Патенты с меткой «рефракции»

Номер патента: 120938

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Васильев

МПК: G02C 7/02

Метки: далеких, линз, наблюдения, очковых, предметов, прибор, рефракции

...выходит из глаза, проходит коррегирующую линзу 4, и если последняя коррегирует глаз для наблюдения на бесконечность, то отраженный от некоторой точки сетчатки свет выйдет из линзы 4 параллельным пучком, пройдет через полупрозрачное зеркало 3 и призму Б, направляющую лучи в объектив б наблюдательной системы. Передняя фокальная плоскость объектива б совмещена со зрачком испытуемого глаза, Параллельный пучок лучей собирается объективом б в его задней фокальной плоскости, в которой расположена, перпендикулярная плоскости чертежа раздвижная щель 7,Непосредственно за щелью расположена телескопическая система, состоящая из объектива 8, сетки 9 и окуляра 10, Задняя фокальная плоскость объектива 8 совмещена с плоскостью штрихов сетки 9, с...

Номер патента: 122628

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Инюшин, Коломийцев, Фролов

МПК: G01M 11/02

Метки: вершинной, линз, неастигматических, очковых, прибор, рефракции, способа, этого

...к кресту диафрагмы И, так, как это показано на фиг. 2 а. При этом на фотоэлемент свет не попадает. При вращении диска с линзами иэображение креста диафрагмы 5 перемещается В направлении стрелки и в некоторый момент времени достигает положения, показанного на фиг. 26. При этом на фотоэлемент 15 попадает свотовой поток от горизонтальной линии креста диафрагмы 5, Если отклонение дноприйности линзы 8 лежит в пределах допуска, то этот поток гроко. дит через горизонтальную щель креста диафрагмы И почти полностью и усиленный усилителем фототок заставляет сработать первое реле, которое выключает вращение диска с линзами и включает радиальное перемещение диска. Это перемещение вызывает смещение изображения креста диафрагмыв направлении,...

Номер патента: 139854

Опубликовано: 01.01.1961

Автор: Васильев

МПК: G02B 27/32

Метки: далеких, линз, наблюдения, очковых, предметов, прибор, рефракции

...ЕСКЦП( ОЧКОВОИ ЛИ 133 Ы ДЛ 5 ЭТИХ ПсПав,СРПП, Д.151 ЧЕГО П)ОИЗВОД 5 т СКИЗСКОПИРОВЗПИС П)13 )ЗЗНЫХ ПО,ОКСП 1 ЯХ ОСП с БсЦСПП 5) ПОЛУП)03)ссНОГО ЗСРкс- и опеделя 0 (:.ечения Глаза, пмсОШис паиоо,ьпую и памепьпуО рефракци 10, про 330,151 с по)Опью указатсг 151 1Отсчс г ИО кругово 3 пклле 1.ПИ Сис)СКОПРРО 3 снПР. ПО 30 сЧИ 3 с 51 ПОЛУП 0;3 сРОС 3(ГРксГОВОКРУГ ОСИ Г, ПЗОЛЮ;ЗЮ СКИЗСКОПИЧЕСКУ 0 КЗРТИПУ И, УСТЗПОВПБ ПСРСД ИСПЫТУЕ."Ы( ГЛЗЗО)1;1 ППЗУ 3, С КОТОР 01 СКРЗСКОПИЧЕСК 253 КсРГИПс НЗП. болсс близка е скп ас 3(опичс ско."у свповссп юОои ксОтс 51 пс)слсчнс 0 перемен(ения шел с тслескописскОЙ сисГемоЙ.РзобракспРс зрачка псЫгусмоголаза совмсцсно с Лоскостью сеткР 9, з Рзобрскение сстчаткп пп скизскописскОМ ЗБПОВ(спи плоскостью щслн...

Номер патента: 251861

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Гких, Диков, Кирюхин, Палагута

МПК: G01M 11/02

Метки: вершинной, линз, неастигматических, прибор, рефракции

...величину вершинной рефракции проверяемой линзы.Марка 2 (см, фиг, 2)вьвполненная в виде креста, образованного рядом точек и сплошных боковых линий В, В, С, С, Д, Д, Е, Е, параллельных вертикальной линии креста и обозначающих верхние, границы допустимых отклонений, устанавливается наклонно, например, под углом в 45 к оптической оси прибора.Когда линия А креста установлена в плоскости А (см. фиг. 1), соответствующей номинальной рефракции, линии В, В, С, С, Д, Д, Е, Е, благодаря наклону марки, лежат в плоскостях, которые соответствуют рефракции, отличающейся,от номинальной на величину допустимого отклонения. Если проверяемая лин. за имеет рефракцию, равную нохтиналу, то средняя линия Л резко видна при наблюдении/у в аэ ОФ Оее иг. 2...

Номер патента: 255608

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Инюшин, Степанов

МПК: G01M 11/02

Метки: вершинной, прибор, рефракции

...крестообразной диафрагмы 12.В начальный момент времени линза 13 смещена с оптической оси прибора, и изображение 23 перекрестия диафрагмы 11 занимает положение, показанное на фиг. 2, а. При движении линзы изображение 23 перемещается в направлении, показанном стрелкой на фиг, 2,а. В тот момент, когда его горизонтальная линия совмещается с параллельной ей прорезью крестообразяой диафрагмы 12 (см. фиг. 2,б), на фотоприемник 14 падает свет, Величина светового потока, регистрируемая фотоприемником, зависит от расфокусировки светящейся марки. Если линза по диоптрийности соответствует номинальному значению, то величина этого светового потока максимальная,Светоделительная пластинка 5 направляет часть светового потока на фотоприемник 15,...

Номер патента: 354293

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Бакланов, Бобрышеп, Каретников, Кравченко, Устименко

МПК: G01R 31/00, H01P 7/06

Метки: коэффициента, рефракции

...подведен к отверстгпо встенке резонатора.Устройство представлено на чертеже. За счет перемещения конусов меняется рабочий объем резонатора в широких пределах и осуществляется перестройка резонатора,Резонатор фактически представляет собой конусообразный переход от одного сечения цилиндрической трубы к другой, Такой переход устраняет турбулентность при движении газового потока и позволяет при прочих равных условиях получить собственну ю добротность резонатора более чем в два раза превышающую теоретически возможную для закрытых резонаторов. Устройство может обеспечить измерение коэффициента рефракции с точностью до восьмого знака и выше после запятой. езонатоольныйбоковой Предм зобретени Устройство для ирефракции, выполне20 ского...

Номер патента: 398817

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Прнлепнн

МПК: G01C 1/00, G01N 21/45

Метки: вертикального, влияния, рефракции, угла, учетом

...точке собираются приемной оптической системой э 15 ц 1)Охусцру 10 тс На фцксироаннОЙ диафрагме 6, после которой установлено устройство для счета ч)сла интерферецццоцных полос.Свгтоделцтельное устройство 2 может бытьвыполнено, например, в виде единого блока 20 (см. фцг. 2), вклцочающего лазер 3, призм ),отражающие зеркала 9, 9, и рассеивающие линзы 10 и 10.Для определения вертикального угла, свободного от влияния рефракции, выполняют цз 2 в меренце вертикального угла теодолитом и измерение разности оптических путей световых потоков двух вторичных когереитных источников после цх перемещения из точек 1,1 в точки 22 (см. фиг. 3).Перемещение источников цзлу-2 РУО - У 02 Ь - длина базы между вторичными псточиками излучения;Ы в разнос...

Номер патента: 424007

Опубликовано: 15.04.1974

Автор: Вшивное

МПК: G01C 1/00

Метки: влияния, исключения, рефракции

...пути визирного луча с условием, с;тобы резул.тиэ, 10 щсе Отклонсиис Бизи(риого л) ча От ирямОЙ источ 1 ис-и)исмник эазнялось НУЛЕО. 15ГЕМОНОХРОМсТИЧЕССИ СВСт От ИотОЧНИКа ИЗ- лучения, на ОторыЙ ироизВОХ 51 т Визирование, проходит систему зеркал- 4 п попадает па фокальную плоскость окуляра. Бслс,сБис дисперсии 1303 дупп 00 сг 10 я В этОЙ плоссосГи 2 наблюдается ряд систем иитерфсрсиционных ИОЛОС, СООГБЕТСБУоптИХ РсЗНЫДЛИНЯМ 130 ЛИ.5 рСИЕ ИуЛЕВЫС )1 с(КСИМуМЫ ЭТИХ СИСГСЭ СМС- щепы па угловое расстояние, равное дпсЮрсио 5 НОЙ эазпоси О)еделенных длин Волн. 25 ЕСЛИ ПЛЛСТИНЫ 6 ИСТРОГО ПсРсЛЛСЛ ИЫ, ПрИЗс 2 5 НЕ ИЗСИЯЕТ Нанр 2 ВЛЕИИ 5 ЛуЧСЙ.При придании вращением пластины 7 пското- )ОГО ИРСЛОЭЛЯЮЩЕГО УГЛ 2 ХРОМ ЛТИЗМ ВОЗДУБЦ ного слоя...

Номер патента: 428206

Опубликовано: 15.05.1974

Авторы: Аэрофотосъемки, Затравкин, Московский, Прилепин, Свешникова

МПК: G01C 1/00, G01N 21/45

Метки: вертикальных, влияния, коррекцией, рефракции, углов

...приемника в соответствии с принципом Ферма может быть выражен формулой1 о(51) О = ) и, с 15 О, (1)огдеи - текущее значение показателя преломления вдоль траектории;ыо - дифференциал дуги траектории, В атмосфере при геодезических измерениях направление касазельной к траектории в любой точке отличается от направления хорды 5, весьма незначительно (3 - 5 мин дуги).В связи с этим дифференциал дуги сс 5 О траектории с пренебрегаемой погрешностью может быть заменен дифференциалом д 5 хорды и интегрирование выполнено по хорде в пределах 0 - 51, т. е. можно вместо формулы (1) написать:(51) О =и с 15 (2)оАналогично, для верхнего луча 1 А запишем:3,(51)О =и с 15 (3)огде и, - текущее значение показателя преломления по лучу 1 А.Для разности...

Номер патента: 475150

Опубликовано: 30.06.1975

Авторы: Волков, Парпаров

МПК: A61B 3/028, A61F 9/00

Метки: клинической, рефракции

...с помощью рефр актометр а.С целью получения характеристики рефракции в динамике записывают эргографические кривые вдаль и вблизь, по которым определяют средний уровень зоны покоя аккомодации.Для определения клинической рефракции проводят одновременную запись эргографических кривых работы аккомодации вдаль и вблизь при циклоплегии,При этом оптическая установка глаза при напряжении аккомодации вдаль и при напряжении остаточной положительной аккомодации характеризуется эргографической кривой, записанной по известному методу.В пространстве между кривыми тест-объект виден без существенного напряжения аккомодации, это пространство является зоной относительного покоя аккомодации (динамическое равновесие).Средний уровень этой зоны...

Номер патента: 543910

Опубликовано: 25.01.1977

Автор: Владимирова

МПК: G02B 27/30

Метки: вершинной, линз, очковых, рефракции

...плоскости эбьектива 9, эсвещаются источником 2. Светэвой пучок отражается эт светоделительнэй поверхностиэлемента 10, прэхэдит объектив 9, собирается эбьективом 6 в его фокальной плэскэсти и эбразует на центральной части зеркала 5 уменьшеннэе изображение марки13, Отраженный эт зеркала пучок еще разпроходит эбьективы 6 и 9, элемент 10 иэбразует в плоскости сетки 11 автэколлимационное изобракение марки 13. Такимобразом, в поле зрения устройства одновременно наблюдаются два изэбражения -изображение марки "Аф, полученное в проходящем свете, и автокэллимационнэе изэбражение марки 13, При устан,вке контролируемой линзы 8 в зависимэсти эт знака ее рефракции пучок лучей, падающийна эбьектив 9, станэвится схэдящимсяили расхэдящимся, а изэбражение...

Номер патента: 566131

Опубликовано: 25.07.1977

Автор: Вшивков

МПК: G01C 1/00

Метки: визировании, компенсации, рефракции

...материала, причем толшину этой пластины выбирают такой, чтобыразность хода обыкновенного и необыкновенного лучей длшшоволиового излученияпосле обеих пластин была равна числу полуволн коротковолнового излучения, 25На чертеже изображена схема предлагаемого устройства,На чертеже приняты следующие обозначения: 1 - коротковолновый источник излучения, 2 - длиииоволиовый источник из- З 0лучеиия, 3дополнительная пластина, 4 поляризатор, 5 - подвижная пластина, 6 неподвижная пластина, 7 - анализатор, 8 объектив измерительного инструмента, 9 устройство для наклона пластины, 10 - заполиение, 11 - объективный фотометр,Устройство работает следующим образом,Устройство ориентируют так, чтобы осьвращения подвижной пластины 5 была перпендикулярна...

Номер патента: 659942

Опубликовано: 30.04.1979

Авторы: Прилепин, Шануров

МПК: G01N 21/46

Метки: астрономической, дисперсионный, рефракции

...квадрирования сигналы сравнивают, т, е, производят сравнение по квадрату мощности сигналов на входе детекторов. Результат сравнения непрерывно регистрируют, а значение дисцсрсионного угла определяют многократно по разностям моментов достижени 5 равенства квадратов моцностей сигналов. У 1 лоцоц масштаб записи результатов определяют по частотам гетеродинов, промежуточной частоте и расстоянию между детекторами,Рса,1 изация данного спосооа мо 51 сет Оыть осуществлена с помощью фотоэлестри 1 еского пнтсрферометра,На чертеже представлена схсма, цояеця 1 ощая данный способ измерения.Пусть излучение источника 1 содержит сигналы с частотами в и со (сй) о 1), "мплцтудамц 1. и Е, и начальными фазамц Ф, и Ф. Сигналы принимают двумя квадратичными...

Номер патента: 661486

Опубликовано: 05.05.1979

Авторы: Владимирова, Гальперн, Крючкова, Кучерявый, Орлов, Полтырева, Розенберг

МПК: G02B 27/00

Метки: вершинной, линз, очковых, рефракции

...резкиеизображения обеих марок. Для марок типапоказанных на фиг. 2 а, состоя 1 цих из прозрачных отверстий двух диаметров, светящиеся точки 0 являются изображениямиотверстий малого диаметра марки 4, а точки О - изображениями отверстий марки 5,Для марки, показанной на фиг. 2 б, 1 -йзображения прозрачных штрихов марки 4,а 41 - изображения штрихов марки 5.При установке контролируемой линзы 9на позицию контроля, пучок, падающий насистему 7, становится сходящимся или расходящимся (в зависимости от рефракцииочковой линзы), а наблюдаемые изображения марок 4 и 5 - нерезкими. Пластины смарками соединяют друг с другом и перемещением вдоль оси системы одновременнообеих марок вновь добиваются их резкогоизображения в поле зрения устройства....

Номер патента: 739384

Опубликовано: 05.06.1980

Авторы: Барышников, Плюснин, Шапиро

МПК: G01N 21/46

Метки: атмосферной, рефракции

...обведен пунктирной линией), содержащий схему сравнения 8, схему 9 питания шагового двигателя, шаговый двигатель 10 и схему 11 счета числа дискретов, а также регистрирующий прибор 12.Устройство работает следующим образом. Случайная рефракция светового пучка при его распространении в атмосфере приво" дит к малым поперечным перемещениям светового пятна в фокальной плоскости приемного объектива 4, После преобразования в анализаторе 5 положения светового пучка и в фотоприемнике 6 соответствующий этим перемещениям электрический сигнал усиливается и синхройно детектируется усилителем 7 (опорный сигнал поступает с анализатора 5). Продетектированный сигнал поступает на регистрирующий прибор 12; в ка 4 честве которого может служить любой вольт...

Номер патента: 787890

Опубликовано: 15.12.1980

Авторы: Ловков, Овечкин, Ревтович

МПК: G01B 9/021

Метки: аксиально, изменения, рефракции, симметричных, сред

...интерференционной картины исследуемой среды состоит (фиг. 2) 50 из невозмущенной 7 и возмущенной 8 частей. Для обеспечения проведения измерений на экран регистратора наноСится ось А-А симметрий исследуемой среды, а сечение В-В, вдоль кото рого производятся измерения, отмечается на экране регистратора, перпендикулярно оси симметрии.При любой настройке интерференционной картины исследуемой среды в 60 возмущенной ее части существует точка или несколько точек, для которых выполняется условиеЕу = 5)П 8 (1-Со 5 о ) +66) где Е - компоненты вектора рефрак=ции вдоль сечения, перпендикулярного оси симметрииисследуемой среды;9 - угол голографирования зафиксированной голограммы;Ь с) - разность углов голографирования зафиксированной голограммы и...

Номер патента: 792102

Опубликовано: 30.12.1980

Автор: Сушков

МПК: G01N 21/41

Метки: атмосферной, рефракции, угловой

...ираж 1019 Подписно терференционных полос с другой длиной волны так, чтобы фиксация интерференционных полос на нуль-индикато- ре, образованных излучениями с различными длинами волн, происходила в противофазе,Приемное устройство дан.- ного рефрактометра содержит оптическуюколлимирующую систему 8, трехэеркальный элемент 9,. поляроид 10, кристаллическую пластину 11, устройство поворота плоскости поляризации 12, выполненное, например, иэ кристаллического кварца, кристаллическую пластину (компенсатор) 13 с поворотным отсчетным устройством, поляризационный модулятор-анализатор 14, фотоприемник 15, усилитель 16, синхронный детектор 17, источник напряжения 18, нуль-индикаторы 19,20.Работа устройства осуществляется следующим образом.Световые...

Номер патента: 792105

Опубликовано: 30.12.1980

Авторы: Лебедевич, Манов, Ямнов

МПК: G01N 21/41

Метки: газов, исследования, комплексного, рефракции, сжимаемости

...в интерферометре и соединенная одним из пьеэометров, а пьеэометры выполнены беэоптических окон и установлены внеинтерферометра.На чертеже изображено предлагаемое устройство,Устройство содержит термостатируемые пьеэометры 1 и 2, кювету 3, соединенную с пьезометром 1 и установленную в интерферометре 4. Пьеэометры соединены через вентили 5, Чьеэометры и кювета помещены в термостат б.Для измерения пьезометр 1 и кювета 3 заполняются исследуемым газом.Измеряется давление, температура икоэффициент преломления газа. Пьезометр 2 вакуумируется, Затем осуществляется перепуск газа из пьезометра1 в пьезометр 2, проводится замердавления, температуры и коэффициента преломления, Пьеэометр 2 вакуумируется. Производится перепуск газаиз пьеэометра 1 в...

Номер патента: 972294

Опубликовано: 07.11.1982

Авторы: Жилкин, Колесник, Крылов, Таран

МПК: G01M 11/02

Метки: вершинной, задней, линз, очковых, рефракции

...= - - 1,= ооогде Р - фокусное расстояние объектива колли матора;Р - задняя вершинная рефракция (оптическая сила).Измерение величины задней вершинной рефракции очковых линз осуществляется после их центрировки, которая выполняется следующим образом. Линзу, рефракция которой ориентировочно известна, устанавливают в устройстве для крепления линз 7 и перемещают в плоскости, перпендикулярной оптической оси объектива 5 коллиматора до получения нулевых значений сигналов на индикаторе 21. При этом световой поток, отраженный от дихроидного покрытия, нанесенного на гипотенузную грань нерасстраиваемого оптического отражателя 8, попадает на светоделительный элемент 4, затем, проходя заграждающий светофильтр 11, попадает на...

Номер патента: 1017283

Опубликовано: 15.05.1983

Авторы: Аветисов, Ахмеджанова, Урмахер, Шаповалов

МПК: A61B 3/00, A61B 3/028

Метки: глаза, исследования, рефракции

...с корр. зрЬ -12,0 = су 1 Ъ .3,25 ось 30 0,9;08 0,09 с коор. за -12,Рф су 1 - 2,0. ось 155=0,6 .С помощью предложенного способа определялось положение главных мериди3 101728 анов, их оптическая сила каждого гла-за в отдельности.Правый глаз. Сменой сферических линз определяют положение , в котором появилась наиболее тонкая вытяну-тая линия, оптическая сила линзы показала степень аметропии во втором глав".ном меридиане равную 13,5 дптр, осьнаклона этой фокальной линии равна50(ось,определяласьс йомощью цилиндрической линзы +8,0 дптр, поворотомее находят положениепри которомфокальная линия представлялась паци".енту наиболее тонкой и вытянутой).альнейшей сменой сферических линз .(корригируя второй меридиан до эмметропии), полуцают степень...

Номер патента: 1056006

Опубликовано: 23.11.1983

Авторы: Вшивков, Шилкин

МПК: G01N 21/41

Метки: атмосферной, рефракции

...с объективом трубы автоколлиматор,при этом вторая пластина компенсирующей призмы выполнена в виде полупрозрачного зеркала, а первая пластина - в виде симметричного относи тельно плоскости, .проходящей черезоптическую ось устройства, делительно-растягивающего клина, выполненного из двух частей с разными показателями преломления и дисперсией,соединенных между собой, приМем ребро клина установлено параллельно осивращения второй пластины.На чертеже показана структурнаясхема устройства,. устройство состоит из немонохроматического источника 1 света, компенсирующей призмы с переменным преломляющим углом 2, укрепленной на объективе;зрительной трубы 3 или помещенной внутри нее и сделанной в виде полого цилиндра с гофрированной боковой...

Номер патента: 1084020

Опубликовано: 07.04.1984

Авторы: Аветисов, Андреев

МПК: A61B 3/10

Метки: глаза, интраоперационного, оболочки, рефракции, роговой

...линзы Г 13.Однако постоянное присутствие . в поле зрения хирурга штриховых линий указанной микрометрической шкалы создает отвлекающее действие, что в конечном счете снижает точность измерения.Цель изобретения - повышение точности измерения путем устранения отвлекающего действия находящей" ся в поле зрений микроскопа микро- метрической шкалы.Указанная цель достигается тем, что устройство для интраоперационного измерения рефракции роговой оболочки глаза, состоящее иэ микроскопа, осветителя с расположенными по окружности точечными источниками света, светоделительной призмы и фокусирующей линзы снабжено кольцевыми тест-марками, вводимыми в поле зрения на этапе оценки сФеричности роговицы.На чертеже представлено устройство для...

Номер патента: 1124967

Опубликовано: 23.11.1984

Авторы: Аветисов, Варшавский, Пивоваров

МПК: A61B 3/10, A61F 9/00

Метки: аномалий, глаза, коррекции, рефракции

...путем изгибания опорного элемента при взгляде пациента прямо перед собой.Крепление к верхнему веку позволяет приблизить линзу к роговице, что дает возможность уменьшить диаметр линзы и, соответственно, вес ее до 80 - 90 мг. Подвижность верхнего века не ухудшает коррекции и не вызывает чувства дискомфорта. Кроме того, уменьшается возможность появления анизейконии в случае афакии в,среднем до 12 о/о согласно принятой формуле расчета разницы очкового увеличения на сетчатке:д 0 /ЫО о10где с 1 - расстояние линзы до глаза;11 - рефракция линзы,По данным литературы степень анизейконии при коррекции односторонней афакии обычными очками составляет в среднем 30 - 36 о/о, а при коррекции контактными линзами в среднем до 11%.Таким образом,...

Номер патента: 1136054

Опубликовано: 23.01.1985

Автор: Вязовский

МПК: G01M 11/02

Метки: линз, рефракции

...содержит источник 1 света, светофильтр 2, тест-марку 3, которая установлена во вращающемся вокруг оптической оси корпусе 4. Последний связан со стрелкой-указателем 5, находящейся против шкалы 6 диоптрийного отсчета. Корпус 4 может также смещаться вдоль оптической оси устройства, смещая при этом и стрелку-указатель 5. В корпус 4 входит корпус 7, которые связаны друг с другом посредством штифта 8, что обеспечивает их совместный поворот вокруг оптической оси. В кор 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 пусе 7 установлены объектив коллиматора 9, маска 10 с двумя парами отверстий и два клина 11. Взаимное расположение маски 10 и клиньев 11 ясно из чертежа (фиг. 4). В корпусе 7 установлен также агатовый штифт 12, вершина которого...

Номер патента: 1150509

Опубликовано: 15.04.1985

Авторы: Апряткин, Мальцев

МПК: G01M 11/02

Метки: вершинной, задней, линз, очковых, рефракции

...вблизипервой марки. Кроме того, устройство для изме рения задней вершинной рефракции очковых линз дополнительно снабжено светоделительиым элементом, выполненным в виде куб-призмы и уста новленным между коллиматором и одной 55 из.марок, а также вторым источником,На фиг. 1 изображена оптическая схема устройства для измерения зад 509 1 ней вершинной рефракции очковых линз; на фиг, 2 - то же, вариант. Устройство для измерения заднейвершинной рефракции очковых линэсостоит из источника 1 для освеще".ния марок коллиматора, марок 2 и 3 коллиматора, шкал 4 и 5 перемещениймарок, устройств 6 и 7 для считывания перемещений марок, коллиматора 8,средства 9 для фиксации положениявершины задней поверхности испытуемойлинзы, фокусирующего объектива 10для...

Номер патента: 1155851

Опубликовано: 15.05.1985

Автор: Беспалов

МПК: G01C 5/02

Метки: величины, выработках, горных, нивелирной, подземных, рефракции

...происходят изменения под действием атмосферной рефракции. Эти изменения вызываются неоднородностью показателя преломления воздушной среды внутри пучка и приводят к дивергенции световых лучей. 0 наличии дивергенции световых лучей можно судить по наблюдениям с помощью геодезического прибора за изменением величины интервала палетки, установленной в точке визирования. Поскольку существует определенная связь между искривлением траектории световых лучей и их дивергенцией внутри пучка, то, измеряя величину интервала палетки, укрепленной в точке визирования, при помощи микрометра с плоскопараллельной пластиной, перекрывающей половину светового отверстия обьектива зрительной трубы геодезического прибора, можно определить и атмосферную...

Номер патента: 1213395

Опубликовано: 23.02.1986

Авторы: Виноградов, Медовиков, Нигаматьянов, Прилепин

МПК: G01N 21/45

Метки: влияния, коррекцией, рефракции, углов

...интенсивностям пропорциональныфототоки, амплитуды которых имеютвид По измерениям , получают Ъ , а по измерениям- цп+ 1). Сначала, изменяя Ь , получают максимальное значение фототока 1 = 3 , тогдаах оафах3(2 В ь)ахт.е. выполняют градуировку прибора. Затем при медленном изменении путем увеличения напряжения генератора 6 устанавливают необходимую величину 1 и определяют величину 2 Ъ аппо таблицам функции Бесселя. Аналогичные действия производят для другой интерференции и определяют величину 3=Ь( ). Угол рефракции находят по формуле Г= 3/Ъ - 11,Источник 5 постоянного напряжения служит для выведения разности хода интерферирующих лучей в зону максимальной чувствительности. Формула изобретения Устройство для измерения углов с коррекцией...

Номер патента: 822630

Опубликовано: 30.08.1986

Автор: Перуанский

МПК: G01N 21/41

Метки: приземном, рефракции, слое

...4, освещенной источником света 5 через посредство стеклянной прозрачной пластинки 6, и зафиксирован безрефракционный отсчет микрометра И, Во втором положении изображение нити 4 смещено из-за рефракции на отрезке АВ и зафиксированотсчет И.Предлагаемый способ осуществляется следующим образом.Для измерения полного угла рефракции на отрезке АВ в точку А устанавливают угломерный инструмент, имеющий микрометр, например универсаль-. ный инструмент (универсал). В трубу универсала направляют пучок света, выходящий из коллнматора, с которым скреплен уровень типа талькоттовского (в качестве коллиматора можно использовать второй универсал), причем объективы угломерного инструмента и ксалиматора максимально сближены, так что рефракцией,...

Номер патента: 1179768

Опубликовано: 30.08.1986

Автор: Перуанский

МПК: G01N 21/41

Метки: рефракции

...держателю узла креплашя зеркалпридсцот гакае положеце, црц которомоба зеркала строят антака:лимациаццыеизображения итей микрометра в цецтре поля зрения, наворачивая держатель вокруг оси 20, а с ламацыомикраметрическога винта 19 вокругоси 15, В случае зачцельнага рассогласования изображеций необходимадобиться с помощью остравацгх вин-тов с параллельцастц атражающх поверхцастей зеркал,Прц измерениях моменты о 1;реле;ецябезрефракцианцага и искажешага рефракцией отсчетов па вазможности должць савпадаГь др 1 с друга 1 паэтамуцелесообразно вьлалцять совмещенияреальных штей с антакаллмаццаццыи изображениями и сшгмать отсчеты микраметра, ц 1 приср, и така, порядке; 1, М, М М М Мгде нижние индексы указзаот зеркала (1 ближнее к...

Номер патента: 790972

Опубликовано: 30.08.1986

Авторы: Апакова, Перуанский

МПК: G01N 1/00, G01N 21/41

Метки: рефракции

...инструменте 1 вместо. 15.автоколлцлаццонного окуляра можетустанавливаться горизонтальная щель,свет от которой с помощью оптического кубика выводится цз объектива трубы параллельным пучком. Это усложнит. конструкцшо, но позволит измерятьдвойной угол рефракции, что можетповысить точность измерений.Для измерения полного угла рефракции 6 ца некотором отрезке АВ (на 25чертеже не показаны) в точке А устанавливается угломерный инструмент 1.Инструмент 2 устанавливают так, чтобы зеркало 3(4) располагалось максимально близко к объективу инструмента 1, и с помощью накладных цлц подвесных уровней придают цилиндрам 11горизонтальное положение, выводя пузырек уровня в нульпункт механизмаммикрометрцческого вращения осц 7 (на35чертеже этот...