Патенты с меткой «спектрального»
Установка для измерения спектрального коэффициента излучения материалов при высоких
Номер патента: 365585
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01J 5/00
Метки: высоких, излучения, коэффициента, спектрального
...также на входную щель дополни тельного приемного устройства б, Фиксируется выходной сигнал У дополнительного приемного устройства б, пропорциональный яркости щели при температуре Т, т, е. Ь (Х, Т) (1), Далее, уменьшением температуры трубки до 30 некоторого значения Тф с помощью приемного365585 10 или, исходя из условия линейности дополнительного приемного устройства, можем записать;(12) 15 Таким образом, при измерениях на описываемой установке значение спектрального коэффициента излучения материала определяется как отношение сихналов, измеренных 20 на дополнительном приемном устройстве прирабочей и вспомогательной температурах, возведенное в степень, равную отношению длин волн, установленных на допечнительном и основном приемных...
Способ измерения спектрального распределения
Номер патента: 368565
Опубликовано: 01.01.1973
Автор: Автор
МПК: G01T 1/185, G01T 1/36
Метки: распределения, спектрального
...ионизационной камеры, содержащей двадо электрода, одни из которых является собирающим, а на втором расположен источник альфа-излучения, и сетку, помещенную междуэлектродами, к сигналу собираюоцего электрода добавляют часть сигнала электрода источд 5 ника,причем полярность добавляемого сигнала ,противоположна втолярности сигнала сэлектрода источника, Величина добавляемогосигнала такова, что импульсы с собирающегоэлектрода, соответствующие альфа-частицам,20 вылетающим из источника параллельноэлектроду источника, уменьшаются на коэффициент прозрачности сетки.Величина сигналов электрода источника исобирающего электрода ионизационной каме 25 ры с сеткой при учете влияния,положительных ионов на величину сигнала сооирающегоэлектрода...
Способ обобщенного спектрального анализа изображений
Номер патента: 369587
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G06G 9/00
Метки: анализа, изображений, обобщенного, спектрального
...изобретения является устранениеуказанных недостатков.10 Отличия описываемого способа заключаются в том, что изображения положительной и отрицательной частей каждой из функций, по которым производится анализ, регистрируют на отдельных голограм:,ах; в процессе анали за эти изображения последовательно восстанавливают с голограмм на транспаранте с анализируемым изображением. При этом голографический способ хранения изображений функций ооеспечивает не только помехоустойчивое 20 хранение информации, но и восстановлениеэтих изображений из различны.; ячеек памяти в одном и том же месте. Время анализа уменьшается за счет того, что считывание информации с голограмм осуществляется свето вым пучком, который допускает быстродействую:цее...
Способ спектрального анализа
Номер патента: 371488
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01J 3/10, G01N 21/67
Метки: анализа, спектрального
...зца осу. в полом Изобретение относится к области спектрального анализа материалов, применяемых, например, в атомной энергетике.Известен способ спектрального анализа материалов, основанный на возбуждении анализируемой пробы и регистрации ее излучения,В известном способе возбуждение образцаосуществляют путем его испарения,Предлагаемый способ позволяет повыситьчувствительность анализа материалов, содер. 10жащих смесь трудноиспаряемых и легколетучих элементов,Достигается это тем, что возбуждение образца осуществляют путем катодного распыления в охлаждаемом полом катоде. 15П р и м е р, Анализу подвергают цинк иокись цинка высокой чистоты на медь, железо, кадмий. Для анализа используют вакуумную установку для изотопного...
Способ атомно-абсорбционного спектрального
Номер патента: 373601
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01N 21/68
Метки: атомно-абсорбционного, спектрального
...разряда подают аргон, после чего на водоохлаждаемый медный факельный электрод подают высокочастотное напряжение от гене 25 ратора и возбуждают высокочастотный факельный разряд путем внесения заземленного проводника в горелку. Анализируемый раствор смешивают с изопропиловым спиртом в отношении 1: 1 (по объему) и распыляют с 30 помощью пневматического распылителя (рас373601 Предмет изобретения Составитель В, Вощанкин Техред Е. БорисоваКорректор А. Степанова Редактор Л, Новожилова Заказ 1426/10 Изд.1333 Тираж 755 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 ход раствора 2 мл(мин, расход аргона 4 мл(мин) в распылительной камере, Полученный...
Устройство для спектрального анализа
Номер патента: 377811
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G06G 7/52
Метки: анализа, спектрального
...интегратор 4.10 При достижении выходным сигналом интегратора 4 величины, равной опорному положительному (отрицательному) уровню, задаваемому источником 5 (6), срабатываетсхема сравнения 7 (8), Сигнал с выхода схе 15 мы ср авнения 7 (8) поступает на логический элемент ИЛИ 9 и далее запускаетизмеритель 1, срабатывает генератор 3, интегратор 4 ключом 10 управляет знаком суммирования накопителя 2. Вторая квадратур 20 цая составляющая текущего спектра формируется в устройстве 11 аналогцчць 1 м образом. Квадратурцые составляющие текущегоспектра возводят в квадрат в квадраторах12 и 13, суммируют в сумматоре 14 и ус 25 редняют в усредняющем блоке 15.Для,выбранных частот ц амплитуд гармонических сигналов моменты времени измерения могут быть...
Способ обобщенного спектрального анализа
Номер патента: 428229
Опубликовано: 15.05.1974
Авторы: Гибин, Потатуркин, Твердохлеб, Электрометрии
МПК: G01J 3/40
Метки: анализа, обобщенного, спектрального
...объективов б, матричный модулятор света 7, образуя голограмму 8 путем последовательной голографической регистрации на одном и том же месте фотоматериала положительных у+(х,у) и отрицательных у-(х,у) частей всех функций разложения, предъявляемых в плоскости транспорта 3. При этом 1-ой функции разложения в плоскости источников соответствует пара (Ю+, 1.1 ) опорных точечных источников. Поочередное подключение этих источников осуществляется с помощью матричного модулятора света 7.В режиме анализа изображений плоскую волну 1 перекрывают, а в плоскость 3 помещают транспарант с анализируемым изображением, Тогда в плоскости многоэлементного фотоприемника 9 восстановится множество точечных источников различной интенсивности. Расположение пары...
Способ эмиссионного спектрального анализа сталей
Номер патента: 436270
Опубликовано: 15.07.1974
Авторы: Кочережкина, Мочалов
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, спектрального, сталей, эмиссионного
...СТАЛЕЙтельность анализа кулярные лось испонда зовань а и для спектраль- инертных зобретения дм Способ 10 за стале" нии спек с целью ности оп материал 15 аммиакаанали- буждем, что, вительруемых юсфере эмиссионн и при искро тров, о тл повышения ределения ов, анализго спектр вом и дуг и чаю щи точности состава проводят ального вом во йся т и чувс анализи в ат Изобретение относится к области методов эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов.Известны способы эмиссионногоного анализа в воздухе, атмосфереи других газов.Предлагаемый способ позволяет повысить точность анализа различных материалов. Достигается это тем, что анализ проводят в атмосфере аммиака, который под воздействием искры или дуги диссоциирует на азот и .атомарный...
Способ регулирования чувствительности следящей системы автоматических компенсационных пирометров спектрального отношения
Номер патента: 437928
Опубликовано: 30.07.1974
Авторы: Непомнящий, Павлухин, Розов
МПК: G01J 5/60
Метки: автоматических, компенсационных, отношения, пирометров, системы, следящей, спектрального, чувствительности
...измерительного тракта пирометра в измеряемом диапазоне накладывает ограничения на точность измерения, быстродействие, динамический диапазон и надежность пирометров.Предлагаемый способ регулирования и получения постоянной чувствительности следящей системы автоматических компенсационных пирометров спектрального отношения заключается в том, что изменяют чувствительность приемника излучения пирометра в соответствии с изменением яркости объекта измерения.Регулирование чувствительности приемника излучения достигается тем, что в пирометре, кроме основной, дополнительно осуществляется модуляция потоков излучения по несущей частоте, по амплитуде которой непрерывно с 2помощью соответствующей схемы вырабатывается сигнал, пропорциональный...
Свч-плазмотрон для спектрального анализа
Номер патента: 449288
Опубликовано: 05.11.1974
Авторы: Девяткин, Зусмановский, Иванов, Парилов, Перминова, Цемко, Чуприна
МПК: G01N 21/56
Метки: анализа, свч-плазмотрон, спектрального
...твврдйми и жидкими дродуктами анализирувмых веществ оптическая прозрачность трубки резко ухудшается. Это затрудняет исдользованив плазмотрона при эмиссионном спектральном анализе и делает его практически невозможным дри атом34 ФУг но-абсорбционном спектральном анализе, когда требуется сквозное просвечивание разрядной трубки внешним источником света.С целью достижения полной 5 идентичности условиИ поглощения СВЧ-энергии в камерах и улучшения таким образом согласования плазмотрона и источника СВЧ-энергии, а также с целью обеспечения беспрепятственного распространения оптического излучения вдоль диэлектрической разрядной трубки по всему вв сечению плазмообразующий газ и анализируемое вещество вводятся в разрядную трубку в ев средней...
Устройство для спектрального анализа неровноты продуктов прядения
Номер патента: 450953
Опубликовано: 25.11.1974
Авторы: Бруфман, Рассказова
МПК: G01B 11/30
Метки: анализа, неровноты, продуктов, прядения, спектрального
...управления 6. Эти сигналы предназначены для формирования дейстщтельной и мнимой составляющих (текущие зна- щ чения коэффициентов фурье), Далее сигналы наступают на интеграторы 9, 10, выходные напряжения которых пропорциональны усредненным значениям коэффициентовФурье. Эти напряжения фиксируются индикаторами 13, 14 и поступают в регистратор 3. Управление синхронными детекторами 7 и 8 осуществляется от датчикаскорости 1 через делитель 2. Для перехода с одного диапазона длин волн на дру гой необходимо изменить коэффициент деления делителя частоты 2, Сигналы, поступающие с выхода датчика неровноты 12проходят через дискретные блоки 7-10,полоса пропускания у которых изменяет Ися в зависимости от скорости выпускапродукта на машине. Это...
Трубка для спектрального анализа
Номер патента: 452785
Опубликовано: 05.12.1974
Автор: Королев
МПК: G01N 27/68
Метки: анализа, спектрального, трубка
...достигаетсяиспользованием дустановкой на одно в линных трубок, а также м иэ койцов трубки эер кала.Нед атками известной разрядной труб ся: малая интенсивность потока ,Вфйдстви 4 значительной толщи- (1-3 мм) и работы трубки в ачальной стадии тихого электриазряда; непригодность трубки дир и давлейии свыше 0,1 ати (раки являютизлучени ны стенкирежиме н ческого р работы пр дарственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленностилучения. Трубка может быть использована в качестве интенсивного и стабильногоТ-": источника возбуждения спектров при спект: ральном анализе газов (напуимер, азота, углекислого газа, окиси углерода, циана, инертных газов и др.), для количественного определения микроконцентраций...
Штатив для эмиссионного спектрального анализа
Номер патента: 464791
Опубликовано: 25.03.1975
Автор: Фридман
МПК: G01J 3/00
Метки: анализа, спектрального, штатив, эмиссионного
...8 перемещения, переключающего устройства 9, содержащего подпружиненные фиксированные кнопки 10 с подпружиненной защелкой 11 иподпружиненные рычаги 12 с ограничителем13. Рукоятка 1 управления установлена накорпусе 14 штатива.5 Устройство работает следующим образом.Закрепленную исследуемую пробу на оптическую ось с определенной величиной межэлектродного промежутка устанавливают спомощью механизма 8,10 Для этого, в зависимости от направленияперемещения, нажимают соответствующуюкнопку 10 переключающего устройства 9, которая фиксируется подпружиненной защелкой 11. Фиксированная кнопка 10 передви 15 гает ограничитель 13, который освобождаетрычаг, поворачивающийся под действиемпружины до упора в ограничитель. Рычаг перемещает одно из...
Устройство для спектрального анализа сигналов
Номер патента: 477368
Опубликовано: 15.07.1975
МПК: G01R 29/00
Метки: анализа, сигналов, спектрального
...диапазон анализа.Для получения максимального динамиче ского диапазона анализа в предлагаемое устройство введен переключатель полосовых фильтров, связанный с блоком измерения и регулятором уровня записи.На чертеже изображен вариант описывае мого устройства, содержащего усилитель 1 записи с регулятором 2 уровня записи и индикатором 3 уровня, канал 4 записи-воспроизведения, усилитель 5 воспроизведения и полосовые фильтры 6 с различными полосами 20 пропускания, выходы которых через переключатель 7 связаны с блоком 8 измерения,полосы пропусканияемой полосой пропускльтра 6, устанавливнь записи. Установкадится регуляторомер, механической, с ана- ания ется ров за ереПредмет изобре Устроиство дналов в каналедения, содержлятором уронии...
Устройство для эмиссионного спектрального анализа растворов
Номер патента: 479996
Опубликовано: 05.08.1975
Авторы: Кварацхели, Хромилин
МПК: G01N 21/00
Метки: анализа, растворов, спектрального, эмиссионного
...показана схема устройства для 2анализа растворов.Устройство содержит фульгатор 1, источник возбуждения спектра 2, полихроматор 3,ФЭУ 4 в канале измерения, ФЭУ 5 в каналестабилизации, регистрирующий прибор 6, схему сравнения 7, источник опорного -напряжения 8, схему 9, управляющую работой фуль.-гатора,Полихроматор 3 выделяет линии анализируемых элементов и линию элемента, оказы ектрального точник возием ники и улирующийу возбуждес целью од фотопривность лирез схемы 1 на вход) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭМ АНАЛИЗСИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГРАСТВОРОВ вающего наибольшее влияние на условия возбуждения, Линии анализируемых элементов через выходные щели полихроматора выводятся на фотоумножители 4, сигнал с кото- Ь рых регистрируется измерительным самописцем 6....
Пирометр спектрального отнрошения
Номер патента: 480921
Опубликовано: 15.08.1975
Автор: Буглак
МПК: G01J 5/00
Метки: отнрошения, пирометр, спектрального
...ми термоприемниками через предварительныеусилители 4, а выходы подключены на вход вторичного прибора 6, и устройство 7 для изменения коэффициентов усиления предварительных усилителей 4 в зависимости от излу чающих свойств материала, температуру которого измеряют.Пирометр работает следующим образом.С помощью оптической системы 1 энергия излучения нагретого тела фокусируется через 15 светофильтры 2 на термоприемники 3. Возникающее в термоприемниках 3 напряжение подается на предварительные усилители 4, выходные напряжения которых поступают на блоки 5. С одного из блоков 5 сигнал передается на вторичный прибор 6.При переходе к измерению температурыобразца, монохроматические коэффициенты излучения которого отличаются от...
Устройство для спектрального анализа
Номер патента: 484528
Опубликовано: 15.09.1975
Авторы: Березин, Колтик, Коровкин, Пиастро, Сидоренко
МПК: G06G 7/19
Метки: анализа, спектрального
...в 15 вателей 2 соедн ющие входы св 5, а выходы -Выходы ячеек дам аналоговы. 20 разующих перв ка 9 состоит и лей 10 и двух ды инверторов ходами ячеек 25 фигурацией дер зования Фурье. рицы подсседп ячеек 9 второй вии с конфигу 30 Устройство рходы;всех временных квантонены параллельно, их управляязаны с выходами коммутатора с входами ячеек 7 памяти.памяти подсоединены к вхо-вычислительных ячеек 9, обую матрицу 8. Каждая ячейз двух суммирующих усилитеинверторов 11, при этом вхои усилителей соединены с выпамяти в соответствии с конева графа быстрого преобраВыходы ячеек 9 первой матнены к определенным входамматрицы (также в соответстрацией дерева графа) и т. д, аботает следующим образом.-т1 оставитель В. Жовинский ректор Н. Аук Редактор...
Светофильтр с плавным изменением спектрального состава проходящего через него светового потока
Номер патента: 490063
Опубликовано: 30.10.1975
Авторы: Виноградов, Гурьянов
МПК: G02B 5/22
Метки: изменением, него, плавным, потока, проходящего, светового, светофильтр, состава, спектрального
...точная установка координат цветности светового потока.Цель изобретения - повышение точностиустановки координат цветности светового потока.Это достигается тем, что в предлагаемомсветофильтре каждый блок фильтров выполнен в виде чередующихся между собой цветной и бесцветной пластин и установлен в направляющих с возможностью перемещенияотносительно друг друга в направлении, перпендикулярном к длине упомянутых пластин.На чертеже показана принципиальная схемасветофильтра,Светофильтр состоит из источника 1 света,трех блоков светофильтров 2, 3, 4, матированного экрана 5, подложки 6 и цветных 7 и бесцветных 8 пластинИсточник 1 света, в качестве которогоиспользуются, например, панель из люмир работает следующим образом. оток от панели...
Способ абсорбционного спектрального анализа паров и газов
Номер патента: 492790
Опубликовано: 25.11.1975
Авторы: Каралис, Качалов, Королев
МПК: G01N 21/00
Метки: абсорбционного, анализа, газов, паров, спектрального
...рез анализируемый газ,спектральная ширина которых сравнима со спектральной шириной линии поглощения. Один из участков совпадает с полосой поглощения, а другой расположен вблизи полосы поглощения.При работе по предлагаемому способу излучение источника, прошедшее через анализируемый пар или газ, направляется в сканирующий спектральный прибор с разрешаемым спектральным интервалом, не превышающим ширину полосы поглощения, например в сканирующий интерферометр. Приемник регистрирует распределение интенсивности в контуре линии. Затем производится выделение сигналов, соответствующих спектральным интервалам сО с длиной волны Л и А . Эти сигналы определяют, например, путем определений48 1790 Предмей изобретения составитель ф вбаРедактор...
Компенсационный пирометр спектрального отношения
Номер патента: 501297
Опубликовано: 30.01.1976
Авторы: Непомнящий, Павлухин
МПК: G01J 5/60
Метки: компенсационный, отношения, пирометр, спектрального
...выполнен в виде одпостороннего зеркала, расположенного,под углом к оси двигателя, проходящей через его центр и совпа,дающей с юптической осью пирометра. На чертеже изображен предлагаемый,п ром етр. Он состоит из,фокусирующей с приемников 2, 3 излучения, эталонн ников 4, 5,излучения, лежащих в од кюсти, одностороннего зеркала 6,жениного под углом,к прюходящей че оси, двигателя 7 и измерительно зующей схемы 8,Работа 1 пирометра заклгочае щем. Зеркало 6 с постоянной сщается двигателем 7, Оно расположено таким образом, что угол между его нормалью и осью двигателя, прохюдящей через центр зеркала, равен половине угла, образованного 5 оптической осью пирюметра и оптическойосью любого из приемникюв,излучения. Когда плоскость зеркала...
Устройство для спектрального анализа
Номер патента: 503168
Опубликовано: 15.02.1976
Авторы: Горынский, Грудиев, Рудько
МПК: G01N 21/00
Метки: анализа, спектрального
...за счет включения в предлагаемое устройство системы для разбивки спектра па интервалы, состоящей из датчика положения сканирующего узла монохроматора, последовательно соединенного со счетчиком импульсов и детектором.На чертеже представлена блок-схема предлагаемого устройства. Излучение от источника 1, модулированноемодулятором 2, подают на вход быстросканпрующего монохроматора 3. Днспергнрованноемонохроматором излучение преобразуется фо 5 тодетектором 4 в электрический сигнал, который усиливают усилителем 5 и подают в распределительный узел 6. Часть излучения отисточника 1 после модулятора 2 преобразуется фотодетектором 7 в электрический сигнал,О усиливается усилителем 8 и через запрещающий узел 9 поступает на счетчик импульсов...
Источник излучения для локального спектрального анализа
Номер патента: 507785
Опубликовано: 25.03.1976
Авторы: Захаров, Михайлов, Сафин
МПК: G01J 3/10
Метки: анализа, излучения, источник, локального, спектрального
...изменения расстояния между электродом и пробой не влияют на локальность определений. злуч ения держараль но нерго анализа свтор, кварцевунабженную напэлектрод, нвкканавки, и про ля юювьниы тако вть раэОднаклокалиэопробы. стройс гво не дозволяет яд на меньшей площади Бель изобретения - локали на меньшей площади про р Для этого тугоплавкий изолятор, нап :мер сапфировый, выполнен в виде иглы, ,контактирующей боковой поверхностью с электродом, острие которой смещено от сительно конца электрода на,величину, со:ответствуютдую разрядному промежутку, причем оси электрода и изолятора совпадают.На чертеже показана часгь предлагаери ав зобрет о р л я Источник излучения для локального сп трельного анализа, содержащий генератор электрического...
Установка для эмиссионного спектрального анализа
Номер патента: 511540
Опубликовано: 25.04.1976
Авторы: Воробейчик, Данилов, Сокольский
МПК: G01N 21/00
Метки: анализа, спектрального, эмиссионного
...матрицы эт поджи:.еюццос импульсов, вырабатываемых блоком поджига 13, в каждом кецдле уста", нов лены блокиров очные к опдецса торэ; 1 6,Временное управление ИВС (периодическое подксцочение и отключение источник 3 питания, вкл 1 очение блока 13 поджига,включение управляемых разделительных ксцо-. чей матрицы 10) осуществляется от блоке17 команд.Я"светительная система 2 установки, распс .", 1 нея между входной гцелью 18 спек-. гят:вого пр 1 Лорд 1 и аналитическими промежутками 8, выполнено в виде растрового конденсора.,11 е фиг, 2 изображен один из вариантов осветительной системы 2, который испхьдуется при рдсположец 1 П 1 дналитичоск.;х про межутков 8 вдоль одной прямой. пр 1 пецди% кулярцой к продольной эси входной шали...
Источник возбуждения спектра для спектрального анализа
Номер патента: 513268
Опубликовано: 05.05.1976
Авторы: Воробейчик, Данилов, Трилесник
МПК: G01J 3/10
Метки: анализа, возбуждения, источник, спектра, спектрального
...разрядного импульса в известных приборах связано с уве-личением величины разрядного сопротинлеция контура, что приводит к недопустймобольшим потерям в разрядном контуре,Этот супес гвенный недостаток известныхприборов, использую 1 цих апериодическйй разряд, не позволяет порысить экспрессносгьанализа.Цель изобретения - получение апериодического .разряда с повышенной частотойследования разрядных импульсов и увеличеНие к.п.д, 1Пос"вавленная дель достигается тем, чтомежду конденсатором и индуктивностью ко-=ле 1 сьгельного разрядного контура включенВ прямом направлении разрядный вентиль;а параллельно конденсатору включена допол нительная цепь, образованная последовательно соединеннь 1 ми индуктивностьк и вентилем,На фиг. 1 показана...
Смесь для спектрального определения вольфрама в тантале
Номер патента: 515950
Опубликовано: 30.05.1976
Авторы: Антонов, Белогорцева, Матюнин
МПК: G01J 3/40
Метки: вольфрама, смесь, спектрального, тантале
...что в свою очередь позволит вести контроль производства тантала высокой чистоты. 20Для этого в смесь вводят фосфорсодержащее соединение, имеющее преимущественно до 0,1 - 0,6 вес. % фосфора в пробе, например, смешиванием в соотношении 3: 1 вес. ч. окисленной до пятиокиси тантала пробы с буфер пой смесью, состоящей из хлористого серебра и фосфата аммония.Применение смеси позволяет повь ь чувствительность определения до 2.102 приведены сравнительные данные татам химического и спектрального пределенпя вольфрама в танталовом (относительно грязные пробы), тные результаты показывают хоророизводимость, точность определердма с предлагаемой смесью состав - 18")опроводят, смешивая окисленную до тантала пробу в соотношении 3: 1 уферпой смесью,...
Электрод для спектрального анализа
Номер патента: 519601
Опубликовано: 30.06.1976
Авторы: Бородина, Захаров, Лахтионова, Михайлов, Сафин
МПК: G01J 3/10
Метки: анализа, спектрального, электрод
...для опектрального анализа 12 с предварительным отборомпроб, наиболее близкий к изобретению.Электрод,выполнен металлическим, а отборпробы на электрод производится путем разряда конденсатора между электродом и,пробой,В результате разряда некоторая часть пробыиспаряется, плавится и приваривается к подставному элсктроду. Однако такой электрод не обво можности отбора непроводящих водящих веществ, отбора проб т на непроводящих подложечках,Для него также характерно пр става перенесенного вещества по анализируемой пробой в резул ния легколетучих компонентов,к повышению ошибки анализа, и значительные механические и термические удары в местах контакта,подставных электродов с пробой при разряде конденсаторов, в результате чего твердые пробы и...
Устройство для спектрального анализа
Номер патента: 522421
Опубликовано: 25.07.1976
Авторы: Красильщик, Манова, Рагинская, Чупахин
МПК: G01J 3/10
Метки: анализа, спектрального
...устройство для спектрального анализа.Оно содержит сосуды 1 электролитичес-. кой ячейки, трубки 2 для наблюдения,электроды 3, обратные холодильники 4, съемнуюкерамическую пластину 5 с капидлярнымоэверсгием (диамегром 1-3 мм), закрепленную с помощью фгоропласговых прокладок 6, прижимного блока 7 и держателя 8.Для проведения непрерывного анализа в потоке жидкости сосуды 1 в нижней части могут быть снабжены вводными трубками.Применение керамики на основе окиси алюминия или монокристаллической окиси алюминия позволяет полностью устранить износ капилляра при разряде.В собранную ячейку заливают анализируемый раствор гак, чтобы полностью заполнить канидляр керамической пластины 5. На токоподводы Г подается напряжение порядка 2000-3000 В.,...
Смесь для спектрального определения примесных элементов в тантале повышенной частоты
Номер патента: 524083
Опубликовано: 05.08.1976
Авторы: Антонов, Белогорцева, Матюнин
МПК: G01F 3/40
Метки: повышенной, примесных, смесь, спектрального, тантале, частоты, элементов
...хлористого нат; венно 6-10 1 вес.%.Смесь проверена на оповышенной чистоты. антала;тем спектрального анализа.Известны смеси для спектрального анализа тантала и его кислородных соединеительностхлористого Результаты анализа и чувсдостигнутая эа счет введениянатрия,представлены в таблиц Наиболее распространенной являетсясмесь из.пробы, окисленной до,пятиокиси 1тантала, и угольного порошка, взятых, например, в соотношении Ме 0;С=5;1.Недостатком использования такой смеси является низкая чувствительность анализа (И 10 тт10 ) у что не позволяетнадежно контролировать содержание примесей в танталовой продукции повышеннойчистоты,Цель изобретения - повышетельности опредепения цримес;введения в смесь окпспоцц й до пятиокиситантала пробы и уголь...
Способ фотографического спектрального анализа
Номер патента: 529379
Опубликовано: 25.09.1976
Авторы: Волков, Малашина, Нудельштейн, Пальчиков, Погорелов
МПК: G01J 3/40
Метки: анализа, спектрального, фотографического
...изобретения состоит в уменьшени тральногграфировруе мойнии аналОднабиться ние спектров анализирунов осуществляют групнии одинаковой длины в го одна под другои, а усреднен тов производят путем одноврем метрирования групп аналитичес О одной длины волны,Такое фотографирование спений группами, в которых линии волны расположены строго одн можно осуществить путем откр 5 личных участков входной щели при каждои экспозиции. Затем соответствующие группы линий фотометрируют на микрофотометре, так что в его входную щель попадает изображение всей группы, При этом результат фотометрирования автоматически усредняется по всей группе, Промежутки между изображениями линий одной группы на входной щели микрофотометра перекрываются с помощью соответствующей...
Способ недисперсионного спектрального анализа газов
Номер патента: 529396
Опубликовано: 25.09.1976
МПК: G01N 21/26
Метки: анализа, газов, недисперсионного, спектрального
...размещена рабочая каью, оптико - акустичеслучеприемного обьема ся низкая а и азота едостатком этог увствительность п зируемую пропускаю степени по оптико - ак концентра есь с исследуем нный поток излуч сью пропускаем приемником о ого газа.способа являет нализе кислоро из-за недостаточной интенсивности полос поглощ возбуждают, напр магнитным полем в лучеприемной к емника излучения а чертеже изображено устроиство, реализую з оптически прозрачного варца. Внутри корпуса 1мера 2 с анализируемой сме ий приемник, состоящий из529396 Составитель С. Соколова Техред З.Фанта Корретор Л. Боринская Редактор Л, Народная Тираж 1029 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж -...