Способ измерения индикатрис рассеянияисследуемой поверхности

Номер патента: 851205

Авторы: Васильев, Мелешко, Сумин

ZIP архив

Текст

, К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветсннкСоцмалкстическмкРеспублмкДата опубликования описания 05.08,81 И. В. Васильев, К. Е, Мелешко и Л. М. Су янЛаборатория аэрометодов Объединения Аэрогедлогия1.Х(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ИНДИКАТРИС РАССЕЯНИЯ ИССЛЕДУЕМОЙ ПОВЕРХНОСТИИзобретение относится к аэрокосмическим исследованиям и может быть использован, например при изучении оптических характеристик элементов поверхности Земли и планет.Известен способ измерения индикатрис рассеяния света с самолета, предусматривающий проведение лепесткового сканирования поверхности в разных азимутах (например в 12) с помощью спектрометра 11.Недостатки известного способа состоят в малой производительности из-за необходимости проведения повторных залетов и невозможности получения индикатрисы рассеяния отдельных элементов исследуемой поверхности йз-за невозможности измерения отраженного под разными углами света одного и того же элемента при повторных залетах. Кроме того, известный способ не может быть использован для изучения индикатрис рассеяния оптически неоднородных поверхностей, так как он дает интегральную характеристику структуры углового распределения отраженного света исследуемой поверхности.Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ измерения индикатрис рассеяния исследуемой поверхности, заключающийся в измерении отраженного под разными углами света элементами поверхности бортовым устройством оптического сканирования 2.Недостатки известного способа заключаются в низкой точности описания диаграммы из-за невозможности выдержать требуемый шаг между маршрутами залетов и, соответСтвенно, низких детальности диаграммы и производительности работ. Кроме того, условия освещения исследуемой поверхности при каждом залете могут изменяться, что также может отражаться на точности получаемых данных.Цель изобретения - повышение точности измерений.15 Поставленная цель достигается тем, чтов способе измерения индикатрис рассеяния элементов исследуемой поверхности, основанном на измерении отраженного под разными углами света элементами поверхности с помощью бортового устройства оптическоф го сканирования, измерение производят ввертикальной плоскости, проходящей через направление полета, и по полученным данным строят индикатрисы рассеяния.з 851205 4На че теже изображена схема пророведе- в пределах угла обзора 21 р, производят выборРб где ку мгновенных значений модулеи векторов,Ония измер Рений п едлагаемым спосо ом, гдо которым строят индикатрису рассеяния.А визмеря емый элемент; Н - высота поле- и- гол обзора; У - скорость лета- П и необходимости производят статическуюрита; 2 р - уг, р;обработку данных наблюдений с целью потрисы 5 лучения индикатрисы рассеяния исследуеПример. Для определения индкатриот элемента исследуемой поверх- мой поверхности.рассеяния от элементап охо- Использование предлагаемого способаиост рсти выби ают марштур самолета, прохоА. В е полета позволяет увеличить производительностьдящ "ий над элементом А. В процессе поделах работ при измерении индикатрис рассеянияпри р уазных глах визирования в преобзо а 2 производят измерения ототра- на два порядка, а с учетом времени, затраугла о р р рв верти ченного на взлет, посадку, полет и д. т, -женного света от этого элемента в в6 - 10 аз.кальной плоскости, проходящей через на- в 6. рправление полета.че теже видно, что при нахожденииНа чертеж д1 2 3 4 Формула изобретениялетательного аппарата в точкахи 5 измеряются значения векторов индикаты 1 2, 3, 4 и 5 . Так, при по.иете на Способ измерения индикатрис рассея 360 км/ч ния исследуемой поверхности путем измеревысотте 1000 метров со скоростьюовании с гловой ния отраженного под разными углами света2 00 б/ сло измеряемых элементами поверхности бор у ргле обзора 120 и сканировании с углово нитовым ст ойскор остью 2400 об/мин число ир 870 ответ- ством оптического сканирования, отличаюточек д рин икатрисы равно 870, что соот, В м п и и 4 ийся тем, что, с целью повышения точносствув ет шаг по углу 8 минут, В данном приу уисы в преде- ти измерений, измерения производят в верме е полное измерение индикатрисы в пррр бу выпол- тикальной плоскости, проходящеи черезналах р120 по предлагаемому спосо влета. правление полета, и по полученным даннымнено за 36 с в течение одного залета.Для реализации предлагаемого способа строят индикатрисы рассеяния.вертикаль- Источники информации,принятые во внимание при экспертизеной проекции которого находятся интерес1. Ко зов В. И., Красильщиков Л. Д.орзовщие исптического сканирова- Измерение спектров отражения с самолета.ПО Л 1972 ы 275 195 198го на летательном аппара- Труды Пния, установленного на лет2. К ва В. М. Методика и аппаратаким об азом, чтобы сканирование осу- Кольцоваа про- ЗО тура для измерения спектральных индикатествлялось вдоль направления полета, ишестр разными рис отражения элементов земной поверхност т еб емых объ- ти. Труды Д Всесоюзного совещания поизме ения отраженных под аектов. Для постр. Д построения индикатрис, выбран- аэросъемке, аука,ных по материалаериалам фотопривязки обьектов (прототип).Соста ШТехред АТираж 907ПИ Государственного комио делам изобретений и оМосква, Ж - 35,РаушскаяП Патент, г, Ужгород,витель А.. Бойкас едактор И.Михеевааказ 6340/59ВНИИи13035,Филиал ПП уровКорректор ГПодписноетета СССРкрытийнаб д. 4/5л. Проектная, 4 Регнетник

Смотреть

Заявка

2800468, 23.07.1979

ЛАБОРАТОРИЯ АЭРОМЕТОДОВ ОБЪЕДИНЕНИЯ"АЭРОГЕОЛОГИЯ"

ВАСИЛЬЕВ ИГОРЬ ВЛАДИМИРОВИЧ, МЕЛЕШКО КОНСТАНТИН ЕМЕЛЬЯНОВИЧ, СУМИН ЛЕВ МИХАЙЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 21/53

Метки: индикатрис, поверхности, рассеянияисследуемой

Опубликовано: 30.07.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-851205-sposob-izmereniya-indikatris-rasseyaniyaissleduemojj-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения индикатрис рассеянияисследуемой поверхности</a>

Похожие патенты