G01N 21/55 — способность к зеркальному отражению
Способ оценки блеска прозрачных лаковых покрытий на древесине и древесных подложках
Номер патента: 1383166
Опубликовано: 23.03.1988
Автор: Рыбин
МПК: G01N 21/55
Метки: блеска, древесине, древесных, лаковых, оценки, подложках, покрытий, прозрачных
...определения угла (Брюстера),под которым необходимо освещать контролируемую поверхность и фиксироватьвеличину отраженного света,. предварительно определяют показатель преломления лакового покрытия. Для этойцели используют иммерсионно-микроско. пический метод, который позволяетустановить показатель преломленияпрозрачного лакового покрытия в спектральной области видимого излучения,Для различных лаковых покрытий, определяя показатели преломления, .устанавливают в приборе угол, под ко- фторым осуществляют освещение поверхности и фиксирование отраженногосвета, Допускаемая погрешность приустановке углов падения и отраженияИсвета должна быть не более 3Для определения величины светового потока, отраженного от контролируемой поверхности, перед...
Устройство для измерения коэффициентов отражения металлов и сплавов в жидком состоянии
Номер патента: 1383167
Опубликовано: 23.03.1988
Авторы: Карданов, Тешев, Шебзухов
МПК: G01N 21/55
Метки: жидком, коэффициентов, металлов, отражения, состоянии, сплавов
...алгоритм работы которого определяется величинойсигнала на выходе схемы линейного детектора частоты опорного канала.После автоматического удержания баланса смесь сигналов разделяется в блоке 13 полосовых усилителей и,пройдя линейный детектор 14, поступает на интегратор 18.После линейного детектора опорный сигнал вместе с сигналом от источника 16 опорного напряжения формирует разностный сигнал, уровень которого задается источником опорного напряжения. Разностный сигнал поступает на вход регулируемого стабилизатора 15, к выходу которого подключен блок 17 высокого напряжения, являющийся источником питания ФЭУ, Если разностный сигнал увеличивается или уменьшается, что означает уменьшение или увеличение сигнала опорного канала,то блок...
Способ сравнения оптических свойств двух образцов
Номер патента: 1384218
Опубликовано: 23.03.1988
Автор: Ханну
МПК: G01N 21/55
Метки: двух, образцов, оптических, свойств, сравнения
...2. Элемент 8 управления работает таким образом, что каждый исследуемый участок освещается одним СИД пер пендикулярно и одним СИД наклонно, так, что, когда один СИД освещает один исследуемый участок перпендикулярно, другой исследуемый участок освещается СИДом наклонно. Сигнал переменного тока с фототранзистора 7 поступает на усилитель 9, выпрямляется выпрямителем 10 и измеряется измерителем 11.Коэффициенты отражения исследуе мых участков при перпендикулярных световых лучах обозначены 0и П а при наклонных Я 1 и БСигнал к переменного тока приемника светового излучения пропорционален равенству В(О + 3 )-(Р + 8 ) или 1 2 2 1(0 - Б ) (П - Я ) . 2 2 50Используя обозначенияН=11Н= 0 Я55получаем Величины Н, и Н 2 определяют схемы направлений...
Устройство для измерения коэффициента отражения образцов
Номер патента: 1396009
Опубликовано: 15.05.1988
Авторы: Кузьмин, Михайлов, Шибаров
МПК: G01N 21/55
Метки: коэффициента, образцов, отражения
...на чертеже не показан),через оптическую системуНаправляется во входное окно 4 вакуумногофотоэлемента 3 и попадает на фотокатод 6, нанесенный на внутреннюю поверхность выходного окна 7. Входноеи выходное окна изготовпены из фтос.ристого магния. При размещении кассеты 8 в положении 1 часть излучения поглощается фотокатодом и вызывает эмиссию электронов на анод 5,а часть - проходит сквозь фотокатоди выходное окно, отражается образцом 9, снова попадает на фотокатод ивызывает дополнительную эмиссиюэлектронов и, следовательно, приращение сигнала фотоэлемента. При размещении кассеты в положении 11 про"шедшее фотокатод излучение отражаетсяобразцом-эталоном 10 и снова попадаетна фотокатод, Следовательно, коэффициент отражения образца 9...
Способ измерения коэффициента отражения оптических материалов
Номер патента: 1402864
Опубликовано: 15.06.1988
МПК: G01N 21/55
Метки: коэффициента, оптических, отражения
...способе используются два этанола из кварцевого стекла с коэффициентамиотражения, приблизительно равными .0,0350 и 0,0687. Отступления от линейности на таком узком интервале шкалы несравненно меньше, чем навсей шкале, а следовательно, меньше будет и ошибка измерений испытуемого образца, коэффициент отражения которого попадает в этот интеовал. Но эти соображения справедливы лишь при условии, что опорные коэффициенты отражения эталонов столь же достоверны, как нуль и единица в аб-. солютном методе. Поэтому выбраны такие эталоны, у которых нужно измерять не коэффициенты отражения, а коэффициенты пропускания. Измерение коэффициента пропускания можно делать с ошиокой, не превосходящей ф 0,0005, такая же точность будет иметь силу и для...
Способ определения коэффициента отражения рассеивающей среды
Номер патента: 1408315
Опубликовано: 07.07.1988
Авторы: Горячев, Кутлин, Ларионов, Могильницкий, Савельев
МПК: G01N 21/55
Метки: коэффициента, отражения, рассеивающей, среды
...их неравентва увеличивают число зеркальныходложек, устанавливаемых по перимету кюветы, до получения максимальноо значения интенсивности отраженно-. 30о потока, которое используют дляпределения отношения интенсивноститраженного потока и интенсивностиадающего,П р и м е р. Проводят определениеоэффициента отражения слоя взвесиастиц полистиролового латекса. Диаетр частиц полистирола 0,44 мкмспользуют стандартную схему измерейия; источник коллимированного теплоВого излучения, полупрозрачное зерсапо, кювета прямоугольного сечения,.зеркальные подложки, интерференционфый светофильтр с полосой пропускасия (633 +. 6) нм. Интенсивностьветовых потоков измеряют с помощьюФЭУ. Измеряют коэффициенты отражеия слоев, которые характеризуютсяпродольной...
Устройство для определения коэффициента отражения диффузно отражающих объектов
Номер патента: 1427249
Опубликовано: 30.09.1988
МПК: G01N 21/55
Метки: диффузно, коэффициента, объектов, отражающих, отражения
...(угол между нормалью к плоскости образ Изобретение относится к оптическому аналитическому приборостроению и может быть использовано в приборах для измерения характеристик отражения диффузно отражающих объектов,5 например бумаги, тканей, листьев растений, листовых и сыпучих материалов.Цель изОбретения - повышение производительности определения коэффициента отражения образцов материала диффузио отражающих объектов.На фиг. ) схематично изображено предлагаемое устройство; на фиг, 2 - 15 оптическая схема с оптическим ослабителем. ца и падающим пучком иэлучения), град;безразмерный параметр, численно равный углу наблюдения(- угол между нормалью к поверхности образцаи осью, проведенной из егоцентра к центру фотоприемника), град;е - основание...
Устройство для определения стекловидности зерна
Номер патента: 1442889
Опубликовано: 07.12.1988
Авторы: Кикадзе, Мумладзе, Торонджадзе, Элизбарашвили
МПК: G01N 21/55
Метки: зерна, стекловидности
...4 через центральную жилу коаксиального световода 3 и сквозную ячейку 7 попадает на зерно, отражается ичерезпериферийную жилу попадает на приемник 5 излучения, а дальше на блок переработки информации, В это же время свет от источника 10 через отверстия 16 попадает на приемник 13, и сформированный синхроимпульс, поступая в блок переработки :цформации, записывает значение коэффициента отражения в память. Еогда напротив коаксиального свето" вода оказывается нулевое реперное устройство, сицхроимпульс, сформированный с помощью источника 11, прием ника 14 и отверстия 17, записывает в память блока переработки информации значение нулевого коэффициента отражения, т,е, нуль прибора, так как в этом случае излучение, попадая на зеркало,...
Устройство для измерения коэффициента отражения
Номер патента: 1448250
Опубликовано: 30.12.1988
Авторы: Воробьев, Кац, Марков, Усик
МПК: G01N 21/55
Метки: коэффициента, отражения
...снятый с,приемника 2, можно представить в виде бесконечной геометрической прогрессии, сумма кото- рой ходная 20 грани перпендикулярны к оптической оси учка. Выходная грань 17 призмы 6 и входная грань 19 призмы 7 выполнены с коэцфициентом отра" жения, превьппающим отражательную способность материала, из которого изготовлены призмы.Измеряемая плоскость исследуемого образца параллельна грани 9 полного внутреннего отражения призмы 3 в системе сравнения, Призмы 3,4,6,7 выполнены из одного и того же материала, в оптические длины пути в воздушных промежутках равны между собой.Устройство работает следующим образом.В рабочий пучок вводится.призменная система 3 и 4 сравнения, Излучение от источника 1 проходит призмы 3 и 4, претерпевая три раза...
Устройство для измерения коэффициента зеркального отражения
Номер патента: 1449876
Опубликовано: 07.01.1989
МПК: G01N 21/55
Метки: зеркального, коэффициента, отражения
...параметровматериалов с помощью оптических методов,Цель изобретения - повышение быст.родействия и точности измерения коэф.фициента отражения.На чертеже представлена схемаустройства,Устройство содержит источник 1излучения, попый конический отражатель 2, держатель 3 образца, конденсор 4 и фотоприемник 5. В коническом отражателе выполнено отверстие 6.Излучение от источника 1 черезотверстие 6 с прямоугольном коничес"ком отражателе 2 падает на образец,прикрепленный к держателю 3, которыйможно поворачивать вокруг вертикальной оси 00 для измерения отраженного при различных углах падения излучения 1 и перемещать вверх дляизмерения падающего на образец излучения 1Благодаря конденсору 4потоки 1. и 1 попадают на фотоприемник 5 под одинаковым...
Устройство контроля зольности отходов флотации
Номер патента: 1453267
Опубликовано: 23.01.1989
Авторы: Панин, Сытников, Хутренко
МПК: G01N 21/55
Метки: зольности, отходов, флотации
...способностисветового потока в соответствии с отражательной способностью пульпы за-данной зольности твердой Фазы,При подаче напряжения на устройство световой поток от источника 1 проходит через оптическую систему 2, окно обтюратора 4 и измерительное окно 6 попадает на измеряемую среду (поток отходов Флотации). Отраженная часть светового потока возвращается через окно обтюратора на фотоприемник 3. При повороте обтюратора све - товой поток попадает на эталонный отражатель 5 и возвращается на фото- приемник 3, откуда электрические сигналы поступают на усилитель 9. На выходе усилителя 9 появляется сигнал в ниде переменного тока с постоянной составляющей (Фиг.2 а). При этом уровень максимального значения 1 к зависит от отражательной...
Устройство для измерения коэффициента зеркального отражения
Номер патента: 1500920
Опубликовано: 15.08.1989
Авторы: Воробьев, Груздев, Печенкин, Стерин
МПК: G01N 21/55
Метки: зеркального, коэффициента, отражения
...9 определяется формулой, в которую входит также коэффициент К, , пропорциональный коэффициенту зеркального отражения образца 12, т.е.ВКК К схр Ке К 1 К 9Таким образом, если вычислить отношение сигналов Б 1 и Б , то оно равноБ ВКК 4 К оК 11 3 Ф б 3 Ф 2(4)Поскольку по результатам выравнивания выходных сигналов фотоэлектриП ческих приемников - = 1, тоЦПКфФр фПри подключении фотоэлектрических приемников к измерителю отношений, последний измеряет значение коэффициента зеркального отражения образ-. ца К,р .1Зеркальный отражатель 5 вращается вокруг оси С, перпендикулярной плоскости чертежа. Поскольку аАСО = 4 АСО (по стороне ОС и прилегающим к ней углам), то СА = СА, т.е. точки А и А на отражателе 5 совпадают. Поскольку углы поворота...
Способ контроля степени аморфности поверхности металлических магнитных лент и пленок
Номер патента: 1502988
Опубликовано: 23.08.1989
Авторы: Миронова, Никитин, Тулинов
МПК: G01N 21/55
Метки: аморфности, лент, магнитных, металлических, пленок, поверхности, степени
...величин о", , с( рЗ и д . Любое изменение зависимости Е от Я , связанное с кристаллизацией, приводит к изменению величины отношений в , - ф и - . 11 о хаГфд рактеру и величне этих изменений, сравнивая получаемые величины с их эталонными значениями, можно судить о степени аморфности поверхности магнитных металлических лент и пленок.Устройство для осуществления пред лагаемого способа (фиг.1) содержит источник 1 света, поляризатор 2, линзу 3, исследуемый образец 4, электромагнит 5, источник 6 питания электромагнита, светоделительные пластины 7, зеркала 8, фильтры 9, линзы 10, фотоприемники 11, гальванометры 12, усилители 13, вычислительный комплекс 14. Свет от источникапроходит через поляризатор 2, затем с помощью линзы 3 фокусируется на...
Устройство для измерения коэффициента отражения зеркала
Номер патента: 1509688
Опубликовано: 23.09.1989
МПК: G01N 21/55
Метки: зеркала, коэффициента, отражения
...поворачивают вокруг друх взаимно перпендикулярных осей, лежащих в плоскости, перпендикулярной оптической оси устройства, таким обра- . зом, чтобы световой пучок, отраженный от зеркала 15 и затем отраженный от внешней поверхностипластины 8, попадал в центр "креста" ПФП 6, При этом световой пучок, отражен - ный от зеркала 15 и от внутренней поверхности пластины 8, попадает на заданный участок ФП 11Выходные сигналы ФП 10 и 11, при этой равны рают, Убирают также зеркало 15. Частьсветового потока фп, падающего напластину 8, отражается на ФП 10, авторая часть этого потока проходитпластину 8, отражается от пластины 9и попадает на ФП 13Выходные сигналы 11 и 11 на ФП О и 13 при этомсоответственно оказываются равными(7) (8) 2 РаР 9 фч 2,ь "...
Устройство для контроля параметров светоделителей
Номер патента: 1529081
Опубликовано: 15.12.1989
Авторы: Барский, Голуб, Иващенко, Лопатенто, Ширшова
МПК: G01N 21/55
Метки: параметров, светоделителей
...и контрол Один из каналов имеет регул оптический клин 3, служащий равнивания сигналов фотопри йри равенстве параметров ко руемого и эталонного светод Оптический клин 3 размещает нале, через который проходи ко большая световая энергия если коэффициент пропускани делителя 2 больше его коэфф отражения, то оптический кл дует размещать в эталонном как это показано на чертежела 4 и 5 направляют излучение на эталонный и контролируемый светоделители 6 и 7. Отраженные от свето- делителей пучки проходят через модулятор 8 на фотоприемник 9, а прошедшие через светоделители пучки на фотоприемник 10. Последний вырабатывает сигналы, пропорциональные интенсивности прошедших через эталонный и контролируемый светоделители пучков излучения, и разность...
Устройство для измерения абсолютных коэффициентов зеркального отражения
Номер патента: 1529082
Опубликовано: 15.12.1989
Авторы: Куимов, Лагутин, Левандовская, Малый
МПК: G01N 21/55
Метки: абсолютных, зеркального, коэффициентов, отражения
...конкретного выполнения можно привести устройство, выполненное в виде приставки для серийного спектрофотометраСтруктурная схема такой приставки показана на фиг. 2, Она отличается от схемы устройства на фиг. 1 системой плоских зеркал, которые изменяют направление потока излучения в спектрофотометре, направляя его плоским зеркалом 10 на исследуемую поверхность образца, а плоскими зеркалами 11 и 12 - на фотокатод приемника излучения, и заменой источника 1 излучения на монохроматор спектрофотометра с оптической системой, формируюшей поток измерительного канала прибора с промежуточным изображением выходной щели монохроматора. Плоским зеркалом 10 промежуточное изображение выходной шели монохрома- тора совмещено с плоскостью исследуемой...
Устройство для измерения коэффициента отражения зеркала
Номер патента: 1536280
Опубликовано: 15.01.1990
Автор: Чернов
МПК: G01N 21/55
Метки: зеркала, коэффициента, отражения
...к фотоприемнику 5; коэффициент отражения от грани светоделительной пластины со стороны источника излучения; чувствительность фотоприемника 4;чувствительность Фотоприемника 5;поток излучения на выходе источника излучения при первом измерении. При этом на вход усилителя-ограничителя 8 через коммутатор 16 поступает сигнал, образованный разностью выходных сигналов фотоприемников 4 и 5, Из-за разброса временных характеристик (постоянных времени и временных задержек) Фотоприемников 4 и 5 на фронтах разностного сигнала появляются значительные по величине выбросы. В усилителе-ограничителе 8 разностный сигнал усиливается н ограничивается. Причем уровни ограничения выбраны такими, чтобы при входном сигнале (для усилителя 8), близком к нулю,...
Устройство для измерения абсолютных коэффициентов зеркального отражения
Номер патента: 1543308
Опубликовано: 15.02.1990
МПК: G01N 21/55
Метки: абсолютных, зеркального, коэффициентов, отражения
...чЗЗ 0 калаи 8 установлены так, цто равны углы. падения света на них; зеркала 5 и 6 установлены так, что равны углы падения света на них, а также равны углы падения отраженного от них света на фотоприемник 7.Зеркала 5 и 6 могут быть выполнены сферицескими для фокусировки излучения на фотоприемнике 7. ОБлижайшая к зеркалу 8 плоскость компенсатора 2 расположена на пути оси падающего светового пучка на том же расстоянии от зеркала 8 и составляет с осью пучка тот же угол, цто и внешняя плоскость входного оптического окна 11 криостата по отношению к оси пуцка, отраженного от зеркала 8.Расстояние и угол по оси падающего 20 пучка от точки фокусировки света до ближайшей плоскости компенсатора 3 те же, что и расстояние и угол по оси отраженного...
Устройство для измерения абсолютных коэффициентов зеркального отражения
Номер патента: 1562793
Опубликовано: 07.05.1990
Авторы: Куимов, Лагутин, Левандовская, Малый
МПК: G01N 21/55
Метки: абсолютных, зеркального, коэффициентов, отражения
...ч вводится в5поток излучения, При этом поток из,лучения, пройдя через светоделитель,поступает на приемник 10, и полученный отсчет А оказывается пропорцио"нальным коэффициенту пропускания это.гр светоделителяА, = ф(1 -Рс).,где- коэффициент зеркального отражения светоделителя, причем предполагается, чтоср + сгде г, -, коэффициент пропускания светоделителя.На третьем этапе зеркало 7 посредством механизма 9 вводится в потокизлучения, отразившись от светоделителя 3 и плоских зеркал 5-7, поступает на приемник 10 излучения. Полученный при этом отсчет А з пропорцио" 25нален пропусканию опорного каналаАэ Ф сдРюМт эгде , 6,ят - коэффициенты зеркаль 1ного отражения зеркал 5, б и 7 соответственно.На четвертом этапе устанавливается исследуемый...
Устройство для измерения коэффициента отражения поверхностей
Номер патента: 1562794
Опубликовано: 07.05.1990
МПК: G01N 21/55
Метки: коэффициента, отражения, поверхностей
...приэтом свет эффективно рассеивается ичерез прорези в светонепроницаемыхэкранах 8 и 9 попадает внутрь образцов, Велицины световых потоков ЙР иЫ с участков прорези 61 вблизи торцов со стороны истоцника излученияи на расстоянии 1 от этих торцов связаны с величинами световых потоковГ входящих в торцы, и Р, прошедших расстояние 1 вдоль световодов,соотношениями- линейный коэффициент ослабления излучения в ма 5териале световодов;ДБ 6 Б- площади окон прорези вблизи торцов световодов состороны источника излучения и на расстоянии 1 отэтого торца соответственно,Из этих соотношений следует, что в предположении неизменности величины светового потока, выходящего внутрь образцов, по длине световодов имеет место равенство где К ДБе ДБю где Н, и Н...
Термогравиметрический измеритель влажности материалов
Номер патента: 1582092
Опубликовано: 30.07.1990
Авторы: Акимов, Аргов, Беляков, Зарицкий
МПК: G01F 25/00, G01N 21/55, G01N 5/04 ...
Метки: влажности, измеритель, термогравиметрический
...1 включен, герметичная камера2 разгерметизирована, цифровое отсчетное устройство 16 обнулено, система отражателей 6, 7 развернута влево по фигуре и находится в максимальном отдалении от массоиэмерителя 9,Оператор устанавливает пустой предварительно охлажденный грузоприемник 11на стержневую опору груэоприемника10 и взвешивает его, пользуясь пультом 17 управления. Масса взвешенногогрузоприемника 11 запоминается вычислительно-управляющим блоком 15. Затемоператор помещает в грузоприемник 11испытуемый образец 12, закрывает цверцу 3 герметичной камеры 2 и включаетрежим измерения влажности. Вычислительно-управляющий блок 15 вычитаетиэ сигнала аналого-циФрового преобразователя 14 информацию о массе груэоприемника 11 и запоминает исходнуюмассу...
Волоконно-оптический рефлектометр
Номер патента: 1594396
Опубликовано: 23.09.1990
Автор: Скляров
МПК: G01N 21/55
Метки: волоконно-оптический, рефлектометр
...начальному участку рефлектограммы. Сканируя строб-импульс по времени, т.е. по оси абсцисс, с периодом существенно большим периода следования зондирующих импульсов, можно получить усредненную рефлектограмму.Для оценки отношения сигнала к шуму (с/ш) и быстродействия редаектометра рассматривают его работу,Устанавливают в начале сигнала . обратного рассеяния строб-импульс. Тогда на выходе первого линейного ключа имеется сигнал в виде последовательности импульсов длительностью10-100 нс, средняя амплитуда мЕкоторых соответствует текущему значению величины кривой обратного рассеяния за время о- . Этот сигнал занимает спектр частот в полосе И. Величина импульса длуктуирует вследствие наличия шума, имеющего 1 гВспектральную плотностьс 2 -...
Устройство для измерения угловой зависимости коэффициента отражения материала
Номер патента: 1601563
Опубликовано: 23.10.1990
Авторы: Буяков, Куц, Прудников, Сотников-Южик
МПК: G01N 21/55
Метки: зависимости, коэффициента, отражения, угловой
...опирающи 1 ися на диаметр полуплоскостями, угол меж 1 у которыми л+гр, и установленную напротив выходного окна 3 отражателя 2, оптичесКую систему, входная ось которого лежит в плоскости, перпендикулярной одной из образующих сегмент отражателя 2 полуплосиостей, и проходит через геометрический центр держателя 4 образца. Держатель 4 образца и источник 1 излучения закрепле ы на поворотной оси 5, проходящей по диаметру отражателя 2, симметрично относительно геометрического центра отражателя 2, симметрично относительно геометрического центра отражателя 2 на расстоянии, не превышающем 1/10 диаметра отражателя 2 и исключающем заметное влияние оптических аберраций на точность измерений, Поворотная ось 5 обеспечивает одинаковый поворот источника 1...
Устройство для измерения коэффициента отражения вогнутых сферических поверхностей
Номер патента: 1601564
Опубликовано: 23.10.1990
Автор: Ковальский
МПК: G01N 21/55
Метки: вогнутых, коэффициента, отражения, поверхностей, сферических
...зеркала 7. Центр кривизны контролируемой сферы 12 лежит на прямой, проходящей через фокус объектива 6 и точку пересечения оптической оси объектива 10 с зеркалом 7,Основание 8 выполнено с возможностью поворота на угол у=180 - 2 а и фиксации в указанном и повернутом на угол положениях. Ось 9 поворота лежит на биссектрисе угла 2 а на расстоянии в от фокуса дополнительного объектива 10, определяемом по формуле где а = 2 К 1 да;К- радиус кривизны контролируемойсферической поверхности.Устройство работает следующим образом.Конденсор 2 строит изображение источника 1 излучения в плоскости диафрагмы 3, Параллельный пучок лучей на выходе коллимирующего объектива 4, ограниченный апертурной диафрагмой 5 до тре 25 30 35 40 45 50 55 буемого...
Способ определения влагосодержания тонкослойных диэлектрических покрытий
Номер патента: 1612246
Опубликовано: 07.12.1990
Авторы: Ашурлы, Горностаева, Конюшкина, Чураева
МПК: G01N 21/55
Метки: влагосодержания, диэлектрических, покрытий, тонкослойных
...диаметр и степень коллимации светового пучка и толщина пленки должны быть такими, чтобы многократно отраженные и прошедшие волны могли интерферировать.Содержание воды с помощью предла гаемого способа может определяться в диапазоне от 3-5 до 30 об.7, что соответствует реальному влагосодержанию диэлектрических покрытий.Наличие воды в исследованных покрытиях качественно установлено с по мощью способа лазерной десорбции, Измерение параметров о и Д прово) 1 дится на стандартном эллипсометре ЛЭф"ЗМ. Расчет содержания воды проводится на ЭВМ ЕСпо специальной программе.Исследованные покрытия нанесены методом электронно-лучевого испарения на подложки из кварца или стекла К(для кварца Ю = 1,46, для стекла КИ я = 1; 52) . И,соя 4 о - Исов(0( И...
Устройство для измерения коэффициентов отражения и пропускания объектов
Номер патента: 1673928
Опубликовано: 30.08.1991
Автор: Лискер
МПК: G01N 21/55
Метки: коэффициентов, объектов, отражения, пропускания
...для каждого фотоприемника, аналого-цифровой преобразователь (АЦП), коммутирующее программное устройство (КПУ), микропроцессор (МП), управляющий работой ПУ с помощью КПУ,Устройство работает следующим образом.Объект исследования располагается на фотоприемнике Фо, Мощность Ео входного потока излучения, попадающего на объект, распределяется на три составляющих: отраженную Е"Р, прошедшую Е"Р и поглощенную Е"о Электрические сигналы от фотоприемников Фо-Фп поступают на соответствующие входы ПУ, коэффициенты усиления которых подобраны с учетом чувствительности каждого конкретного фотоприемника так, что на выходе ПУ появляется нормированный аналоговый сигнал, измеряемый через КПУ аналого-цифровым прибором,5 10 15 20 25 30 35 40 45 КПУ...
Способ измерения спектрального распределения коэффициентов зеркального отражения в вуфи умр-диапазонах
Номер патента: 1679303
Опубликовано: 23.09.1991
МПК: G01N 21/55
Метки: вуфи, зеркального, коэффициентов, отражения, распределения, спектрального, умр-диапазонах
...иа светового лучка люминесцирующей пластинке измеряется токФЭУЪаз(Л 4) = впал(Я) Й 3 (ач) д, (1)где Вз- коэффициент отражения сферического зеркала;пад(А)- интенсивность падающего излучения; ффективность фотоп риемникПри введенной в оптический тракт люминесцирующей пластинке измеряется11(Яо) = пад(Л) Яз(420) 0) до, (2) где Вз(420) - коэффициент отражения зеркала на длине волны люминесценции 420 нм;о- коэффициент преобразования люминофора.Взяв отношения (1) и (2), получают д -4 Ь Образец введен в приемник находится люминесцирующей пл из оптического тракта 14(Ь) = 1 пад(А)Ь(Ь ГДе Вобр коэффиЦи ца на длине волны Л. При введенной в о минесцирующей пласт(3) я образ птический тракт нке измеряется Для ся и пос интенси лучения длине в...
Устройство для измерения коэффициента отражения зеркала
Номер патента: 1679304
Опубликовано: 23.09.1991
Автор: Чернов
МПК: G01N 21/55
Метки: зеркала, коэффициента, отражения
...который отражается от полупрозрачного зеркала 13, - на позиционно-чувствительный фотоприемник 14. Так как световой пучок, отразившийся от зеркала 18,проходит меньший путь при поступлении на позиционно-чувствительный фотоприемник 15, чем при поступлении на позиционно-чувствительный фотоприемник 14, то по разности выходных сигналов позиционно-чувствительных фотоприемников 14 и 15 (вычитание осуществляется в сумматорах 16 и 17) можно судить об угловом положении зеркала 18. Держатель 5 зеркала 18 поворачивают вокруг двух взаимно перпендикулярных осей, проходящих через точку пересечения лучей, таким образом, чтобы выходные сигналы сумматоров 16 и 17 стали равными нулю, При этом исследуемое зеркало 18 с высокой точностью устанавливается...
Устройство для измерения коэффициентов отражения материалов в процессе лучистого нагрева
Номер патента: 1684633
Опубликовано: 15.10.1991
МПК: G01N 21/55
Метки: коэффициентов, лучистого, нагрева, отражения, процессе
...16, имеющих светофильтры 17 и фотоприемники 18. Питание лампы-вспышки осуществляется с помощью блока 19 питания,Управление системой проиэьодится программируемым универсальным контроллером 20, запуск которого осуществляОСУДА Р СТ В Е ННЫ Й КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫГИЯРИ ГКНТ СССР(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗУЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ОТРАЖГ:"1 ИЯ МАГЕРИАЛОВ В ПРОЦЕССЕ ЛУЧИСР)ГО;1 А РЕВА Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследованиях спектрально-оптических свойств материалов при высоких температурах. бретения является повыше ти измерений коэффициент Целью изоние стабильнос а отражения,На чертеже изображено устройство для измерения коэффициентов отражения материалов в процессе лучистого нагрева.В...
Способ определения коэффициента рассеяния полупрозрачных твердых зеркально-отражающих материалов с малым коэффициентом поглощения
Номер патента: 1187563
Опубликовано: 23.12.1991
Авторы: Вишневецкая, Ефимов, Моисеев, Петров, Степанов
МПК: G01N 21/55
Метки: зеркально-отражающих, коэффициента, коэффициентом, малым, поглощения, полупрозрачных, рассеяния, твердых
...данного способа очень важно правильно выбратьэталонное зеркало. Его коэффициентотражения должен быть мал и хорошоизвестен, Одним из возможных вариан.тов является использование в качестве такого зеркала тонкой тщательно отполированной пластины из оптических монокристаллов или стекол;у которых на исследуемую областьспектра приходится область высокойпрозрачности, В этом случае коэф, фициент отражения такого зеркала определяется только показателем преломления материала .и может быть рассчитан с учетом многократных от" ражений в слое очень точно, посколь" ку показатель преломления. измеряется с точностью до четвертого-пятого знака после запятой.Пример реализации способа,1 ля определения коэффициента рассеяния оптической керамики...