе "=Ае "ееИз этого выражения 1 следует, чтотй= --...
Устройство для изучения седиментации
Номер патента: 851204
Опубликовано: 30.07.1981
МПК: G01N 21/41
Метки: изучения, седиментации
...клин 15 и анализатор 16 регистрируется фоторегистратором 17. В случае отсутствия градиента показателя преломления в измерительной кювете 12 при угле поворота компенсатора 13, равном нулю, на фоторегистраторе 17 возникает система параллельных полос. При вращении ротора ультрацентрифуги в измерительной кювете 12 возникает градиент показателя преломления, который регистрируется на фоторегистраторе 17 в виде интерференционного контура ., форма которого искажена влиянием оптических неоднородностей окон измерительной кюветы (фиг. 2), Поворотом компенсатора 13 на угол р создается разность хода интерферирующих пучков, обратная раз. ности хода, вызванной оптическими неоднородностями стекол измерительной кюветы 12, полностью компенсирующая...
Способ измерения индикатрис рассеянияисследуемой поверхности
Номер патента: 851205
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Васильев, Мелешко, Сумин
МПК: G01N 21/53
Метки: индикатрис, поверхности, рассеянияисследуемой
...4На че теже изображена схема пророведе- в пределах угла обзора 21 р, производят выборРб где ку мгновенных значений модулеи векторов,Ония измер Рений п едлагаемым спосо ом, гдо которым строят индикатрису рассеяния.А визмеря емый элемент; Н - высота поле- и- гол обзора; У - скорость лета- П и необходимости производят статическуюрита; 2 р - уг, р;обработку данных наблюдений с целью потрисы 5 лучения индикатрисы рассеяния исследуеПример. Для определения индкатриот элемента исследуемой поверх- мой поверхности.рассеяния от элементап охо- Использование предлагаемого способаиост рсти выби ают марштур самолета, прохоА. В е полета позволяет увеличить производительностьдящ "ий над элементом А. В процессе поделах работ при измерении индикатрис...
Мутномер
Номер патента: 851206
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Захаров, Каплин, Телепин
МПК: G01N 21/53
Метки: мутномер
...итета СССР открытийя наб., д. 4/5 ул. Проектная,Редактор И. МихееваЗаказ 6340/59ВНИИПпоП 3035, МФилиал ППП Решетник руемым коэффициентом усиления, оптимальный фльтр 10, обеспечивающий минимальную дисперсию от флуктуаций отраженного и пропущенного средой излучения, и регистрирующее устройство 11 представляют собой измерительный блок.5Устройство работает следующим образом.Световой поток падает нормально на переднюю стенку кюветы 4 и контролируемую среду 5. Отраженный и рассеянный контролируемой средой 5 световой пучок измеряется фотоприемником 3, который преобразует световой поток в электрический сигнал. Сигнал с фотоприемника 3 усиливается усилителем 8. Величина выходного сигнала с измерительного усилителя 8 пропорциональ на...
Способ измерения коэффициентов отраженияматериалов при низких температурах
Номер патента: 851207
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Буяков, Прудников, Слободкин, Трипуть
МПК: G01N 21/55
Метки: коэффициентов, низких, отраженияматериалов, температурах
...приставку, сферы, эталон (модель абсолютно черного тела),851207 Формула изобретения Составитель В. Юртаев Редактор И.Михеева Техред А. Бойкас Корректор Г. Решетник Заказ 6340/59 Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4системы вакуумирования, охлаждения, напуска газов и регулирования температуры.Особенностью работы двухлучевых спектрофотометров является автоматическая компенсация разности в лучистых потоках междудвумя каналами за счет введения оптического клина в канале эталона, Относительнаявеличина этой разности прямо пропорциональна коэффициенту отражения образцаОптическая приставка...
Устройство для измерениякоэффициентов отражения
Номер патента: 851208
Опубликовано: 30.07.1981
МПК: G01N 21/55
Метки: измерениякоэффициентов, отражения
...призмы 4 и 5, трехгранную призму 6 полноговнутреннего отражения, четырехграннуюпризму 7,Эталон представляет собой призму полного внутреннего отражения типа призмы Дове, отражающая грань которой параллельна оптической оси устройства, Для исключения разницы в потерях излучения на преломляющих гранях призм в эталонном ирабочем каналах эталон выполнен в видесочетания двух призм 6 и 7, разделенныхвоздушным промежутком. Призма 6трехгранная полного внутреннего отражения, с тремя рабочими гранями, отражающая грань которой параллельна оптическойоси устройства. Призма 7 - четырехгранная, с двумя рабочими гранями, которые З 0параллельны между собой и параллельнывыходной грани призмы 6. Призмы 6 и 7дополняют друг друга до призмы Дове.Для...
Устройство для определения индикатрисспектрального коэффициента отраженияполупрозрачных материалов
Номер патента: 851209
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Белевич, Вдовин, Евтехов, Менчев, Островский
МПК: G01N 21/55
Метки: индикатрисспектрального, коэффициента, отраженияполупрозрачных
...потока с помощью зеркал 3, 4 и 6 и линзы 5 попадает на образец 7, который закреплен на нагревателе 8, и далее через линзу 9 и выходное окно 10 проецируется на щель 11 монохроматора. Другая часть светового по 20 тока через диафрагму 2 и световод 13 попадает на датчик 14 опорного сигнала.Так как образец 7 с нагревателем 8, осветительная система 1, 2, 12, 13, 14, 15 и оптическая система 3, 4, 5, 6 жестко связа ны между собой, то измерение индикатрис отражения производится путем поворота образца 7 вокруг своей оси вместе с осветительной и оптической системами относительно линзы 9.Модулятор 12 изготовлен в виде цилинд- З 0 рического стакана с отверстиями в стенках, вращающегося вокруг лампы 1 накаливания. Частота модуляции светового потока...
Индикатор проколов
Номер патента: 851210
Опубликовано: 30.07.1981
Автор: Дашевский
МПК: G01N 21/86
...спектратакого импульса ограничена сверху и снизучастотамиЧ,1= 2 .-,(н= 0005= 01 Ггде(и 1 - верхняя и нижняя границы частотной области, в которой сос.редоточена основная энергия импульса, соответствующего прохождению прокола, Гц.На фиг. 1 изображена блок-схема предлагаемого индикатора проколов; на фиг. 2 -пример взаимного расположения основныхконструктивных элементов и возможный путь прохождения светового потока осветителя к фотоприемникам через светозащитную шторку.Индикатор проколов содержит осветитель 1, блок 2 фотоприемников, имеющий корпус 3 с контрольным окном 4 и установленными в корпусе фотоприемниками 5, подключенными к последовательно соединенным усилителю 6 переменного тока, полосовому фильтру 7 и амплитудному...
Рентгеновский дифрактометр по схемезеемана-болина
Номер патента: 851211
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Дроздова, Евграфов, Колеров, Скрябин, Фрейцис, Юшин
МПК: G01N 23/20
Метки: дифрактометр, рентгеновский, схемезеемана-болина
...оси 13 с фокусирующей окружностью. Исследуемая поверхность образца 14 пос тоянно касается в процессе измерения фокусирующей окружности.На поворотной платформе 15 находится рентгеновская трубка 16 и монохроматор 17. Фокус 18 монохроматора расположен на фокусирующей окружности в точке пересечения геометрического продолжения оси 9 платформы 15 с фокусирующей окружностью, В ходе проведения измерений точка касания образца 14 фокусирующей окружности и центр приемной щели 12 детектора 2 пере- зо мещаются соответственно на платформах 1 и 3 независимых приводов по фокусирующей окружности.Сохранение постоянной ориентации падающего рентгеновского пучка на образец и отраженного пучка на приемную щель З 5 детектора обеспечивается...
Приставка к рентгеновскому дифрактометру
Номер патента: 851212
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Колеров, Логвинов, Скрябин, Юшин
МПК: G01N 23/20
Метки: дифрактометру, приставка, рентгеновскому
...является одновременно и патрубком смены газовой среды. Устройство крепления образца состоит из упора 7 с керамическими накладками 15 8 и прижима, включающего чашку 9 и сильфон 10, внутрь которых введен патрубок 11 трубопровода системы подвода хлад- и теплоагента, Образец 12 помещен между керамическими накладками и чашкой.Упор 7 с керамическими накладками 8 20 закреплен на нижней крышке 3, а прижим - чашка 9 с сильфоном 10 - к корпусу 4. Такое крепление образца обеспечивает возможность изменения температуры благодаря контактному теплообмену между образцом и дном чашки, что исключает необходимость введения хлад- и теплоагента в рабочий объем приставки, и в то же время достигается сохранение положения рабочей плоскости образца...
Способ рентгеновского топографированиямонокристаллов
Номер патента: 851213
Опубликовано: 30.07.1981
МПК: G01N 23/20
Метки: рентгеновского, топографированиямонокристаллов
...отоблучаемого участка монокристалла и 15по их суммарной интенсивности судято наличии дефектов структуры,Детектор квантов может быть расположен и перед исследуемым монокристаллом, что позволяет исследовать монокристалл в геометрии Брэгга,На чертеже изображена схема реализации способарентгеновского топографирования монокристаллов в геометрииЛауэ, 25Коллимирозанный пучок 1 рентгеновского излучения облучает участок 2исследуемого монокристалла 3. Квантовый детектор 4 одновременно регистрирует излучение, рассеянное различ.ными группами кристаллографическихплоскостей монокристалла, для которых выполняется условие брэгговскойдифракции для различных длин волнрентгеновского излучения во всем энергетическом диапазоне источника излучения....
Монохроматор рентгеновскихлучей
Номер патента: 851214
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Генкин, Красильников, Макарычев, Щербань
МПК: G01N 23/20
Метки: монохроматор, рентгеновскихлучей
...внутреннего монокристалла, причем ось поворота монокристалла и втулка снабжены, соединенным споворотным рычагом кольцом со стопорными винтами для одновременного илипопеременного соединения кольца сосью и втулкой,60 65 На фиг.1 представлена схема размещения монокристаллов; на фиг, 2 - поворотное устройство, разрез.Рентгеновский луч 1 проходит че" реэ внешний монокристалл 2 и внутренний монокристалл 3, размещенные в корпусе 4 поворотного устройства, содержащего втулку 5, ось б, рычаг 7, кольцо 8, стопорные винты 9-12,Основанием монохроматора служит корпус 4. Внутри корпуса расположена с возможностью поворота втулка 5, на торце которой прикреплен внешний монокристалл 2. Во втулке 5 установлена ось б, на торце которой закреплен 5 0 15...
Спектрометр электронного парамагнитногорезонанса
Номер патента: 851215
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Жидович, Линев, Рутковский, Стельмах, Шушкевич
МПК: G01N 24/00
Метки: парамагнитногорезонанса, спектрометр, электронного
...электронного парамагнитного резонанса,135Спектрометр включает сигнальныйСВЧ-генератор 1, гетеродинный СВЧ-генератор 2, циркулятор 3, рабочий ре"зонатор 4, электромагнит 5, смесительб сигнального канала, смеситель 7опорного канала, усилитель 8 сигнала ЭПР, усилитель 9 промежуточнойчастоты опорного канала, схему 10 разветвления сигнала ЭПР промежуточнойчастоты на два канала, фазораэностную схему 11 для формирования двух 45опорных напряжений промежуточной частоты, сдвинутых по фазе друг относительно друга на 90, Фазовый детектор 12 промежуточной частоты и синхронный детектор 13 промежуточнойчастоты. Выход Фазового детектора 12является выходом сигнала дисперсии,а выход синхронного детектора 13 яв"ляется выходом сигнала...
Способ регистрации спектров электронногопарамагнитного резонанса и устройстводля его осуществления
Номер патента: 851216
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Любченко, Стельмах, Стригуцкий
МПК: G01N 24/00
Метки: регистрации, резонанса, спектров, устройстводля, электронногопарамагнитного
...поля СВЧ).Кроме того, величина поглощаемой радиочастотной энергии зависит от концентрации ЭСИМ и их связи с решеткой.Таким образом, для достижения поставленной, цели систему ЭСИМ насыщаютпри заданном значении магнитного поля, налагают дополнительное радиочас тотное возбуждение, частоту, мощностьи направление вектора магнитной компоненты которого относительно направления внешнего магнитного поля изменяют до установления минимального 2 О поглощения мощности СВЧ. После выполнения этих операций за счет поглощения радиочастотной мощности системаЭСММ дополнительно приобретает от источника радиочастоты энергию при заданном значении магнитного поля Гд,что приводит к дальнейшему уменьшению поглощения мощности СВЧ при этомполе Ч, В дальнейшем...
Способ регистрации спектров ядерногомагнитного резонанса и устройство дляего осуществления
Номер патента: 851218
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Любченко, Прохоров, Стригуцкий
МПК: G01N 24/08
Метки: дляего, регистрации, резонанса, спектров, ядерногомагнитного
...с блоком получения магнитного поля, выход датчика ссединен с системой регистра - ции, состоящей из блока приема ВЧ- мощности, выход которого соединен с блоком усиления с перестраиваемой час. тотой, выход последнего соединен с ,первым входом синхронного детектора, второй вход синхронного детектора соединен с фазовращателем, а выход с регистратором, дополнительно введены генератор РЧ-возбуждения, блок Я изменения частоты, мощности и угла и умножитель частоты, причем выход генератора РЧ-возбуждения соединен со входом блока изменения частоты, мощности и угла, первые три выхода кото рого соединены с третьим, четвертыми пятым входами датчика, а четвертыйвыход соединен с умножителем частоты,выход кбторого соединен с входом фаэовращателя,На...
Спектрометр электронного парамагнитногорезонанса
Номер патента: 851219
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Жидович, Рутковский, Стельмах, Трофимов, Цвирко
МПК: G01N 24/10
Метки: парамагнитногорезонанса, спектрометр, электронного
...в волноводе между гетеродинным генератором СВЧ и смесителем сигнального канала, а орган управления мощностью СВЧ сигнально,го генератора связан с органом перемещения дополнительной пластины.Кроме того, диэлектрическая пластина может быть аналогична пластине- носителю резистивной пленки по форме размерам и материалу.На чертеже представлена схема предлагаемого спектрометра.25Спектрометр включает гетеродияный 1 и сигнальный 2 генераторы СВЧ, смесители 3 опорного и 4 сигнального каналов, фазовращатель 5 СВЧ, циркулятор б, измерительный резонатор 7, ди электрическая пластина-носитель 8 резистивной пленки 9 с органом 10 пере-, мещения в волноводе 11, дополнительная диэлектрическая пластина 12 с ее органом 13 перемещения в волноводе...
Способ определения интервалов спиновойпереориентации ортоферритов
Номер патента: 851220
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Гесь, Фалилеев, Федотова
МПК: G01N 25/02
Метки: интервалов, ортоферритов, спиновойпереориентации
...магнитом, оптическая система) регистрация большого. числа измере ий и обработка измерений (построения графиков), на что затрачивается большое количество времени, труда и криогенных жидкостей. Кроме того, применяется сложная механическаясистема подвеса образца.50 между началом и концом изменения ЭДС определяют интервал спиновой переориентации ортоферритов.Определение ИСП проводится в два тапа. На первом этапе по регистрации сигнала при большой скорости изменение температуры (20-50 град/мин) определяется приблизительная область расположения ИСП. На втором этапе, начиная с температуры, которая на 5-10 фС ниже приблизительно определенной нижней границы ИСП, регистрируется сигнал при плавном изменении температуры со скоростью 0,5-1...
Способ определения температурыкристаллизации халькогенидных стекол
Номер патента: 851221
Опубликовано: 30.07.1981
МПК: G01N 25/02
Метки: стекол, температурыкристаллизации, халькогенидных
...на Фиг. 2 - форма записи самописца,по которой устанавливают момент фазового переходами на фиг. 3- записи сигналов, показывающие, что излучение оптического диапазона наблюдается лишь в момент кристаллизации;й на фиг. 4 - блок-схема установки для осуществления предлагаемого способа, когда материал имеет вид порошка; на фиг. 5 - то же, без удаления стеклообразных пленок с подложки. 33Схема реализации предлагаемого способа включает пластину 1 исследуемого вещества, осветитель 2, Фото- приемник 3, нагреваемый столик 4, усилитель 5, самописец 6 и термопа О ру 7, регистрирующую"температуру столика. Самописец 6 записывает линию 8 температуры и линию 9 интенсивности отраженного света.Согласно предлагаемому способу образец нагревают и измеряют...
Устройство для измерения температурыкристаллизации веществ
Номер патента: 851222
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Ажогин, Болтянский, Кононицын, Мовчан, Романенко, Шарипов
МПК: G01N 25/02
Метки: веществ, температурыкристаллизации
...камера выполнена в виде цилиндра, концы которого охвачены охлаждающими рубашками 5, соединенными между собой трубкой б и с источ.ником хладагента с помощью трубки 7,а его средняя часть заключена в теплоизолирующий чехол 8 из термостойкого теплоизоляционного материала,например фторопласта, для ограничения влияния температуры внешнего потока на процесс кристаллизации.Узлами отсекания потока являютсяохлаждающие рубашки 5, охватывающиеконцы пробоотборного цилиндра 1 иснабженные пластинчатыми радиаторами 9 с целью ускорения кристаллизации продукта в зоне охлаждающих рубашек. Теплоотводный элемент 3 выполнен в виде кольца диаметром 0,20,3 диаметра кристаллизационнойкамеры, укрепленного на концах отрезковдвух стержней 10, расположенных...