Образец для спектрального анализа металлов и сплавов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИ ТВЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических РЕСЛУбЛиК(21) 2859054/22-2 01 Государственный комитет СССР но деяам изобретений и открытий) Приоритет Опубликовано 0709,81, Бюллетен 3) УДК 543,053. (088. 8) а опубликован описания 0.09,81 Е 2) Авторыизобретения онова, В.Д. Голяков МосквЗаявитель ПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИ(54 ГАЛЛОВ И СПЛАВОВ к области остава ве- спектральплавов, и металлурывающей проальногоыполненформу те 5 5 Изобретение относитсяопределения химического сществ, более конкретно кному анализу металлов и сможет быть использовано вгической и металлообрабатьышленности.Известна проба для спектранализа металлов и сплавов, вная в виде отливки, имеющейла вращения с торцовыми кольцевыми поясками, образующими выступающие поверхности 1 1.Эти образцы (пробы) не обладают достаточной степенью однородности структуры и не обеспечивают необходи мую точность анализа в соответствии с возрастающими требованиями,Известен стандартный литой образец для определения состава металлических сплавов способами эмиссионной спектрографии, который представляет собой тонкостенную чашку с коническими боковыми стенками, имеющуюО- или Ч-образное поперечное сечение. Горловина этой чашки обрабатывается,на станке для обеспечения плоской анализируемой поверхности, перпендикулярную оси чашки, которая пересекает все фронты затвердевания,не касаясь их 12. Данная форма образца имеет улучшенную структурную однородность по сравнению с аналогом, что,достигается тем, что в процессе заливки, подача металла проводится под действием силы тяжести без турбулентных явлений. Это приводит к концентрическому затвердеванию; быстроте которого предотвращает юли уменьшает образование сегрегаций или зон изменяющегося состава, однако этот стандартный образец. имеет ограниченный анализируемый объем, притом для проведения повторных анализов. необходима частая обработка горлозины чашКи образца, что снижаетФ производительность анализа и существенно сокращает срок службы стандартного образца. Целью изобретения является повьаяе- . ние цроиэводительности анализа, увеличение срока службы стандартного образца.Укаэанная цель достигается тем, что образец для спектрального анализа металлов и сплавов, включающий отливку, выполненную в форме тела вращения с тонкой стенкой и анализируемой поверхностью образца, перпендикулярной его оси,в продольном сечении вы862040 Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР 9 172114, кл. 6 01 Н 3/08, 1961. 2. Патент США Р 3877811, С 01 3/02, 1975.Составитель С. ФатееваРЕдактор Н. Ахмедова Техред А. Ач Корректор С. Щомак 07ета СССРрытийнаб д. 4/5 534/38 Тираж ВНИИПИ Государственного коми по делам изобретений и от 113035, Москва, Ж, Раушскаодпис ное ак филиал ППППатентф , г. Ужгород, ул. Проектная полнен в виде фигуры, образованнойдвумя кривыми второго порядка,На чертеже изображен образец, общий вид.Образец включает отливку, выполненную в форме тела вращения, Образец впродольном сечении имеет вид. Фигуры,образованной двумя кривыми 1, 2 второго порядка. Эти кривые ограничивают анализируемый объем 3 с механически обработанной анализируемой поверхно-,стью 4, перпендикулярной оси образца. 1 ОНерабочая часть 5 используется в качестве держателя.Данная форма образца позволяет увеличить анализируемый объем, а такжеего площадь, которая пересекает все 15фронты кристаллизации отливки.При отливке образца анализируемаяповерхность располагается в горизонтальной плоскости литейной формы, приэтом по всему анализируемому объемуобеспечивается, однородная структураза счет устфайення ликвационных явлений.Предлагаемый образец рекомендуется для определения химического состава спектрографическим и фотоэлектрическим методом, а также для другихвидов анализа, например, он можетбыть использован для отбора стружки для химического и атомно-абсорбционного анализа. Данная форма образцапозволяет за счет увеличения анализируемой площади увеличить производительность анализа .не менее чем на 15,при этом эа счет увеличения анали- .зируемого объема повышается срокслужбы образца в 1,3 раза и тем самымповышается точность спектрального анализа. формула изобретенияОбразец для спектрального анализа металлов и сплавов, включающий отливку, выполненную в Форме тела враще- ния с тонкой стенкой и анализируемой поверхностью образца, перпендикулярной его оси, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения производительности анализа и увеличения срока службы, образец в продольном сечении выполнен в виде фигуры, образован-. ной двумя кривыми второго порядка,
СмотретьЗаявка
2859054, 27.12.1979
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6585
САФОНОВА ЕВГЕНИЯ ПАВЛОВНА, ГОЛЯКОВ ВАЛЕНТИН ДМИТРИЕВИЧ, МОСКВИЧЕВ ГЕННАДИЙ ГРИГОРЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 1/28
Метки: анализа, металлов, образец, спектрального, сплавов
Опубликовано: 07.09.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-862040-obrazec-dlya-spektralnogo-analiza-metallov-i-splavov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Образец для спектрального анализа металлов и сплавов</a>
Предыдущий патент: Подложка для иммунолюминесцентных исследований
Следующий патент: Устройство для измерения нагрузки в момент разрушения образца
Случайный патент: Поворотная заслонка