Патенты с меткой «спектрального»

Страница 7

Устройство для спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 767774

Опубликовано: 30.09.1980

Авторы: Маслакова, Орлов, Шмерко

МПК: G06F 17/10

Метки: анализа, спектрального

...дешиф.ратором 2 кода, Количество различных кодовна выходе дешифратора 2 равно ти; Причем все коды отличаются друг от друга толькономером разряда, в котором записана единица.Каждый такой код определяет интервал пере.счета счетчика 3.Связь возможных состояний счетчика 3 иуправляющего кода на входе выражается соот.ношением=2 Ые-),6=4,аи И", 1 Ы. (4где )- функционально связанная и опре.деляемая параметром 7 последовательностьсостояний счетчика 3;- . номер разрядадвоичного управляющего кода, в котором записана единица 7 С1, д, ", ги-Таким образом, каждому номеэу циклаработы устройства (а на выходе дешифратора 2 формируется фактически код номера цик.ла в преобразованном виде) соответствует пе.ременное количество тактов, номера...

Устройство для спектрального анализа вибраций машин

Загрузка...

Номер патента: 769352

Опубликовано: 07.10.1980

Автор: Колмаков

МПК: G01H 1/00

Метки: анализа, вибраций, машин, спектрального

...характеристикеусилителей прямой магнитной записи(ГОСТ 12 392 - 71) . Блок 1 записи имеет генератор 9 хронирующей частоты, подключенный также ко второму входу магнитофона 5, Между датчиком 6 частоты и вторым входом магнитофона 5 включен блок 10 уплотнения записи, представляющий собой модулятор плп пре 40 ,5 20 5 Зо 35 40 45 50 5 э 00 05 4(амплитудный, частотный образовательи т. д.).Устройство работает следующим образом.По первому входу магнитофона 5, блока 1 записи, имеющего постоянную скорость перемещения магнитной ленты, от датчика 4 через усилитель записи записываются вибрации машины 7, которая вращается с переменной частотой, например, от некоторой минимальной или наоборот.При этом спектр впбрационпого сигнала от датчика 4 вибрации...

Состав для спектрального анализа тугоплавких окислов

Загрузка...

Номер патента: 781604

Опубликовано: 23.11.1980

Авторы: Захария, Турулина

МПК: G01J 3/30

Метки: анализа, окислов, состав, спектрального, тугоплавких

...вводят фториды литияимагния, при следующем соотношениикомпонентов, вес,Ь:Анализируемое вещество 9,5-12Фторид магния(химически активный буфер) ОстальноеСостав получают смешением 20 масс.ч(мг) порошкосбраэного (измельченного до 200 меш) анализируемого вещества, 180 масс.ч смеси 1 - графитизи" - ровайного угольного пороюка, содержащего элемент сравнения, и 8 масс.ч.смеси 2 - равных количеств Фторидов" "лития имагния. Продолжительность анализаодной пробы, мин Эатраты времени щ)и объемеаналитического контроля2880 проб в год, ч/год Стоимость анализов при укаэанном объеме аналитическогоконтроля, руб/год 4Смесь 1. Готовят растворением 0,08 г металлического кобальта (марки ч) в 5 мл разбавленной (1:1) азотной кислоты (хч); после...

Электрод горяинова н. н. для спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 785657

Опубликовано: 07.12.1980

Автор: Горяинов

МПК: G01J 3/10

Метки: анализа, горяинова, спектрального, электрод

...Техред М. Федорнак Корректор С. Шекмар Заказ 8827/42 Тираж 713 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патентф, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 воре соляной кислоты и промываются дистиллированной водой с последующей просушкой в сушильном шкафу.Помещаемый внутрь трубки-электрода фитиль также предварительно подсушивается. фитиль изготавливается из пористого материала (хлопчатобумажная ткань, хлопчатобумажные нити, вата, беззольиый фильтр).Исследуемая проба консистентной смазки намазывается на фитиль с избытком. Фитиль с пробой помещается внутрь описанной трубки так, чтобы его конец выступал на 1-1,5 мм над одним из срезов трубки, Трубка с фитилем...

Пирометр спектрального отношения

Загрузка...

Номер патента: 800683

Опубликовано: 30.01.1981

Авторы: Поскачей, Чарихов

МПК: G01J 5/60

Метки: отношения, пирометр, спектрального

...339-343. как сигналы ЕЛ и ЕЛ меняются значи 1 2тельно сильнее, чем температураобъекта, а для нормального функционирования блоков требуется ограниченный диапазон изменения сигналов.Цель изобретения - упрощение конструкции и расширение динамического5диапазона,Цель достигается тем, что устройство управления выполнейо в видеблока, обеспечивающего изменениесигнала с выхода формирователя с коЛ 1 Л -Лэффициентом передачи, равным с,или ц,л 1, а измеритель состоянияизлучательной способности подсоединен к выходу ослабителя.На чертеже изображена блок-схема , 15пирометра,устройство содержит формирователь1 злектрическиХ сигналов ЕЛи ЕЛ,нейтральный ослабитель 2, формирователь 3 отношений, измеритель 4 отношения, измеритель 5 состояния излучательной...

Пирометр спектрального отношения

Загрузка...

Номер патента: 800684

Опубликовано: 30.01.1981

Авторы: Блажкевич, Зубов, Крышев, Семенистый

МПК: G01J 5/60

Метки: отношения, пирометр, спектрального

...объекта Ь ( Л, Т) иЬ ( Л 2, Т) в двух длинах волн АиА соответственно (Т - абсолютная2Цветовая температура), После усиления импульсов усилителем 4 и ихсинхронного детектирования при помощи ключей 5 и б, управляемых блоком3 синхроимпульсов, на амплитудныхдетекторах 7 и 8 выделяются соответ)ственно амплитудные значения О иОэтих импульсов,Функциональное преобразование впирометре начинается в момент подачи на нулевой вход триггера 13 импульса "Пуск", который переводиттриггер 13 в нулевое состояние. Врезультате ключ 10, находившийсяв замкнутом состоянии (при этом конденсатор ВС-цепи 12 заряжен до напряжения О ), размыкается и начинает 1ся экспоненциальный разряд конденсатора КС-цепи с постоянной времвниФ .Через промежуток времени 6 с...

Способ спектрального анализаслучайных полей

Загрузка...

Номер патента: 813301

Опубликовано: 15.03.1981

Авторы: Жданов, Кудашев, Решетов, Яблоник

МПК: G01R 23/16

Метки: анализаслучайных, полей, спектрального

...каждая четная реализация инвертируется, затем сигналы суммируют, квадрируют и усредняют. По сигналу на выходе определяют спектр по пространственной и временной частотам, Далее проводят развертку спектра сР( К,0)по вектору пространственных частот К при этом для каждой фиксированной пространственной частоты изменяют 15 ширину приемной поверхности обратно пропорционально частоте.Как показывает основное уравнение йространственного спектрального анализа 200 М)=,М)Р(, с(ксМ связь между выходным сигналом О (ьЭ) и пространственным спектром сР(К,О) за. висит от свойства частотной характеристики Ч(Г)в области пространственных частот К, определякщей ширину полосы спектрального анализа, следовательно, его разрешающую способность.Численные...

Устройство для спектрального анализавеществ b контролируемой атмосфере

Загрузка...

Номер патента: 830139

Опубликовано: 15.05.1981

Авторы: Врублевская, Марковская, Сараджев, Талалаев

МПК: G01J 3/10

Метки: анализавеществ, атмосфере, контролируемой, спектрального

...смеси, сквозным коническим отверстием 19 для направленной подачи смеси газов к кратеру 9.Сверху на корпусе закреплена крышка 20 со штуцером 21 для подачи смеси газов и с центральной втулкой 22, через которую пропускается конический электрод 23. Внутри корпуса устройства закреплен вертикальный цилиндр 24, направляющий смесь газов, поступающих из штуцера 25 через отверстия в шлифе 10 и шпинделе 7 и зазоры в резьбе в зону плазмы.Устройство работает следующим образом.Устройство закрепляется на штативе прибора в положении, при котором оптическая ось совпадает с оптической осью прибора, например спектрографа.В штуцер 3 подается, а из штуцера 4 выводится хладагент, например вода.В шлиф 5 вставляется контейнер 6 с электродом 8, в кратере 9...

Способ спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 851281

Опубликовано: 30.07.1981

Авторы: Казаков, Мартяшин

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, спектрального

...8 в мб ",мент времени соно зависОв=дО,Е г)ЯМФ,Напряжение на выходе сумматора 9 равно сумме этих двух напряжений и составляетО.к,- Оц-е 1)+д)Ж )игде д-показатель затухания.Суммарное время нарастания сигнала на выходе амплитудного детектора 7, дифференциатора б и сумматора 9 достаточно мало и напряжение на выходе сумматора 9 определяется в мо мент временив основном напряжением на выходе дифференциатора 8, так . как скорость изменения амплитуды колебаний в момент времени с максимальна. Напряжение на выходе амплитудного детектора 7 в момент временине 1 значительно. На выходе сумматора 9получается напряжение, равное максимальному значению О исследуемых ко-. лебаннй в частотно-избирательном блоке 3, соответствующее установившему ся режиму. В...

Смесь для спектрального определенияпримесей b тантале или ниобии

Загрузка...

Номер патента: 853419

Опубликовано: 07.08.1981

Авторы: Антонов, Белогорцева, Руцинский

МПК: G01J 3/40

Метки: ниобии, определенияпримесей, смесь, спектрального, тантале

...9 4 83,3 12,5 4,2 90 7,5 2,5 Та 06 РЬС 1 К 50 д 8,3 Смесь 9 2 75 18,8 6,2 Ь 5 5 п - 5 ед. почернения Определяемыйэлемент ОСмесь 9 1 Смесь 9 2 Смесь 9 3 Смесь 9 4 1,01 0,82 0,65 0,44 0,82 ВольфрамМолибденМедь .КобальтКальцийНатрий 1,17 1,23 1,13 1,64 1,72 1,50 1,24 0,76 0,42 0,64 Оф 28 1,48 1,26 1,26 1,37 0,56 0,71 0,46 0,35 Смесь 9 4, имея несколько большее зиачение Ь 5 для вольфрама, значительно увеличивает фон спектра.Диапазон определяемых содержаний 40 составляет: вольфрам, молибден, кобальт, натрий 0,0001 - 0,1; медь 0,0001 - 0,01 кальций 0,000 - 0,03,Достоверность результатов проверялась на искусственных пробах тантала и ниобия и сравнивалась с определением примесей по известным методикам.Искусственные пробы готовились ва основе...

Электрод для спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 859884

Опубликовано: 30.08.1981

Авторы: Захаров, Сафин, Якупова

МПК: G01N 21/01

Метки: анализа, спектрального, электрод

...цель достигается тем, чтое известном электроде, выполненном в виде стержня с полым объемом в торцовойчасти для помещения пробы, полый объемна торце электрода выполнен в виде параллельных канавок, а гребни между канавка 3ми снабжены периодически расположенными зубцами, согнутыми над канавками,На фиг. 1 показана торцовая частьэлектрода, общий вид; на фиг. 2 - гребни,(раэреэ А-А), образованные боковымистенками канавок, не согнутые и имеющиеклиновидную или слегка затупленную форму, разрез А-А на фиг. 1; на фиг. 3 -гребни, согнутые над углубленными канав-.ками и имеющие вид зубцов,разрез Б-Б;на фиг. 4 в . разрез электрода с заполненными пробой канавками,25Проба, помещенная на торец электрода путем втирания, заполняет канавки...

Способ спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 859948

Опубликовано: 30.08.1981

Авторы: Артемьев, Башевский, Иртегов, Россохина, Спиридонов, Татарников, Чернов

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, спектрального

...и сравнении с незадержанными сигналами.На чертеже представлена структурная схемаустройства, реализующего способ.Входной сигнал поступает на блок 1 полосовых узкополосных фильтров. В блоке 2 сдви.15га, управляемом блоком 3 управления, осуществляется непрерывный сдвиг во времени началавходного сигнала. С выхода блока 2 сигналпоступает на фильтры 4 и 5, в результате чего 20образуются вспомогательные сигналы, которыевместе с входным сигналом поступают наквадраторы 6 и 7 и умножители 8 - 10.На их выходах образуются промежуточныесигналы, которые задерживаются в блоках 11 -Способ спектрального анализа, основанный на фильтрации входного сигнала, формировании15, сравниваются с неэадержанными сигналами в блоках 16 - 20 сравнения,...

Способ спектрального определения вольфрама в молибдене

Загрузка...

Номер патента: 861317

Опубликовано: 07.09.1981

Авторы: Клименко, Левина, Плющева, Ящина

МПК: C01G 41/00

Метки: вольфрама, молибдене, спектрального

...Голинка Корректор Г. Назарова Редактор Н.Потапова Подписное Заказ 6444/3 Тираж 505 .ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д.4/5 Филиал ППП "Патент", г.ужгород, ул.Проектная,4 собствует полному переходу свежевосстановленных порошков металлов в галогениды.Экспериментально установлено, что использование иода в качестве газообразного химического реагента повышает чувствительность спектрального определения примеси вольфрама.Кроме того, на фотопластинках линия вольфрама в молибдене лучше всего видна при соотношении молибденаи иода в анализируемой пробе Но:= 10 =1:1.Закрытая ампула обеспечивает полное использование иода для обработки анализируемой пробы.Выбор времени обработки...

Образец для спектрального анализа металлов и сплавов

Загрузка...

Номер патента: 862040

Опубликовано: 07.09.1981

Авторы: Голяков, Москвичев, Сафонова

МПК: G01N 1/28

Метки: анализа, металлов, образец, спектрального, сплавов

...что снижаетФ производительность анализа и существенно сокращает срок службы стандартного образца. Целью изобретения является повьаяе- . ние цроиэводительности анализа, увеличение срока службы стандартного образца.Укаэанная цель достигается тем, что образец для спектрального анализа металлов и сплавов, включающий отливку, выполненную в форме тела вращения с тонкой стенкой и анализируемой поверхностью образца, перпендикулярной его оси,в продольном сечении вы862040 Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР 9 172114, кл. 6 01 Н 3/08, 1961. 2. Патент США Р 3877811, С 01 3/02, 1975.Составитель С. ФатееваРЕдактор Н. Ахмедова Техред А. Ач Корректор С. Щомак 07ета СССРрытийнаб д. 4/5 534/38...

Способ спектрального анализа фторидов бария и стронция

Загрузка...

Номер патента: 870967

Опубликовано: 07.10.1981

Авторы: Воропаев, Красильщик, Федорович, Чупахин

МПК: G01J 3/30

Метки: анализа, бария, спектрального, стронция, фторидов

...соответствуютданным, полученным по способу (1),4 и 7по способу, выбранному в качестве прототипа, и 5 и 8 - по пред 20 лагаемому способу. Сравнение всехполученных данных показывает, что добавки НВОв количестве . 2-37. обеспечивают снижение пределов обнаружения в 5-10 раз по сравнению с извест 25 ным способом,Таблица 5 гГ 2 Линия, нм Элемент без ссоб Н ВО Н ВО з ВО ВО 1 10 5 О ф 11 О 21 О 1 10 1 10 3,О 4 5,102 10ф 3 1 О 2:10 надии 5 10 510 305,1 302,1 ик Х Формула изобретения М А и др Спек онция и бария н кая лаборатория" 1, Ноткина анализ ст месях,-"Завод 1957, с.569 фныи Сп дов бсоб спектрального а рия и стронция, вкл пробы, о т л и ч а м, что, с целью пов ности анализа, к пр ную кислоту в колич сы пробы,".Источники информ ые во...

Способ измерения спектрального распределения интенсивности излучения

Загрузка...

Номер патента: 881538

Опубликовано: 15.11.1981

Авторы: Дивин, Полянский, Шульман

МПК: G01J 3/28

Метки: излучения, интенсивности, распределения, спектрального

...через решеточный монохроматор, настроенный на пропускание излучения с центральной часто 1тойм 20 сю, и направляют на точечный сверхпроводящий контакт из ниобия один иэ видов слабосвязанных сверх- проводников), который имеет сопротивление К =2 б Ом и находится при Т = 4,2 К. Кривая 1 (фиг,1) представляет измеренный откликрЯ)контакта на падающее излучение, как функция напряжения смещения 7 . Напряжение смещения у изменяют в окрестности от нуля до значения большего У ф 0,0621,24 мв до тех пор, пока отношение сигнал/шум уменьшилось до . единицы. Кривая 2 демонстрирует результат применения интегрального преобразования Гильберта к кривой 1, т.е. восстановленный искомый спектр излучения, прошедшего через монохроматор (так называемую...

Оптико-электронная приставка к коллиматору для измерения спектрального коэффициента пропускания объективов

Загрузка...

Номер патента: 883689

Опубликовано: 23.11.1981

Авторы: Авдеев, Сокольский, Щербаковский, Ялышев

МПК: G01M 11/02

Метки: коллиматору, коэффициента, объективов, оптико-электронная, приставка, пропускания, спектрального

...и установлена с возможностью перемещенияи поворота на 90 С в своей плоскости; светонепроницаемые шторки 8 поочередно перекрывающие опорньй и измерительный каналы 9 - место размещения поверяемого объектива. Пунктиром обозначена пластина при поворотеее на 90 град. Стрелкой показано возможное перемещение пластины. 40В режиме измерения коэффициентапропускания приставка работает сле-дующим образом.коллимированный поток излучения после апертурной диафрагмы 5 разлеляется полупрозрачным зеркалом 3 на два канала: опорный и измерительный, поочередно перекрываемые шторками 8. Поток излучения измерительного канала проходит полупрозрачное зеркало 3,0 поверяемый объектив 9, прорезь пластины 7 и попадает на сферическое зеркало. б, отразившись .от...

Способ спектрального анализа случайных сигналов и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 894594

Опубликовано: 30.12.1981

Автор: Юрков

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, сигналов, случайных, спектрального

...входы всх ключей 4 объединены и соединены с выходом генератора 5 импульсов выборки. Выходы ключей 4, которые подключены па выходахпар каналов анализа, расположенныхпо частоте симметрично относительносредней частоты энергетического спектра исследуемого сигнала, соединенысо входами соответствующих сумматоров 6 и блоков 7 вычитания; выходыблоков 7 вычитания через блоки 8 формирования модуля соединены с первымивходами пороговых элементов 10, авыходы сумматоров 6 через умножители 9соединены со вторыми входами пороговых элементов 1 О. Выходы всех пороговых элементов 10 соединены с соответствующими входами многовходового сумматора 1, выход которого подключенк первому входу выходного пороговогоэлемента 1 2, на второй вход...

Способ подготовки порошкообразных образцов для спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 900162

Опубликовано: 23.01.1982

Авторы: Захария, Калишевич

МПК: G01N 1/20

Метки: анализа, образцов, подготовки, порошкообразных, спектрального

...ванадий, ниобий, тантал, сурьма, висмут, хром, молибден, вольфрам, марганец, железо, кобальт и никель.Вспомогательные образцы получены и аттестованы целевым назначением для определения отдельных групп вышеперечисленных элементов одновременно.Пример. Производилось внесение примесных элементов в графитизированный угольный порошок и особочистую двуокись циркония - основу образцов сравнения для спектрального анализа аналитических концентратов примесей, в первом случае, и проб, получаемых в результате подготовки чистого циркония металлического и его соединений к анализу методом добавок, в втором случае. В обоих случаях спектральный анализ проводился методами фракционированного испарения и сжигания в дуговых угольных электродах.Для...

Устройство спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 907458

Опубликовано: 23.02.1982

Авторы: Золотарев, Студеникин, Хакало

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, спектрального

...коде поступает одновременно вао первый регистр 4 элемент 5 сравнения и второй регистр 6. В момент с пришедшая кодовая комбинация записывается в первом регистре 4, втором регистре б, элементе 5 сравнения. А так как до момента времени С в пер 45 вом регистре 4 информация отсутствовала и на второй вход элемента 5сравнения из первого регистра 4 поступит цифровая комбинация, отличная от поступившей в момент времени 1, то на выходе элемента 5 сравнения появится сигнал, поступающий на управляющий вход второго регистра 6, разрешающий выдачу кодовой комбинации из второго регистра 6 на входы временных ф 5 Фильтров 7 - 7 п, 8 случае поступления из нерекурсивного блока последовательности одинаковых кодовых комби 4наций на управляющем входе...

Способ спектрального анализа твердых неэлектропроводных микрообъемов вещества

Загрузка...

Номер патента: 910531

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Вербицкая, Засимов, Тамбовцев

МПК: G01J 3/10

Метки: анализа, вещества, микрообъемов, неэлектропроводных, спектрального, твердых

...разряде, отбор микропробы дополнительно ведутмеханическим методом.На цертеже показана блок-схемаустройства, реализующего предложенный способ. 15Устройство содержит источник единичного низковольтного (униполярного .или биполярного) разряда 1, источникмощного высоковольтного разряда 2,коммутирующее устройство 3, разрядный промежуток 4, микроманипуляторное устройство 5 для сближения электродов и отвода образца, анализатор спектра 6,Уст ройст во работ ает следующим об- аразом.Образец фиксируют в микроманипуляторном устройстве 5 так, цтобы исследуемая микролокальная областьнаходилась в горизонтальной плоскос- З 0ти на оптической оси анализатораспектра б. Электроды располагают наповерхности анализируемого микрообьема, совмещая центр...

Устройство для спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 911177

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Бажов, Эстерле

МПК: G01J 3/00, G06K 9/00

Метки: анализа, спектрального

...схемы сравнения и регистрирующие ячейки для преобразова ния спектров;и электрические сигналы, и регистраторами содержаний элементов анализируемой пробы, причем фотоприемники фотоканалов соединены через схемы сравнения и интегрирующие ячейки с индикаторами (регистраторами) содержаний элементов в анализируемой пробе.При этом с целью автоматизации видов.анализа,.результатами которых являются.недискретные спектры, например рентгендифрактограммы, термограммы, кардиограммы, усилитель вертикального отклонения ЭЛТ снабжен генератором и модулятором высокочастот:ных колебаний для реализации .метода теневого графика. Эталонные спектрограммы формируются путем контактного фотографирования изображения эталонных образцов с последующим...

Аналитический разрядник для вакуумного спектрального анализатора оптического излучения

Загрузка...

Номер патента: 911178

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Давлетшин, Садыков, Шарипов

МПК: G01J 3/42

Метки: анализатора, аналитический, вакуумного, излучения, оптического, разрядник, спектрального

...нагрев, испарение, ионизация вещества частички и возбуждаются атомные и ионные спектры излучения анализируемой пробы. В общем случае. частичка может колебаться между электродами до полного . испарения илн вылета за пределы раэрядкика. Скользящая .искра по внутренней доверхности и торцу диэлектрической трубки стабилизирует величину напряже.ния пробоя и процесс расходования пробы, а также обеспечивает дополнительное возбуждение атомных и .ионных спект-. 78 4ров иэпучения анализируемого вещества,попадающего в плазму скользящей искры.По второму варианту (фиг. 2) электроды 1 .и 4 выступают над срезом диэлектрической трубки 3. В образовавшийся зазор плотно набита непроводящаяпорошковая проба 2, При подаче на электроды 1 и 4 питающего...

Светильник для определения реакций рыб и нерыбных объектов на электросвет различного спектрального состава

Загрузка...

Номер патента: 921483

Опубликовано: 23.04.1982

Автор: Егоров

МПК: A01K 75/02

Метки: нерыбных, объектов, различного, реакций, рыб, светильник, состава, спектрального, электросвет

...ручном варианте использова" ния светильника блоки 50 и 3 соединяют в единиое целое, в корпусе 34, причем 4 лок с табло 4 и силовой многожильный кабель 5 отсутствуют. Монтаж в электросхемах проводят обычным кабелем 51, а, разделительные герметичные планки 52 и 53 монтируютсоответственно, внутри блоков 50 и 3.Светильник работает в дистанцион . 5ном режиме подготовленный к работесветильник (фиг.1-3) с помощью гру"зовой стрелы выводят за борт суднаи опускают на кабеле 5 в наружнойтросовой оплетке 46 на заданную глубину, где находится скопление рыбы.В период проведения опытов контрольза проведением производят при помощигидроакустических приборов (не пока"завы). Работы проводят вдва приема., 15Первоначально грубо исследуютобщий оптический...

Устройство для следящего спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 924607

Опубликовано: 30.04.1982

Авторы: Анисимов, Губарев

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, следящего, спектрального

...индикатора 14, выход блока 11 деления подключен ко входу блока 13 воспроизведения арктангенса, подключенноговыходом ко второму информационному входу индикатора 14, синхрониэируюций вход которого соединен с выходом управляемого генератора 6 частот, выход индикатора является выходом устройства.Устройство работает следующим образом.Для одновременного определения мощности и фазы сигнала анализируемой частоты в основу работы предлагаемого устройства положены ФормулыЯ ( - .) =Ве ( +1 ш ( - 3, м= - (1)2 л О. 2 У2 л. 2 ль 1 ь ф ь 140 После квадратичного детектирования с выходов квадраторов 9 и 10 сигналы, пропорциональные средней мощности действительной и мнимой частей 65 Если переключатель 15 включен навход 18, то х = ц ,где 0 (С) -...

Камера-штатив с контролируемой атмосферой для спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 930020

Опубликовано: 23.05.1982

Авторы: Заболотнев, Краснопрошин, Кудюкин

МПК: G01J 3/42

Метки: анализа, атмосферой, камера-штатив, контролируемой, спектрального

...к механизмам, размещенным внутри корпуса камеры 1, и вакуум плотно закрывается поворотной крышкой 42. 5 9300 0вом направлении, а с ведушим валом 19жестко с возможностью разьема.Червячная передача, состоящая иэчервяка 16 и колеса 17, и система валов, состояшая из промежуточного полого вала 18 и ведущего вала 19 с рукояткой управления 20, образуют механизмвращения.Через отверстие, выполненное в основании кронштейна 14, пропущен ходовойвинт 21, закрепленный верхней частьюв опоре вертикальной стенки 22 основания кронштейна 14.С ходовым винтом 21 взаимодействуетгайка, состоящая из корпуса 23 и реэьбовой втулки 24, Корпус 23 гайки спомошью профильного крепления (например,типа "ласточкина хвоста) соединен свертикальнсй,стенкой 22, служащей...

Устройство для спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 940084

Опубликовано: 30.06.1982

Авторы: Кирюхин, Коновалова, Минин

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, спектрального

...спектр, Этот сигнал поступает на генератор управляющего напряжения блока 12, на выходе которого формируется напряжение, подающееся на вход управляемого гетеродина 9, В результате спектр сигнала на входе второго коммутатора 7 сдвигается таким образом, что он размещается ближе к середине полосы обзора дисперсионного анализатора 2.На втором выходе блока 12 появляется импульс, который переключает коммутаторы 6 и 7 на один шаг вниз так, что подключаются вторые их контакты, Это приводит к тому, что на вход временного компрессора 1 через полосовой фильтр 10-2, полоса пропускания которого вдвое меньше, чем ширина полосы пропускания первого полосового фильтра 10- 1, подается задержанный на время 14 входной сигнал (й, - задержка от входа...

Способ определения относительной интенсивности дефекта спектрального изображения, образуемого дифракционной решеткой

Загрузка...

Номер патента: 949348

Опубликовано: 07.08.1982

Авторы: Куинджи, Саамова, Совина, Стрежнев

МПК: G01J 3/40

Метки: дефекта, дифракционной, изображения, интенсивности, образуемого, относительной, решеткой, спектрального

...путем наклона апертурной диафрагмы, установленной перед решеткой, относи", тельно направления ее штрихов до разделения дефекта спектрального изображения от изображения вторичных дифракционных максимумовизмеряют интенсивность дефекта, выделяют вто ричный дифракционный максимум, рав" ный по интенсивности дефекту спектрального изображения, определяют положение этого максимума относи"8 фтельно спектральной линии, а относительную интенсивность 1 ь дефекта спектрального изображения вычисляют по формуле где х - расстояние между положениемвыделенного вторичного дифракционного максимума и спектральной линии;А - ширина заштрихованной поности решетки;1 - длина штрихов заштрихованной поверхности;3 - угол дифракции света от решетки;- фокус...

Фотоэлектрическая установка для спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 958870

Опубликовано: 15.09.1982

Авторы: Дубровин, Снигирев, Старцев

МПК: G01J 3/38

Метки: анализа, спектрального, фотоэлектрическая

...фотоприемники 3. Выходы фотоприемников через электронные ключи 4 и коммутатор 5 соединены с интеграторами 6, величина заряда на которых измеряется устройством 7. Электронные ключи 4 управляются импульсами отрицательной полярности, вырабатываемыми генератором селектирующих импульсов 8, задержки селектирующего импульса относительно начала разряда определяется генератором задержки 9. Дополнительные фотоприемники 10 через электронные ключи 11 и коммутатор 12 соединены с интеграторами 13, сигналы с которых поступают в блок отношения 14, выход которого соединен с блоком управления 15.Установка работает следующим образом. Обычная (интегральная) 2,0 1 О 15 2 О ЗО 35 4 О Световое излучение от источника света 1 разлагается в спектр...

Цифровой пирометр спектрального отношения

Загрузка...

Номер патента: 970128

Опубликовано: 30.10.1982

Авторы: Блажкевич, Зубов, Хлюнев

МПК: G01J 5/60

Метки: отношения, пирометр, спектрального, цифровой

...цифровые значения коэффициентов ОК, Е; к = 1, 2 п которые вместе с вйчисленнами значениями 1 И записываются вщк,кблок б памяти и хранятся в. нем постоянно.устройство работает следующим образом.управляющие сигналы, определяющие последовательность выполняемых операций, вырабатываются дешифратором 8 в соответствии с состоянием счетчика 9. Состояние счетчика 9 изменяется импульсом, поступающим с соответствующего выхода распределителя 10,С началом измерения температуры управляющие сигналы, вырабатываемые блоком 7, определяют последовательность выполняемых операций.Напряжения с выходов блока 1 поступают на входы блока 2, поеобразующего отношение напряжений -1 в циф 00 ровой код. Полученный код поступает на первые группы .входов блока 5....