Способ сравнения оптических свойств двух образцов

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКРЕСПУБЛИК 09) (1 ГОСУД АРСПО ДЕЛ ИСАНИЕ РЕТЕНИ АТЕНТ 06 11)Г 1)2203069,ии В 1356049,ОПТИЧЕСКИ ится к опти жет быть ис я разницы обраэцов. ВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(54) СПОСОБ СРАВНЕНИЯСВОЙСТВ ДВУХ ОБРАЗЦОВ(57) Изобретение отноческим измерениям и мпользовано для измеретических свойств двух Цель изобретения - повьппение точности. Используют один или несколькоисточников светового излучения 3-6,а также один приемник светового излучения 7. От обоих образцов 1,2световые лучи одновременно поступают на приемник светового излучения 7.Измеряемые световые лучи от образцов 1,2 имеют различные направленияотносительно образца. Направленияизмеряемых световых лучей от образцов1,2 попеременно чередуются с соответствующей частотой, например с частотой 1 - 1 О 000 Гц. По сигналу переменного тока, вырабатываемому приемником светового излучения 7, судято разнице оптических свойств образцов, например отражающей или пропускающей способностях поверхностиили пленки как функции от направления светового луча. 2 ил.Изобретение относится к оптичес- ким измерениям и может быть использовано для измерения разницы в оптических свойствах двух образцов.Целью изобретения является повьппение точности измерений.На фиг.1 приведен пример реализации способа для измерения неровностей кожи, связанной с местной прыщавостью кожи вследствие аллергических реакций; на фиг.2 - пример реализа-ции способа дляизмерения разницы в мутности двух жидких образцов.Исследуемые образцы ( участки кожи) 1 и 2 (фиг.1), один из которых является эталонным, освещаются источниками 3 - 6 света, в качестве которых используются четыре светоиэлучающих диода (СИД) одинакового цве та, Источники 3 и 4 света освещают кожу перпендикулярно, а 5 и 6 - наклонно. В качестве приемника свето. вого излучения используется один фототранзистор 7, на который подают 25 световые лучи, отраженные от двух исследуемых участков кожи 1 и 2. Элемент 8 управления работает таким образом, что каждый исследуемый участок освещается одним СИД пер пендикулярно и одним СИД наклонно, так, что, когда один СИД освещает один исследуемый участок перпендикулярно, другой исследуемый участок освещается СИДом наклонно. Сигнал переменного тока с фототранзистора 7 поступает на усилитель 9, выпрямляется выпрямителем 10 и измеряется измерителем 11.Коэффициенты отражения исследуе мых участков при перпендикулярных световых лучах обозначены 0и П а при наклонных Я 1 и БСигнал к переменного тока приемника светового излучения пропорционален равенству В(О + 3 )-(Р + 8 ) или 1 2 2 1(0 - Б ) (П - Я ) . 2 2 50Используя обозначенияН=11Н= 0 Я55получаем Величины Н, и Н 2 определяют схемы направлений отражения лучей от образцов. Если схемы направлений от. ражения лучей от образцов различны, то вырабатывается сигнал, который тем больше, чем больше разница в неровности поверхностей.В примере реализации на фиг.2 исследуются два жидких образца и измеряется мутность. Устройство, таким образом, представляет собой дифференциальный нефелометр. Луч света от одного, двух или четырех источников света направляется на образцы. Часть светового луча падает на приемник светового излучения, в отношении сигнала переменного тока которого методика соответствует описанной.Когда используются два или четыре источника света, балансовая регулировка может быть осуществлена автоматически с помощью второго приемника светового излучения. На этот второй приемник оба световых луча различного направления гадают попеременнно с соответствующей частотой с одного образца в каждый момент времени, и получаемый сигнал переменного тока используется для регулировки соотношения между световыми интенсивностями источников света, таким образом, что указанный сигнал переменного тока становится равным нулю еформула изобретенияСпособ сравнения оптических свойств двух образцов, заключающийся в направлении на образцы световых лучей и измерении отраженного от них света, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повьппения точности, на образцы направляют световые лучи, имеющие различные относительно образцов направления, отраженный от образцов свет одновременно регистрируют одним приемником светового излучения, при этом направления измеряемых световых лучей чередуют с частотой 1 - 10000 Гц и по сигналу переменного тока приемника светового излучения судят о разнице оптических свойств образцов.11384218 Составитель Ю. Гриневаедактор В.Бугренкова Техред М.Дидык ектор И,Муска н Зака ираженн тенин-35,4 оизводственн г 357/58ВНИИПИ Государспо делам изобр13035, Москва,847о комитета Си открытийаушская наб. кое предприятие, г.ужгород, ул. Проектная, 4