Интерференционно-поляризационный рефрактометр (его варианты)

(19) (112 С 01 М 21 НЫЙ НОМИТЕТ СССРОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИИ ОСУДАРС О ДЕЛА ИОАН ЗОБРЕ И ТОР СНОМ ЕЛЬСТ(54) ИНТЕРФЕРЕ НЫЙ РЕФРАКТОМЕ (57) 1, Интерф ционный рефрак НЦИОТР вого пучк(71) Институт аналитического приборо строения Научно-технического объединения АН СССР(56) Замков В.А., Радкевич В.А. Поляризационный интерферометр для измерения внутренней аниэотропии. Оптика и спектроскопия. т. 31, вып. 5, 1971, с. 81-86.Васильева И.С., Лейкин М.В. и др. Возможные пути повьппения чувствитель ности жидкостных рефрактометрических анализаторов. сб. Аналитическое при-боростроение. Методы и приборы для анализа жидких сред, т. 1, ч. 1, с, 87-92, Тбилиси, 975. Н НО-ПОЛЯРИЗАЦИОН(ЕГО ВАРИАНТЫ)еренционно-поляризатометр, содержащий ис точник поляризованного излучения и последовательно расположенные по ходу излучения кристаллическую пластину для расщепления светового пучка, измерительную кювету, полуволновую пластину, устройство для совмещения световых пучков и узел измерения разности хода, о т л и ч а ю щ и й - с я тем, что, с целью повьппения стабильности измерений, между измерительной кюветой и полуволновой пластиной установлен отражатель с плоской отражающей поверхностью, перпендикулярной плоскости главного сечения кристаллической пластины, между полуволновой пластиной и устройством Ж для совмещения световых пучков установлен второй отражатель с плоской отражающей поверхностью, перпендикулярной плоскости главного сечения кристаллической пластины и отраЖаю- ф щей поверхности первого отражателя, отражатели жестко соединены между собой, а устройством для совмещения световых пучков служит кристаллическая пластина для расщепления светоглавное сечение которого параллельно или перпендикулярно главному сечению кристаллической пластины, между полуволновой пластиной и устройством для совмещения световых пучков установлен второй уголковый отражатель, главное сечение которогопараллельно главному сечению первогоотражателя, уголковые отражателижестко соединены между собой, а устройством для совмещения световыхпучков слрит кристаллическая пластина для расщепления световогопучка. 12706572. Интерференционно-поляриэационный рефрактометр, содержащий источник поляризованного излучения и последовательно устанавленные по ходу,луча кристаллическую пластину длярасщепления светового пучка, измерительную кювету, полуволновую пластину, устройство .для совмещения световых пучков и узел измерения разностихода, о т, п и ч а ю щ и й с я тем,что, а целью повышения стабильностиизмерений, между. кристаллическойпластиной и измерительной кюветойустановлен уголковый отражатель,Изобретение относится к интерференционной рефрактометрии и может быть использовано для количественно" го и качественного анализа различных средоптическим методом по разности показателей преломления.Цель изобретения - повышение стаФ бильности измерений.1 бБлагодаря тому, что в предлагае мых вариантах интерференционно-поляризационного рефрактометра длярасщепления и совмещения световых пучков используется одна и та же кристаллическая пластина, влияние температурньи возмущений, которое в известном рефрактометре связано с не- идентичностью температурных условий и условий фиксации двух кристаллических пластин, полностью исключается,Снижение влияния механических возмущений обеспечивается тем, что в первом варианте рефрактометра. развороты кристаллической пластины в плоскости главного сечения, которые в известном рефрактометре приводят к наибольшим изменениям разности хода, не приводят к изменению суммарной разности хода, так как при таких раз" воротах положение кристаллической пластины относительно расщепляемых и совмещаеьых световых пучков изменяет- Ю 3ся одинаково, а следовательно, соответствующие изменения разности хода равны по абсолютной величине и противоположны по знаку. Во втором варианте рефрактометра суммарная разность хода остается постоянной при любых изменениях взаимного положения кристаллической пластины и системы отражателей в целом. Неизменность взаимного положения отражателей как в первом, так и во втором вариантах обеспечивается тем, что они жестко соединены между собой.Существенно также, что снижение чувствительности к изменению положения кристаллической пластины позвопяет снизить требования к жесткости Фиксации пластины, что, в свою очередь, обеспечивает снижение термоупругих напряжений, которые могут оказаться различными в пределах светового сечения одной и той же кристаллической пластины.Воэможность появления дополнительного фактора нестабильности, связанного с изменением амплитуды и фазы световых волн при отражениях, в предлагаемых вариантах рефрактометра исключена тем, что полуволновая пластина установлена между отражателями. При таком положении полу- волновой пластины изменения амплитущя и фазы в первом отражателе компен3 1270657 4сируются изменениями амплитуды и фа- волновую пластину 4зы во втором отражателе. ет азимут поляризацСовокупность указанных качеств в ков на 90, отражаюкаждом из вариантов интерференцион- совмещаются в одинно-поляризационного рефрактометра 5 тической пластинойобеспечивает существенное повыше-совмещения пучков сние стабильности показаний. В то же поляризациями образвремя во втором варианте достигает- эллиптической полярся более высокая стабильность пока- ненты эллиптическизаний. 1 О света обладают разиНа фиг.1 приведена принципиальная порциональной исслесхема интерференционно-поляризацион- показателей преломлного рефрактометра, выполненного сог- сред. Измерение разласно первому варианту; на фиг.2 - водится с помощью упринципиальная схема интерференцион разности хода.но-поляризационного рефрактометра, Интерференционновыполненного согласно второму вариан- рефрактометр, выполту. второму варианту (ф Интерференционно-поляризационный 20 рефрактометр (фиг.1) состоит из источника 1 поляризованного излучения, кристаллической пластины 2 (например, из кальцита), зеркала 3, отражающая поверхность которого перпендикуляр на главному сечению кристаллической пластины 2, полуволновой пластины 4, второго зеркала 5, отражающая поверхность которого перпендикулярна главному сечению кристаллической пласти-ЗО ны 2 и отражающей поверхности зеркала 3, узла 6 измерения разности хода, а также измерительной дифференциальной кюветы 7, которая в данном случае установлена между кристаллической пластиной 2 и зеркалом 3, но в других случаях может быть установлена между зеркалами 3 и 5, либо между зеркалом 5 и пластиной 2. Зеркала 3 и 5 жестко соединены между собой. 1 ОИнтерференционно-поляризационный рефрактометр работает следующим образом.Пучок света от источника 1 излучения расщепляется кристаллической 45 пластиной 2 на два световых пучка, линейно поляризованных в ортогональных плоскостях, один из которых проходит через измерительную ячейку кюветы 7, а другой - через сравнитель О ную ячейку той же кюветы. Оба пучка отражаются зеркалом 3, проходят полукоторая изменяии каждого из пучтся зеркалом 5 ипучок кристалли 2. В результатеортогональнымиуется пучок сизацией. Компополяризованногоостью хода, продуемой разностиения сравниваемыхности хода произзла 6 измерения-поляризационныйненный согласноиг.2), содержит элементы и узлы 1, 2, 4, 6 и 7 (фиг.1), но вместо первого зеркала 3 установлен уголковый отражатель 8, главное сечение которого в данном случае параллельно главному сечению кристаллической пластины 2. Вместо зеркала 5 установлен уголковый отражатель 9, главное сечение которого параллельно главному сечению первого отражателя 8. Уголковые отражатели 8 и 9 жестко соединены между собой.Данный вариант интерференционнополяризационного рефрактометра работает аналогично интерференционно-поляризационному рефрактометру, приведенному на фиг.1.Предлагаемое изобретение повышает достоверность анализа, позволяет исключить потери времени на многократное повторение эксперимента и существенно сократить время выхода прибора на режим, тем самым обеспечивается более высокая эффективность исследовательских работ. Изобретение может быть положено.в основу новых приборов, предназначенных для решения задач особой сложности в новых разделах науки (например, в молекулярной биологии и генетике при исследовании количественного и качественного составов веществ, выделение которых требует значительных затрат времени и производится в микроколичествах).1270657 Составитель С.ГолуТехред М.Ходанич 78 каз б 2 Тираж НИИПИ Государственпо делам изобрет 113035, Москва, Ж дписно б Раушска Уж ческое предприятие роизводственно-поли едактор И.Ка го комитета СССРий и открытий рректор Л. Пилипенко ул. Проектная