G01N — Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
Вискозиметр
Номер патента: 798550
Опубликовано: 23.01.1981
МПК: G01N 11/14
Метки: вискозиметр
...шкале измерительного устройства, так как схема генератора напряжения компенсирует нелинейность нагрузочной характеристики электродвигателя постоянного тока.Корпус электродвигателя постоянного тока снабжен камерой, выполненной в виде полого цилиндра, которая обеспечивает постоянство объема жидкости и предохраняет самую чувствительную к повреждениям часть вискозиметра (вращающуюся часть от нарушений центровки, появления биений и др.).На фиг. 1 представлена структурная схема вискозиметра. Вискозиметр содержит источник 1 постоянного тока, калибровочное устройство 2, нагрузочное устройство 3, измерительное устройство 4, генератор 5 напряжения, электродвигатель б постоянного тока. Источник 1 постоянного тока соединен со входом...
Анализатор дисперсного состававзвесей b жидких средах
Номер патента: 798551
Опубликовано: 23.01.1981
МПК: G01N 15/00
Метки: анализатор, дисперсного, жидких, состававзвесей, средах
...струя. 2 ОВторое ограничение (1/5) выбираетсяиз условия неперемешивания соседнихструй друг с другом,На чертеже представлен контрольныйФильтр.25Контрольный фильтр состоит из корпуса 1 с входным патрубком 2, опоры 3для контрольных сеток 4 и 5, причемконтрольная сетка 4 имеет более грубую тонкость фильтрования, распылителя 6, размещенного н корпусе 1 надконтрольными сетками 4 и 5. Для создания герметичности между корпусом 1 иконтрольной сеткой 4, контрольнымисетками 4 и 5, контрольной сеткой 5 иопорой 3 проложены прокладки 7, Соеди-Инение корпуса 1 и опоры 3 обеспечивается тремя болтами 8 и гайками 9.Предлагаемый фильтр работает следующим образом.На опору 3 устанавливают контрольные сетки 4 и 5. Причем вначале устанавливают прокладку...
Способ определения размеров сферичес-ких микрочастиц
Номер патента: 798552
Опубликовано: 23.01.1981
МПК: G01N 15/02
Метки: микрочастиц, размеров, сферичес-ких
...системы.Следовательно, при измерении размеров микрочастиц по известному способу, необходимо облучать микрочастицы световыми пучками, направленнымив сторону объектива.Кроме того, с увеличением угла Ъкоэффициент отражения от поверхностичастицы лучей, попадающих в апертуруобъектива, стремится к своему минимальному значению, равному ( " 1 )к 0+1при Ь = 1, что накладывает более высокие требования на чувствительностьрегистрирующей системы к слабым световым потокам.Таким образом, известный способ.определения размеров прозрачных микрочастиц имеет следующие недостатки:а) при облучении прозрачных сферических микрочастиц часть облучающегосветового потока фокусируется микрочастицей,. за счет чего в плоскостиизображения регистрирующей...
Фотоэлектрический регистратор дисперс-ных частиц
Номер патента: 798553
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Захарченко, Коломиец, Смирнов, Яськевич
МПК: G01N 15/00
Метки: дисперс-ных, регистратор, фотоэлектрический, частиц
...коммутатор 11 поочередно подключает выход усилителя 8 ко входу измерителя 13 и 14 длительности импульса. Измеритель 12 интервалов 3 измеряет длительность интервалов времени между импульсами рассеянного света ; и. Сигнал с выходов трех измерителей 12-14 дли тельности йоступают на три входа решающего.устройства 15, на выходе которого, в случае выполнения условияа-Ь- в, появляется сигнал запреЬта анализа, поступающий на входы запрета анализа анализаторов 9 и 16, гдеа - геометрическая высота рабочегообъема; Ь - длина непрозрачной полосы 25в направлении прососа частиц. Сигналыс выходов измерителей 13, 14 длительности поступают на входы вычитающегоустройства 17 и с выхода измерителя12 длительности на вход схемы деления8. Узлы 17 и 18...
Способ определения фракционногосостава измельченных материалов
Номер патента: 798554
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Бубнова, Пшеницын, Пшеницына
МПК: G01N 15/02
Метки: измельченных, фракционногосостава
...считается эталонным (выполненным по известному методу).У параллельной пробы одноименная фракция помещается в сосуд заданного объема, заполненный водой, и взвеши,вается по предлагаемому методу. 40По полученным результатам строится эмпирическая зависимость, где по оси абсцисс откладываются величины, полученные известным методом, а по оси ординат - значения, полученные по пред лагаемому методу. Средняя линия определяет зависимость веса смеси сосуд, вода, исследуемая Фракция) от содержания Фракции в пробе, определенного известным способом. При этом погрешность Щ предлагаемого метода составляет 1-2. Пр графику, зная вес суспензии с сосудрм, можно определить вес исследуемой Фракции. Результаты измерений не зависят от того на односитньм...
Устройство для стабилизации процессапсевдоожижения
Номер патента: 798555
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Ермаков, Майданик, Попов
МПК: G01N 15/02
Метки: процессапсевдоожижения, стабилизации
...решетку со стержнями 1 и дополнительную со стер жнями 2 с шагом Б, равным шагу между стержнями основной решетки, Расстояние между плоскостями решеток равно ф о , Стержни дополнительной решетк расположены по отношению к стержням основной в шахматном порядке.На фиг. 2 кривя 1, отобрлж висимость Я = 2 д , а криваяВ798555 Формула изобретения аказ 1001одписное ВНИИПИТираж 91 иг. Г При диаметре частиц твердой фракции, меньшем д = 5,85 мм, на величину шага решетки накладывается дополнительное ограничение (см. кривую 2,фиг. 2.Заштрихованные области на графикефиг. 2 соответствуют рабочим значениям шага решетки.Минимально допустимое расстояниемежду элементами решетки опрзделяется самой воэможностью псевдоожижения, ОДополнительное ограничение по...
Способ контроля структуры целлюлоз-ного материала
Номер патента: 798556
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Лагусева, Мальцева, Мирлас
МПК: G01N 15/08
Метки: структуры, целлюлоз-ного
...и 1 - интенсивность падающегои отраженного света, соответственно. 25 Как показали исследования, оптическая плотность отливки (О) является мерой количества сорбированного красителя и характеризует доступность З) .пористость и внутренюю поверхность .целлюлозы. Данный способ предназначен преимущественно для беленых целлюлозных материалов, поскольку бурыми цвет небеленой целлюлозы искажает рЪ- зультат анализа и в этом случае требуется вводить специальные поправки.П р и м е р. Навеску 1,40 г+0,01 г воздушно-сухой беленой целлюлозы(белизна 90-91 влажность 5) распускаЦеллюлоза, облагороженная8 раствором МАОН при30 Целлюлоза,облагороженна10 раствором МаОН при30 ют в воде при перемешивании. Полученную суспензию сгущают на воронке Бюхнера до...
Устройство для измерения скоростикоррозии металлов
Номер патента: 798557
Опубликовано: 23.01.1981
МПК: G01N 17/00
Метки: металлов, скоростикоррозии
...скорости коррозии крана 3, установле магистрали 4 испыт средство 5 подачи трехходовым краном выходной магистрал ния, выполненный в ра 8, вход которог ходовым краном 6,раль 9 сообщена с 4, детектор 10, чу роду, очистители 1 щие детектор 10 от щелочи. Устройство работает следующим обО разом. В исп кислоту Задают т дувают е 20 газом-пр азотом,этом краытательную емкость 1 заливаю и размещают в ней образец 2. емпературу испытаний и промкость 2 в течение 10-15 мин оявителем, в данном случае . для удаления воздуха. При ны 3 и 6 находятся в позиции При значительной скорокраны 3 и 6 устанавливают ниеи на детекторе 10 р отклонение от нулевой лин вая теплопроводности газо из, емкости 1 и электролиэ 6 жение нулевой линии опредФормула...
Способ определения адгезионнойпрочности слоев комбинированных ma-териалов
Номер патента: 798558
Опубликовано: 23.01.1981
МПК: G01N 19/04
Метки: адгезионнойпрочности, комбинированных, ма-териалов, слоев
...Цель изобретения - повышение точности определения.Для достижения этой цели в образце со стороны более жесткого его слоявыполняют поперечный надрез глубиной,меньшей толщины этого слоя.На фиг. 1 показан образец иэ комбинированного материала, на фиг.2 то же, после разрушения.Предлагаемый способ осуществляетсяследующим образом,В образце комбинированного материала, состоящем из слоев 1 и 2 состороны более жесткого его слоя 1выполняют поперечный надрез 3 глубиной, меньшей толщины этого слоя.Образец закрепляют в зажимах разрывной машины и прикладывают усилие разрыва до разрушения образца. Нанесенный надрез 3 является концентратором напряжений в образце комбинированного материала, по которому происходит его разрушение. Измеряют...
Оптическая диффузионная кювета
Номер патента: 798559
Опубликовано: 23.01.1981
МПК: G01N 21/03
Метки: диффузионная, кювета, оптическая
...в интерферометре, в котором для разделения лучей используются призмы Волластона. Описанное устройство позволяет фиксировать градиенты концентрации, но не дает полей концентрации 2.К недостаткам этой кюветы относится то, что она не поэволяет исследовать наиболее интересные краевые участки, так называемые "серые области", куда ые попалает ни один из лучей, дающих интерФеренцию.798559 Формула изобретения Составитель Н. Гусева енко Техред А, Ач КоРираж 918 Подп ВНИИПИ Государственного копо делам изобретений и о 113035 Москва ЖРа кто О. Макаречко ноетета СССРрытийая наб. . 4 иал ППП Патент , г. Ужгород, ул. Проектна ходимо произвести счет полос при различном времени процесса, что очень удобно для автоматизации процесса.измерения.Для...
Фотоколориметрический газоанали-затор
Номер патента: 798561
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Артеменко, Заповитряный, Коробейник, Сухиненко, Туманевич
МПК: G01N 21/31
Метки: газоанали-затор, фотоколориметрический
...и в толще ленты прц его растяжении изэа того, что многие реактивы имеют взвешенную составляющую.Цель изобретения - повышение точности анализа состава газовых смесей путем исключения потерь жидкого реактива и обеспечения равномерного798561 Формула изобретения Составитель Венко Техред А. АчТираж 918 ПодписноеГосударственного комитета СССРелам изобретений и открытийМосква, Ж, Раушская наб. д. 4 5ППП "Патент , г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Жил Редакт 12/52НИИПИпо13035 аказ и распределения его по площади и втолще ленты,Указанная цель дсстигается тем,что фотоколориметрический газоанализатор снабжен устройством формиро -вания воздушной подушки, расположенным под индикаторной лентой,На чертеже схематично изображенфотоколориметрический...
Устройство для измерения коэффициен-ta отражения
Номер патента: 798562
Опубликовано: 23.01.1981
Автор: Щетников
МПК: G01N 21/55
Метки: коэффициен-ta, отражения
...системы в плоскости дополнительного зеркала, при этом параметры луча на поверхности первого зеркала периодически пов,торяются и выходящий луч с точностью до фазового множителя совпадает оо характеристикам.с входным.Измерение коэффициента отражения в предлагаемом устройстве прбизводят, определяя отношение выходных сигналов, поступающих с приемника излучения при двух различных положениях второго зеркала, соответствующих величинам2 фК 2 и Й 2.Ф 5Значение коэффициента отражения 2 может быть определено по формуле1Ягф Ф.р. нР;цЪ20 ро - коэффициент отраженияплоского зеркала,щ - Ы - отношение сигналов, соответствующих величинамги 2при контроле сферических зеркал с коэффициентом отражения 0,99 устройство обеспечивает контроль изделий...
Способ количественного определенияфурфурилового спирта
Номер патента: 798563
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Абляева, Маматов, Сурова, Шастова
МПК: G01N 21/78
Метки: количественного, определенияфурфурилового, спирта
...соответствуюшее иэмеренйой интенсивности малиново-красной окраски раствора, мг;д плотность отгонной воды,г/см ,и - разведение.П р и м е р 4. Определение Фурфурилового спирта начинают также, какописано в примере 2 с тем отличием, Очто соотнЪшение 40-ного растворасерной кислоты к объему анализируемойсмеси 75:10. Окраска появляется через15 мин и сохраняется в течение 30 мин.Содержание фурфурилового спирта в 15смоле определяют, как описано в примере 2.П р и м е р 5. Определение фурфурилового спирта в смолах проводят,как описано в примере 2 с тем отли- Щчием, что при обработке кислотой используют соотношение 75:7. Окраскапоявляется через 15 мин,но быстроизменяется. Интенсивностьокраски непостоянна. Определение фурфуриловогоспирта становится...
Способ и устройство контроля про-цессов кристаллообразования b caxap-ных утфелях
Номер патента: 798565
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Мирошник, Попов, Сиренко, Трегуб
МПК: G01N 21/85
Метки: caxap-ных, кристаллообразования, про-цессов, утфелях
...этой границы возникают кристаллические центры, В вакуум-аппарате самопроизвольное кристаллообразование начинается через. 3-10 мин после этогоДля увеличения точности измерений которая достигается путем устранения зеркальной компоненты отраженного светового потока, на фотоэлементы на правляют только диффузионно-отражен" ные лучи, размещая осветители 3,4 и фотоэлементы 5,6 н плоскостях, углы которых относительно нормали с оптических окон 8,9 отличаются на 5-80 При появлении кристаллов в растворе появляется разность в сигналах сравнительного и измерительного фотоэлементов, по величине которой судят о концентрации кристаллов н растворе. Наперед заданная величина сиг нала по "муке" определяет момент заводки кристаллов в...
Способ обнаружения поверхностныхдефектов ha изделиях b форме тел bpa-щения
Номер патента: 798566
Опубликовано: 23.01.1981
МПК: G01N 21/95
Метки: bpa-щения, изделиях, обнаружения, поверхностныхдефектов, тел, форме
...неподвижного годного изделия, на фиг, 3 - типичное распределение амплитуды сигнала от биений.(кривая А) и шума поверхности кривая В по углу регистрации Ч (пунктирной линией показана экспериментальная индикатриса для данного видаизделий); на фиг, 4 - распределение 15отношения сигнал-шум для контролируемых дефектных изделий, на фиг. 5типичная зависимость отношения сигнал-шум от угла падения наклонногопучка света для различных видов по- Яверхностных дефектов,Способ осуществляется следующимобразом.На поверхность неподвижного год"ного изделия 1 направляют под углом д9 луч 2 света и, перемещая фотоприемник 3 по углу 4, Отсчитываемого от направления зеркального отражения, измеряют интенсивность отраженного света, строят индикатрисурассеяния и...
Устройство для контроля дефектовповерхности тел вращения
Номер патента: 798567
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Гребенюк, Гребнев, Кречман, Суминов
МПК: G01N 21/95
Метки: вращения, дефектовповерхности, тел
...отраженных различными участками поверхности световых потоков. Цель изобретения - увеличение чувствительности контроля.Указанная цель достигается тем что в известном устройстве для контроля дефектов поверхности тел вращения, содержащем лазер, коллиматор, цилиндрическую линзу, оптические оси которых расположены нормально к поверхности тела вращения, Фотоприем" ники, установленные под.фиксированным углом к оптической оси лазера, блок обработки фотоэлектрической информации, фотоприемники разделены между собой светонепроницаемыми шторками и расположены под различными углами к оптической оси лазераНа Фиг. 1 изображена принципиальная оптическая схема предлагаемого устройства, на фиг. 2 показана оптическая схема устройства с тремя различными...
Устройство для рентгеновской дефекто-скопии
Номер патента: 798568
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Корнуков, Полтавченко, Райлян
МПК: G01N 23/18
Метки: дефекто-скопии, рентгеновской
...под острым углом друг к другу фоторезисторов, соприкасающихся своими фоточувствительными поверхностями к вершине, расположенной соосно с источником излучения.При этом угол при вершине соприкосновения фотоповерхностей детектора излучения не превышает 10о На чертеже представлена схема устройства для рентгеновской дефектоскопии.Устройство состоит из детектора 1, источника питания 2, омических сопротивлений 3,4 и регистратора 5.Устройство работает следующим образом.Рентгеновский пуЧок источника, обозначенный стрелками, попадая на Фотоповерхность детектора 1, вызывает изменение напряжения на омическом сопрот.-.влении 3, которое регистрируется с помощью регистратора 5.798568 формула изобретения Составитель Н,ВалуевРедактор В.Жиленко...
Способ крепления образцов прирентгеноструктурном анализе
Номер патента: 798569
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Лопатин, Ременюк, Фомин, Хацкевич
МПК: G01N 23/207
Метки: анализе, крепления, образцов, прирентгеноструктурном
...,пластинтак какв этом случае практически невозможнозакрепить образец без его деформиро вания и возникновения дополнительныхнапряжений, которые могут исказитьрезультаты анализа. Цель изобретения - улучшение воспроизводимости и уменьшения погреш ности анализа изогнутых образцов эа ,счет предотвращения возникновения в них напряжений.798569 1 Эф.о 126 ОКАБ)ХЮ диаметр структуры 40 мм, толщйнаэпитаксиального слоя кремния, легированного фосфором, 15 мкм, толщинаподложки кремния, легированного сурьмой,250 мкм, Иэмерейие кривизныструктур выполняют на двухкристалльном рентгеновском спектрометре, смоктированном на установке ДРОН, сгониометром ГУРи гониометрическокголовкой ГП. Исследуемые образцыпомещают в полиэтиленовый пакет 1 зквадратной формы...
Следящий датчик магнитного поля наоснове ядерного магнитного резонанса
Номер патента: 798570
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Недбальский, Савицкий
МПК: G01N 24/00
Метки: датчик, магнитного, наоснове, поля, резонанса, следящий, ядерного
...датчика и затрудняет работу с ним. 1Цель изобретения - повышениеточности слежения за магнитным полем.Поставленная цель достигается тем,что в следящем частотном датчике магнитного поля на основе ядерного маг- ;щнитного резонанса, содержащем резонирующие ядра, ампулу, помещенную вмагнитное поле приемно-передающуюкатушку, радиочастотный кабель,сверхрегенератор на двух электронныхлампах,колебательный контур, включенный в схему сверхрегенератора,цепи запуска сверхрегенератора и регистрации сигнала, радиочастотныйкабель с приемно-передающей катушкой и ампулой подключены одновремен)Оно к катодной цепи одной лампы сверхрегенератора и к сеточной цепидругой лампы, причем катодная цепьвторой лампы подключена к колебатеАЬному контуру через...
Устройство измерения частоты сигналовядерного квадрупольного резонанса
Номер патента: 798571
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Бобков, Богуславский, Магера, Павлюк
МПК: G01N 24/00
Метки: квадрупольного, резонанса, сигналовядерного, частоты
...соединен с выходом 15управляемого генератора, а выходфазового детектора через ключ ифильтр нижних частот соединен суправляемым входом управляемого генератора, причем выход управляемого ;Ягенератора соединен с измерительнымвходом частотомера, а управляющие .входы частотомера и ключа соединеныс выходом импульсного программногоблока.2На чертеже показана схемапредлагаемого устройства.Устройство содержит генераторимпульсов высокой частоты 1, импульсный программный блок 2, индуктор 3,супергетеродинный преобразовательусилитель., состоящий из гетеродина4 и усилителя 5 высокой частоты,блок 6 автоподстройки частоты, усилитель 7 промежуточной частоты, детектор 8, видеоусилитель 9, усили- Итель-ограничитель 10, фазовый детектор 11,. управляемый...
Способ регистрации эндотермическихпроцессов
Номер патента: 798572
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Гольданский, Густов, Полякова, Шведчиков
МПК: G01N 25/02
Метки: регистрации, эндотермическихпроцессов
...к уменьшению скопости нагревастекла-индикатора и уменьшению относительной интенсивности люминесценции.Такое уменьшение интенсивности люминесценции может регулироваться какна начальном участке в режиме разгорания люминесценции, так и на кривой ЗОспада после. прохождения максимума.Предлагаемый способ регистрацииэндотермических процессов по сравнению с известными позволяет существенно (в .10-1000 раз) уменьшить навес 1.ку исследуемого образца и сократитьвремя анализа д.э нескольких минутбез Ухудшения чувствительности.Кроме того, при больших скоростяхнагрева системы отсутствует резкийход нулевой линии, как это имеет место при.калориметрических способах регистрации. В несколько раз уменьшается инерционность по сравнениюс калориметрическими...
Кварцевый дилатометр
Номер патента: 798573
Опубликовано: 23.01.1981
МПК: G01N 25/16
Метки: дилатометр, кварцевый
...уровня низкокипящей жид- костиВ дилатометре в процессе измерений все полости и зазоры, находящиеся ниже уровня ниэкокипящей жидкости, кроме полости, в которой находится образец с нагревателем, заполнены низкокипящей жидкостью, и . таким образом конструкция полностью термостатируется путем прямого контакта с низкокипящей жидкостью, что позволяет резко уменьшить температурный дрейф кварцевой конструкции, а следовательно повысить точность и расширить температурный диапазон измерений. При этом летучие соединения, например вода, Фенол и другие, выделяющиеся при нагреве образца, осаждаются на поверхностях стаканов, поэтому они не могут приводить к заклиниванию толкателя в процессе измерения, а как следствие этого повышается надежность...
Устройство для измерения содержаниямагнитной фракции b руде и продуктахобогащения
Номер патента: 798574
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Зобнин, Ильиных, Покшин
МПК: G01N 27/00
Метки: продуктахобогащения, руде, содержаниямагнитной, фракции
...подклю.ченные встречно к выходу регистрирующегоприбора 11, контролируемый материал 12,магнитные потоки измерительного чувствительного элемента Ф 1, и компенсационного чувствительного элемента Ф,Устройство работает следующим образом.Переключатели 4 и 8 синфазно срабатываютс частотой, значительно меньшен, чем частота1 О генератора 5. В промежутки времени, когдак генератору 5 переключателем 4 подключенизмерительный чувствительный элемент 1, отиндуктивности которого зависит частота вы.ходного сигнала генератора 5, частотный де 15 тектор 7, преобразуя усиленный усилительно.формирующим блоком б сигнал генератора 5,через переключатель 8 передает в сглажи.вающий фильтр 9 напряжение, которое можнопредставить в виде суммы четырех составляю.20...
Устройство для измерения электро-проводности жидкости
Номер патента: 798575
Опубликовано: 23.01.1981
Автор: Решетник
МПК: G01N 27/02
Метки: жидкости, электро-проводности
...гора 2 - реохордом Р, р показывающегоприбора. Последовательно с первичной обмоткой трансформатора 2 включен терморезис.тор .Устройство работает следующим образом.Изменение злектропроводности жидкости,в которую погружен первичный преобразователь4114 элекгропроводности, вызывает изменениеего сопротивления, а следовательно, изменениетока в первичной обмотке трансформатора 1.В результате, изменяется напряжение на вторичной обмотке трансформатора 1 (О) Этонапряжение находится в противофазе с компенсирующим напряжением трансформатора2 (Ок). Разность напряжений АО: О- - Окподается на вход усилителя, Если аОО,то двигатель изменяет сопротивление реохордадо момента, когда установится а 0 = О. При 50этом положении реохорда его...
Многокоаксиальный емкостной проточ-ный датчик
Номер патента: 798576
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Козлов, Кубышкин, Кулаков
МПК: G01N 27/22
Метки: датчик, емкостной, многокоаксиальный, проточ-ный
...точности измерений электрофизических параметров веществ.На фиг. 1 изображен многокоаксиальныйемкостной проточный датчик в разрезе; нафиг. 2 - сечение А-А на фиг. 1; нафиг. 3 -сечение Б -Б на фиг, 1.ИДатчик имеет корпус 1, выполненный изотрезка трубы, снабженной присоединительными фланцами. Внутри корпуса на изоляторах2 и 3 с помощью стопорной гайки 4 укреплена система коаксиальных электродов,образующая цилиндрический конденсатор исостоящая из наооров полых цилиндрическихэлектродов 5 одной полярности (защищаемые 4электроды), электродов 6 другой полярностии охранных электродов 7, усгаповленных вторцах каждого защищаемого электрода. Вза.имное расположение охранных и защищаемыхэлектродов одной полярности, а также ихрасположение в общей...
Ячейка для измерения электрофизическихпараметров волокнистых материалов
Номер патента: 798577
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Грачева, Заферман, Меренбах
МПК: G01N 27/22
Метки: волокнистых, электрофизическихпараметров, ячейка
...улучшается электрический контраст, ослабляются поверхностные и переходные процессы, устраняется неоднородность заполнения камеры.Точности измерений служат так же замки, фиксируюшие электроды, в которых располо. 4жены поперечные выточки для размещенияосей шарниров. Последние обеспечивают исключение воздушных промежутков между по.верхностью граней и электродами, а замкипредотвращают смещения электродов в про.цессе работы.На фиг. 1 изображена ячейка для измеренияэлектрофизических параметров волокнистыхматериалов, общий вид; на фиг. 2 - вид 1 о А на фиг, 1; на фиг. 3-разрез Б-Б нафиг, 2.Ячейка. имеет плоские электроды 1, лежащие в параллельных плоскостях, между которыми в центральной части расположена ка.мера 2, выполненная в виде...
Устройство для электрофореза в верти-кальном блоке геля
Номер патента: 798578
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Гущин, Кунцевич, Ульянов, Цимаркина
МПК: G01N 27/26
Метки: блоке, верти-кальном, геля, электрофореза
...междукоторыми по бокам проложены узкие проклад.и 17 так, что между пластинами 15 и 16образуется узкий канал для гелевого блока.Все детали кассеты скреплены вместе съемными боковыми зажимами 18, Внутренняя платина 16 снабжена приливом 19, нижняя частькоторого имеет дугообразный профиль, анапогичный профилю 10 боковой стенки камеры 4,и боковые выступы 20. Сверху в пластине 16расположено окно 21, длина которого соответствует ширине гелевого блока. В нижней части пластины 16 с боковых сторон выполненывыступы 22.Аппарат работает следующим образом,Между пластинами 15 и 16 кассеты 14 сбоковых сторон и снизу помещаются проклад.ки 17. Собранная таким образом кассетаскрепляется зажимом 18 и приливом 19 и 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55...
Устройство для электрофоретическогоразделения частиц
Номер патента: 798579
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Брезгунов, Гаврюшкин, Швец
МПК: G01N 27/26
Метки: частиц, электрофоретическогоразделения
...наблюдать струю смеси можно только на выходе из камеры, что усложняет ф управление разделением. Ввод буферного раствора и разделяемой смеси внутрь спирали существенно усложняет кон. струкцию и эксплуатацию устройства.Цель изобретения - упрощение конструкции и повышение разрешающей способности,Поставленная цель достигается тем, что в известном устройстве, содержащем камеру разделения, электроды, отделенные от камеры полупроницаемыми мембранами инжектор и коллектор, камера разделения выполнена в виде полого бифилярного спирального канала, вход и выход которого расположены рядом.На фиг. 1 изображено устройство общий вид; на фиг, 2 - разрез А-А на фиг. 1.Устройство состоит иэ камеры 1 разделения, выполненной в виде полого биполярного...
Устройство для измерения электрод-ных потенциалов
Номер патента: 798580
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Беляева, Волжинский, Гришков, Деева, Сайчук, Таратута
МПК: G01N 27/30
Метки: потенциалов, электрод-ных
...последовательно соединенных отсека,в первом из которых по ходу потока расположен стеклянный электрод, а во второмэлектролитический ключ и вспомогательный электрод,На фиг. 1 схематически изображено предлагаемое устройство для непрерывного измерения электродных потенциалов; на фиг. 2и 3 - модели силовых линий электрическогополя соответственно в предлагаемой электрод,ной камере и известной.Устройство содержит электродную. камеру,электрод сравнения с солевым мостикоми измерительный прибор (не показаны). Ра.бочий объем электродной камеры разделенперегородкой 1 на два последовательно соединенных отсека. В первом по ходу потокаотсеке 2 расположен стеклянный электрод 3,а во втором отсеке 4 - электролитическийключ 5. Перегородка 1 выполнена из...
Накладной датчик к токовихревому дефекто-скопу
Номер патента: 798582
Опубликовано: 23.01.1981
Авторы: Анисимов, Бжезинский, Бойко, Гарькавый, Срокин
МПК: G01N 27/90
Метки: датчик, дефекто-скопу, накладной, токовихревому
...в верхних пазах каркасов 11 -14соответственно (катушки 3, 4, 8 и 9 нафиг, 2 не показаны). Датчик при контролеразмещен над поверхностью изделия 15,Датчик работает следующим образом.При плоскопараллельном сканировании индукторной катушкой 5 в изделии 15 наводятся вихревые токи, В отсутствие дефектовповерхности изделия, находящегося в статическом состоянии, т,е. ые подвергающегосядеформации и ударам или другим внешнимдинамическим воздействиям, токовихревоеполе является симметричным; потокосцеплениеиндикаторных катушек 1-4 одинаково, поэто.му выходная ЭДС индикаторных катушексбалансированного датчика равна нулю, В компенсационных катушках 6-9, расположенныхдальше от поверхности, значение ЭДС токо.вихревого поля меньше и также, ввиду...