Патенты с меткой «спектрального»

Номер патента: 1293665

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Кирюхин, Кряквин, Минин

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, спектрального

...подключается непосредственно к входу устройства, Длительность импульса СиДмультивибратора 14-6 определяет задержку запуска регистрирующего блока7.Устройство работает следующимобразом.В исходном состоянии аналоговыйкоммутатор 10 подключает вход дисперсионного анализатора 6 к входу устройства. По переднему фронту входногосигнала синхронизатор 8 вырабатываетимпульс на своем первом выходе, который синхронизирует работу дисперсионного анализатора 6,Одновременно все АЦП 1-1,1-21-Й кодируют информацию о входномсигнале. Полоса обзора устройстваусловно разбита на Й полос, причемкаждый из АЦП тактируется с частотой,которая обеспечивает преобразованиеинформации о соответствующей полосечастот и запись ее в свой буферныйблок памяти, По истечении...

Номер патента: 1296851

Опубликовано: 15.03.1987

Автор: Карих

МПК: G01J 3/10

Метки: анализа, спектрального

.... На оси корпуса 2 размещена разрядная камера, 16, служащая для прохода дугового разряда 17 и паров атомизированного материала, в плоских торцах 18 которой выполнены светопроводящие окна 19, касающиеся своей образующей 20 поверхности 4 в зоне 21, Торцовыеповерхности 22 каналов 12 прокладки 5 сочленены с плоскими внешними поверхностями.камер 7 и 8.П р и м е р. Контролируемый образец 10, служащий одним из электродов, устанавливают неподвижно на приэлектродную диафрагму - стол 11 размером О х 70 мм с выходным отверстием диаметром 6 мм. Затем подают стабилизирующий газ в газораспределительые камеры 7 и 8, из которых по цитиндрической щели радиусом 100 мм по аправляющим каналам 12 в виде вихря подают в приэлектродную зону дугового...

Номер патента: 1023883

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Каралис, Кертаи, Махлин, Тачкин

МПК: G01J 3/10

Метки: излучения, источника, прибора, спектрального, юстировочное

...элемент и держатели электродов.Цель изобретения - повышение надежности эксплуатации источника излучения и точности юстировки.Цель достигается тем, что в пред лагаемом устройстве экранирующий кожух и средства перемещения источника выполнены в виде вертикального цилиндра с окном на боковой поверхности, установленного на горизон тальном основании, причем поверх указанного цилиндра установлен с возможностью поворота второй цилиндр с окном на боковой поверхности и торцевой крьшжой, в которой закреплен изо ляционный элемент со вставленным в него с возможностью перемещения держателем электрода, а на горизонталь- . ном основании закреплен ступенчатый конусный манжет с отверстием через 4 О которое выведен второй держатель электрода, имеющий...

Номер патента: 1302210

Опубликовано: 07.04.1987

Авторы: Баширова, Седельников, Урецкий

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, сигналов, случайных, спектрального

...10-203 от выбранной полосы 6 й . В вычислительный блок 5 с его внеш него устройства вводят значение шага Ь и частот й, на которых необходимо вычислить отсчеты 3 , и количество поддиапазонов 1 перестраиваемого (вспомогательного) фильтра 2, 55 Полосовые фильтры 3, в соответст" вин со своими АЧХ, пропускают гармонические сигналы с входа на выход. 10 2Постоянство и равенство между собой амплитуд входных, гармонических сигна" лов позволяет по их откликам на выходах полосовых анализирующих фильтров 3 судить об АЧХ последних. Получаемые при этом на выходах детекторов 4 значения отсчетов АЧХ поступают в память блока 5.При этом при равенстве й= Яср, где й . - частота среза полосового фильтра 2 в -м поддиапазоне, на второй вход фильтра 2 с...

Номер патента: 1303910

Опубликовано: 15.04.1987

Авторы: Дьяконов, Котельников, Стенин

МПК: G01N 21/67

Метки: визуального, спектрального, сталях, углерода

...9,гайка 10 прижима дискового электрода.Углерод определяли в сталях типа08 Х 18 Н 10, 1 Х 18 Н 9 Т, 12 Х 18 Н 9 Т, ст. 10,ст, 08, ст. 10 кп, 12 Х 13, ЭИ 496, 1Х 16 Н 9 И 2, Использовали стилоскоп СЛ35"Спектр", Параметры стилоскопа: индуктивность "0" мГн, емкость разрядного контура 20 мкф, ток разряда 6 А.Скорость вращения дискового противоэлектрода изменяли от 0 до 0,8 см/с; 40шероховатость О,05-0,09 мм, аналитический промежуток 0,8 мм. Использовали линии углерода С 1657,8 нм,С 2658,2 нм и линия железа Р 659,29 нм,железа. Данные приведены в табл.1 и 2. 45Влияние шероховатости материалаэлектрода на повьппение чувствитель-.ности определения углерода приведено в табл.1. 10 2Если шероховатость отсутствует, то при любой исследуемой...

Номер патента: 1305716

Опубликовано: 23.04.1987

Авторы: Емельянов, Нечаев

МПК: G06G 7/19

Метки: анализа, спектрального

...по 1Для И = 8 матрицы связи имеют вид . 1 1 уКех- К,2 Кх - У, С,; 1х1 О 0 0 0 О 0 0 1 -1/2 -1/2 -1/2 -1/2 1/2 1/2 1/2 1 -1/2 -1/2 -1/2 -1/2 1/2 1/2 1/2 1 -1 -1 11305716 6ка было равно для И = 8 Пвы (1)-К(К Пвх, -КЛвх, -КзПва, К "моК ПВ 5 КСПбх 6 у Вх 7 8 б" а фгде П,-Б - напряжечие с выходов 1,237,8 интеграторов,которые пропорциональныК 4 1 э Кйэ Квэ К 7 эК,= 1/г,и в зависимости от знака эти напряже"ния подаются на прямой или инверсныйвходы блока суммирования.Суммируя одноименные значенияК У и 1 М в сумматорах 6, получаем на их выходе ординаты взаимного спектра Уолша Корректор А.Зимокосов Заказ 1454/48 Тираж 673 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д....

Номер патента: 1308928

Опубликовано: 07.05.1987

Автор: Плавильщиков

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, сигналов, спектрального

...управления и является запросом на обработку. Блок 7 управления осуществляет удовлетворение запросов на обработку в соответствии с уровнем приоритета экстрематора. Высшим приоритетом обладает экстрематор, осущест-. вляющий обработку амплитудно-модулированного сигнала с наивысшей несущей частотой, а низшим - экстрематор, осуществляющий обработку амплитудно- модулированного сигнала с низшей несущей частотой. Обработка сигнала с выхода экстрематора заключается в подключении его с помощью коммутатора 4 к входу АЦП 5 и последующем кодировании. По окончании кодирования обслуживаемый экстрематор импульсом с выхода блока 7 управления опятьд и; КЗ - 0,707 А,; 3 1308 переводится в режим слежения за сигналом на входе. Коды а выхода АЦЦ 5 поступают...

Номер патента: 1312635

Опубликовано: 23.05.1987

Авторы: Афанасьев, Лобанов, Савулькин

МПК: G10L 15/04, G10L 19/02

Метки: анализа, речевых, сигналов, спектрального, цифрового

...кцовцогц тона, Гс(К 131 ООРс 1.(0 1, 1 ГО(П 1 Цс И.11.Ц ЦЫИ Ч с Кв чч Ок(.(дс 5 и 1 Итрс сс(мецтд; р 3:3 Ожецие ытоп сегменты в рял Фурье с требуе рдзреИдкщс й сицсо 6(юсгью ири ццчцИсц .ГОЦЕЦ 130( 611 С ГРОЗ 0 Ц Р(ОС) Рс)ЗОВ с) 3(И 51 Фурье, Вы,и 1 сци( срслцс 3 ц цсрицл 33 жлу 13 КСИЫ 10 М 31 Гч(ДС 1 ОГО СЦЕКТР 3; ВЫ 3 ИС. лс цирдзццси че+ л цасцгцй, ситве- сБ нци и сл церицлу, и ч;)спОй скцов( )1 ( 1 11 с, С Р Д Б 131. 13 11 С Б 133 11 С . 3(. 13 13 13 Р Д . 1 0(. -ЦЦР 01)3 И Ццв ГОР 110 Ы Р;1 3.10+ СИ И РС. 1 Бп 0 си цд.;3 в рял Ф рье цри иочоши- 1)цсин 6 ысгр с 31 р 06 рд.Овация Ф рьс ц;1 рдсш и реп Бом и цтря, е, вкл н НП 111 ИЦ ЕРВДЛ И РВИЦЦОП РДЗЛОж 3(ИЯ Б Л;ЦССГБС КОЦС Цц 0 Иц.(ипгм РВДЛД В СЛ- и икцЯд иличиц; р;3(шсги цс...

Номер патента: 1315828

Опубликовано: 07.06.1987

Авторы: Бабушкин, Воробейчик, Трилесник

МПК: G01J 3/10

Метки: анализа, возбуждения, источник, спектра, спектрального

...Через интервал времени, определяемый цепями 37 управления, выдается управляющий импульс на ключи 23-25 в зависимости от режима работы. Накопитель 12 совместно с накопителем 20, 21 или 22 разряжается через ключ 23, 24 или 25, элемент 26, 27 или 28 Формирования тока и аналитический промежуток 8. Одновременно подается управляющая команда на ключ 33 или 34 первичного поджигающего контура. Накопитель 30 или 31 разряжается на высоковольтный каскад 7, Формирующий поджигающий импульс в аналитическом промежутке.Наличие ш каскадов режимов обжигаи экспозиции позволяет формироватьимпульсы тока с различными энергетическими характеристиками в каждомкаскаде,Высоковольтный коммутатор 35 предназначен для отделения основногоразрядного контура от...

Номер патента: 1320668

Опубликовано: 30.06.1987

Автор: Карих

МПК: G01J 3/10

Метки: анализа, спектрального

...и может быть использовано для определения химического состава электропроводных материалов с применением дуговых источников возбуждения спектра.Цель изобретения - сокращение времени пробоподготовки злектропровод- ных проб без механической обработки.П р и м е р. Контролируемый обра зец с предварительно не подготовленной для анализа поверхностью устанавливают неподвижно на приэлектродную диафрагму толщиной 8 мм, выполненную из стеклотекстолита диаметром 70 мм, 15 затем подают стабилизирующий газ при расходе 1 л/мин в виде смеси определенных объемов аргона и воздуха, соотношение которых определяется уровнем коррозии поверхности металла. 20 Наилучшие экспериментальные результа. ты получены при соотношении 1: 1.Для обеспечения локальной...

Номер патента: 1332203

Опубликовано: 23.08.1987

Автор: Прудников

МПК: G01J 3/42, G01N 21/73

Метки: анализа, спектрального

...горелки а анод 4 - выше каУ 10 тода по оси горелки. Такое расположение катоди и анода обеспечивает совпадение направления пропускаемого через пламя тока с потоком газов пламени и стабилизацию разряда. Расстоя ние между катодом и анодом составляет 10-100 мм. Минимальное расстояние определяется возможностью осуществления предлагаемого нового типа разряда, а максимальное расстояние связа 20 но с практическими соображениями при атомно-абсорбционном анализе элементов в пламени. Для снижения влияния эффекта блуждания дугового разряда на катоде и аноде электроды установо лены под углом не более 90 по отношению к оси горелки.П р и м е р . Используют эмиссионный и атомно-абсорбционный спектрофотометр с концентрическим распылите 30 лем, камерой...

Номер патента: 1339456

Опубликовано: 23.09.1987

Авторы: Берестень, Ерохин, Мясникова, Осадчий, Строганов, Шкодырев

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, аппроксимативный, спектрального

...фазовогосдвига; определяется спектр ССФ как сумма спектров вьщеленных составляющих.Способ можно реализовать, например,с помощью устройства, состоящего из блока 1 вьщеления экстремумов, формирователя 2 колокольных импульсов, формирователя 3 спектра колокольных импульсов, осуществляющего амплитудное и временное масштабирование колокольного импульса, блока 4 формирования фазовой задержки, блока 5 сумматоров, выходного блока 6, блока 7 сумматоров и выходного блока 8, накапливающих действительную и мнимую части спектра соответственно, блока 9, формирующего аппроксимирующий сигнал, блока 10 задержки, обеспечивающего задержку вхоца схемы на время измерения, блока 11 вычитания, блока 12 сравнения с заданной погрешностью аппроксимации. Вход...

Номер патента: 1341527

Опубликовано: 30.09.1987

Автор: Лебедев

МПК: G01N 1/28

Метки: анализа, подготовки, проволоки, спектрального

...предприятие,г.ужгород,ул,Проектная,4 1 13 Изобретение относится к подготовке образца для количественного анализа,а именно для спектрального анализа. Целью является получениеплощади поверхности, необходимой для анализа на спектрометреП р и м е р. Стальную проволоку неизвестного состава диаметром 2 - 6 мм очищали шкуркой, протирали бязью и разрезали с помощью ножниц-гильотины соответственно иа 15, 10, 7, 6 и 5 кусочков длиной 20-26 мм каждый. Затем все кусочки сдавливали на прессе для получения следующего профиля до толщины 6=26/и, где и - число кусочков, с тем, чтобы можно было установить их почти без зазора в матрице-держателе. Если зазор оказывался велик (0,5 мм), то добавляли еще кусочек проволоки и еще раз...

Номер патента: 1346952

Опубликовано: 23.10.1987

Авторы: Аполицкий, Слесарев

МПК: G01J 3/10, G01N 21/67

Метки: анализа, спектрального

...не менее чем тремя верхними 1 - 3 и тремя нижннии 4 - б электродами, концы которых расположены в двух параллельных горизонтальных плоскостях, и приспособление 7 для подачи порошкового материала 8 в межэлектродный промежуток. Напряжение к парам электродов 1 и 5, 2 и 6, 3 и 4 подведено от одной фазы через разделительные трансформаторы 9 - 11, в цепи вторичной обмотки которых последовательно с межэлектродными промежутками подключены катушки индуктивности связанные индуктнвно с генера торами 12 - 14 высоковольтных импульсов, которые обычно используются для поджига дуги в спектральном анализе (типа генератора Свитницкого) . Кон 2 б денсаторы С, С , С предохраняютразделительные трансформаторы 9,10, 11 от прохождения через них высоковольтных...

Номер патента: 1346984

Опубликовано: 23.10.1987

Авторы: Брагин, Кодалашвили, Локоть, Хуршудян

МПК: G01N 21/72

Метки: анализа, световодное, спектрального, эмиссионного

...4 и 6 через соответствующие интерференционные Фильтры 9 и 10 направляется на фотоприемники 11 и 12.На Фотоприемники подаются с помощью вторых световодов 5 и 7 световые импульсы от импульсного источника 8 излучения. Частота импульсов 1-10 кГц. Сигналы с фотоприемников усиливаются усилителями 13 и 14. На выходе усилителей имеются сигналы11 = Ко К ЮФ)И) Кз С х+17+ ЙЕ)+ +У,И,к,)к,-. (ъ)КДК,К,У=К,Кц(Ь,)(ъ)К СЧЯ(й)+ + Ф,(%э о)К 4 (ф)К 11 КсРа Кд ф где К - коэффициент, характеризующий эффективность горелки изависящий от состава горючего газа, геометрии горелки и те,КК - коэффициенты, характеризующие зоны, расположенные навысоте ЬЬ от основаниягорелки;Ч"(Ь) - Функция, описывающая зависимость интенсивности эмиссионного излучения от высоты...

Номер патента: 1354071

Опубликовано: 23.11.1987

Авторы: Бубновская, Бутакова, Ендукина, Ковина, Попов, Русьянова

МПК: G01N 21/35

Метки: анализа, проба, спектрального, твердых, тел

...при концентрации образца0,3%.П р и м е р. Проводят молекупяр ный спектральный анализ типичного газового угля в инфракрасной области .спектра. В качестве наполнителя используют спектрально чистый монокристаллический бромистый калий. Спектры получают на приборе "Перкин-Зльмер 580 В" в области 2,5 - 20 мкм.Пробу готовят следующим образом.Наполнитель КВч измельчают, и прессуют таблетку, Затем измельчают 55 10 -ную смесь угля с КВч 50 мг полученной измельченной смеси насыпают на таблетку иэ КВч, разравнивают и припрессовывают к ней при давлении 5 т/см , Интенсивности полос поглощения в спектрах измеряются по методу базисной линии.Результаты определения даны в та бл. 1.Как видно иэ табл, 1, для проб с концентрациями образца 15; 12,5; 10%...

Номер патента: 1363034

Опубликовано: 30.12.1987

Авторы: Петров, Пушкарева, Шабдукаримов

МПК: G01N 21/66

Метки: анализа, спектрального

...(И , О, Н 2 и т.д.) и аппррксимируют их уравнением прямой в отрезках в виде(Е+Ь)-А(У-а) 1Х =Ь,+ а ) (4) где Х = 1 я САг функция концентрации определяемогоэлемента здесь -аргона в гелии; Е = 1 К(1 дп// ) - аналитический сигналдля случая определения аргона в гелии; У =1 ВИд 1 д//1 д) корректирующий сигнал для случая определения аргона в гелии;параметры стандартного градуировочного графика (фнг.2 ), построенного для чистой двухкомпонентной смеси гелия а, и Ь с определяемым элементом - аргоном;А - коэффициент регрес"сии корреляционнойсвязи между аналитическим сигналом Еи корректирующимсигналом У, полученной путем измене-.ния состава и концентрации неопределяемых компонентов вгелии для заданныхуровней концентрацииопределяемого элемента...

Номер патента: 1376011

Опубликовано: 23.02.1988

Автор: Горшков

МПК: G01N 21/03

Метки: безокошечная, газохроматографического, детектирования, кювета, спектрального

...кюветы, каждый иэ которых расположен с другой стороны шайб. Голубев Корректор И. МускаПодписное Заказ 783/44 Тираж 847 ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к газохроматографическому анализу, в частности к устройствам для спектрального детектирования разделенных компо 5 нентов.Целью изобретения является расширение температурного диапазона и снижение паразитного газового объе" ма в кювете. ОНа чертеже представлена схема устройства.Устройство состоит из металлического корпуса 1 с центральным световым каналом 2, Выход хроматографи" 5 ческой колонки 3 подсоединен к цент"...

Номер патента: 1383106

Опубликовано: 23.03.1988

Авторы: Закиров, Каримов, Петрановский, Тогулев

МПК: G01J 3/12

Метки: исследования, плоских, поверхностей, спектрального

...является упуч 5шение качества изображения и упрощение конструкции,На чертеже схематически изображено устройство для спектрапьного исследования плоских поверхностей. 1 ОУстройство содержит светоделительный блок 1, сканирующий элемент 2,проекционный объектив 3, монохроматор 4, оптическая ось которого согласована с оптической осью проекционного объектива 3, детектор 5.Устройство работает следующим образом.Излучение исследуемого объекта, пройдя через светоделительный блок 1, 20 разворачивается сканирующим элементом 2 вокруг оси проекционного объектива 3 со скоростью не менее 25 Гц. Далее проекционный объектив 3 строит разворачиваемое изображение в плоскости 25 входной щели монохроматора 4, выполненного по автоколлимационной схеме. В...

Номер патента: 1383107

Опубликовано: 23.03.1988

Авторы: Обераускас, Сярапинас

МПК: G01J 3/40

Метки: анализа, спектрального

...интенсивностей зависит от условий возбуждения (Фикс-пара), и спектральных линий элементов, оказывающих существенное влияние на интенсивность линий анализируемого элемента. Построение графической зависимости интенсивностей исследуемых спектральных линий от отношения интенсивностей спектральных линий фикс-пары. Приведение интенсивностей к единым, например средним, условиям возбуждения. Определение коэфФициентов корреляции между приведенными интенсив 1383107Наиболее оптимальным для определения времени релаксации температуры(или относительной заселенности уровней) явилось бы проведение измеренийинтенсивностей спектральных линийпри разных длительностях интегрирования сигнала. При больших временахинтегрирования в каждом измерениитемпература в...

Номер патента: 1411651

Опубликовано: 23.07.1988

Авторы: Дегтев, Кожевникова, Махнев

МПК: G01N 21/67

Метки: бария, буферная, микроколичеств, смесь, спектрального, стронция

...электрод затачиват на усеченный конус, а в нижнем для абивания смесей высверливают отверстие лубиной 4 и диаметром 3 мм. Г 1 очернение чиий Ва 455, 4 нм, г 460,7 нм; Хп 334,6 нм; Си 327,4 нм; Ад 338,3 нм замеряют на микофотометре НФО. Аналитические лиНии фотометрируют с учетом прилегающего фона, так как действие носителя различно зависимости от определяемого элемента.Экспериментальные данные (фиг. 1 и 2) Свидетельствуют о том, что из рассматриваемых буферных смесей С-Се 02, С - (Х)аС 1, .:-СсО наиболее перспективная смесь с носителем СТО. Из фиг. 2 видно, что предлагаемый носитель по сравнению с классическими СеОь .Х 1 аС 1 обеспечивает максималь;ую интенсивность спектральных линий бария и стронция. При оптимальном содержании...

Номер патента: 1434274

Опубликовано: 30.10.1988

Авторы: Иванов, Квочка, Кожевников, Козинцев, Минаева, Мкртчян

МПК: G01J 1/10

Метки: коэффициента, спектрального, яркости

...дает значение коэффициента яркостиА ЬР =огде индекс Й при коэффициенте означает диффузное освещение образцат,е., если измерить яркомером сигналя Л, пропорциональной яркости Ь образца в направлении А, ссвещаемого диффузным осветителем с температурой Т, и измерить сигнал яркомера 3(9)(10) 1 О 45 50 и яркость диффузного осветителя(Я, Т), то сигналАД,(А) = К 1.(Я), (3)5 где К - коэффициент пропорциональности, зависящий от геометрии яркомера и его чувстви тельности.Сигнал д И) = К Ь,(Я, Т). (4) Отсюдад (А) Ь.(А)(А, Т)Однако выражение (3) является приближенным, так как относится к случаю, когда образец не излучает, что справедливо только тогда, когда абсолютная температура образца Т равна О. В том .случае, когда Т Ф О, сигнал Л, яркомера...

Номер патента: 1462181

Опубликовано: 28.02.1989

Автор: Володарский

МПК: G01N 29/00

Метки: колебаний, коэффициента, материалах, поглощения, спектрального, упругих

...при этом приемником 4, расположенным на этом волноводе, фиксируют, идущий к образцу.и отраженный от него импульсы, а приемником 5, расположенным на втором 45 волноводе, Фиксируют импульс, прошедший через образец. Спектральный коэффициент поглощения упругих колебаний рассчитывают по формуле:. Для исключения влияния характерис тик волноводов и измерительной аппаратуры на результаты измерений образец удаляют и проводят две тарщФвкиустановки: "на отражение" - с разомк 1) 11нутыми волноводами и на проход 55 с сомкнутыми волноводами. Полученныедве пары импульсов дают возможностьполностью исключить акустические иэлектрические характеристики установки. Б,(Ы)1Б с,(Я)БдМ)Б с,03) 1,(ц) = - 1 п1 Ь где Я - угловая частота акустических колебаний,...

Номер патента: 1470766

Опубликовано: 07.04.1989

Авторы: Недоспасов, Незавибатько

МПК: C12Q 1/00, G01N 33/52

Метки: активности, пептидаз, спектрального

...по прототипу, с Субстрат щее выявить ферментВизуально, с оназафцО 0,05 трис-НС 1, 2рН 7,6 60 ак в примере 1 600 0,05 М трис-НС 1,рН 8,0, 0,001 М,ЭДТА, 0,001 МдитиотреитКак в примере 10,066 трис-НС 1,0,05 М СаС 1,0,05 И БаС 1 Папаин к в приме" 1 25 600 37 1800 ифа) ромби Комплекспротеазсывороткикрови 25 го-Рпе- АгК-БН Компле протеа о же 505 нм, По интенсивности роста флюоресценции судят о количестве фер/мента. Можно также проводить измере 1 ния "по конечной точке", определяя флюоресценцию однократно по истечении определенного промежутка времени,П р и м е р 1. Определение активности трипсина по флюоресценции 1" 1-нафтиламин-сульфокислоты. 102 мл реакционной смеси, содержащей 510 М 1-(М-карбобензоксиаргинил)-аминонафталин-сульфокислоты...

Номер патента: 1471146

Опубликовано: 07.04.1989

Автор: Плавильщиков

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, сигналов, спектрального

...осуществляется с учетом длительностипоследней,Устройство, реализующее предлагаемый способ, состоит из двухканального измерительного магнитофона 1, временного селектора 2, двухканального 40осциллографа 3, спектрального анализа 4, измерителя 5 отношения временных интервалов и блока 6 вычислений.Первый и второй входы устройствасоединены соответственно с первым и 45вторым входами магнитофона 1, первыйвыход которого подключен к первымвходам селектора 2 и осциллографа 3,второй вход которого соединен с первым выходом селектора 2 и первым50входом анализатора 4, второй выходмагнитофона 1 подключен к второмувходу селектора 2, второй выход которого соединен с вторым входом анализатора 4 и первым входом измерителя 5, второй вход которого...

Номер патента: 1396745

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Захаров, Якупова, Ярославцев

МПК: G01N 21/71

Метки: анализа, масел, образец, смазочных, спектрального, сравнения

...содержащийтолько основу, например 57. масла и95% парафина.40Приготовленные предлагаемым способом образцы сравнения удобны придлительном хранении и использовании.Смазочное масло может вводиться вобразцы сравнения в количестве отдо 30 мас.% образцов сравкения вследстние того, что эти количества позволяют получать образцы сраьнения втвердом виде, не изменяя элементногосостава основы. Форма и размеры отливок не ограничиваются. Нижняя граница содержаний смазочного масла (17)- обусловлена естественным содержанием масла н исходном парафине, При содержании масла больше 30% нарушается однородность состава стандартных образцов вследствие выделения масла из стержней.Примеры конкретного исполнения,5 4П р и м е р 1. Готовят набор стаидартных...

Номер патента: 1509621

Опубликовано: 23.09.1989

Автор: Павловский

МПК: G01J 3/10, G01N 1/28

Метки: анализа, подачи, проб, спектрального

...программным устройством по циклограмме. Перед началом работы установкивыполняют следующие операции:регулировочным винтом 6 устанавливают жесткость пружины воронки 2путем продольного перемещения струны5, соответствующую сыпучести порошкаисследуемой пробы (определяется экспериментально). Затем штурвалом 46 25с помощью реечного зацепления шестерня 47 и рейка 44 перемещают электродвигатель 43 сканирования вдоль плеча 40 двуплечего ры .ага. Устанавливают оптимальную амплитуду сканирования (принцип выбора амплитуды описанфьниже,;включают систему охлаждения отсасываюшей трубы 28, пропуская посистеме "нагнетательныи патрубок 30 -и, 35кожух 29 - сливной патрубок 31 воду:устанавливают зазор между конусамиугольных электродов 27 с помощью...

Номер патента: 1509622

Опубликовано: 23.09.1989

Авторы: Грачев, Грачева, Петухов, Рукин, Хлебникова

МПК: G01J 3/10, G01J 3/42

Метки: анализа, спектрального

...анализа в верх ней части первого электрода 11 закрепляется анализируемый образец 14, который для создания устойчивого канала дугового разряда в пламени должен быть проводящим и иметь конусную форму, Проще всего эти условия выполняются для случая анализа металлов и сплавов, в случае непроводящих продуктов возможно формировать образец на основе графитового порошка. 40 Кроме того, поддержание устойчивого, стабильного дугового разряда требует введения в зону пламени ионизирующего вещества, что осуществляется рас. пылением устройства 19 в камеру 13 45 смешения газом-окислителем 10 -ного.раствора . К 1 (или КС 1, ИаС 1 и т.д.). После поджига пламени над цилиндрической горелкой 10 устанавливается Т-образный патрубок-насадка 9 таким50...

Номер патента: 1509680

Опубликовано: 23.09.1989

Автор: Давидавичюс

МПК: G01N 21/01

Метки: анализа, спектрального

...попадает на блок 12фотоэлектронных умножителей, Частьизображения искрового разряда попадает на фотодатчики 3, фотосигналыкоторых подаются на входы дифференциального усилителя 5,. и несет в55.аебе информацию о пространственномположении иэображения искрового разряда по отношению к входной щелиспектрального прибора 4, Если на 0 4Вщель проецируется центральная частьизображение, то оба фотосигнала равнымежду собой и на выходе дифференциального усилителя 5 сигнал отсутствует,Если на щель проецируется периферийная часть изображения, то на выходе усилителя 5 появляется сигнал, который подается на двухуровневый компаратор 6, Таким образом, величинаразности фотосигналов от фотодатчиков 3 указывает участок, изображениекоторого в данный момент...

Номер патента: 1509798

Опубликовано: 23.09.1989

Авторы: Калантарян, Кононенко, Муратов, Сторижко

МПК: G01J 3/00, G02B 19/00

Метки: входной, оптическая, освещения, прибора, спектрального, щели

...лучей в ней представлен нафиг,1. Проекционная линза 2 черезсистему уголковых отражателей 11и 12 образует изображение источника 1, увеличенное в заданное числораз, на диафрагме 3, которая вырезает участок изображения заданнойплощади. Растр 6 совместно с линзой5 дает изображение этого участка вплоскости второго растра 8. Линза 9отображает плоскость растра 8 навходной объектив спектрального прибора (не показан) . Это описан каналпередачи изображения источника. Онслужит для освещения входной щели10 спектрального прибора по высоте.Одновременно линза 4 создает изображение проекционной линзы 2 в плоскости первого растра 6. Линза 7совместно с растром 8 проецируетизображение растра 6 в плоскостьвходной щели 10. Это канал передачиизображения...