Способ определения коэффициента рассеяния полупрозрачных твердых зеркально-отражающих материалов с малым коэффициентом поглощения
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1187563
Авторы: Вишневецкая, Ефимов, Моисеев, Петров, Степанов
Текст
1187563 510 20 К вт- = 0,13512 35 40 45 50 Устройство содержит источник излучения 1, модулятор 2 приводимыйво вращение двигателем 3,. интегрирующую сферу 1, в которой расположенына перемещающемся держателе 5 образец 6 и эталонное зеркало 7. Дляизмерения пропускания по ходу лучавслед за сферой 4 устанавливают сфещ, 8 со сменным. приемником излучения,9. Сигналы с приемников излучения 10,11.есновной сферы и приемника излучения 9 дополнительной сферы, характеризующие освещенность внутриинтегрирующих сфер 4 и 8, поступаютна узкополосный усилитель 12 и циф-ровой вольтметр 13, служащие для .измерения и регистрации сигналов, Распбложенные в интегрирующей сфере 1световые экраны 14 и 15 защищаютприемники излучения 10 и 11 от за-.светки после первого отражения отповерхности сферы. Держатель 5 поз"воляет осуществлять. попеременнуюустановку на пути луча образца 6 иэталонного зеркала 7. Зеркало 7устанавливают под малым углом 35 ф) к падающему лучу, так, цтобыобеспецивалось попадание отраженного от него излучения на стенку сферы Ь,Способ осуществляется следующимобразом.Подают излучение на образец, установленный в интегрирующей сфере,Измеряют сигнал; пропорциональ"ный энергии, рассеянной образцом.Измеряют пропускательную способность и вычисляют оптическую толщи"ну образца. Направляют излучение наэталонное зеркало, коэффициент отражения которого выбирают из условия,:чтобы сигналы, полученные при взаимодействии луча с образцом и лучас эталонным зеркалом, отличались в0,5-2 разаПри осуществлении данного способа очень важно правильно выбратьэталонное зеркало. Его коэффициентотражения должен быть мал и хорошоизвестен, Одним из возможных вариан.тов является использование в качестве такого зеркала тонкой тщательно отполированной пластины из оптических монокристаллов или стекол;у которых на исследуемую областьспектра приходится область высокойпрозрачности, В этом случае коэф, фициент отражения такого зеркала определяется только показателем преломления материала .и может быть рассчитан с учетом многократных от" ражений в слое очень точно, посколь" ку показатель преломления. измеряется с точностью до четвертого-пятого знака после запятой.Пример реализации способа,1 ля определения коэффициента рассеяния оптической керамики из селенида цинка на лазерной длине волны 10,6 мкм используем цилиндрическийобразец 6 диаметром 9 мм с плоскопа 15 раллельными тщательно отполированными торцами, Толщина образца равна 2 мм В качестве эталонного зеркала 7 выберем тщательно отполированную пла"стину иэ иодистого цезия толщиной0,3 мм. Выбор материала эталонногозеркала сделан, исходя из того, чтоэкспериментально обнаружено, что величины сигналов,. полученных вследствие рассеяния образцом падающего нанего излучения, и сигнала, получен-ного при .отражении этого же излучения от эталона из иодистого цезия настенку сферы, отличаются в 0,5-2 раза.Коэффициент отражения эталонного зеркала из иодистого цезия известен свысокой точностью и равен В интегрирующую сферу устанавливают образец и направляют сквозь. него излучение от источника излучине ния 1; Затем с помощью держателя 5 образец убирают из зоны действия луча. По отношению показаний прием" ника излучения 9, полученных в этих случаях и пропорциональных соответ" ственно прошедшему сквозь образец направленному излучению и полному падающему. потоку, судят о величине пропускательной способности образца, Зная величину пропускательной способности, равную в нашем случае 0,602, и нормальный френелевский коэффициент отражения селенида цинка, равный К = 0,1682, по Формуле:(1-К) е определяют оптическую толщину слоя Ь; Она составит 0,154.Затем монохроматический коллими рованный пучок света снова направ- ляют на образец 6, поднимая его с ,помощью держателя 5, и приемником
СмотретьЗаявка
3644822, 28.06.1983
ИНСТИТУТ ВЫСОКИХ ТЕМПЕРАТУР АН СССР
ВИШНЕВЕЦКАЯ И. А, ЕФИМОВ М. Г, МОИСЕЕВ С. С, ПЕТРОВ В. А, СТЕПАНОВ С. В
МПК / Метки
МПК: G01N 21/55
Метки: зеркально-отражающих, коэффициента, коэффициентом, малым, поглощения, полупрозрачных, рассеяния, твердых
Опубликовано: 23.12.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1187563-sposob-opredeleniya-koehfficienta-rasseyaniya-poluprozrachnykh-tverdykh-zerkalno-otrazhayushhikh-materialov-s-malym-koehfficientom-pogloshheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения коэффициента рассеяния полупрозрачных твердых зеркально-отражающих материалов с малым коэффициентом поглощения</a>
Оптическое устройство регистрации зонального и интегрального светопропускания и отражения в оптическом образце
Номер патента: 1753376
Опубликовано: 07.08.1992
Автор: Смолкин
МПК: G01N 21/55
Метки: зонального, интегрального, образце, оптическое, оптическом, отражения, регистрации, светопропускания
...оптической оси. Кроме того, приемники излучениянаходятся в охлаждаемых капсулах 11, что .вместе с подвижками приемников также по вышает точность измерения излучения и еговоспроизводимость во времени.Оптическое устройство работает следующим образом,Источник 1 света проектируется сферическим зеркалом 4 в апертурную диафрагму .10 15 20 образца и перемещается по радиусу образца в плоскости, перпендикулярной плоскопомощью приводов 12, 13, Таким образом, . зондирующий пучок может быть направленв любую зону измеряемого образца без из менения угла падения его на образец. Ре" жим работы приводов 8; 12; 13, аследовательно, и закон сканирования образца относихельно зондирующего пучка 35 интенсивности соответственно прошедшего и отраженного...
Устройство для измерения коэффициента отражения плоской поверхности образцов
Номер патента: 947637
Опубликовано: 30.07.1982
Автор: Филиппов
МПК: G01B 9/02
Метки: коэффициента, образцов, отражения, плоской, поверхности
...плоским полупрозрачным зеркалом б, приемник 7 излучения, электронный блок 8 обработки сигналов, приводы 9 и 10 поворота, датчики 11 и 12 поворота, приводы 13.Зеркало 2 установлено неподвижно перед площадкой 3 н ходе лучей от источника 1 перпендикулярно его оптической оси.Зеркало б и приемник 7 излучения установлены на платформе 5. Площадка. 3 и платформа 5 выполнены с возможностью поворота вокругоси, пересекающей оптическую ось источника 1 под прямым углом и проходящей через плоскую поверхность размещаемого на площадке 3 образца 4,Площадка 3 и платформа 5 ориентированы так, что зеркала 2 и б совместно с плоской поверхностью образца 4 образуют резонатор интерферометсра Фабри-Перро.Приемник 7 излучения подключен кэлектронному блоку 8...
Устройство для измерениякоэффициентов отражения
Номер патента: 851208
Опубликовано: 30.07.1981
МПК: G01N 21/55
Метки: измерениякоэффициентов, отражения
...призмы 4 и 5, трехгранную призму 6 полноговнутреннего отражения, четырехграннуюпризму 7,Эталон представляет собой призму полного внутреннего отражения типа призмы Дове, отражающая грань которой параллельна оптической оси устройства, Для исключения разницы в потерях излучения на преломляющих гранях призм в эталонном ирабочем каналах эталон выполнен в видесочетания двух призм 6 и 7, разделенныхвоздушным промежутком. Призма 6трехгранная полного внутреннего отражения, с тремя рабочими гранями, отражающая грань которой параллельна оптическойоси устройства. Призма 7 - четырехгранная, с двумя рабочими гранями, которые З 0параллельны между собой и параллельнывыходной грани призмы 6. Призмы 6 и 7дополняют друг друга до призмы Дове.Для...
Способ компенсации волнового фронта для контроля формы поверхности астрономических зеркал
Номер патента: 1613853
Опубликовано: 15.12.1990
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 17/08
Метки: астрономических, волнового, зеркал, компенсации, поверхности, формы, фронта
...лучи создают волновой Фронт, несущий информацию о погрешности. контролируемой поверхности зеркала,.и .на выходе из компенсатора попадают в анализатор волнового Фронта, например интерферометр (не показан),. На основании анализа выходящего из компенсатора еолнового фронта делают вывод о качестве изготовления контролируемой 25 поверхности зеркала. При настройке компенсатора на контроль асферического зеркала с заданными параметрами необходимо перемещением менисков 3 и 4 друг относительно друга и неподвижно установленной двояковыпуклой линзы установить расчетные значения воздушных промежутков С ии совместить изображение источника света с точкой СПо схемах, изображенным на фиг. 2 и 3, способ осуществляют следующимобразом.Источник 1 света...
Устройство для измерения индикатрисы источника излучения и рассеяния образцов при воздействии на них пучков излучения
Номер патента: 1770771
Опубликовано: 23.10.1992
Авторы: Калантарян, Кононенко, Муратов, Сторижко
Метки: воздействии, излучения, индикатрисы, источника, них, образцов, пучков, рассеяния
...для измерения излучения на определенной длине волны 4 и с заданной поляризацией Ро (см. фиг.1), Угол, под которым пучок излучения 2 падает на исследуемую поверхность образца, определяется как угол между нормалью 30 к этой1770771 40 поверхности в точке пересечения осей 2 (14), 11,16 и 17 и осью пучка 2, и обозначается , Направление, по которому световод принимает излучение от образца, характеризуется двумя углами аиф. Угол а - угол 5 между проекцией 31 нормали 30 в плоскости, проходящей через оси 17 и 2, и осью 17. Угол ф - угол между осями 1 б и 11. Пучок 2 направляется под углом у на исследуемую поверхность образца. Полученное в резуль тате этого электромагнитное излучение в направлении, характеризуемом углами а и 3, проходит...
Предыдущий патент: Способ установки на грунт и снятия с грунта самоподъемной буровой платформы и устройство для его осуществления
Следующий патент: Устройство для выравнивания амплитуды сигнала в сцинтилляционных счетчиках с протяженными сцинтилляторами
Случайный патент: Ролик для поперечно-винтовой прокатки