Двухчастотный интерферометрический рефрактометр

=д - ( - 1), дЬ с Изобретение относится к прикладной оптике - рефрактометрии и предназначено для проведения точных измерений зависимости показателя преломления веществ от длины волны оптического излучения.Цель изобретения - повышение точности измерения дисперсионных кривых исследуемого вещества,На фиг. 1 изображена оптическая О схема двухчастотного интерферометрического рефрактометра на фиг, 2 интерференционная картина.Полупрозрачные зеркала 1 и 2 и отражающие зеркала 3 и 4 образуют ин тенферометр Рождественского, в измерительном плече которого расположено исследуемое вещество 5. Интерферометр. освещается одновременно двумя монохроматическими лазерами (частоты 20 1, и 1 ), пучки света которых пода ются на вход интерферометра через суммирующее зеркало 6, На выходе интерферометра перед экраном 7 установлены селективные фильтры 8 и 9 таким образом, что половина луча проходит через один, а другая половина луча - через другой светофильтр (как показано на фиг. 2), Каждый из светофильтров пропускает одну из частот и не пропускает другую, в результате чего интерференционные картйны от частот ), и 1 на экране 7 разделяются. Для удобства отсчета смещений интерференционных картин 35 на экране 7 имеется нулевая риска 10Принцип работы рефрактометра заключается в следующем.При пропускании через исследуемую плистинку одновременно двух лучей из вестных частот 1, и ч на экране получаются две интерференционные картины. Если пластинку 5 из исходного положения, приблизительно перпендикулярно лучу, повернуть на некоторый 45 небольшой угол, путь через вещество пластинки для лучей обеих частот увеличивается на величину 6 Ь, Это вызывает из-за дисперсии света разные смещения интерференционных картин. 50 Величины смещений И, (для луча с частотой 1,) и Мг (для луча с частотой 1 г) определяются выражениями 1 Я = ( -- 1) и ИЬЬ. сЭ, ч,( -- 1)ч, ЫЫЯ,( - 1) г г гЗависимость (1) позволяет для данного исследуемого вещества с высокойточностью связать величины фазовыхскоростей света ч, и чг (а следовательно, и показатели преломления и,и пг) с частотами излучения , и 1 г(или длинами волн 9, и Ъг ), например,по известной ч можно определить фазовую скорость ч Вывод формулы (1) сделан с учетом следующих рассуждений.Путь ЬЬ в исследуемом веществе свет проходит за время С = й Ич, где ч - фазовая скорость света. За это же время с второй луч интерферометра проходит в воздухе путь ЬЬ(ч, где с - скорость света в воздухе. Следовательно, опережение составляет величиЬЬну - с - Ь Ь, что дает смещениелиний ьЬ с.в интерферометре Б = ( -- 1).ч Таким образом, медленно поворачивая пластинку 5 и подсчитывая смещения М, и И интерференционных картин, с помощью формулы (2) по известной ч можно определить фазовую скорость .ч при любой частоте 1 и,следовательно, с точностью, свойственной интерферометрическим методам,построить дисперсионную кривую. Дляполучения частоты г желательноприменять лазер. с перестраиваемойчастотой.Предлагаемый рефрактометр позволяет с высокой точностью связать частоты 1, и 1 г непосредственно сфазовыми скоростями света в данномвеществе,Ф о р м у л а изобретения Двухчастотный интерферометрический рефрактометр, содержащий двухлучевой интерферометр Рождественского с лазерным источником света и включающий два полупрозрачных зеркала и два128 б 9 б 1 Составитель С.ГолубевТехред А.Кравчук Корректор Г.Решетни Редактор Е.КопЗаказ 7705/42 Тираж 776 ВНИИПИ Государственного ко по делам изобретений и о 113035, Москва, Ж, РаушскаяПодписнтета СССР крыти аб., д. 4/ Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 отражающих зеркала, оптически связанных между собой и образующих измерительное и опорное плечи интерферометра, держатель образца, расположенныйв измерительном плече интерферометра,и экран, расположенный на выходеинтерферометра, о т л и ч .а ю щ и йс я тем, что, с целью повышенияточности измерения дисперсионных кривых, в устройство введены второй лазерный источник света, суммирующееполупрозрачное зеркало и два селекционных фильтра, при этом второй лазерный источник света оптически связан с суммирующим прлупрозрачнымзеркалом, а селекционные фильтры расположены между выходом интерферометра и экраном, причем держательобразца установлен с возможностьюперемещения относительно оси, перпендикулярной направлению распространения света в измерительном плечеинтерферометра.