Устройство для измерения коэффициента зеркального отражения

Номер патента: 1620829

Опубликовано: 15.01.1991

Авторы: Исмаилова, Мамонтов

МПК: G01B 11/26

Метки: детали, конуса, угла, фотометрический

...когерентное излучение лазера 1 формируют коллиматором 2, затем направляют на светоделитель 3 и, формируя его объективом 4, облучают поверхность детали 10. Отраженное от детали излучение представляет собой спекл-структуру, параметры которой зависят от степени фокусировки и длины волны излучения. При движении поверхности объекта спеклструктура перемещается в пространстве с угловой скоростью, пропорциональной линейной скорости движения точек поверхности в направлении касательной к этим точкам, Объектив 4 собирает отраженное излучение И направляет его нэ анализатор 5, на выходе которого он принимает вид периодически повторяющегося сигнала, Этот сигнал прербразуют фотодетектором 6 в электрический и после усиления усилите-. лем 7...

Номер патента: 883726

Опубликовано: 23.11.1981

Авторы: Герасимов, Корнеев

МПК: G01N 23/207

Метки: внешнего, дифракционного, зеркала, излучения, исследования, объектов, отражения, полного, пучке, рентгеновского, установки

...ось пучка. При этом блок зеркала 3 полного внешнего отражения ус фтанавливают таким образом, что зеркало 10 располагается на уровне, выше предполагаемого пучка ретгеновскогоизлучения. Одновременно с помощьюсредств 15 наклона двух задних опор6 платформы 5 ось пучка рентгеновского излучения устанавливают параллельно продольной оси отражающей поверхности зеркала 10, и, следовательно, .перпендикулярно линии, на которой26расположены. точки контакта задних опор 6, имеющих одну степень свободы. С помощью средств 15 устанавливают плоскость зеркала 10 так, что ее образующая, параллельная попереч- н ной оси, располагается в горизонтальной плоскости, т.е, перпендикулярно плоскости фокусировки рентгеновского пучка зеркалом 3 полного внешнего...

Номер патента: 1408246

Опубликовано: 07.07.1988

Автор: Холопов

МПК: G01J 5/50

Метки: излучения, ик-области, коэффициентов, отражения, полупрозрачных, пропускания, спектра

...стенки камеры 1, для этого зеркало 9 устанавливают вположение, показанное на фиг. 1 штрихами,образец 5 вводят между черными телами (положение черных тел 3 и 4 любое) и фиксируют величину сигнала по отсчетному устройству 2.Выводят образец 5 из объема между чер 0 ными телами и измеряют яркость 1 образца на фоне стенки камеры. После этогочерные тела 3 и 4 устанавливают в положение, при котором черное тело 4 находитсямежду черным телом 3 и зеркалом 7. Обра 15 зец 5 устанавливают между черными телами. При этом черным телом 3 облучак)т однунз поверхностен образца 5, а черным телом4 - другую поверхность образца, обращенную к фотоприемному устройству 10. Зеркало 9 устанавливают в положение (пока 20 зано на фиг. 1 сплошными линиями),...

Номер патента: 1601563

Опубликовано: 23.10.1990

Авторы: Буяков, Куц, Прудников, Сотников-Южик

МПК: G01N 21/55

Метки: зависимости, коэффициента, отражения, угловой

...опирающи 1 ися на диаметр полуплоскостями, угол меж 1 у которыми л+гр, и установленную напротив выходного окна 3 отражателя 2, оптичесКую систему, входная ось которого лежит в плоскости, перпендикулярной одной из образующих сегмент отражателя 2 полуплосиостей, и проходит через геометрический центр держателя 4 образца. Держатель 4 образца и источник 1 излучения закрепле ы на поворотной оси 5, проходящей по диаметру отражателя 2, симметрично относительно геометрического центра отражателя 2, симметрично относительно геометрического центра отражателя 2 на расстоянии, не превышающем 1/10 диаметра отражателя 2 и исключающем заметное влияние оптических аберраций на точность измерений, Поворотная ось 5 обеспечивает одинаковый поворот источника 1...

Номер патента: 1742636

Опубликовано: 23.06.1992

Автор: Холопов

МПК: G01J 5/50

Метки: заданной, излучения, интегральных, коэффициентов, отражения, полупрозрачных, пропускания, температуре

...измерении с помощью ФПС ЭЯ образца в различных условиях одновременного облучения обеих его сторон двумя черными телами, измерении ЭЯ черных тел и определении коэффициентов излучения,пропускания и отражения образца расчетным путем по результатам измерений, измеряют первую заданную (Т 1), вторую (Т 2) и третью (Тз) температуры чер-, ных тел, измеряют с помощью спектрально неселективной ФПС ЭЯ образца11) при облучении визируемой и обратной его сторон черными телами при первой температуре, одновременно с облучением виэируемой стороны образца черным телом при первой температуре облучают обратную сторону образца последовательно черными телами при второй и третьей температурах и измеряют соотвегствующие ЭЯ образца12 и ) 1 з), одновременно...