Патенты с меткой «спектрального»

Номер патента: 1340324

Опубликовано: 23.09.1989

Авторы: Власов, Джугурян

МПК: G01N 21/39

Метки: анализа, лазерного, спектрального

...направляют перпендикулярно молекулярному или атомному пучку 2 сканируютпоступательно со скоростью Ч, на 15расстояние П, где Ч - скорость частиц молекулярного (атомного) пучка,При иэмереии двухфотонных спектровперпендикулярно напранлению распространения лазерного пучка ставят зеркало Э и сканируют поступательностоячую световую волну, Частота лазерного излучения резонансна частотеодного из спектроскопических переходов атомов или молекул, 25Вследствие увеличения областивзаимодействия частиц молекулярного(атомного) пучка с лазерным пучком,время в течение которого частицы находятся в световом пучкеопределяется 30выражением пических переходов атома или молекулы, Лазерый пучок направлен перпендикулярно днижеию пучка атомов или молекул и...

Номер патента: 1513474

Опубликовано: 07.10.1989

Автор: Вариченко

МПК: G01R 23/00, G06F 17/14

Метки: анализа, сигналов, спектрального

...нулевое кодовое слово после обнуления, которое подается на адресные входы ПЗУ 11 и выбирает из него коэффициент учета спектрального окна а , на которое умножается содержимое регистра 13.После окончания второго импульса строба содержимое счетчика 10 увеличивается на единицу, из ПЗУ 11 выбирается следующий коэффициент, на который умножается отсчет Х,(1), записанньй в регистр 13 с приходом второго импульса сигнала, подаваемого на вход 18. Далее процесс повторяется и каждый отсчет сигнала Х (и) умножается на соответствующие отсчеты а Умноженные отсчеты сигнала Х,(п) назаписываются с приходом импульсов на вход 22 регистра 29 (фиг. 4 и 13), которые сдвинуты вправо по отношению к импульсам на время работы блока 2. После срабатывания...

Номер патента: 1518734

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Водотовка, Гаврилюк, Скрипник, Таран

МПК: G01N 21/62

Метки: поглощения, показателя, спектрального

...тельного преобразователя нормированный коэффициент преобразования; приведенная к выходу измерительного преобразователя аддитивная погрешность преобразования, характеризуемая (в момент времениэ) коррелированной д э и некоррелированной д составляющими. 1 ООбтюратор открывают. Затем изменяют коэффициент К масштабного преобразования до его величины К, масштабируют интенсивность 1, потока источника зондирующего излучения до ее величины (К 1,), перестраивают этим фиксируемую преобразователем интенсивность 1 до ее значения 1, и получают на выходе этого преобразователя четвертый результат прямого иэ мерения в виде выходного сигнала У характеризуемого нелинейной асимптотической зависимостью к 4 к (14) Ф д ч кк 1 о 4 (л) Р 2 (л) 25 и (Л)1...

Номер патента: 1527543

Опубликовано: 07.12.1989

Авторы: Григоренко, Данильченко, Демьянчук, Каниболоцкий, Крыжановская, Огняник, Петушков, Плинер

МПК: G01N 1/00

Метки: анализа, металлических, образцов, спектрального

...произведя подпрессовку каждой порции. Контейнер вакуумируют и герметизируют электронно- с лучевой сваркой. Далее проводят нагру - жение контейнера посредством взрыва, вскрывают его и изготавливают образцы из полученного материала,Полученныи порошок просеивают и перемешивают. Далее порошок помещают в металлический контейнер с внутренней полостью диаметром 200 мм и высотой 30 мм, толщина стенок 10 мм. Наполнение контейнера производят порционно с промежуточной подпрессовкой.Далее контейнер закрывают металлической пластиной, входящей в отверстие контейнера с зазором 0,5-1,0 мм. Для удаления газов из шихты контейнер помещают в вакуумную камеру и выдерживают 40-50 мин при разрежении О, 133 Па. Затем в вакуумной камере проводят герметизацию...

Номер патента: 1538141

Опубликовано: 23.01.1990

Авторы: Берестень, Мясникова, Осадчий, Строганов

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, спектрального, экстраполяционный

...х(С) и соответствующей эффективной формы фильтра А (о): а - прямоугольное окно; бсглаженные на концах данные (например, косинусное окно); в - экстраполяция данных затухающими составляю 153841щими; на фиг.2 - схема устройствадля осуществления предлагаемого способа, на фиг.З - временная диаграмма.Устройство состоит иэ формировате 5ля 1 длительности интервала анализа,блока 2 измерения мгновенного значения сигнала в начальный момент изме. -рения, формирователя 3 переднегофронта блока 4 сумматора, блока 5формирования сигнала анализатора 6спектра, блока 7 измерения в конечный момент измерения, формирователя8 заднего фронта,Вход 1 схемы связан с входамиблоков 2, 7 и с первым информационным входом блока 5,Вход 2 связан с вхсдами блоков1, 2...

Номер патента: 1553915

Опубликовано: 30.03.1990

Авторы: Кондратов, Скрипник

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, параллельного, сигналов, спектрального, электрических

...продектированные сигналы1Ч .: К Ч сзатЧ; К Ч щ соз Чьд ц, - дополнительные фазовые сдвиги, вносимые полосовымФильтром,ПолусуммаЧ,. = 0,5(Ч + Ч ) =30=0,5 КЧ,; созд цщ+Ч,., совуДй разностьпродетектированных сигналов в этом 35случае содержит погрешность, обусловленную значениями фазовых сдвиговд Ц; и д и;, вносимых настроенными полосовыми фильтрами в суммарные сигнавида (12), В результате при подс ройке разностным напряжением Чдцентральной частоты соответствующегополосового фильтра возникает погрешность подстройки, зависящая от значений д ,и й у,. Аналогично возникает 45погрешность подстройки коэффициентапередачи -го полосового Фильтра при/использовании напряжения Ч,-, Введение в опорные сигналы парньм частотЙ н и ьд . дополнительных...

Номер патента: 1562798

Опубликовано: 07.05.1990

Автор: Аполицкий

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, лазерного, локального, спектрального

...возрастает в 3-5 раз при испарении одного и того же количества исследуемого вещества по срав-нению с известным способом (прототип) возЬуждения спектра при локально-ла" зерном спектральном анализе. Устройство позволяет осуществить загорание двух высоковольтных разрядов в момент поступления исследуемого, вещества в их межэлектродные промежутки, повысить коэффициент использования исследуемого вещества, увеличить время пребывания атомов определяемых элементов в зоне возбуждения, т.е, повысить чувствительность локаль. но-лазерного анализа.Увеличение размеров высокотемпературной зоны способствует не только повышению чувствительности анализа, но и повышает точность анализа, как за счет снижения нижней границы определяемых содержаний, так и за...

Номер патента: 1567944

Опубликовано: 30.05.1990

Автор: Плавильщиков

МПК: G01N 23/16

Метки: анализа, сигналов, спектрального

...по уров в блоке 1. Г 1 ри этом период дн:кретиза.:н Т гигн;ла Выбирается таки .: - бы дли,;)ЬН(ОТ. (.ДЕ)ЬНОй СГ-.И( С (Гвыы: Г, (Врв(я 1 Гле, Овагельног ано,н,с:, ячеек ,ЫяИ 6.10 ка 1 ОСц(."13 МИ С 1) )Ы,13 равна периоду основной чд(.Осы ., гармо .сс,ГО ряда ицформативных цыс от. Это с Оние можно запис 11.(Дедуон . виде: Г,с , 1 ер:с, днгретизациц с; ны;(ы ; х - ооъем 1 ам, ти блока 110 ФГму ы изобретения 3)а процедура реализуется авоматичес си в блоке 5, на вход которого с управляющего входа устройства поступан)т импульсы синхронизации. Импульсы синхрониззции умножаются с помощью умножителя часто. ты в блоке 5 и поступают на первый выход последнего. Програм мируя коэффициент у чножения умножителя частоты ь соответствии с кинем...

Номер патента: 1569517

Опубликовано: 07.06.1990

Авторы: Кожанов, Кусельман, Мичетина, Хубеджев

МПК: F27B 17/02

Метки: анализа, проб, спектрального, сплава

...материала с плотностью менее2,3 г/см , несмачиваемого расплавом.3Футеровка 4 прикреплена к дниау- 55тигля 1 и выполнена из жаростойкогоматериала, несмачиваемого расплавом,с тепдопроводностью менее 40 Вт/мК. Устройство работает следующим образом. На тигель 1 и электрод 2 через токопроводы 5 подается ток от трансформатора. Нажатием на рукоятку 16 электрод 2 приводится в кратковременное соприкосновение с подвижным электродом 3. После разъединения электрода 2 и подвижного электрода З.между ними загорается электрическая дуга.Под действием электрической дуги ,подвижный электрод 3 разогреваетсяи передает тепловую энергию шихте, которая плавитсяи стекает на дно тигля 1. футеровка 4 препятствует преждевременной кристаллизации расплава,...

Номер патента: 1569680

Опубликовано: 07.06.1990

Авторы: Скуратова, Трапицын

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, припоев, спектрального, эмиссионного

...в течение полупериода. Изменяя соотноше 55ние между паузой и длительностьювспышки мо".по влиять на величину поступления вещества гробы в область разряда, 11 ри Фазе поджига дуги 60 достигается максимальная интенсивность аналитических линий элементовза счет увеличения времени жизни атомо в в разряде дуги, Экспериментальноустановлено, что изменение фазы поджига также влияет и на наклон градуировочного графика, что показано втабл,2.Соотношение буфера с пробой и стандартными образцами 1:1 создает оптимальную упругость паров для выходаанализируемых элементов припоя изканала электрода в дуговой разряд ипоследующее их возбуждение.Добавка в буфер 5-122 лития в соединении 1,хОН создает требуемый энергетический режим для перевода...

Номер патента: 1569768

Опубликовано: 07.06.1990

Авторы: Киреев, Лаздиньш, Спигулис

МПК: G02B 5/28

Метки: каналов, оптических, разделения, спектрального, уплотнения

...селекции каналов.Целью изобретения является увеличение числа оптических каналов с эа"данной последовательностью по длинамволн.На Фиг . 1 представлена схема предлагаемого устройства, на Фиг. 2 -конструкция узла регулировки угларазвода и поворота Фильтров .Устройство содержит первый 1 ивторой 2 иитерференционные фильтрыи узел 3 регулировки угла развода иповорота Фильтров,фильтр 1 жестко закреплен наповоротном столике 4 с винтом 5 регулировки угла поворота. Фильтр 2 закреплен в держателе 6который имеет общую ось вращения со столиком 4и может быть повернут относительнонего,(и Фильтра 1) вращением винта7 регулировки развода, Торец винта7 пружиной 8 прижимается к опоре 9,жестко связанной со столиком 4,Устройство работает...

Номер патента: 1571477

Опубликовано: 15.06.1990

Авторы: Большаков, Головенков, Ошемков, Петров

МПК: G01N 21/39

Метки: анализа, газов, спектрального

...К рассчитывают. по формуле1 К= -о-л о где о - интенсивность насыщенной флуоресценции для двухкомпонентной смеси;Ь - та же величина для трехкомпонентной смеси с тем же содержанием определяемого компонента.Находят кривую насыщения флуоресценции анализируемого газа, определяют по этой кривой интенсивность насыщеннойфлуоресценции х и В/хууг По кривой поправок, используя ИхВ находят поправку Кх и .рассчитывают исправленную интенсивность насыщенной флуоресценции и х поП ; формуле11 х 1 1 х = - е 1 - Кх Используя 1 х по градуировочной зввиисимости, находят содержание определяемого компонента,Способ позволяет учесть влияние на интенсивность насыщенной флуоресценции параметров газового разряда, зависящих от содержания третьего компонента.П...

Номер патента: 1582027

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Правилов, Сидоров, Федоров, Шестаков, Шульпяков

МПК: G01J 1/50

Метки: вакуумной, излучения, интенсивности, источника, области, распределения, света, спектра, спектрального, ультрафиолетовой

..., (Ьотон/вспьппка) (3)п,опт(2 О ру Величины Яд(210 -предварительно определяют в специальных экспери" ментах.Операция 14. Производят операции6 и 8, облучают актинометр в течение вопт с или пп вспьппками, производят операции, аналогичные операции 4 по Формуле- М (210 - Дф) (4) 40 где Мя ( Я- Я;,) получается делением 1 А( Я; - Я;,) на время облучения или число вспьппек, определяют выход невымораживающихся продуктов фотолиза в области спектра45 Интенсивность излучения в спектральной области определяется по Формуле1,( А) 50) (5)Операция 15. Повторяют операции12-14 вплоть до границы прозрачностиокон кюветы.П р и м е р. Элеменгы устройствадля определения спектрального распределения интенсивности излучения в ВУФобласти спектра изображены на...

Номер патента: 1587347

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Калмыков, Кийко, Коробкин, Орлов

МПК: G01H 5/00, G01N 29/00

Метки: волн, затухания, коэффициента, скорости, спектрального, ультразвуковых

...частотами. С выхода фильтра 9 преобразованный сигнал (фиг,2 д) подается на первый вход усилителя 10 с АРУ, выполняющего функцию коррекции амплитуды преобразованного сигнала, на второй вход которого подается напряжение 5 10 15 20 25 30 огибающей принятого сигнала, выделенное детектором 11 (фиг.2 г).Увеличение напряжения на втором входе усилителя 10 с АРУ приводит к уменьшению его коэффициента передачи. И, наоборот, уменьшение напряжения на втором входе усилителя 10 приводит к увеличению его коэффициента передачи. Выравнивание (коррекция) амплитуды преобразованного сигнала обостряет максимум его спектра вблизи частоты 16 (16), что дает более точную оценку 16 (1 в) и соответственно скорости продольной волны в среде.Напряжение...

Номер патента: 1402231

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Антропов, Друженьков, Зеленин, Коровин, Кучумов, Циренин

МПК: G01J 3/10, H05H 1/00

Метки: анализа, растворов, свч-плазмотрон, спектрального

...чертеже изображен предлагаемый ,СВЧ"плазмотрон, разрез.СВЧ-плазмотрон состоит из разряд", 15 ной камеры, выполненной в виде двой" ной коаксиапьной трубы (внешний проводник 1, внутренний проводник 2), присоединенной с помощью волноводно-коаксиального перехода 3 к волна водной СВЧ-линии 4. Внешний провод" ник имеет штуцера 5 и щелевые прорези 6 для ввода плаэмообразующего газа. Внутренний проводник имеет осевой канал 7 для ввода аэрозоля 25 раствора образца, конец его части внутри разрядной камеры имеет кони- ческое осевое углубление 8. Для вывода излучения плазмотрон имеет щелевое отверстие 9 во внешнем провод нике. Внешйий и внутренний проводники имеют водяное охлаждение 10 и соответственно.Данная конструкция СВЧ-плазмотроиа...

Номер патента: 1424512

Опубликовано: 15.09.1990

Авторы: Копьев, Судариков

МПК: G01T 1/36

Метки: излучения, радиоактивного, распределения, спектрального

...на вход"ную шину 12 спектрометрических сиг(3) При поступлении на входную шину 12спектрометрического импульса доста" 20точно большой амплитуды (фиг. 2,поз, 14) на выходе аналого-цифровогопреобразователя 2 формируется двоичный код соответствующего числа Е ФО(фиг. 2, поэ, 15), поступающий на 25входы элемента ИЛИ 1 О и устанавливающий на его выходе логическую "1"(фиг. 2, поз. 16). Кроме того, сигналы с выхода АЦП 2 поступают на однугруппу входов блока умножения 6, навыходе которого Формируется двоичныйкод числа Е =Е Е (фиг. 2, поэ, 21),поступающего на другую группу входовблока вычитания 5. При этом ца выхо"де блока вычитания 5 Формируется дворчный код числа Е =Е,-Е =Е Е -Е(фиг. 2, поз. 22), который через блокключей 11, открытый...

Номер патента: 1597593

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Кривопалов, Кузнецов

МПК: G01J 3/02, G01J 3/10

Метки: осветитель, освещенностью, прибора, регулируемой, спектрального, щели

...по схеме, где показаны источник 1 излучения, смещенный в меридиональной плоскости М на определенный угол относительно главной оптической оси ОО сферического зеркала 2, щелевая диафрагма 3 с изменяемой высотой, изображение 4 источника 1 в сагиттальной плоскости и Я изображение 5 источника 1 в меридиональной плоскости М.Осветитель работает следующим обраНа оси главного луча в плоскости сагиттального изображенияисточника света устанавливается щелевая диафрагма 3. Уменьшая высоту щели Н путем сжимания краев диафрагмы к оси главного луча пучка излучения регулируют освещенность изображения источника света в плоскости меридианального изображения. Входная щель спектрального прибора размещается в плоскости меридионального изображения 5.При...

Номер патента: 1599724

Опубликовано: 15.10.1990

Автор: Аполицкий

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, спектрального

...- прпкатодное усилениеспектральных линий.Устройство работает следующим образом.Предв ят в движеникалибр,)т струей газа, например воздуха, ис) следуемый материал 16, например геологическую порошковую пробу крупностью менее 20 мкм, сверху между рабочими концами электродов 4 и 5, расстояние между которыми больше диаметра струи подаваемого газа. Через боковые отверстия в трубе 2 производятотсос газа из корпуса 1 камеры сгораНия. Далее подают напряжение на трансФорматоры 7=8 и генераторы 13 и 14высокочастотных импульсов. В межэлектродных промежутках 3,5 и 4,6 возниКают высокочастотные разряды, ионизирующие межэлектродное пространство,что приводит к возникновению дуговыхразрядов между электродами 3,5 и4,6,Плазмы этих разрядов пространстЬенно...

Номер патента: 1603253

Опубликовано: 30.10.1990

Авторы: Артамонова, Бернардо, Гулецкий, Ежов, Ошемков, Петров

МПК: G01N 21/39

Метки: анализа, проб, спектрального, твердых

...теплового светового потока от пятна взаимодействия лазерного луча с пробой меняется лишь на 15-20 , т.е. устойчивее к вариациям мощности лазера примерно в 10 раз. В то время как вариации состава образцов приводили к изменению сигнала абсорбции в 2 - 3 раза, изменение отношения аналитического сигнала к величине теплового светового потока составило лишь 30 , т.е. оказалось устойчивее также примерно в10 раз.П р и м е р 2, Лазерную атомизацию исследуемого образца производили в вакуумной камере при остаточном давлении менее, 10 мм рт.ст, Прризводили облучение поверхности образца импульсным лазерным излучением с длительностью 20 - 10 нс, плотностью мощности на поверхности образца 10 - 10 Вт/см и в образующемся9 10 глазЕрном факеле с помощью...

Номер патента: 1617306

Опубликовано: 30.12.1990

Авторы: Никитина, Ромашкина, Спирина, Шарапов

МПК: G01J 3/10

Метки: анализа, разряда, спектрального, тлеющего, установки, ячейка

...большую, чем насос для 30откачки из полости анода,Спектральный анализ химического состава металлических образцов с помощьюпредлагаемой ячейки проводят следующимобразом, 35Исследуемый образец 8 (фиг.1) устанавливают перед анодным патрубком 1 О и крепят к рабочей поверхности камеры катода11 через фиксирующее кольцо 12 посредством упорного кольца 13 и упорного винта 14, 40К катоду 1 ячейки и анализируемому образцу через каналы 16 подается проточноеводяное охлаждение. В ключают форвакуумные насосы, которые откачивают воздух изобъема полости анода 22 и камеры катода через каналы 23 и 26 соответственно до достижения предварительного вакуума 10 ммрт.ст, При достижении указанного вакуумав полость анода через игольчатый клапан поканалу 21...

Номер патента: 1629868

Опубликовано: 23.02.1991

Авторы: Зыков, Корниенко, Никитин, Палилов, Чернышев

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, сигналов, спектрального, электрических

...регистра 11 с выхода делителя 14 подается импульс, соответствующий принятой единице времени, который разрешает запись в регистре 11 кода времени, получаемого с выходов первого счетчика 15, С выхода элемента 9 задержки на первый вход регистра 11 подаются синхроимпульсы, которые для него являются считывающими импульсами.Соответственно, последовательный код времени с выхода регистра 11 поступает на второй вход элемента 7, на первый вход которого подаются задержанные синхроимпульсы с выхода элемента 9 задержки,Кодовое слово, состоящее из информационной части и служебной части, с выхода элемента 7 подается для записи на второй вход блока 2 записи.Длина слова определяется объемом первого счетчика 15,который ограничивается величиной...

Номер патента: 1631312

Опубликовано: 28.02.1991

Авторы: Жеенбаев, Пащенко, Самсонов

МПК: G01J 3/10

Метки: анализа, плазмотрон, спектрального, электродуговой

...держателем 15 вынимают иэ плаэмотрона и в держатель 15 устанавливают пробу 16, подвергаемую анализу. Вставку 11 устанавливают в плазмотрон, На электроды 1 и 3 подают постоянное напряжение и инициируют дугу, например, с помощью высоковольтного высокочастотного разряда. В кольцевом плазменном канале 6, образованном поверхностью держателя 15 с пробой 16 и стенками электродов и вставок 4, размещенных между анодом 3 и катодом 1, образуется электрическая дуга, которая перемещается по кольцевым поверхностям катода и анода под действием потоков газа, подаваемого по трубопроводу ",7 через спиральные каналы 14 и через штуцер 18 с тангенциальной закруткой между вставка- , и 4. При вращении дуга образует коническую полость, в верхней части которой...

Номер патента: 1642262

Опубликовано: 15.04.1991

Авторы: Банков, Гафуров, Джинчарадзе, Заяц, Кучеров, Орлова

МПК: G01J 3/12

Метки: анализа, излучения, спектрального, электромагнитного

...4 может быть выполнен, например, в виде транзисторного усилительного каскада, Оптоэлектронный преобразователь 6 может быть выполнен в виде фотодиода при работе в ультрафиолетовой и видимой областях спектра, в виде термистора - при работе в инфракрасном диапазоне. Устройство может быть также снабжено блоком светофильтров, размещенных на выходе источника 7. Блок светофильтров может быть механически связан с верньером генератора 5.Способ осуществляют следующим образом,В подложке 1 возбуждают стоячую ПАВ и направляют анализируемое электромагнитное излучение от источника 7 на диспергирующую область рабочей грани подложки 1, на которой имеются чередующиеся пуч ности и,узлы стоячей ПАВ. Рабочую частоту ПАВ выбирают из выражения 1= - 1...

Номер патента: 1649394

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Васильева, Гринштейн, Кацков, Пелиева

МПК: G01N 21/74

Метки: абсорбционного, анализа, атомизатор, атомно, спектрального, трубчатый, электротермический, эмиссионного

...полости между печью и вкладышем, что позволяет дозировать пробы большого1 Г 4объема, а следовательно, снижает .-;ределы обнаружения,Диаметр отверстия внутри вкладышасоставляет 0,3-0,6 внутреннего диаметра печи. Это обусловливает незначительное экранирование вкладышемрабочего пучка света, что приводитк снижению пределов обнаружения. Вто же время сохраняется значительньпобъем полости между печью и вкладышем,Толщина стенок вкладьппа составляет 0,3 - 1,1 толщины стенок печи.Приэтом обеспечивается достаточная задержка поступления паров пробы ваналитическую зону (0,5 с). чтоприводит к росту эффективной температуры атомизации, а следовательно,к снижению пределов обнаружения,Применьшей толщине жидкая проба просачивается сквозь стенки...

Номер патента: 1651110

Опубликовано: 23.05.1991

Авторы: Горбачев, Демин, Клейнерман, Султанбеков

МПК: G01J 3/443

Метки: анализа, спектрального, эмиссионного

...25сигналы с элементов 14 и 15 Фотоприемника 5, на которые направлены выходные торцы световодов, также будутравны, В этом случае блок 9 сравненияразрешает выдачу сигналов с первой 30группы 13 элементов Фотоприемника 5,на которые падает спектр исследуемого вещества. В случае смещения центра изображения от центра,входной щели,2 световые сигналы, падающие на1 входные торцы световодов 3 и 4, будут , различны, сигналы с элементов 14 и 15Фотоприемника 5 также будут различны,Блок 9 сравнения в случае выходаэтих сигналов 43 заданного интервала 40Формирует сигнал запрета на считывание с блока 8 сопряжения во внешниеустройства для дальнейшего анализа.Таким образом, инФормация, считанная с Фотоприемника 5, используется в 45случае, когда...

Номер патента: 1652935

Опубликовано: 30.05.1991

Авторы: Федотов, Шварцбург, Шепелев

МПК: G01R 23/17

Метки: анализа, спектрального

...собой незатухающие температурные волны. Дифрагируя, спектральные компоненты исследуемого сигнала фокусируются в точках, расположенных на круге Роуланда, радиус которого равен половине радиуса кривизны решетки 3, а центр лежит на прямой, соединяющей центр решетки с центром ее кривизны. Выбирая в качестве вогнутой поверхности, например, сферу радиусом кривизны В получим для линейной дисперсии устройства известное выражение: где б - период дифракционной решетки; и - порядок дифракции; 25 30 35 40 45 50 55 р - угол между векторами; м - частота сигнала;а) центр дифракционной решетки - элемент,расположенный на круге Роуланда; б) центр круга Роуланда - центр дифракцион ной решетки.Выбирая в качестве сверхтекучей жидкости, например,...

Номер патента: 1659809

Опубликовано: 30.06.1991

Авторы: Коршак, Медолазов, Сатаров

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, рентгеновского, спектрального

...одиночных каналов в парный беэ ограничения вследствие расположения кристаллов- анализаторов на соответствующих линиях на любых фиксированных расстояниях от центра исследуемого образца. К корпусу 15 крепятся входные щели 4 и 5 с разными сечениями для прохождения определенного для каждого анализируемого элемента пучка флуоресцентного излучения, К фланцам 20 и 21 крепятся выходные щели 8 и 9 с разными сечениями для прохождения ограниченного для каждого анализируемого элемента пучка излучения, исходящего от кристалла-анализатора. Фланцы вместе с выходными щелями и расположенными эа ними детекторами могут перемещаться в направлении, поперечном соответствующему лучу. Точная регулировка угла падения флуоресцентного излучения на...

Номер патента: 1665286

Опубликовано: 23.07.1991

Авторы: Максимов, Рудневский

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, висмута, примесей, растворах, свинца, спектрального

...газов, стабилизации разряда и фокусирования излучения на щель спектрографа перед экспозицией катод с пробой обжигают в течение 60 с при силе тока 75 мА. Затем постепенно ток увеличивают до 600 мА и фотографируют спектр в теч ние 120 с при ширине щели спектрогра ИСП - 28, равной 18 мкм, Аналитическ линии В 1 306,7 нм с энергией возбуждения 4,04 эВ и РЬ 1 283,3 нм (4,37 эВ) фотометрируют на микрофотометре. Градуировочные графики для определения В и РЬ, построенные в случае осуществления1665286 р Л 6 р Составитель О. БадтиеваРедактор В. Данко Техред М.Моргентал Корректор М. Демчи Заказ 2388 Тираж 410 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям Ф 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 НТ СС атент", г. Ужгород,...

Номер патента: 1668923

Опубликовано: 07.08.1991

Автор: Лысинов

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, порошковых, спектрального

...продавливать вязкую массу анализируемого материалачерез калибровочное отверстие либо заполнить специальную форму, уплотнить и послеизвлечь штабик,1668923 Составитель Б. ЛысиновТехред М.Моргентал Корректор О. КундрикРедактор И. Шулла Заказ 2652 Тираж 384 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат нПатент", г. Ужгород, ул, Гагарина, 101 К роме того, для предотвращения загрязнения пробы материалом предыдущей ,пробы применяемая для этого оснастка должна быть разового использования или тщательно очищаться. Связующее вещество также не должно содержать определяемых элементов,Целью изобретения является снижение трудоемкости...

Номер патента: 1670619

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Березин, Пиастро, Синдаловская, Синдаловский

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, спектрального

...ячеек, которыеу - тобьединены в матриц по Ы вычисли.2тельных ячеек в каждой матрице, если у -нечетное (М - число дискретных отсчетов50 исследуемого сигнала, М = 2 у),Устройство для спектрального анализареализует модифицированный алгоритм быстрого преобразования Фурье. В процессеанализа входной сигнал дискретизируется с55 шагомЛт=Тйгде Т период входного сигнала.Шаг дискретизации устанавливается автоматически блоком 10 установки шага дискретизации в строгом соответствии с периодом входного сигнала, при этом М раз реализуется соотношение Ц 51 п(31 -+) = Ип 5 п 5)1.с 05 +- Ущ с 0507 С Ьп Ф Значения сози 51 П , постоянные на каждом шаге, задаются соответственно с помощью весовых резисторов 33, 34 и 31, 32,Устройство работает...