Устройство для измерения абсолютных коэффициентов зеркального отражения
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИН И 9) БО (Н) 1 А 51)5 С 01 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 12 якопможеттическраспреа зеркпаэоне иче ыть осит ию и Изобретение о кому приборостро использовано для мерения спектрал абсолютного коэф отражения в широ ратур,го изеления льного темпеого цие м д вышение точние конструкия упр Цель изобрете ности измерения ции устройства.На чертеже пр ная схема устройУстройство со излучения, компе иальведена при тва, ержит истосаторы 2 и ик. 1 непод(21) 4340111/31(22) 28.10,87(71) Физико-технический институт низких температур АН УССР(56) Авторское свидетельство СССР И 823989, кл, С 01 И 21/55, 1981.Авторское свидетельство СССР й 813204, кл. С 01 И 21/55, 1979. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ АБСОЛЮТНЫХ КОЭФФИЦИЕНТОВ ЗЕРКАЛЬНОГО ОТ" РАЖЕНИЯ(57) Изобретение относится к оптическому приборостроению. Цель изобретения - повышение точности измерения и упрощение конструкции устройства. Устройство содержит источник излучения 1, компенсаторы 2,3, неподвижные зеркала 4,5 и 6, Фотоприемник 7, подвижное зеркало 8, криостат 9 с иссле" дуемым образцом 10 и входным окном 11. Световой поток от источника излу" чения 1 попеременно направляется надва световых канала подвижным эерка"лом 8, При измерении интенсивностипадающего луча световой поток падаетна зеркало 4, отражается от него ипадает на вогнутое зеркало 5, отра"жается от него и падает на Фотоприемник 7. При измерении интенсивности отраженного луча световой поток от ис"точника 1 падает на подвижное зерка"ло 8, отражается от него, через окнокриостата 9 падает на образец 10, отражается от него под углом, близкимк нормальному, падает на зеркало би затем на фотоприемник 7. Углы падения светового луча на зеркала 4 и 8равны, равны также углы падения све"та на зеркала 5 и 6, как равны и углы падения света, поступающего отэтих зеркал на Фотоприемник 7. Повышение точности измерения достигает"ся за счет повышения частоты коммутации оптических каналов подвижным зеркалом 8. 1 ил,вижные зеркала 4, 5 и б, фотоприемник 7, подвижное зеркало 8, криостат 9 с исследуемым образцом 10 и входным окном 11.Зеркала 5 и б установлены так, что выполняются следующие условия: расстояние от точки фокусировки света на образце 10 до зеркала 6 равняется расстоянию от точки Фокусировки света при измерении падающей интенсивности до зеркала 4 и расстоянию от зеркала 4 до зеркала 5; расстояние от зеркала 5 до фотоприемника 7 равно расстоянию от зеркала б до фотоприемника 7; зер 315 чЗЗ 0 калаи 8 установлены так, цто равны углы. падения света на них; зеркала 5 и 6 установлены так, что равны углы падения света на них, а также равны углы падения отраженного от них света на фотоприемник 7.Зеркала 5 и 6 могут быть выполнены сферицескими для фокусировки излучения на фотоприемнике 7. ОБлижайшая к зеркалу 8 плоскость компенсатора 2 расположена на пути оси падающего светового пучка на том же расстоянии от зеркала 8 и составляет с осью пучка тот же угол, цто и внешняя плоскость входного оптического окна 11 криостата по отношению к оси пуцка, отраженного от зеркала 8.Расстояние и угол по оси падающего 20 пучка от точки фокусировки света до ближайшей плоскости компенсатора 3 те же, что и расстояние и угол по оси отраженного от образца 10 пучка до внутренней плоскости входного оп тического окна 11. Толщина и материал компенсаторов и входного оптического окна 11 одинаковые,Удовлетворение изложенных требований позволяет сформировать два идентичных канала измерения с высокой частотой коммутации и одинаковое уменьшенное иэображение источника излучения на поверхности фотоприемни 35Устройство работает следующим образом.Световой поток от источника излучения 1 попеременно направляется на два канала подвижным зеркалом 8. При измерении интенсивности падающего луча (пунктирная линия) световой поток проходит компенсаторы 2 и ) и падает на зеркало , отражается от него и падает на зеркало 5, 45 отражается от него и падает на фото- приемник 7, При измерении интенсивности отраженного луча световой поток от источника 1 излучения падаетна подвижное зеркало 8, отражаетсяот него, проходит входное окно 11криостата 9 и падает на образец 10,отражается от него под углом. близкимк нормальному, еще раз проходитвходное окно 11 и направляется назеркало 6, отражается от него и падает на фотоприемник 7.Величина абсолютного коэффициентазеркального отражения определяетсяиэ отношения сигналов фотоприемникапри регистрации отраженной и падающейинтенсивности светового луча и осуществляется в электронном блоке обработки сигналов не показан).Повышение точности измерения и упрощение конструкции, устройства обусловлено тем, цто устройство содержитединственный подвижный элемент - зеркало 8. Это позволяет повысить частоту коммутации оптических каналов, что,в свою очередь, снижает погрешностиизмерения, связанные с нестабильностью источника 1 излучения,Формула изобретенияУстройство для измерения абсолютных коэффициентов зеркального отражения, содержащее источник излучения, оптическую систему для формирования двух разделенных во времени оптических каналов одинаковой длины, включающую две идентичные пары зеркал, причем первые по входу излучения зеркала в каждой паре установлены под равными углами к оптической оси устройства, компенсаторы и фотоприемник, о т л и ч а ю щ е е с я тем, цто, с целью повышения точности измерения и упрощения конструкции устройства, первое зеркало в первой паре выполнено подвижным, первое зеркало во второй паре - неподвижным, а вторые зеркала и фотоприемник расположены под равными углами к оптическим осям каналов.11543308 ставихред Корректор О.Ц Редактор И,недолуженко96 Тираж 508 Подписное Государстве о изобретениям и открьггиям при ГЕНТ ССС 11 35, Раушская наб., д. 4/5 Заказ роизводственно-издательский комбинат Патен ",
СмотретьЗаявка
4340111, 28.10.1987
ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ НИЗКИХ ТЕМПЕРАТУР АН УССР
ГАЛУЗА АНАТОЛИЙ ИВАНОВИЧ, ЮРКОВСКИЙ ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 21/55
Метки: абсолютных, зеркального, коэффициентов, отражения
Опубликовано: 15.02.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1543308-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-absolyutnykh-koehfficientov-zerkalnogo-otrazheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения абсолютных коэффициентов зеркального отражения</a>
Предыдущий патент: Способ определения оптической анизотропии горных пород
Следующий патент: Абсорбционный анализатор
Случайный патент: Ультразвуковой дефектоскоп