G01N 21/55 — способность к зеркальному отражению

Номер патента: 407214

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Минаков, Петрунин, Рудой, Турцевич

МПК: G01N 21/55

Метки: 407214

...об 1 разования отверстия в образце.На чертеже показана схема описываемого устройства. Сьемныи пннцет 1 с ооразцом 2, поджатым гайкой 8 платиновому контактному кольцу 4, вставлен в камеру 5 для полиравии, та 1 к, что центры полируемых поверхностей образцов 2 оказываются покропив центров аопел б и на одинаковом от них раастояеоин. За соплами 6 расположены полости 7, задними стенками которых являются прозрачные пластины (окна) 8, герметично прижатые через уплотнительные прокладки 9 к камере 5 корпусом 10 осветителя 11 и корпусом 12 светоприемнлка 18, со д сотом атики.Полости 7 каналами 15 соединены с нагнетательным патрубком,насоса 16, который своим всасыватощим патрубком связа 1 н с резервуаром 17 для электролита, установленным под...

Номер патента: 381979

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Куроптев

МПК: G01J 4/00, G01N 21/55

Метки: блеска, лакокрасочных, покрытий

...по лимбу 9 и может выражаться в градусах цли других единиц 1 х. едмет изобретения 1. Устройство для 5 красочных покрытицые в корпусе источ видимости, от,икаю повышения точцост расположеццым цер о мцрующим изображ 2. Утройство по и. 1, от.пчпоцееся тем, чтоизмеритель видимости выполнен в виде поляроида, двоякопреломляющей призмы, лимба 2 о и оку,яр Известно устройство для определения блеска лакокрасочцых покрытий, содержащее заключенные в корпусе источник света и измеритель видимости, Подобные устройства не обеспечиваот достаточную точность измерения глянцевых и матовых покрытий,Предлагаемое устройство снабжено расположенным перед источником света формирующим изображение стержнем, а измеритель видимо;т; выполнен в виде поляроида,...

Номер патента: 411356

Опубликовано: 15.01.1974

МПК: G01N 21/55

Метки: 411356

...можнолучаоворотой.светао отр например жателя 2 Изобретение относится к области прикладной оптики.Известны устройства для измерения коэффициента отражения полированной поверхности или покрытия на полированной поверх ности абсолютным методом, в которых одно зеркало сделано подвижным. Однако при использовании таких устройств при повороте зеркала световое пятно на нем меняет свое положение, т. е. происходит зеркальный по ворот пятна, на фотоприемнике также происходит зеркальный поворот пятна, кроме того, используется однократное отражение от исследуемой поверхности. Все это снижает точность измерения коэффициента отражения. 15Для повышения точности измерения в предлагаемом устройстве отражатель состоит из четного количества зеркал и...

Номер патента: 798562

Опубликовано: 23.01.1981

Автор: Щетников

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициен-ta, отражения

...системы в плоскости дополнительного зеркала, при этом параметры луча на поверхности первого зеркала периодически пов,торяются и выходящий луч с точностью до фазового множителя совпадает оо характеристикам.с входным.Измерение коэффициента отражения в предлагаемом устройстве прбизводят, определяя отношение выходных сигналов, поступающих с приемника излучения при двух различных положениях второго зеркала, соответствующих величинам2 фК 2 и Й 2.Ф 5Значение коэффициента отражения 2 может быть определено по формуле1Ягф Ф.р. нР;цЪ20 ро - коэффициент отраженияплоского зеркала,щ - Ы - отношение сигналов, соответствующих величинамги 2при контроле сферических зеркал с коэффициентом отражения 0,99 устройство обеспечивает контроль изделий...

Номер патента: 807166

Опубликовано: 23.02.1981

Авторы: Закуренко, Кузьмичев, Приз

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициентаотражения

...пучка излучения и распределение плотности мощности в поперечном сечении пучка) при выполнении условия а ъ Х ЭА где а1минимальный линейный размер, характеризующий неоднородности в распределении плотности потока мощности впоперечном сечении пучка электромагнитного излучения, в котором заключена заметная доля энергии, пе- ф 0реносимая всем пучком, Х - шаг решетки, А - длина волны самой низко-,частотной компоненты в спектре пучка,Предлагаемый способ осуществляетсяследующим образом. 65 Между источником излучения и исследуемым образцом помещают боло- метрическую решетку. Для сведения к минимуму влияния побочных эффектов, вызванных взаимодействием исследуемого образца и электромагнитного излучения (например выброс вещества или...

Номер патента: 813203

Опубликовано: 15.03.1981

Авторы: Авдеев, Щербаковский, Ялышев

МПК: G01N 21/55

Метки: абсолютных, значений, измере-ния, индикатрисырассеяния, монохроматору, поверхности, приставка

...перед входной щелью монохроматора 1 полупрозрачную пластину 2, фотоприемник 3, двухгранное зеркало 4 с поворотной гранью, объектив 5,813203 1 Вт) =Определение знсеяния в направлеся как в известном Составитель К. РогожинТехред А. Бойкас Корректор В. Синицка Тираж 907 Подписное Редактор А. НаурсковЗаказ 288/51ВНИИПИпо д113035, МоФилиал ППП комитета ССи открытийшская наб дрод, ул. Прое Государственного елам изобретений сква, Ж - 35, Рау Патент, г. Ужго 4/5ная, 4 модулятор 6, оптический клин 7, вогнутое контрзеркало 8, окружающую исследуемую поверхность 9 полусферическую пространственную решетку 10, плоское автоколлимационное зеркало 11. Фотоприемник,3 установлен на двойном фокусном расстоянии от вогнутого контрзеркала 8 (апертурные углы...

Номер патента: 813204

Опубликовано: 15.03.1981

Авторы: Донецких, Соболев

МПК: G01N 21/55

Метки: абсолют-ных, коэффициентов, отражения

...на подвижное плоское зеркало 4, отражаясьот которого попадает на фотоприемник10. При измерении интенсивности падающего на исследуемый образец бсвета монохроматический световойпоток попадает на неподвижное зеркало2, отражается от него, проходит компенсатор 9, отражается от неподвижного плоского зеркала 3 и далее рас-,пространяется н том же направлении,что и отраженный световой поток отисследуемого образца,Непосредственное определение величины абсолютного коэффициента зеркального отражения й (Л):р (Л) /(Л)из измеренных значений 1(л) и 1 О (л),где 1(л) - интенсивность света,отраженная исследуемым образцом,1 н (л) - интенсивность света, падающего на исследуемый образец, осуществляется н электронном блоке обработки сигналов (на оптической...

Номер патента: 819645

Опубликовано: 07.04.1981

Авторы: Бургасов, Рыбаков, Чиров

МПК: G01N 21/55

Метки: веществ, конденсации, критическихусловий, натвердой, поверхности

...световым излучением от внешнего источника и регистрации изменения его интенсивности, поддерживают температуру поверхности постоянной, увеличивают интенсивность набегающего молекулярного потока и определяют критические условия конденсации по изменению интенсивности отраженного света, что отображено на графике.Способ осуществляется следующим образом.Исследуемая пара материалов помещается в вакуумные условия. Поверхность нагревается до определенной температуры, которая поддерживается постоянной. Молекулярный поток увеличивающейся интенсивности направляется на исследуемую твердую поверхность, поверхность в месте па 20 дения молекулярных частиц освещается внеш ним источником света постоянной интенсивности. При достижении молекулярным потоком...

Номер патента: 823989

Опубликовано: 23.04.1981

Авторы: Донецких, Соболев, Турышев

МПК: G01N 21/55

Метки: абсолют-ных, коэффициентов, отражения, пропус-кания

...через поверхность подвижного держателя 5, на которую прикреплен исслецуемый объект 6. Фокусируюшие зерквлв 7 и 8 установлены под равнымиуглами о 6/ к падающемуна них излучению.В данном устройстве величина угла пацения ( отражения) светового потока от исследуемого объекта 6 выбирается различной, но постоянной для данной оптической системы.Устройство работает следующим образом.В первом цикле измерения световой по О ток от источника 1 излучения с оптическим элементом проходит через окно 3, отражается под углом близким к нормаль ному, от исследуемого объекта 6 и падает на неподвижное фокусирующее зеркало 7, 15 которое направляет его через входное отверстие внутрь фотометрического шара 11 и затем регистрируется приемником 12 излучения. В этом...

Номер патента: 830200

Опубликовано: 15.05.1981

Авторы: Антонов, Артышевская, Грицай, Малевич, Пожидаев

МПК: G01N 21/55

Метки: смесях, типов, углейв, угольных

...в этовлечет за собой погрешности в опреаеле С целью аппробации данного способа нии количественного состава смесей. 15 составлены угольные смеси, состоящие Кроме того, при совместном дроблении из 2 .8 марок углей в разных весовых миогомврочных смесей, какими являются соотношениях. После тщательного пере- коксовые шихты, входящие в их состав мешивания иэ угольной смеси отбирается жирные и особенно коксовые и отаиенно- нввеска, иэ которой изготовляется аншлифспекающиеся угли, квк наиболее хрупкие, 20 брикет по ГОСТУ, По аншлифам-брикетам распадаются нв более мелкие частички, проводится измерение отражательной спочем угли гвзовъюа и тощие. Это приводит собности витринита по ГОСТУ в поляризок тому, что каждая марка углей, входящих ванном...

Номер патента: 830201

Опубликовано: 15.05.1981

Автор: Горбунова

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициентаотражения, освещенности, поверхностиобекта

...слоем навстречуотраженному свету, а фотоэлемент 4 - навстречу падающему свету.Перед Фотоэлементом 4 установленыирисовая диафрагма 5 в поворотнойоправке 6 и рассеиватель 7 изглушеного стекла, Поворотная оправка имеет рукоятку 8 и подвижно соединена с втулкой 2. На окружностиповоротной оправки име 3 отся днешкалы 9 и 10, а на боковой поверхности неподвижной втулки две соответствующие метки 11 и 12 для Фиксации отсчета. В комплект устройства входит гальванометр 13 с нулемпосередине, к контактам которогоподключены Фотоэлементы 3 и 4 встречно по схеме Фиг.ЗУстройство работает следующимобразом,Для измерения коэффициента отражения корпус 1 прикладывают открытым участком к освещенной поверхности. Рукояткой 8 поворачивают...

Номер патента: 834465

Опубликовано: 30.05.1981

Авторы: Осинцев, Пруткин, Рычков

МПК: G01N 21/55

Метки: металле, содержаниясеры

...Келушак Корректор О. Билак Заказ 4056/64 Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва,Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 печатка, тем меньше измеренная яр.кость и тем больше сульфидных включений в соответствующем слое исследуемого изделия, Насыщенность сульФидами слоя в глубине изделия, соответствующего содержанию серы не вышерегламентируемого значения, принимается за начало отсчета, Измереннаядля соответствующего участка световая величина, например яркость серного фотоотпечатка, принимается заединицу насыценности слоя изделиясульфидами, следовательно, участкиФотоотпечатка с большей плотностьюпятен имеют меньшую яркость. Пояркости всех...

Номер патента: 851207

Опубликовано: 30.07.1981

Авторы: Буяков, Прудников, Слободкин, Трипуть

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициентов, низких, отраженияматериалов, температурах

...приставку, сферы, эталон (модель абсолютно черного тела),851207 Формула изобретения Составитель В. Юртаев Редактор И.Михеева Техред А. Бойкас Корректор Г. Решетник Заказ 6340/59 Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4системы вакуумирования, охлаждения, напуска газов и регулирования температуры.Особенностью работы двухлучевых спектрофотометров является автоматическая компенсация разности в лучистых потоках междудвумя каналами за счет введения оптического клина в канале эталона, Относительнаявеличина этой разности прямо пропорциональна коэффициенту отражения образцаОптическая приставка...

Номер патента: 851208

Опубликовано: 30.07.1981

Авторы: Ефимов, Соболь

МПК: G01N 21/55

Метки: измерениякоэффициентов, отражения

...призмы 4 и 5, трехгранную призму 6 полноговнутреннего отражения, четырехграннуюпризму 7,Эталон представляет собой призму полного внутреннего отражения типа призмы Дове, отражающая грань которой параллельна оптической оси устройства, Для исключения разницы в потерях излучения на преломляющих гранях призм в эталонном ирабочем каналах эталон выполнен в видесочетания двух призм 6 и 7, разделенныхвоздушным промежутком. Призма 6трехгранная полного внутреннего отражения, с тремя рабочими гранями, отражающая грань которой параллельна оптическойоси устройства. Призма 7 - четырехгранная, с двумя рабочими гранями, которые З 0параллельны между собой и параллельнывыходной грани призмы 6. Призмы 6 и 7дополняют друг друга до призмы Дове.Для...

Номер патента: 851209

Опубликовано: 30.07.1981

Авторы: Белевич, Вдовин, Евтехов, Менчев, Островский

МПК: G01N 21/55

Метки: индикатрисспектрального, коэффициента, отраженияполупрозрачных

...потока с помощью зеркал 3, 4 и 6 и линзы 5 попадает на образец 7, который закреплен на нагревателе 8, и далее через линзу 9 и выходное окно 10 проецируется на щель 11 монохроматора. Другая часть светового по 20 тока через диафрагму 2 и световод 13 попадает на датчик 14 опорного сигнала.Так как образец 7 с нагревателем 8, осветительная система 1, 2, 12, 13, 14, 15 и оптическая система 3, 4, 5, 6 жестко связа ны между собой, то измерение индикатрис отражения производится путем поворота образца 7 вокруг своей оси вместе с осветительной и оптической системами относительно линзы 9.Модулятор 12 изготовлен в виде цилинд- З 0 рического стакана с отверстиями в стенках, вращающегося вокруг лампы 1 накаливания. Частота модуляции светового потока...

Номер патента: 855450

Опубликовано: 15.08.1981

Автор: Текучева

МПК: G01N 21/55

Метки: пленки, показателя, преломления

...интенсивность прошедшего через пленку света Эд ; поворачивают фото- приемник на угол 165 ос Ч ( 180 О, затем поворотом исследуемого образца на угол 9 ( Л15 о направляют пучокосвета на фотойриемник и измеряют интенсивность отраженного от пленки света Э, а о действительной р и мнимой ой частях комплексного показателя преломления судят.по соотношениям:У-Т 2+ 2 (-9.К) -Т:обппжц -Айса/где Т:3 с)/Зо - коэффициент пропускания пленки;2: Г - прозрачность пленки;с 6 - натуральный показательпоглощения;д - толщина пленки)Р:3/3 - суммарный коэффициентотражения,Сущность изобретения поясняется чертежом, на котором представлена принципиальная схема устройства для реализации данного способа.Устройство содержит источник света 1, детектор 2 и образец...

Номер патента: 855451

Опубликовано: 15.08.1981

Авторы: Александрова, Панин, Сытников

МПК: G01N 21/55

Метки: пульп, твердой, фазы

...содержащем осветитель, эллиптический отражатель,в одном из фокусов которого располо"жен Фотоприемник, и заслонку, установленную на большой оси эллиптического отражателя между его Фокусами,эллиптический отражатель выполненв виде однородного, герметичного,15 светопроводящего тла, а источниксвета расположен в другом фокусеэллиптического отражателя.На чертеже представлена схемаустройства,2 О Схема содержит источник 1 света,заслонку 2, световод 3, фотоприемник4, источник 5 питания, измерительныйблок 6, трубопровод 7, контролируемую среду 8.В углубления эллиптического све"товода 3, изготовленного, например,из оргстекла, вставляется заслонка2, фотоприемник 4 н источник 1 све"та. Электрические выводы выходятЗО наружу, а углубления...

Номер патента: 922597

Опубликовано: 23.04.1982

Авторы: Либерман, Янкевич

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициента, поглощения

...две интегрирующие сферы, идентичные по геометрическим и фотометрическим параметрам, каждая сфера имеет входное и выходное отверстия и отверстие, в котором установлен Фотоприемник, при этом выходное отверстие первой по ходу излучения сферы конструктивно соцленено с входным отверстием другой сферы, выходное,отверстие которой снабжено средством для крепления образца, а каждый из Фотоприемников подключен к одному из каналов двухканального регистратора, в месте сочленения сфер установлен оптический делитель. На чертеже показана блок-схема устройства.Устройство содержит источник 1 излучения, интегрирующую сферу 2 с фотоприемником 3, подключенным к одному из входов регистратора 4, Интегрирующая сфера 2 имеет входное отверстие 5 и...

Номер патента: 922598

Опубликовано: 23.04.1982

Авторы: Либерман, Янкевич

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициента, поглощения

...который исследуемого приемного элемента 15через предварительный усилитель 4 устанавливается заглушка 19 с покподсоединен к двухканальному регист- рытием, аналогичным покрытию дополратору 5. Каждый из каналов регист- нительнцх сфер. В таком положении ре 46ратора соответственно содержит уси- гистрируется сигнал, пропорциональлитель 6 или 7 и синхронный детектор нцй подаваемой мощности, после чего8 или 9.аналогичная операция проделываетсяНа синхронные детекторы 8 и 9 пос- со второй дополнительной сферой 16.тупают сигналы с соответствующих При убранной заглушке 19 регистридатчиков 10 и 11 опорных сигналов,45руется сигнал нулевого уровня и ручсдвинутцх друг относительно друга кой установки нуля на синхронном депо фазе на 90 и...

Номер патента: 940018

Опубликовано: 30.06.1982

Авторы: Волков, Кошеленко, Паско, Скирда

МПК: G01N 21/55

Метки: двухлучевой, фотометр

...граням светоделителей лежат в одной плоскости, а угол между светодвлмтельными гранями равен у военному углу падения излучения н первый сеетоделитель.1 и 2 даны фунрианты двухлучево3 94001Фотометр содержит источник 1 излучения фотоприемник 2, светоделитель 3, измерительный 4 и контрольный 5 каналы, зеркала 6 и 7, дополнительный светоделитель 8,5Нормали к светоделительным граням светоделителей 3 и 8 лежат в одной плоскости, а угол между светоделительными гранями равен удвоенному углу падения излучения на первый светоде литель.Фотометр работает следующим образом.Излучение от источника 1 поступает на светоделитель 3, и расщепляет ся на два пучка измерительного 4 и контрольного 5 каналов. Отражаясь от зеркал 6 и 7, излучение...

Номер патента: 949432

Опубликовано: 07.08.1982

Авторы: Агафонов, Герчиков

МПК: G01N 21/55

Метки: покрытий, просветляющих

...имеющего несколько поверхностей с просветлением, вычисляют по Формуле 55 гдеЪос,Р- номинальное значение. Фо-,тографической цветности объектива;дфс Эк - допустимые отклонения, 65 После этого при помощи приборарефлексометра, оснащенного тремякорригирующими светофильтрами, приводящими актиничные потоки прибора к значениям пропорциональнымсоответственно Ис 1 ЛИ Й),ФОТ Л)м%у(Л)ТЛ) ф где ФлеА) Жл "юфлкИ)средневзвешенные ординатй фотоактиничных потоков, измеряют зональныекоэффициенты отражения с,р, р изготовленного просветляющего докрытия,по ыэмеренным значениям вычисляютотносительные коэффициенты пропускания изготовленного просветляющегопокрытия по формуле-Р, -р;,с 1-рскфр Вычисленные значения Хс и Хксравнивают с предварительно...

Номер патента: 976353

Опубликовано: 23.11.1982

Авторы: Борисов, Заманский, Чернин

МПК: G01N 21/55

Метки: импульсного, фотолиза

...экспе-,риментах с достаточно инертными реакционными смесями,3 97 635пульсную лампу, ось которой параллельнапродольной оси реактора, зондирующий источник, многоходовую зеркальную системуи приемник, реактор выполнен с центральной цилиндрической полостью, внутрь кото,рой коаксиально помешена импульсная лампа, и многоходовая зеркальная система выполнена в виде двух групп плоских и вогнутых зеркал с равным количеством зеркал.в каждой группе, при этом плоские зеркала расположены с одного торца цилиндрического реактора, . вогнутые зеркала - сдругого торца, а расстояние между последовательно расположенными по ходу лучавыпуклыми и. плоскими зеркалами равно фо-.кусному расстоянию вогйутого зеркала,На фиг. 1 показана принципиальная схема...

Номер патента: 1004824

Опубликовано: 15.03.1983

Авторы: Авдеев, Лебедько, Ялышев

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициента, монохроматору, назад, направлении, отражения, поверхностей, приставка

...входящей в эрезьбой, выполненной насторонах лопастей модукоторых дополнительнозеркальное покрытие.На фиг.1 представлен5 схема приставки; на фигконструктивного исполнегательное двухгранное зеркало 5, осраэец 6, конический модулятор 7,сферическое вогнутое контрэеркало 8, ослабитель 9 потока излучения, под" вижную конусную гайку 10 с внешней резьбой, входящей в зацеплении с резьбой 11, жполненной на внутренних сторонах лоп.стей модулятора или вспомогательных пластин 12, соединенных с ними на котор х дополниРО тельно нанесено зеркальное покрытие :13.Приставка работает следующим образом.Производится балансировка каналов по переменному сигналу с фото приемника (выравнивание потоков) отгра дуированным в относительных делениях пропускания...

Номер патента: 1010523

Опубликовано: 07.04.1983

Авторы: Леус, Шевелева

МПК: G01N 21/55

Метки: водоемов, дистанционного, нефти, пленки, поверхности, толщины

...С помощью первого 2 и второго 3 фотоприемников измеряют соответственно отраженный и рассеянный сигналы хь и у и запоминают их в электронйом реВгистрирующем блоке, Затем посылают луч на контролируемую водную поверхность. С помощью первого 2 и второго 3 фотоприемников измеряют соответственно сигналы хн и ун. Сравнивают сигналы х), и хб а также уН и 1 О уВ.Если сигнал х )хВ, а ун = уэ, это означает, что на водной поверхности обнаружена фтонкаяф нефтяная пленка толщиной менее 10 мкм. По величине отношения хн/хВ судят о толщине 15 пленки, например, используя для интерпретации данных калибровочную зависимость 1 - Й(х/хВ), где "осН толщина плейкй. Если унуВ, на поверхности водоема обнаружена тол стая пленка нефти толщиной более 10 мкм....

Номер патента: 1032375

Опубликовано: 30.07.1983

Авторы: Антропов, Карпухин, Конев, Скуратов

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициента, оптической, отражения, поверхности

...поверхностью под углом 45 О к потоку, регистрации отраженного от светоделителя излучения 11, поворота светоделителя на 180 ф вокруг оси потока и регистрации отраженного от светоделителя излучения в обратном ходе после нормального отражения от исследуемой оптической поверхности. Затем вычисляют коэффициент отражения, причем коэффициентпропускания светоделителя измеряют заранее, например, путем калибровки по эталонному-зеркалу с заранее известным коэффициентом отражения 2. Недостаток известного способа заключается в низкой точности измеяарения. В частности, при несовпадении спектрального состава излучения источника и кривых спектрального пропускания оптического тракта при изменении отражения эталонного зеркала и при изменении...

Номер патента: 1061008

Опубликовано: 15.12.1983

Автор: Шелемин

МПК: G01N 21/55

Метки: дефектоскопии

...чертеже изображена схема, реализующая предлагаемый способ.Способ осуществляется следующимобразом.Исследуемый объект 1 с неоднородностями 2 и 5, расположенными как в 60объеме объекта 1, так и на его поверхности, облучают монохроматическим излучением 3 источника излучения 4, Создают относительное перемещение (со,скоростью Ч ) объекта 1 от носительно источника излучения так, что проекция скорости этого перемещения 1 К на направление распространения облучающего излучения отлична от нуля. Эатем регистрируют синхронно с движением исследуюмого объекта биения между частотой излучения источника ыэ и допплеровски смещенной частотой м + дь провзаимодействовавшего с неоднородностями 5 излучения 3.Регистрацию провзаимодействовавшего с...

Номер патента: 1068783

Опубликовано: 23.01.1984

Авторы: Дыхнилкин, Конашенок, Погорелый, Романова, Шибаров

МПК: G01N 21/55

Метки: зеркального, коэффициента, оптической, отражения, поверхности

...9 и 10, установленные перпендикулярно один другому и под угломо45 к оптической оси каналов, образующие уголковый отражатель, установочная плоскость держателя 11 образ.ца установлена перпендикулярно оптической оси каналов, фотометрические шары 12 и 13, в которые помещены фотоприемники 14 и 15 образующие фотоприемный блок, фотодиоды 16 и 17, установленные непосредственно за 10 диском модулятора 8 напротив лампочек18 и 19 и прорезей в диске соответственно А и В .(С), быстродействующий электронный ключ 20, усилитель 21,аналого-циФровой преобразователь 22,ЭВМ 23, считыватель 24, индикатор(показывающий прибор) 25, элементы16-19 образуют эптроннйе пары.Устройство работает следующим образом. 20Поток излучения от осветителя 1проходит через...

Номер патента: 1092388

Опубликовано: 15.05.1984

Авторы: Даминов, Зимин, Тагиров

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициента, отражения

...способу измерения коэффициента отражения зеркал, заключающемуся в измерении интенсивнос" ти падающего (1) и интенсивности отраженного ( 1) пучков излучения с помощью приемника, вращаемого вокруг оси проходящей через центр участка измеряемой поверхности зеркала и перпендикулярной плоскости падения с последующим вычислением коэффициента 5 отражения, формируют равнояркий в плоскости приемной площадки приемника падающий пучок излучения, превьппающнй по размерам приемную площадку приемника, и при измерении интенсивности отраженного от зеркала пучка излучения А 1 дсполнительно перемещают приемник вдоль оптической оси отраженного пучка излучения на расстояние 6)(, определяемое соотношением-2 хпуК + 2 ха коэффициент отражения К определяютпо...

Номер патента: 1122941

Опубликовано: 07.11.1984

Авторы: Горелик, Ефремов

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициента, отражения, тест-объект

...является повышение точности измерения коэффициентов отражения, меньших 1,8 Х,Указанная цель достигается тем,что согласно способу измерения коэф О фициента отражения, включающему облу-: чение световым потоком тест-объекта с известным коэффициентом отражения,измерение коэффициента отражения тест- объекта, вычисление фотометрической 55 градуировочной поправки по разностИ между известным и измеренным коэффициентами отражения тест-объекта, измерение коэффициента отражения исследуемого объекта и вычисление реального коэффициента отражения исследуемого объекта по измеренному коэффициенту отражения и фотометрической градуировочной поправке, тест-объект облучают линейно поляризованным светом измеряют зависимость коэффициента отражения...

Номер патента: 1144035

Опубликовано: 07.03.1985

Авторы: Бруевич, Глазков

МПК: G01N 21/55

Метки: белизны, покрытий

...спектрофотометра определяют коэффициент отражения подложки в диапазоне видимого света (нри длине волны 400" 750 нм). Затем на подложку краскораспыпителем наносят тонкий слой покрытия (толщиной примерно 10-50 мкм) и тем же Фотометром или спектрофотометром определяют коэффициент отражения покрытия. Микрометром или толщи- номером для тонких немагнитных покрытий измеряют толщину исследуемого покрытия на подложке. После этого на ту же подложку дополнительно наносят покрытие до тех о, пока его толщина не превысит 150 мкм. Проверяют толщину эого слоя покрытия. Затем по Формуле (6) определяют коэффициент х и по формуле (5) рассчитывают белизну покрытия заданной толщины. При использовании изобретения отпадает необходимость измерять коэффициент...