Устройство для измерения коэффициентов отражения материалов в процессе лучистого нагрева
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
союз совгтслихСОЦИАЛИСТИЯГСКИХ СПУБЛИК 19) .(57) Изобретение относится к измерительной технике, в частности к исследованиям спек рально-оптических свойств материалов при высоких температурах, Целью изобре.ения является повышение стабильности измерений коэффициента отражения В устройство для измерения коэффициентов отражения в процессе лучистого нагоева введены импульсный ИСтСЧ ИК СТОПСчНЕГП ИЭЛУЧЕНИЯ, СОЕДИ- ненныл са схе о 6 гявлення его включенле ) и интегрру ов.,яя сфера с отверстиями, устячог,;г:-чяя с возможностью вращения ча плятфо;.ме Импульсньй источник р"спо 1 жен вн"три сферы, что позволяетэ л, лять полусферически направленныи о-д фици-"1 отражения, не зависящий от угля падения лучей. 1 ил,точником 8 излучения, расположенным внутри нее, и имеет выходной патрубок 9 для наблюдения эа образцом под выбранным углом а с помощью оптической системы 10, которая формирует изобретение образца на торце световода 11, разделяющего лзлучение на несколько оптических ка- О налов 12, каждый из которых имеет (д) интерференционный светофильтр 13 и фо- (Д топриемник 14. Интенсивность излучения лампы контролируется с помощью световода 15, один конец которого направлен наевай стенку сферы 4, а другой разделен на четыре канала 16, имеющих светофильтры 17 и фотоприемники 18. Питание лампы-вспышки осуществляется с помощью блока 19 питания,Управление системой проиэьодится программируемым универсальным контроллером 20, запуск которого осуществляОСУДА Р СТ В Е ННЫ Й КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫГИЯРИ ГКНТ СССР(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗУЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ОТРАЖГ:"1 ИЯ МАГЕРИАЛОВ В ПРОЦЕССЕ ЛУЧИСР)ГО;1 А РЕВА Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследованиях спектрально-оптических свойств материалов при высоких температурах. бретения является повыше ти измерений коэффициент Целью изоние стабильнос а отражения,На чертеже изображено устройство для измерения коэффициентов отражения материалов в процессе лучистого нагрева.В фокусе радиационной печи, включающей отражатель 1 и лампу 2 высокого давления в качестве источника излучения, размещен образец 3, Над поверхностью образца 3 расположена интегрирующая сфера 4, закрепленная на одном конце штанги 5, вращающейся в горизонтальной плоскости, с осью 6 вращения и противовесом 7. Интегрирующая сфера 4 снабжена сторонним ис 1684635 А1684633 го д Составитель С,ГолубевТехред М.Моргентал Корректор С,Черни Редактор А.Лежнина Заказ 3500 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 можностью вращения, держатель образца и блок регистрации падающего на образец собственного и суммы собственного и отраженного от образца излучений, о т л и ч а ющ е е с я тем, что, с целью повышения стабильности измерений коэффициента отражения, в устройство дополнительно введен импульсный источник излучения со схемой управления, сектор снабжен интег.рирующей сферой с тремя отверстиями. одно из которых совмещено с отверстием в секторе, а другие оптически сопряжены с 5 блоком регистрации, при этом испульсныйисточник излучения размещен внутри интегрирующей сферы.
СмотретьЗаявка
4764376, 23.10.1989
ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. С. В. СТАРОДУБЦЕВА
КАН ВАЛЕРИЙ ВИКТОРОВИЧ, РИСКИЕВ ТУХТАПУЛАТ ТУРСУНОВИЧ, САЛИХОВ ТЕМУР ПАТТАХОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 21/55
Метки: коэффициентов, лучистого, нагрева, отражения, процессе
Опубликовано: 15.10.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1684633-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-koehfficientov-otrazheniya-materialov-v-processe-luchistogo-nagreva.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения коэффициентов отражения материалов в процессе лучистого нагрева</a>
Устройство для измерения коэффициентов пропускания и отражения плоскопараллельных образцов
Номер патента: 1075124
Опубликовано: 23.02.1984
Авторы: Зюбрик, Матковский, Савицкий, Шпотюк
МПК: G01N 21/59
Метки: коэффициентов, образцов, отражения, плоскопараллельных, пропускания
...источник потока монохроматического излучения, установленные по ходу излучения линзовую систему, регулируемую щель, фотоприемник с частично отражающей приемной поверхностью и подвижную каретку для исследуемого образца, снабжено дополнительным фотоприемником с полностью поглошающей приемной поверхностью, при этом фотоприемник с частично отражающей приемной поверхностью расположен между регулируемой щелью и подвижной кареткой для исследу. емого образца под углом к оси потока из. лучения так, чтобы отраженный от него поток излучения был перпендикулярен фотоприемнику с полностью поглоцающейприемной поверхностью, который установлен за подвижной кареткой.На чертеже представлена схема усгройства.Устройство для измерения коэффициентов...
Устройство для автоматической балансировки роторов в процессе их вращения
Номер патента: 563890
Опубликовано: 15.06.1984
Авторы: Галин, Пачкория, Промыслов, Скворчевский
МПК: G01M 1/38
Метки: автоматической, балансировки, вращения, процессе, роторов
...роторов ограничено в силу конструктивных трудностей, возникающих при изготовлении устройства, Значительно возрастают размеры вращающейся оптики, а следовательно, уменьшается точность балансировки.Целью изобретения является повышение точности и производительности балансировки крупногабаритных роторовЭта цель достигается тем, что отклоняющая оптическая система выполнена в виде консольно закрепленной на одном конце цилиндра, на котором установлен отражатель, чаши с отражающей внутренней поверхностью,например конической, полый цилиндр другим концом установлен в подшипни 63890 2 ках на оптическом квантовом генераторе, а в полом цилиндре напротив отражателя выполнено отверстие для прохождения светового луча от оптического квантового...
Способ измерения интегральных коэффициентов излучения, пропускания и отражения полупрозрачных материалов при заданной температуре
Номер патента: 1742636
Опубликовано: 23.06.1992
Автор: Холопов
МПК: G01J 5/50
Метки: заданной, излучения, интегральных, коэффициентов, отражения, полупрозрачных, пропускания, температуре
...измерении с помощью ФПС ЭЯ образца в различных условиях одновременного облучения обеих его сторон двумя черными телами, измерении ЭЯ черных тел и определении коэффициентов излучения,пропускания и отражения образца расчетным путем по результатам измерений, измеряют первую заданную (Т 1), вторую (Т 2) и третью (Тз) температуры чер-, ных тел, измеряют с помощью спектрально неселективной ФПС ЭЯ образца11) при облучении визируемой и обратной его сторон черными телами при первой температуре, одновременно с облучением виэируемой стороны образца черным телом при первой температуре облучают обратную сторону образца последовательно черными телами при второй и третьей температурах и измеряют соотвегствующие ЭЯ образца12 и ) 1 з), одновременно...
Прибор для измерения локального коэффициента отражения громоздких образцов
Номер патента: 124484
Опубликовано: 01.01.1959
Автор: Мировицкий
МПК: G01R 27/06
Метки: громоздких, коэффициента, локального, образцов, отражения, прибор
...ввиду весьма малого отражения от нее в оежиме работы на прием не взаимодействует с образцом, что исключает осцилляции. Индикатор помещен у свободного торца антенны и принимает только отраженную волну. Вследствие указанного расположения индикатора тракт между индикатором и образцом не содержит неоднородностей, отражения от которых, интерферируя с отраженным от образца сигналом, могли бы вносить существенные ошибки.Предлагаемый прибор (см. чертеж) состоит из генератора 1; развязывающего и согласующего аттенюатора 2; рупорка 3; трансформирующей волноводную волну в поверхностную волну диэлектрической стержневой антенны 4; поверхности 5 измеряемого объекта; приемной диэлектрической антенны б, 7 с согласующим рупорком приемной секции...
Способ измерения зависимости коэффициента поглощения аэрозольных частиц от интенсивности оптического излучения
Номер патента: 1123365
Опубликовано: 30.09.1986
Автор: Белов
МПК: G01N 21/17
Метки: аэрозольных, зависимости, излучения, интенсивности, коэффициента, оптического, поглощения, частиц
...и сложность измерений, требующих тщательной юстировки З 0сложной и дорогостоящей интерферен"ционной аппаратуры.Целью изобретения является упрощениеи ускорение измерений и снижениестоимости проведения измерений. 1Это достигается тем, что согласно предложенному способу измерения зависимости коэффициента поглощения аэрозольных частиц от интенсивности оптического излучения путем измере" ния зависимости тепловой реакции .системы от интенсивности излучения исследуемые аэрозольные частицы осаж. .дают на полированную прозрачную подложку с закрепленным на ней пьезодатчиком, причем доля площади подложки, . покрытой осажденными аэрозольнымн частицами, составляет (10 - 5)% отобщей площади подложки, направляют на подложку импульсное оптическое...