G01N 21/55 — способность к зеркальному отражению

Номер патента: 1122097

Опубликовано: 30.05.1985

Авторы: Роговцев, Фурвшов, Черсянин

МПК: G01N 21/55

Метки: зеркал, коэффициента, отражения

...отражающейповерхности диэлектрическим образцом6 толщиной д с помощью каретки 8 икривошипно-шатунного механизма 9 соверщает возвратно-поступательное движение с частотой Г, задаваемой электродвигателем 10. Крайние положенияплоского зеркала 7 с диэлектрическимобразцом 6 толщиной д относительнопотока излучения приведены на фиг.2.При этом в первую половину периодамодуляции поток излучения послепрохождения диафрагмы 3 пропускаютчерез образец 6 толщиной И и отражают зеркалом 7. Отраженный потокизлучения вновь пропускают через образец 6. Ослабленный вследствиеотражения от зеркала 7 и двойногопрохождения через образец 6 толщиной д, поток излучения через диафрагму 3 поступает наделитель потока 2.С помощью делителя 2 осуществляютотделение части...

Номер патента: 1167481

Опубликовано: 15.07.1985

Автор: Дубиновский

МПК: G01N 21/55

Метки: зеркального, коэффициента, крупногабаритных, локализированных, отражателей, отражения, поверхности, участков

..., 4,жение точки 11 анализа, а ось 12анализа направлена параллельно осиотражателя,Относительное движение точки ана лиза и следа отраженного пучка наповерхности анализа возможно вдвух режимах: синфазный режимч,=ч х (ц=к, с);у И)у, ц,либо асинхронный режим .аь с отрЧ 7 Чгде Ч - линейная скорость перемеинщения точки анализа;Ч - линейная скорость перемещения следа отраженногопучка;нотр И 1(Ц - текущие координаты следа отротраженного пучка в плоскости анализа;Х (1)у (ц- текущие координаты точки ан ананализа.В синфазном режиме необходимо обеспечить синфазность текущих положений следа отраженного пучка в плоскости анализа и точки анализа. В том режиме выдается инфор-мация о КЗО по всей поверхности отраже.шя без пропусков.В асинхронном...

Номер патента: 1173275

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Муравский, Науменко, Яковенко

МПК: G01N 21/55

Метки: двухлучевых, коэффициентов, отражения, приборах, спектральных

...стойки 6.На подвижных 6 и неподвижных 2 25стойках расположены идентичные поворотные узлы 7, перекрестно соединенные направляющими рычагами 8, изменяющими свою длину благодаря телескопической конструкции. 30Поворотный узел 7 (фиг.З) представляет собой поочередно надетые на стойку 2 или 6 обойму 9 с шариками ведущую шайбу 10, ведомую обойму .11 с шариками, закрепленные с возможностьюпроворота при помощи гайки 12 иконтргайки 13. К ведущей обойме 10 спомощью переходника 14 прикреплен направляющий рычаг 8, а на ведомойобойме 11 укреплен столик 15, на котором находится отражающий элемент 16.Устройство содержит кюветное отделение 17 с входными 18 и 19 и выходными 20 и 21 окнами рабочего иопорного каналов соответственно иотражающие элементы...

Номер патента: 1176219

Опубликовано: 30.08.1985

Авторы: Дрозд, Поперенко, Шайкевич

МПК: G01N 21/55

Метки: рефлектометр

...качества обработки плоских зеркальных по верхностей.Цель изобретения - расюирение диапазона рабочих частот модуля-ции угла падения и упрощение конструкции устройства.На фиг.1 изображена схема рефлектометра; на фиг.2 - то же, вид сбоку.На предметном столике 1 гониометра 2 закреплен электродвигатель 15 3, На.валу электродвигателя закреплены испытуемый образец 4 и дисковый обтюратор 5 с двумя диаметрально противоположными одинаковыми прорезями. Устройство содержит 20 фотодиод 6 и лампочку 7 накаливания в канале формирования опорного сигнала синхронного детектора 8. Фотоприемником 9 регистрируют полезный сигнал. 25Ось 2 вала электродвигателя перпендикулярна оси поворота гониометра 2, пересекает ее и направлена по биссектрисе 1...

Номер патента: 1187030

Опубликовано: 23.10.1985

Автор: Бухштаб

МПК: G01N 21/55

Метки: абсолютных, измерений, фотометрический, шар

...и промышленностиЦель изобретения - повышениеточности измерений путем исключения влияния отверстий независимоот длины волны излучения,10На чертеже изображены фотометрический шар с оптической системой,Формующей излучение,Система включает источник 1 .излу-чения, апертурную диафрагму 2, зеркало 3, а фотометрический шар содержит входное отверстие 4, отверстие с образцом 5, которое отделеноот приемника 6 непрозрачным экраном 7, в свободной поверхности участ 20ка шара 8 выполнено дополнительноеотверстие 9.Устройство работает следующимобразом.Когда зеркало 3 и экран 7 стоят 25в показанном пунктиром положении,свет попадает на участок поверхности шара 8, в котором имеется дополнительное отверстие 9 такого размера, что выполняется следующее...

Номер патента: 1187031

Опубликовано: 23.10.1985

Автор: Авсенев

МПК: G01N 21/55

Метки: абсолютного, коэффициента, отражения

...положениях 1 и 11. Блок 8 зеркал может перемещаться вдоль оси пучка АК или параллельного ему пучка Р 1, например, по направляющим и фиксироваться в заданных положениях 111 и 17. При установке поворотного зеркала 6 и. блока 8 зеркал в положения 1 и 111 длина хода пучка ЛВСР и АС НР и потери за счет отражения на соответствующих зеркалах 5, 9 и 6,10 в обоих каналах будут одинаковы. При установке данных узлов в положения 11 и 1 Ч длина хода пучка АВСПЕСР и АКБАР в обоих каналах также будет одинаковой, а потери на зеркалах остаются без изменения.Устройство действует следующим образом.Параллельный пучоклучей от источника 1 излучения падает на зерка ло 3 разделительной системы 2 и отражаясь от него, направляется в измерительный канал....

Номер патента: 1191786

Опубликовано: 15.11.1985

Авторы: Ефимов, Соболь

МПК: G01N 21/55, G02B 17/04

Метки: коэффициентов, отражения

...19 и выходная 20 грани перпендикулярны к оптической оси пучка. Измеряемая отражающая плоскость исследуемого образца параллельна грани полного внутреннего отражения 9 призмы 3 в системе сравнения.Для создания одинаковых условий работы при введении в пучок призменных систем сравнения или измерительной системы призмы 3, 4, 6 и 7 выполнены из одного и того же материала.Одними из условий работы устройства, особенно в непараллельных пучках (в прак 5 10 15 20 25 30 35 40 45 2тике подавляющее большинство реальных источников излучения имеют непараллельные пучки излучения), являются одинаковая длина оптического пути рабочего пучка в призменных системах сравнения и измерительной при одинаковых потерях при прохождении призменных систем пучком...

Номер патента: 1193542

Опубликовано: 23.11.1985

Авторы: Барская, Лебедев, Семенова, Чернин

МПК: G01N 21/55

Метки: вогнутых, зеркал, рефлектометр

...рекомендуется располагать автоколлимациониое зеркало 6 под зеркалами 8 и 9 или над ними.Рефлектометр работает следующим образом.Свет от источника 1 излучения через входную щель 2 поступает на испытуемое вогнутое зеркало 3, установ-ленное в держателе 4 под некоторым углом к оптической оси. Этот угол устанавливается так, что отраженное от зеркала 3 излучение направляется на автоколлимационное зеркало 6. Поворотом автоколлимационного зеркала 6 вокруг оси 7 добиваются отражения излучения на испытуемое зеркало 3 с небольшим смещением по углу. После второго отражения от испытуемого зеркала 3 излучение направляется в сторону зеркал 8 и 9Перемещая держатель 4 с испытуемым зеркалом 3 вдоль оптической оси, устанавливают расстояние между...

Номер патента: 1193543

Опубликовано: 23.11.1985

Авторы: Буяков, Прудников, Сотников-Южик, Трипуть

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициентов, отражения

...в канале образца на основе рассмотрения балансных уравнений для лучистых потоков.:Ка (ао ЕоЛОБ Ьбцр д1М Результирующий поток в эталонномканале оЛ определяется разностьюагтемператур зачерненной поверхностисферы и приемника излучения, т.е.1015 о К(1 со Еф "ЛатЛсф Л оБр ) ф следовательно, измеряемая величина Л фарЛар 20 На фиг. 1 изображена схема устройства для реализации способа; на.фиг. 2 - измеренные предлагаемымспособом спектры веществ.Охлаждаемый образец 1 расположенв центре сферы 2 диаметром 200 мм,выполненной в виде двух герметичносоединяемых шестью болтами полусфер.Ее внутренняя поверхность покрытачерной краской со степенью чернотыГ = 0,9. Температура сферы поддерживается равной или выше температурыокружающей среды. Система 3...

Номер патента: 1010940

Опубликовано: 07.01.1986

Авторы: Кунина, Лифшиц, Чудаков

МПК: G01N 21/55

Метки: излучения, инфракрасного, лазерного, материалах, поглощения, показателя, прозрачных

...введена система из двух неподвижных и одного подвижного плоских зеркал для коммутации лазерного луча в двух перпендикулярных направлениях относительно предметного столика, а фотоэлектрический полярископ установлен на консоли с возможностью поворота относительно предметного столика.55 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 На чертеже схематично изображено предлагаемое устройство.Устройство состоит из инфракрасного лазера .1 с непрерывной генера- цией излучения (мощность лазера может варьироваться от нескольких ватт до десятка ватт), фокусирующей оптики 2, плоского зеркала 3, установленного с воэможностью поворота относительно двух других плоских зеркал 4 и 5, направляющих лазерное излучение на прозрачный плоский образец 6, расположенный на...

Номер патента: 1210090

Опубликовано: 07.02.1986

Авторы: Донецких, Соболев, Турышев

МПК: G01N 21/55

Метки: абсолютных, коэффициентов, отражения

...падения излучения наисследуемый образец 8, который вовремя измерений коэффициента отражения или пропускания остается неподвижным,15 Устройство работает следующим образомПучок света от источника 1 излучения с помощью светоделителя 2 расщепляется на два пучка (пропущенный 20 и отраженный лучи) и поочередно вовремени с помощью модулятора 3 пропускаетея в опорную и измерительнуюавтоколлимационные системы. В первый момент времени световой пучок по падает в опорную автоколлимавноннуюсистему, где, отразнвшись от неподвижного вогнутого зеркала 5, проходит светоделитель 2 и попадает нафотоприемник 9. Величина выходного ЗО сигнала М, фотоприемника 9 для опорной автаколлимационной системы приэтом равна, М, . К 3( -ьг (,35где- коэффициент...

Номер патента: 1226201

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Казаков, Кузнецов, Лисицын, Путилин

МПК: G01N 21/55

Метки: прочности, соединения

...величина зазора междуконтактирующими поверхностями, с учетом наклонного падения луча,где К - угол падения луча; 9 - длина волны излучения. Ба фиг.изображена блок-схемаустройства, реализующего способ;на фиг, 2 - экспериментальная зависимость, связывающая величинь расро стояниямежду поверхностями вконтакте и прочности р контактногосоединения,Устройство содержит источникмонохроматического когерентного излучения, предметный столик 2, дающийвозможность сканирования зоны контакта, направляющие зеркала 3 и 4,приемник 5 светового излучения, диафрагму б с объективом, нейтральныйЗо светофильтр , измерительный прибор 8.Способ Осуществляется следующимобразом.Световой поток от источникаиз 55 лучения направляется с помощью зеркала 3 на испытуемый...

Номер патента: 1229661

Опубликовано: 07.05.1986

Авторы: Банникова, Герасимова, Макаров

МПК: G01J 3/02, G01N 21/55, G01N 21/59 ...

Метки: коэффициентов, отражения, пропускания, спектральных

...в держателе 7, и на отражатель 8, а затемзеркалом 13 направляется через линзу 14 на приемную систему 15, приэтом сигнал на выходе последней пропорционален 1, , Падающее излучение измеряется при выведенном из пучка образце.ФПри измерении отражения при выведенном из пучка образце излучениезеркалом 3 направляется на отража3 12тель 5, от которого падает на отражатель 8 и зеркалом 13 (положение показано пунктиром) направляется в приемную систему 15 через линзу 14, Приэтом измеряется падающее излучение1, . Затем вводится образец и зеркало 13 разворачивается в положение,показанное на фиг. 3. Луч, отразившись от зеркала 3 и отражателя 5,падает на образец, и отразившись отнего, снова попадает на отражатель 5;от которого направляется на...

Номер патента: 1260776

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Слободкин, Флякс

МПК: G01N 21/55

Метки: отражательной, способности

...сферы,внутренняя поверхность его покрытадиффузно-отражающим покрытием, Штокб служит для передачи вращения отэлектродвигателя (не показан) к кассете или держателю. При нагреве(при охлаждении) образца кондуктивным путем со стороны обратной визируемой конструктивно предпочтительнее вращать кассету с излучателями.В этом случае держатель монтируетсяна стойке 7, в теле которой размещается нагреватель или движется охладитель. В случае лазерного нагрева(через окно 8) или измерениях прикомнатной температуре удобней схемас вращаюшимся образцом и неподвижнойкассетой. Для этого шток и кассета.разъединяются, стока 7 убирается идержатель крепится к штоку. Возможнытакже более простые варианты устройства, в которых один из элементов:кассета или...

Номер патента: 1286963

Опубликовано: 30.01.1987

Авторы: Ефимов, Соболь

МПК: G01N 21/55

Метки: абсолютного, зеркала, коэффициента, отражения

...фотосигна 1 1лов 1, 1 и 1Пусть падающий на светоделитель 3 пучок излучения обладает энергией, способной вызывать на приемнике излучения фотосигнал 1Тогда можно написатьно использовать некалиброванные зеркала с неизвестным коэффициентом отражения.При измерениях предлагаемым способом устраняется погрешность, получа ющаяся за счет переворачивания изоб- . ражения пучка излучения на приемной площадке приемника излучения, которая может достигать нескольких процентов.10Формула изобретения1. Способ измерения абсолютного коэффициента отражения зеркала, заключающийся в том, что пучок излучения источника делят на два пучка, образующих канал сравнения и измерительный канал, измеряют величину сигнала 1 п, перекрывая канал сравнения, 20 измеряют...

Номер патента: 1286964

Опубликовано: 30.01.1987

Автор: Шапиро

МПК: G01N 21/55

Метки: веществ, коэффициента, мера, отражения, сыпучих

...частиц могут быть использованы различные частицы или их смеси, что обеспечивает воспроизведение коэффициента отражения меры в широком диапазоне. Составитель Г.Коломейцев Редактор Е.Копча Техред Л.Олейник Корректор М.ДемчикЗаказ 7706/43 Тираж 776 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 ФПроизводственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к изготовлению мер и эталонов, применяемых в измерительной технике, а именно при контроле оптических характеристик мелкодисперсных частиц, например катализаторов, цементов.Цель изобретения - повышение точности и стабильности коэффициента отражения за счет обеспечения стабильности...

Номер патента: 1286965

Опубликовано: 30.01.1987

Авторы: Гасило, Долгов, Стрежекуров, Стрежекурова

МПК: G01N 21/55

Метки: отражательной, способности

...диапазоне инфракрасных длин и волн и получить хорошую согласованность с оптической системой устройства. В качестве приемников излучения использованы мультиспектральные РЬБ х Бр,и РЬ Б , -Б инфракрасные фото- диоды спектральные характеристики которых согласованы с матрицей 2 излучающих диодов. Для уменьшения потерь излучения при выходе иэ торца осветительного жгута волоконного световода последний имеет конусное углубление 8, образующее на всех торцах каждого излучающего волокна угол Брюстера, при котором потери на внутреннее отражение минимальны (фиг, 2). Для более полного улавливания и уменьшения потерь всей отра-женной энергии излучателя измерительный жгут волоконного световода имеет поверхность, где торец каждого волокна имеет также...

Номер патента: 1288559

Опубликовано: 07.02.1987

Авторы: Довгий, Китык

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициента, области, отражения, спектра, ультрафиолетовой

...отражения твердых тел в ультрафиолетовой области спектра.Цель изобретения - повышение точности измерений и расширение спектрального диапазона измерения коэффициентов отражения.На фиг. 1 представлена принципиальная схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 - спектры отражения эталоновСИЛ ,СЙВг и исследуемого образца.Устройство состоит из источника 1 света, модулятора 2 с гнездами 3, фотоприемника 4 и регистратора 5.Устройство работает следующим образом.Луч от источника 1 света, монохроматизированный с помощью дифракционного монохроматора (не показан), попадает на вращающийся диск модулятоРа, расположенный по отношению оси таким образом, чтобы поочередно отраженный от двух эталонов и образца, размещенных в гнездах 3, он всегда попадал в...

Номер патента: 1307314

Опубликовано: 30.04.1987

Авторы: Вакив, Кушнир, Шпотюк

МПК: G01N 21/55

Метки: зеркального, коэффициента, отражения

...луч,сканируя пространство многократныхотражений, каядый раз отражаетсятолько от центрапьной части каждогорегистрирующего элемента фотодетектора, Это предполагает выполнениенекоторого геометрического соотношения между элементами оптической ахеОптимальный режим работы устройства соответствует коэффициенту отражения рабочей поверхности каядого фотоэлемента К=50%. При этом элемент регистрирует половину падающего нанего светового потока, а вторая половина направляется на исследуемуюповерхность, Такая отражающая способность может быть достигнута при высоком классе обработки рабочей поверхности или путем применения металлических отражающихпокрытий.Нижний предел отражающей способностиК определяется условиями и качеством обработки...

Номер патента: 1307331

Опубликовано: 30.04.1987

Авторы: Вакив, Кушнир, Шпотюк

МПК: G01N 21/55

Метки: зеркального, коэффициента, отражения

...и оптические квантовые генераторы. Параллельностьвходного светового потока достигает-. 25ся при помощи коллимирующей системы2, установленной после источника 1излучения, Входная щель 3 обеспечивает выделение из суммарного пучканеобходимой величины светового потока и с этой целью выполнена с возможностью регулирования,Конструктивная реализация фотодетектора 4 показана схематически вразрезе на фиг.2, К металлическомуоснованию 6, служащему одним общимэлектродом, припаивается пластинка 7монокристалла кремния и-типа. Наружная поверхность пластинки покрывается защитным слоем 8 81.02, в котором щдля осуществления частичного отражения светового луча от внешней поверх-ности элемента протравливаются сквозные окна. Прогрев заготовки в атмосфере...

Номер патента: 1318863

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Андреев, Рукман, Шелемин

МПК: G01N 21/55

Метки: изменения, объекта, параметров, поверхности

...на поверхности 2 систему 7 полос 8 излучения с распределением плотности мощности Б по гармоническому закону поперек оси полосы. Перемещают систему 7 полос 8 в направлении, перпендикулярном осям полос 8.Затем регистрируют в процессе пе. ремещения полос смещение Ьх центра полосы и амплитуду основной волны Б, по величинам которых судят об изменении температуропроводности на участках поверхности объекта 1.При синусоидальном распределении плотности мощности в направлении поперек полос перемещения этой картины по объекту со скоростью Ч и при выполнении условия 45 где а - среднее значение температуропроводности;Ь(а) - локальное отклонение температуропроводности от средней (при условии его малости) величины;Ьх - величина смещения центра...

Номер патента: 1325332

Опубликовано: 23.07.1987

Авторы: Адушев, Косицин, Михайлов, Наумов, Рахлина, Суровой, Турова

МПК: G01N 21/55

Метки: вакууме, отражения, спектров

...вво" да излучения из области ультрафиолетовой и области вакуумного ультрафиолета соответственно. Источником ультрафиолетового излучения является дуговая ксеноновая сферически шаровая лампа ДКСБ 1-1000, а в качестве 4 п источника вакуумного ультрафиолета применяется водородная лампа. Измерительная камера имеет также канал 12 для ввода подвижного термозлемента 13, предназначенного для иэмеренйя 45 интенсивности падающего на образец излучения с помощью датчика 14,соединенного с термоэлементоМ двумя токовводами 15. Термоэлемент размещается на направляющей спице 16, впа р янной в стенку измерительной камеры, перемещается по направляющей спице с помощью магнита 17 и может фиксироваться в точке пересечения осей оптических каналов 8 и 9....

Номер патента: 1350490

Опубликовано: 07.11.1987

Авторы: Лахтанов, Пиотровская, Чуров

МПК: G01B 11/06, G01N 21/55

Метки: водоемов, дистанционного, нефти, пленки, поверхности, толщины

...своей оптичес кой оси и фиксации в двух положениях, когда его плоскость пропускания параллельна и перпендикулярна плоскости пропускания поляризатора 2, электронный регистрирующий блок б и вынос0 ную стрелу 7, которая расположена в носовой части судна над невозмущенной судном водной поверхностью.Устройство работает следующим образом. 55Свет от источника 1 модулированного оптического излучения через поляризатор 2 направляют на чистую водную поверхность. С помощью первого фото В == - - ВУн У Е.н еуниПри В н = В в (т.е. при равенствеконцентраций взвешенных веществ вповерхностном слое воды на участкахводоема с чистой и контролируемойводной поверхностью) на поверхностиводоема находится толстая" пленканефти толщиной более 10 мкм. В этомслучае о...

Номер патента: 1354073

Опубликовано: 23.11.1987

Авторы: Городецкий, Клемин, Кропоткин, Пчелкин, Харитонов

МПК: G01N 21/55

Метки: водной, дистанционного, нефтепродуктов, обнаружения, пленок, поверхности

...анализатор амплитуды. В оптической области спектра коэффициент отражения излучения от пленки нефтепродуктов примерно в два раза35 больше, чем от чистой воды, поэтому и электрический сигнал от пленки нефтепродуктов по амплитуде вдвое больше, чем от чистой воды, В аналоговой памяти анализатора записана величина А, равная амплитуде сигнала, полученного при отражении от чистой воды. Если амплитуда анализируемого сигнала А =А, что соответствует отсутствию пленки, дальнейший анализ сигнала А45 не производится, а регистратор 7 устанавливается в состояние, сигнализирующее, что зондируется поверхность чистой воды, Если амплитуда сигнала А ъ аА, где а - коэффициент, определяющий порог чувствительности анализатора амплитуды, подбирается...

Номер патента: 1364961

Опубликовано: 07.01.1988

Авторы: Евкин, Кузнецов, Тендитный

МПК: G01N 21/55

Метки: исследования, окрашивания, покрытий, радиационного

...фотоприемном устройстве 8, проходит через управляемый делитель 15 напряжения и усиливается в линейномусилителе 16. Усиленный сигнал поступает в коммутатор 17, который направляет сигналы либо в канал сравнения, либо в измерительный канал, Управление коммутатором осуществляется сигналами с датчика 10 положения светового луча, совмещенного со сканирующим зеркалом. Датчик расположен таким образом, что включение коммутатора осуществляется после окончанияпереходного процесса, вызванного конечными размерами входной щели сферы. Импульсы, выделяющиеся на первом выходе коммутатора, заряжают запоминающий конденсатор, установленный напервом входе схемы 18 сравнения до напряжения, деиствующего в момент нахождения светового луча на поверхности...

Номер патента: 1368730

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Барская, Воробьев, Лебедев, Семенова, Чернин

МПК: G01N 21/55

Метки: многоходовой, рефлектометр

...вместе с соединенными с ним элементами рефлектометра (направляющими 8 и держателем 9 с плоским зеркалом 1 О) устанавливается так, чтобы передний фокус измеряемого зер. кала Р был сопряжен с задним фокусом Рг второго объектива 5 телескопической системы. При этом измеряемое зеркало 4.1 расположено после изображения источника излучения (на фиг.1 и 2 это положение показано сплошными линиями). После отражения от измеряемого зеркала 4.1 коллимированный поток излучения аправляется на плоское зеркало 10, установленное в поворотном держателе 9 на направляющих 8. Шарнир 7 позволяет повернуть направляющую так, чтобы захватить весь поток излучения зеркалом 10.Зеркало 1 О поворотом в держателе 9 устанавливается под углом, близкимок 90, к этому...

Номер патента: 1368731

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Трипунов, Федоров

МПК: G01N 21/55, G01N 33/28

Метки: лаковой, масел, моторных, нанесения, пленки, поверхность, полированную, рабочую

...оттуда - на нагретую до определенной температуры полированную рабочую поверхность 4 датчика 2, Специальная конструкция лопастей 8 поддерживает постоянный зазор между ними и поверхностью датчика 2. Этот зазор позволяет равномерно наносить на 68731 2поверхность датчика тонкий слой масла. Излишки масла остаются в емкости.Таким образом, во время работыприбора на рабочую поверхность датчи" ка с постоянной скоростью наносится новый тонкий слой масла, который под воздействием высокой температуры поверхности и кислорода воздуха интен сивно окисляется, образуя лаковуюпленку.Качество нанесения лаковой пленкиповышено эа счет радиального равномерного распределения количества лака по поверхности датчика и постоянного зазора между рабочей поверхностью...

Номер патента: 1368732

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Моисеев, Потапов

МПК: G01N 21/55

Метки: выходного, коэффициента, отражения, световода, торца

...спектры суммы отраженныхсигналов на выходе фотоприемника призначении К = 0,04; на фиг. 3 - то же,при К = 0,99,Блок-схема устройства для реализации предлагаемого способа (фиг. 1)содержит источник 1 оптического излучения, импульсный модулятор 2, волоконный направленный ответвитель 3оптического излучения, световод 4,эталонную поверхность 5, фотоприемник 6, селективные микровольтметры7 и 8, измеритель 9 отношения сигналов, причем источник 1 оптическогоизлучения через направленный ответвитель 3 оптически связан с эталонной отражающей поверхностью 5, свето.водом 4 и входом фотоприемника 6, квыходу фотоприемника 6 подключеныдва селективных микровольтметра 7 и8, выходы которых соединены с измерителем 9 отношения сигналов, импульсный модулятор 2...

Номер патента: 1370531

Опубликовано: 30.01.1988

Авторы: Путилин, Старовойтов

МПК: G01N 21/55

Метки: лучевой, оптического, покрытия, прочности

...(пропусканию)образца;1 э - фототок, пропорциональныйотражению (пропусканию)эталона;1 т - темновой ток фотоумножителя;КЭ, ТЭ - коэффициенты отражения ипропускания эталона.По спектральным зависимостям К , Т выбирают для дальнейших измерений ярко выраженные соответствующие экстремумы отражения и пропускания.Изменяя длину волны определяемого монохроматором светового потока, определяют их положение в шкале длинэксТР экстрволн Я Л, и находят ЭксТР- т 1т экстрвеличину с/Л Для увеличения точности определения ЭкстрЭкстрмуле Л можно вычислить по фор 2 Д Нгде и Л+М э1 скания В других зонах покрытия измерения дЯ проводятся аналогично. При наличии поглощения экстремумы отражения и пропускания в шкале длин волн сдвигаются друг...

Номер патента: 1316388

Опубликовано: 15.03.1988

Авторы: Киреенко, Лысенко, Лысюк, Михайлюк, Тверитнев

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициентов, отражения

...фотоприемное устройство 8, выходной. сигнал которого равен: Бг = 1,2 В К, где Е - коэффициент отражения измеряемого объекта.При первом измерении второго цикла измерений подвижное зеркало 3 переводится в положение, показанное пунктиром, а зеркало оптического коммутатора 6 - в положение, показанное сплошной линией, и поворачивается.нао180, чтобы условия отражения от коммутатора в обоих циклах были идентичны (Фиг.1). Излучение источника 1, промодулированное модулятором 2, отражаясь от элементом схемы 3, 5, 6, 7, поступает на фотоприемное устройство 8. После перемещения зеркала 3 и поворота относительного коммутатоора б на 180 есть время на устранение возможной разъюстировки оптической системы, потому что допускается уход параметров...