Патенты с меткой «спектрального»

Номер патента: 1673921

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Апонасенко, Сидько, Филимонов

МПК: G01N 21/25

Метки: вещества, дистанционный, желтого, оценки, поглощения, показателя, спектрального

...отсутствии желтого вещества и пигментов фитопланктона.Измерения спектральных коэффициентов яркости поверхности водоемов может быть выполнено помощью полевых спектрофотометров, например, с помощью полевого двухлучевого спектрофотометра ПДСФ с борта судна или низколетящего вертолета (высота до 300 м), При записи спектров р(Л) рабочий объектив ПДСФ направляется в надир или близко к нему так, что регистрировалась яркость лучистого потока, отраженного толщей воды, а зеркальная составляющая отраженных прямых солнечных лучей от поверхности раздела воздух-вода не попадала в рабочий объектив; при этом объектив канала сравнения направляется на.эталон - идеальный отражатель(например, пластина, покрытая свеженапыленной окисью магния) в дневное время...

Номер патента: 1679218

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Булгаков, Гусельников, Фомин, Хмельницкий

МПК: G01J 5/60

Метки: отношения, пирометр, спектрального

...установлен в сопряженной плоскости оптической системы пирометра.1 ил./ электронного блока 5, к выходу которогоподключен индикатор 6.Пирометр работает следующим обраОбъектив 1 формирует иэображение объекта измерений на матовой пластине 2 и имерсионной линзе фотоприемника 3. Через окуляр 4 имеется возможность наблюдать за изображением объекта измерений на матовой пластине и производить наведение прибора на объект. Поток излучения от нагретого тела через объектив 1 поступает на фотоприемник 3, вырабатывает два электрических сигнала с напряжениями, пропорциональными мощности принимаемого излучения в двух различающихся спектральных интервалах. Электронный блок 5 осуществляет операцию деления одного из этих сигналов на другой, С...

Номер патента: 1679303

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Каринь, Шестаков

МПК: G01N 21/55

Метки: вуфи, зеркального, коэффициентов, отражения, распределения, спектрального, умр-диапазонах

...иа светового лучка люминесцирующей пластинке измеряется токФЭУЪаз(Л 4) = впал(Я) Й 3 (ач) д, (1)где Вз- коэффициент отражения сферического зеркала;пад(А)- интенсивность падающего излучения; ффективность фотоп риемникПри введенной в оптический тракт люминесцирующей пластинке измеряется11(Яо) = пад(Л) Яз(420) 0) до, (2) где Вз(420) - коэффициент отражения зеркала на длине волны люминесценции 420 нм;о- коэффициент преобразования люминофора.Взяв отношения (1) и (2), получают д -4 Ь Образец введен в приемник находится люминесцирующей пл из оптического тракта 14(Ь) = 1 пад(А)Ь(Ь ГДе Вобр коэффиЦи ца на длине волны Л. При введенной в о минесцирующей пласт(3) я образ птический тракт нке измеряется Для ся и пос интенси лучения длине в...

Номер патента: 1679305

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Воропай, Казак, Лугина, Надененко, Павленко, Санников, Торпачев

МПК: G01N 21/63

Метки: вторичного, излучения, интенсивности, относительного, процесса, распределения, спектрального

...излучения.Для сравнения получают выражение отклика детектора вторичного процесса при отсутствии нормировки на энергию импуль) са зондирующего излучения за время взаимодействия со. средой.Если в МК введена интенсивность 1 л, то ее изменение со временем описывается выражениемф)-1 ле , (14) где с,; - время жизни фотона в МК, рав- ное%6 Д1, ЬсА А (15)В случае известного способа ЛЬ = -21 С В качестве единицы времени берется время прохода МК Ю = ОС, Считают, что в течение этого времени энергия излучения в МК постоянна, а импульс лазера имеет длительность Ьл.После первого прохода объектом излучения измеряется заряда =2 к 1 лтое 11 г" (16) Тогда общий заряд, измеренный датчиком вторичного процесса после и проходов, составляет Ое =23 суАаеф...

Номер патента: 1684604

Опубликовано: 15.10.1991

Автор: Шлишевский

МПК: G01J 3/12

Метки: растровом, регистрации, сигнала, спектрального, спектрометре

...поворотом решетки 3, Для выделения спектрального интервала объектив 2 совершает колебательное движение относительно горизонтальной оси, осуществляя селективную модуляцию светового потока на выходном растре. В один полупериод модуляции через выходной растр проходит световой поток Рп от исследуемого источникаЗаказ 3499 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина. 101 вместе с фоновым излучением Еф прибора,а в другой полупериод - поток Е, обусловленный собственным излучением непроэрачн ых элементов входного растра,находящегося в световом пучке, вместе с 5тем же фоновым излучением...

Номер патента: 1684635

Опубликовано: 15.10.1991

Автор: Северин

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, количественного, металла, спектрального, эмиссионного

...лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, Цель изобретения - повышение воспроизводимости и точности результатов анализа. При переходе от обыскривания к экспозиции аналитический промежуток уменьшают на 0,4 - 0,6 первоначальной величины. ния в области экспозиции значительно уменьшится.Способ осуществляют следующим образом,Устанавливают по шаблону или оптическому иэображению аналитический промежуток равным Н, Включают электрический разряд на время обыскривания То. Выключают разряд, Устанавливают промежуток и параллельным смещением пробы вдоль оси вспомогательного электрода. Включают электрический разряд на время экспозиции, установленное из требований конкретно решаемой аналитической задачи.П р и м е...

Номер патента: 1689767

Опубликовано: 07.11.1991

Авторы: Грикит, Кожевникова, Пугач

МПК: G01J 3/42, G01N 21/01

Метки: анализа, спектрального, электрод

...пористая поверхность угольных электродов для надежного закрепления материала порошковой пробы,Материалом пробы и стандартных образцов заполняют полые объемы на торцах электродов путем втирания порошков в цилиндрические ячейки, Порошковый материал стандартных образцов и проб легко заполняет неглубокие ячейки при втирании на кальке или на какой-либо другой чистой подложке. Подготовленные электроды устанавливают в штатив и подключают дуговой разряд. При воздействии электрического разряда на торцовую поверхность электрода происходит равномерное поступление исследуемого материала в зону разряда из многочисленных неглубоких ячеек. Материал в ячейках не запекается и не наблюдается взрывообразного выбрасывания. Объясняется это тем, что...

Номер патента: 1691770

Опубликовано: 15.11.1991

Авторы: Акатьев, Ермакова, Савченко

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, линейным, предсказанием, спектрального

...считают соответственно последовательностью ошибок линейного предсказания "вперед" 1 о =: Х(1) и последовательностью ошибок линейного предсказания "назад" Ьо =. Х(1).По тактовым импульсам с четвергого выхода блока 11 формирования микрокаманд, с вцхода блоков 4 и 5 считцвакн последовательности кодов 1 о и Ьо соответственно на первый и второй входы решетчатого фильтра 6 предсказания, на вцходах которого формируются значения т 1 = то(1), Ь 1(1) = Ьо( - 1). Эти последовательности вновь записываются по тактовым импульсам и адресам (третий и пятый выходы блока 11) в те же ячейки блоков 4 и 5 и одновременно подаются на первый и второй входы вычислителя 7 частных корреляций,В вычислителе 7 последовательностиошибок 1 ф) и Ь 1 суммируются,...

Номер патента: 1693490

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Белоусов, Бородин, Ведерников, Семенов, Хитров

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, спектрального, эмиссионного

...тока, Так как пауза между импульсами отсутствует, новые порции анализируемого вещества в дугу не попадают и энергия второго импульса расходуется на "довозбуждение" паров вецества, удерживаемых плазмой с момента первого импульса. Это подтверждено осциллограммой 8 интенсивности аналитического сигнала,В таблице приведены результаты сгектрального определения наиболее трудноопределяемых тугоплавких металлов - гафния, циркония, тантала и ниобия (0,050 каждого). Определения выполнены на стандартнем образце И 0 (СО ЛЬ 22-70) при следующих общих условиях спектрального анализа: навеску вещества СО 15 мг смешивают с навеской 85 мг графитового порошка крупностью - 0,1 мм марки ОСЧ, смесь вводят в дуговой промежуток между угольными электродами с...

Номер патента: 1702323

Опубликовано: 30.12.1991

Авторы: Жданов, Шаймарданов, Шаталов

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, спектрального, цифрового

...цифрового фильтра 1,1, ширина частотной характеристики которого перекрывает весь исследуемый частотный диапазон, и фильтруется на И последовательно соединенных низкодобротных цифровых фильтрах. Частотные характеристики последующих низкодобротных фильтров 1,2 - 1,ч выбирается так, чтобы получить эквивалентную частотную характеристику последовательно соединенных низкодобротных цифровых фильтров, представленную на фиг,2, Здесь самая широкая характеристикаявляется частотной характеристикой первого ниэкодобротного фильтра 1,1, Характеристикаявляется эквивалентной частотной характеристикой последовательно соединенных первого и второго низкодббротных фильтров 1.1; 1.2. Соответственно самая узкая характеристика й является эквивалентной...

Номер патента: 1716360

Опубликовано: 28.02.1992

Автор: Ковальский

МПК: G01M 11/02

Метки: коэффициента, объектива, пропускания, спектрального

...50 в случае контроля обьективов и лина из непрозрачных в видимой области оптических материалов,Наличие светоделительного элемента, через который излучение проходит дважды, 55 обуславливает большие световые потери поток излучения уменьшается на светоделителе не менее чем в 4 раза), что требует применения более сложных и чувствительных фотоприемников.Указанные недостатки уменьшают количество и производительность измерений и ограничивают воэможность применения известного устройства в цеховых (п роизводственнцх) условиях.Цель изобретения - упрощение конструкции, повышение качества и производительности.Указанная цель достигается тем, что устройство для измерения спектральных коэффициентов пропускания объектива, содержащее расположенные на...

Номер патента: 1730570

Опубликовано: 30.04.1992

Авторы: Жданов, Шаймарданов, Шаталов

МПК: G01N 23/16

Метки: анализа, спектрального

...гармонический сигнал переменной частоты поступает на управляющий вход управляемого узкополосного фильтра 1 и перестраивает его по частоте, При этом частота гармонического сигнала изменяется оператором от Ь до Ь, где 1 н, 1 в - соответственно нижняя и верхняя границы частотного диапазона анализатора спектра. С выхода управляемого узкополосного фильтра 1 сигнал через четвертый сумматор 26 и инвертор 2 поступает на первый вход сумматора 3, на второй вход которого поступает измеряемый широкопо50 55 лосный сигнал, В результате противофазного суммирования узкополосного и широкополосного сигналов на выходе сумматора 3 появляется разностный сигнал, причем на частоте настройки управляемого узкополосного фильтра 1 происходит полное вычитание...

Номер патента: 1733981

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Варенко, Евдокимов

МПК: G01N 21/64

Метки: анализа, возбуждением, ионным, спектрального

...тем, что согласно спо".обу спектрального анализа с ионным возбуждением, включающему бомбардировку пучком ионов ь вакууме поверхности исследуемого образца и определение концентрации анализируемых элементов по величинам измеренных интенсивностей спектральных линий, участок поверхности исследуемого образца, бомбардируемый ионами, одновременно облучают пучком молекул кислорода с плотностью потока, сравнимой с плотностью потока бомбардируюгцих ионов, причем облучение проводят так, чтобы оси пучков пересекались на поверхности образца.На чертеже приведена схема устройсва для проведения спектрального анализа по предлагаемому способу.Устройство состоит из вакуумной камеры 1 с давлением 10 Па и с оптически прозрачным окном 2, оптического...

Номер патента: 1744512

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Жеенбаев, Рысбеков, Токарский, Урманбетов, Чылымов

МПК: G01J 3/10

Метки: анализа, распылитель, спектрального

...газа поверхности капилляра, что снижает надежность работы распылителя.: Цель изобретения - повышение надежности работы распылителя за счет точности центровки капилляра относительно сопла1744512 оставитель Н,Назаровехред М,Моргентал р Т,Палий дактор М.Кобылянская Тираж Подписноеарственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 аз В И Го зводственно-издательский комбинат "Патент". г. Ужгород, ул,Гагарина, 10 корпуса и обеспечение тангенциальной закрутки газа,В распылителе для спектрального анализа, содержащем корпус с каналом для подачи распыляющего газа, камеру, перехо дящую в сопла и капилляр с элементом центровки в сопле, на поверхности капилляра закреплена проволочная спираль,...

Номер патента: 1749723

Опубликовано: 23.07.1992

Автор: Алхимов

МПК: G01J 3/10

Метки: анализа, подачи, порошковых, проб, спектрального

...эксплУатзции быстро изнашиваются.Цель изобретения - повышение равномерности и дисперсности аэрозоля пробы с одновременным увеличением срока службы устройства.Поставленная цель достигается тем, чтов устройстве, содержащем распылительную камеру с каналами для подачи газа и вывода распыленной пробы, закрепленными соосно е торцовых стенках камеры, а также с каналом для подачи пробы и дезинтегратором, дезинтегрзтор выполнен в виде ультразвукового излучателя, канал для подачи10 20 ачи штока 8 и шток 9, который перемещает25 поршень 10, равномерно двигающий пробу в распылительную камеру 3. 30 35 40 45 50 55 пробы выполнен в виде патрона с поршнем и закреплен в боковой стенке камеры, а выходная плоскость излучателя размещена напротив выходного...

Номер патента: 1753960

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Леушин, Николаев, Хотимский

МПК: G01J 3/42

Метки: анализа, излучения, спектрального, ультрафиолетового

...надежно в работе и обладает высокой разрешающей способностью,На фиг. 1 изображено устройство, разрез; на фиг, 2 - мозаичный экран с чувствительнымии полосками люминофора.Предлагаемое устройство содержит корпус 1, выполненный в виде изогнутой трубы, причем два уголка этого корпуса расположены под углом один относительно другого, В месте изгиба корпуса установлена кварцевая призма 2, а за ней кварцевый объектив 3, а фокальной плоскости которого находится мозаичный экран 4. Корпус 1 снабжен окуляром 5 для наблюдения за изображением на экране. Угол изгиба корпуса и коэффициент преломления линзы для УФ- и синего излучения связаны между собой, то есть эти величины выбирают такими, чтобы преломленное призмой 2 излучение попадало на...

Номер патента: 1755067

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Садыков, Хамзин

МПК: G01J 3/42

Метки: анализа, вакууме, разрядник, спектрального

...используя при этом: излучение, направляемое на входную щель спектрального прибора по аси симметрии разрядника; излучение, идущее на входную щель приба5 10 20 25 30 35 50 ра от разных областей плазменного факела перпендйкулярно оси симметрии разрядника,Разрядник позволяет получать хороший эмиссионный спектр элементов и пригоден для высокочувствительных количественных определений, в том числе трудновозбудимых. Его можно использовать и для реализации атомно-абсорбционного анализа, расположив разрядник вдоль главной оптической оси спектрального прибора, когда протяженный факел, истекающий из осевого отверстия электрода 4, просвечивается излучением плазмы, возникающей внутри трубки 3 при разряде между электродом 4 и бр икети рован...

Номер патента: 1755211

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Погосов, Хайкин

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, быстрого, процессов, спектрального, широкополосных

...ционзльная схема устройства, реализующая способ быстрого спектрального анализа широкополосных процессов,Устройство содержит четыре канала анализа 1, в каждый из которых входят последовательно соединенные входной фильтр 2, мультикоррелометр 3 на шесть значений мультикорреляционной функции, коммутатор 4, резисторный делитель 5, аналого-цифровой преобразователь (АЦП) 6, цифровой перемножитель 7 и накапливающий сумматор 8, выходы всех каналов соединены со входами блока потребления информации 9, в состав которого входит оперативно запоминающее устройство (ОЗУ) 10, а также блок управления 11, содержащий генератор тактовых импульсов 12, счетчик-делитель нэ шесть 13, два счетчика 14, 15, два ОЗУ 16, 17,Устройство работает следующим образом, С...

Номер патента: 1760473

Опубликовано: 07.09.1992

Авторы: Максимов, Меняйло, Сюткин, Чередников

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, спектрального

...часть сигнала) и блок 3 (окончание сигнала). Однако эа счет того, что определение средней частоты спектра блоками 6, 11 происходит не для всей анализируемой выборки входного сигнала, а лишь для малой ее части, возможны значительные погрешности в определении асср. Если эта погрешность будет большой, то полосы пропускания входного сигнала и анализатора могут быть значительно рассогласованы, К тому же независимо от погрешности полоса пропускания анализатора уменьшается в сторону высших частот, Для устранения этого недостатка в устройство вводятся дополнительно блоки 12-19, После заполнения блока 3 памяти происходит запись информации через мультиплексор 9-1 о блок 12 памяти, причегл тактирование осуществляется теми же импульсали (с...

Номер патента: 1762197

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Левыкин, Лившиц, Пелезнев

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, металлов, спектрального, сплавов, фотоэлектрического

...из алюминиевого сплава и с дифракционной решеткой на стеклянной подложке (К = 0,04 мкм/мм К) аппаратной функцией д 100 мкм и работающий при колебаниях температуры+ 40 оС, то предлагаемый способ позволяет уверенно находить аналитические линии при наличии реперных линий в спектре, расположенных с плотностью - одна линия на1000,04 40В качестве реперных линий могут использоваться, например, линии спектра основы анализируемого сплава.Если же спектр основы не позволяет выбрать достаточного количества линий,удовлетворяющий формуле(1), то в качествереперных линий могут быть использованы линии спектра железа, имеющие достаточную плотность по спектру. В последнем случае этот спектр может регистрироваться отдельно от спектра анализируемого...

Номер патента: 1770855

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Воропай, Казак, Лугина, Надененко, Санников, Торпачев

МПК: G01N 21/63

Метки: вторичного, излучения, интенсивности, относительного, процесса, распределения, спектрального

...излучение служит зондирующим для находящегося внутри ЫК исследуемого объекта, Отражатели МК образуют оптический резонатор, высокодобротный на частоте зондирующего излучения и низко- добротный на частоте излучения лазера, При этом регистрируемая амплитуда сигнала вторичного процесса, являющегося следствием возбуждения обьекта зондирующим излучением, нормируют на амплитуду преобразованного по частоте излучения, вышедшего иэ МК через один из ее отражателей эа все время взаимодействия со средой.Сущность изобретения можно проил ластрировать следующими расчетными соотношениями.Считаем, что длительность импульса лазера Ьтя значительно больше времени т, прохода излучением МК, равного 1 о -1/С, 10 где 1 - длина МК С - скорость излучения вней....

Номер патента: 1775679

Опубликовано: 15.11.1992

Авторы: Акатьев, Савченко

МПК: G01R 23/16

Метки: адаптивного, анализа, спектрального

...матрицы, блок 13 обращения матрицы, умножитель 14 и накапливающий сумматор 15.Оценивание энергетического спектраспособом адаптивного спектрального анализа производят путем квантования по времени и уровню входного процесса хй,запоминания полученных отсчетов данныхх, вычисления коэффициентом фильтровлинейного предсказания с первого по М-йпорядок аь гп( = 1. в; гп = 1, М) и соответствующих квадратов модулей амплитудно-частотных характеристик Кп 1 (т), определения2весовых коэффициентов Я по дисперсиямоткликов о фильтров предсказания с первого по М-й порядок, взвешивайия квадратов модулей амплитудно-частотныххарактеристик Кп (1)(п 1 = 1, М) с соответст 2вующими,коэффициентами Я, суммирования с накоплением полученного результатаи...

Номер патента: 1778554

Опубликовано: 30.11.1992

Авторы: Захаров, Султанбеков, Туркин, Якупова

МПК: G01J 3/00

Метки: анализа, спектрального

...плоскостях. Клеммы 10 подключены к источнику питания 11, Электроды 12, вертикальная ось которых параллельна боковым поверхностям контактных пластин и клемм, установлены в держателях при помощи подпружиненных упоров 13 и имеют в верхних концах полости 14. а нижние концы заточены на конусы. Для контроля межэлектродного промежутка имеется шаблон 15, закрепленный на стойке 1,Работает устройство следующим образом.В соседние отверстия б на барабане 2 на расстоянии, равном длине электрода и ширине межэлектродного промежутка, вставляются держатели 7 с маятниковыми грузами 8, К держателям 1 крепят зажимы для электродов 1, Отжав пружинный упор 13, вставляют в зажимы держателей 7 электроды 12 одинаковой длины, закрепив их в средних...

Номер патента: 1790743

Опубликовано: 23.01.1993

Авторы: Бобров, Бычков, Красников, Минков

МПК: G01J 5/60

Метки: автоматический, многоканальный, отношения, пирометр, спектрального

...2 дз - время, за которое происходит нарастание напряжения на ячейке от светового потока, падающего на ячейку,Из фиг. 1 видно, что скорость нарастания напряжения на ячейке пропорциональна световому потоку 1, падающему на нее, и обратно пропорциональна времени т.Температура исследуемого образца рассчитывается по известномуалгоритму по значениям т для световых потоков Ф двух цветов - "красного" и "синего".Линейность в первом приближении этой зависимости сохраняется в диапазоне 60 дБ и более, что позволяет измерить температуру без перестроек в диапазоне1500 С и более.Нижняя граница диапазона зависит от светосилы объектива 1,Так, при использовании объектива, состоящего из обычной линзы диаметром 35 мм, Р = 150 мм, нижняя температура...

Номер патента: 1793445

Опубликовано: 07.02.1993

Авторы: Готлиб, Царев

МПК: G06F 15/332

Метки: анализа, временного, сигналов, спектрального

...19. Включение счетчика 18 адреса производится сигналом 81 синхронизатора 19. Синхронный регистр 22 предназначен для стробирования кода частоты синтезатора 2. Емкость счетчика 18 адреса М, счетчика 21 адреса М.Повышение точности и расширение полосы частот анализа сигналов достигается эа счет работы интерполятора, включающего в себя блок 10 ДПФ, блок 11, блок 12 ОДПФ, блок 13 и перемножитель 14. Интерполятор позволяет перейти к повышенной частоте дискретизации сигнала с компенсацией эффекта "наложения спектров". Рассмотрим процеСс прохождения сигналов в интерполяторе. На вход блока 10 ДПФ поступает дискретная последовательность ЩК) = Хм(К)+ ИК),где Хи(К) - М - точечная последовательность на выходе аналого-цифрового преобразователя...

Номер патента: 1800295

Опубликовано: 07.03.1993

Авторы: Сырцов, Трубицин

МПК: G01J 5/60

Метки: отношения, пирометр, спектрального

...начальное значение температуры предыдущего поддиапазона измерения;Т,г - начальное значение температуры последующего поддиапазона изменения; Сг - пирометрическая константа,На фиг.1 представлена функциональная схема предлагаемого устройства; на фиг, 2 - виды диафрагмы для и И поддиапаэонов измерения; на фиг. 3 - относительное (приведенное к 1) спектральное распределение получения на входе оптической системы и в плоскости апертурной диафрагмы; на фиг,4 - разновидность предлагаемой апертурнойдиафрагмы; на фиг. 5 - виды апертурнойдиафрагмы пирометра-прототипа для двухсмежных поддиапазонов измерений,Предлагаемый пирометр (фиг,1) содержит объектив 1,. апертурную диафрагму 2,полевую диафрагму 3, светоделительное устройство 4, приемники...

Номер патента: 1803834

Опубликовано: 23.03.1993

Автор: Бойко

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, вдувания, методом, просыпки, спектрального

...в результате чего коромысло устанавливается в среднем положении, В случае изменения скорости воздушного отсоса равновесие нарушается; коромысло отходит от среднего положения, воздействуя на соответствующий датчик. Сигнал датчика поступает на вход блока управления, который посредством заслонки 1 изменяет скорость воздушного отсоса до первоначального 10 положения, т,е. до возвращения коромысла в среднее положение, Изменение величины силы тока в катушке магнитоэлектрического преобразователя посредством блока управления также приводит к дисбалансу сил, 15 действующих на лепесток 14, вследствие чего скорость воздушного отсоса изменяется на величину, пропорциональную изменению силы тока в катушке, Таким образом, скорость воздушного...

Номер патента: 1803880

Опубликовано: 23.03.1993

Авторы: Куконин, Петько, Чеголин

МПК: G01R 23/16

Метки: анализа, сигналов, случайных, спектрального

...номером а используемого полосового фильтра 5, то они будут расположены в пределах от - Е до Е+ 0,5 Е для а четных и от2 2а+1 а+1- Едо2 2Е - 0,5 Е для а нечетных. Это позволяет, как указывалось ранее, получать на выходах АЦП 6 дискретизированные низкочастотные колебания, лежащие в области частот от 0 до 0,5 Е. Таким образом полосы пропускания фильтров 5 переносятся из области высоких частот в область низких частот без искажения амплитудно- частотной характеристики, Последнее позволяет по спектральным отсчетам, получаемым с помощью блока БПФ 7, работающего при частоте поступления входных отсчетов, равной Е, судить об АЧХ фильтров 5, 1 олосы пропускания которых лежат в области высоких частот, а именно в пределах от гЕ до гЕ . 0,5 Е...

Номер патента: 1805479

Опубликовано: 30.03.1993

Авторы: Дородных, Филист

МПК: G01R 33/02, G06F 15/36

Метки: анализа, информации, квазипериодических, процессов, сбора, спектрального

...в режим считывания. Ключ 7 замкнут и на первом и втором информационных входах присутствуют почти одинаковые сигналы (совпадение их по фазе обеспечивает формирователь 19 и счетчик 11). Поэтому коэф 5 10 15 20 25 30 35 фициент усиления входного устройства должен быть максимален. Счетчик 18 разблокируется и начинает считать импульсы, поступающие от формирователя 19, Это стимулирует перевод страниц блока 13, в котором накапливается двумерный массив, адреса одного измерения которого определяют разряды на выходе счетчика 11, а другого - на выходе счетчика 18, При накоплении нужного числа реализаций на вход "прерывание" ЭВМ 14 придет импульс "Конец кадра" (с одного из выходов счетчика 18, который определяет код, поступающий на управляющий...

Номер патента: 1822947

Опубликовано: 23.06.1993

Авторы: Головко, Малиголовка, Паздерский, Сапрыкин, Сушко

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, спектрального, эмиссионного

...катода 2 анализируемое вещество.Снова откачивают камеру и затем заполняют ее гелием. Подают анодное напряжение,величину которого выбирают ниже порогазажигания самостоятельного разряда, Припомощи выключателя 9 подают электрический ток на катод-испаритель. За счет высокой температуры вокруг катода образуется облако атомных паров и термических электронов, эмитируемых катодом, Энергия термоэлектронов недостаточна для возбуждения атомов большинства анализируемых элементов, но в электрическом поле термоэлектроны могут приобретать определенную энергию, Если энергия ускоренных электронов превышает энергию возбуждения атомов определяемых элементов, но ниже энергии иониэации атомов инертного газа, заполняющего камеру, то излучение состоит...