Способ измерения коэффициентов отраженияматериалов при низких температурах

ОП ИСАНИЕИЗОВРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоцналнстнческнкРеспублик 1851207(51) М. Кл з б 01 Х 21/55 Тоеударственнмй комитет Опубликовано 30.07.81. Бюллетень28Дата опубликования описания 05,08.81(53) УДК 535 242 (088.8) по делам нэовретений и открытий(72) Авторы изобретения Ордена Трудового Красного Знамени институт теплои массообмена им. А, В. Лыкова АН Белорусской ССР(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ОТРАЖЕНИЯ МАТЕРИАЛОВ ПРИ НИЗКИХ ТЕМПЕРАТУРАХ1Изобретение относится к способам для измерения спектрофотометрических характеристик материалов и может быть использовано для измерения коэффициентов отражения материалов. и криоконденсатов различных веществ при низкой температуре, в особенности для измерения в области спектра 3 - 100 мкм при температурах ниже 200 К.Известны способы измерения коэффициентов отражения материалов, при осуществлении которых измеряют сигналы от об-. разца и эталона, сравнивают их и по полученным данным судят о коэффициенте отражения 11 .Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ измерения коэффициентов отражения материалов при комнатных температурах, основан ный на сравнении сигналов на термочувствительном приемнике от образца, помещенного в вакуумированный объем, и от эталона 2,Недостатки данных способов состоят в невозможности их осуществления для. всех О исследуемых объектов и недостаточной точности измерений. Цель изобретения - расширение класса измеряемых объектов и повышение точности измерений.Поставленная цель достигается тем, что в способе измерения коэффициентов отражения материалов при низких температурах, основанном на сравнении сигналов на термочувствительном приемнике от образца, помещенного в вакуумированный объем, и от эталона, эталон помещают в отдельный вакуумированный объем, охлаждают до температуры образца, причем температуру стенок, ограждающих оба вакуумированных объема, поддерживают равной температуре термочувствительного приемника, после чего измеряют отрицательные результирующие потоки между термочувстви тельным приемником и, соответственно, эталоном и образцом, и по отношению судят о величине коэффициентов отражения образца,Предлагаемый способ может быть реализован с использованием серийных двухлучевых спектрофотометров типа ИКСА, ИКСи т. д. и специальных устройств, включающих оптическую приставку, сферы, эталон (модель абсолютно черного тела),851207 Формула изобретения Составитель В. Юртаев Редактор И.Михеева Техред А. Бойкас Корректор Г. Решетник Заказ 6340/59 Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4системы вакуумирования, охлаждения, напуска газов и регулирования температуры.Особенностью работы двухлучевых спектрофотометров является автоматическая компенсация разности в лучистых потоках междудвумя каналами за счет введения оптического клина в канале эталона, Относительнаявеличина этой разности прямо пропорциональна коэффициенту отражения образцаОптическая приставка обеспечивает построние изображения образца и эталона на соответствующих входных щелях спектрофотометра,Способ осуществляется следующим образом.Образец и эталон (модель абсолютночерного тела) помещают в отдельные вакуумированные объемы, например сферические, и прокачкой жидкого азота охлаждают до требуемой одинаковой температуры.Ввиду некоторого охлаждения стенок объемов за счет наличия в них тел с низкой2 Отемпературой необходимо организовать компенсирующий подвод тепла с тем, чтобы обеспечить равенство температур между стенками объемов и термочувствительным приемником, В этом случае результирующий потокмежду стенками объемов и термочувствительным приемником равен нулю и не зависит от формы и оптических свойств внутренних стенок этих объемов. В то же времямежду термочувствительным приемником и,соответственно, эталоном и образцом возникают отрицательные результирующие потоки, разность которых зависит только отоптических свойств образца и может бытьизмерена с помощью серийных спектрофотометров.Предлагаемый способ пригоден для из 35мерения как интегральных, так и спектральных оптических характеристик непрозрачных твердых материалов, Кроме того, отсутствуют жесткие требования к форме и качеству внутренней поверхности стенок вакуумированных объемов. Таким образом, предлагаемый способ позволяет расширить класс исследуемых объектов и повысить точность измерений,Способ измерения коэффициентов отражения материалов при низких температурах, основанный на сравнении сигналов на термочувствительном приемнике от образца, помещенного в вакуумированный объем, и от эталона, отличающийся тем, что, с целью расширения класса измеряемых объектов и повышения точности измерений, эталон помещают в отдельный вакуумированный объем, охлаждают до температуры образца, причем температуру стенок, ограждающих оба вакуумированных объема, поддерживают равной температуре термочувствительного приемника, после чего измеряют отрицательные результирующие потоки между термочувствительным приемником и, соответственно, эталоном и образцом и по отношению судят о величине коэффициентов отражения образца,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССР Мо 485325, кл. б 01 1 3/02, 1973.2. Степанов Б. И. Основы спектроскопии отрицательных световых потоков. Минск, 1961, с, 47 - 48 (прототип).