Трипуть
Способ измерения коэффициентов отражения материалов
Номер патента: 1193543
Опубликовано: 23.11.1985
Авторы: Буяков, Прудников, Сотников-Южик, Трипуть
МПК: G01N 21/55
Метки: коэффициентов, отражения
...в канале образца на основе рассмотрения балансных уравнений для лучистых потоков.:Ка (ао ЕоЛОБ Ьбцр д1М Результирующий поток в эталонномканале оЛ определяется разностьюагтемператур зачерненной поверхностисферы и приемника излучения, т.е.1015 о К(1 со Еф "ЛатЛсф Л оБр ) ф следовательно, измеряемая величина Л фарЛар 20 На фиг. 1 изображена схема устройства для реализации способа; на.фиг. 2 - измеренные предлагаемымспособом спектры веществ.Охлаждаемый образец 1 расположенв центре сферы 2 диаметром 200 мм,выполненной в виде двух герметичносоединяемых шестью болтами полусфер.Ее внутренняя поверхность покрытачерной краской со степенью чернотыГ = 0,9. Температура сферы поддерживается равной или выше температурыокружающей среды. Система 3...
Устройство для измерения коэффициента отражения материалов
Номер патента: 1078290
Опубликовано: 07.03.1984
Авторы: Буяков, Прудников, Слободкин, Сотников-Южик, Трипуть
МПК: G01N 21/47
Метки: коэффициента, отражения
...стеклянными колбами и других оптическихэлементов из стекла ограничиваетспектральный диапазон прибора ближнеи ИК и видимой области спектра,Внутри сферического отражателя 1на держателе 2 установлен образец 3.Для выхода излучения из отражателяпредназначено окно 4, Дальнейшаяобработка сигнала проводится спомощью оптической системы 5 и монохроматора 6. Конструктивно сферический отражатель представляет собойдве полусферы из неэлектропроводного термостойкого вещества, например корунда , н каждой из которыхподсоединены выходы 7 и 8 источника9 питания. Источник излученияспиральная лента 10 постояннойширины из окислов редкоземельныхэлементов нанесена таким образом,что суммарная площадь промежутковмежду спиральными витками не превышает 2 от всей...
Способ измерения коэффициентов отраженияматериалов при низких температурах
Номер патента: 851207
Опубликовано: 30.07.1981
Авторы: Буяков, Прудников, Слободкин, Трипуть
МПК: G01N 21/55
Метки: коэффициентов, низких, отраженияматериалов, температурах
...приставку, сферы, эталон (модель абсолютно черного тела),851207 Формула изобретения Составитель В. Юртаев Редактор И.Михеева Техред А. Бойкас Корректор Г. Решетник Заказ 6340/59 Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4системы вакуумирования, охлаждения, напуска газов и регулирования температуры.Особенностью работы двухлучевых спектрофотометров является автоматическая компенсация разности в лучистых потоках междудвумя каналами за счет введения оптического клина в канале эталона, Относительнаявеличина этой разности прямо пропорциональна коэффициенту отражения образцаОптическая приставка...