Патенты с меткой «отбраковки»

Номер патента: 1449846

Опубликовано: 07.01.1989

Авторы: Милян, Шуминский, Яцишин

МПК: G01H 9/00, G01M 7/00

Метки: дефектных, отбраковки

...колебаний вибратором 2 йачинают вибрировать все составные части устройства за исключением блока-индикатора 8. При недостаточно жесткой закрепке вставки 7ювелирном изделии 6 она начинает перемещаться под воздействием вибрацииотносительно оправы, Так как изделиеб, осветитель 3, Фотоприемник 4 составляют жесткрю систему, то вставка 7 перемещается относительно этой системы на величину +У, которая может составлять десятые или сотые доли миллиметра, Такое перемещение вставки 7 вызывает изменение степени перекрытия вставкой светового пучка 15, что в свою очередь приводит к появлению полезного сигнала, т.е.переменной составляющей фототока в Фотоприемнике 4. Сигнал с выхода фотоприемника 4 поступает на вход усилителя 9 блока индикатора...

Номер патента: 1455233

Опубликовано: 30.01.1989

Авторы: Бронштейн, Вдовенко, Галанин, Маслов

МПК: G01B 11/06

Метки: оптических, отбраковки, поверхностей

...элементо прошед в паро терилиз а рные спиралигуры, а длгидр оли ти ч ры не набл отсутствию с образныепрошедшихтакие фиг ежност контр италловых элементов путния на оптических поверхн личию или ных фигур элементов отбраковку ергшихс работке, хкольцеобр троль и оводят спир альных Способ о ществля азом 5 обраб от анньких элемен фоом Оптическиности оптичначенных длческий контнасыщенным поверхв, предназ на опти т ения пособ я и отбраковки опстей заключающийсяьно наблюдают контт анов тичес ве кт, обдувают одяным паро агреть том, ч визу раз(56) Справочник технолПод ред, И.Я.Бубиса иностроение, 1979, с. ных для установки их наконтактЦель изобретения - и к иэмерибыть испбльтки оптичеспр едназ начен 5о птич ескийвьппение наотбраковкеем...

Номер патента: 1495211

Опубликовано: 23.07.1989

Автор: Куренышев

МПК: B65B 23/22

Метки: отбраковки, подачи, предметов, упаковываемых

...из привода, содержащего эксцентрик 27, обойму 28 и рычаг 29, шарнирно закрепленный на оси 30 и неподвижно закрепленный на обойме 28 эксцентрика 27, ползуна 31, взаимодействуюшего с рычагом 29 и несущего на себе кронштейн 32 с закрепленными на нем направляющими ЗЗ - 35, в которых могут перемешаться подпружиненные шупы 36 с вертикально закрепленными на них флажками 37, число которых равно количеству упаковываемых предметов.Механизм контроля наличия вкладыша 6 в упаковке содержит наконечник, выполненный в виде пластины 38, расположенной между торцами щупов 36 механизма для контроля предметов 5, выступающей за их пределы и установленной с возможностью взаимодействия с вкладышем 6, подпружиненный щуп 39, установленный в направляющих 33 -...

Номер патента: 1502421

Опубликовано: 23.08.1989

Авторы: Карманов, Чепурной

МПК: B65B 35/40, B65B 57/10

Метки: отбраковки, подачи, предметов, упакованных

...ихи т.д.) . 35 45 5 15024Кулачково-кулисный привод толкателя 4 содержит непрерывно вращающийся под действием зубчатой передачи 2 1 кулачок 22 и систему рычагов5с кулисой 23, непосредственно взаимодействующей с кареткой 5 толкателя 4.Рычаг 24, жестко закрепленный на валу 25, своим роликом 26 постоянновзаимодействует с канавкой кулачка22. Механизм блокировки кулисы включает жестко закрепленный на валу 25подвижный упор 27 с подпружиненнымГ-образным захватом 28, шарнирно закрепленным на нем с возможностью 15взаимодействия при выключенном электромагните 20 с кулисой 23 толкателя4 либо при включенном - с подпружиненным относительно подвижного упора 27 фиксатором 29 и опорной планкой 30 одновременно посредством ролика 3 1, жестко закрепленного...

Номер патента: 1525637

Опубликовано: 30.11.1989

Авторы: Воинов, Исаенко, Кругликов, Ледовской

МПК: G01R 31/317

Метки: интегральных, микросхем, нестабильных, отбраковки, потенциально, цифровых

...на испытуемую 4 и эталонную 6 ЦМС. Одновременно напряжение с преобразователей 7 и 8 подается на блок 9 вычитания, который вырабатывает напряжение прямо пропорци. ональное разности токов потребления50 обеими микросхемами, Флуктуации напряжения усиливаются широкополосным усилителем 12 и усилителем 13 с регуфлируемым коэффициентом усиления.Регулировка коэффициента усиления 55 обеспечивает нормальную работу квадра" тицного детектора 14, усредняющего блока 15 и индикатора 16. Время усреднения мощности флуктуаций при контроле надежности устанавливается равнымвремени действия входного кодовоговоздействия. Для обнаружения неис"правной цепи оно равно времени включения цепи после начала действия тестаСпособ осуществляется в...

Номер патента: 1531026

Опубликовано: 23.12.1989

Авторы: Лепешев, Романов

МПК: G01R 27/00

Метки: отбраковки, резисторов

...информация записана в обратных кодах, Таким образом, на выходе ПЦАП 13 имеем напряжение, соответствующее ( д). формирователь 14 напряжения в блоке 3 - формирователь пороговых напряжений, управляемый с блока 5 ППЗУ. В блоке 5 ППЗУ записаны коды границ допуска на данный контролируемый резистор (например, +5 или ь 1 Ои т.д). В зависимости от границ допуска формируются пороговые напряжения П во, которые подаются на компараторы 17 и 18 (компаратор 17 фиксирует виход за границы положительного допуска, компаратор 18 отрицательного). Если ( с 1) находится . в пределах допуска, то компараторы своего состояния не изменяют и на их выходе будет сигнал логического нуля. Этот сигнал поступает в счетчик 24 фиксации брака. Логический нуль не изменяет...

Номер патента: 1534549

Опубликовано: 07.01.1990

Автор: Гришаев

МПК: H01J 9/42

Метки: автомат, ламп, отбраковки, электрических

...(фиг.2) включается электродвигатель 9, который через цепную передачу 8, редуктор 7, муфту 6 приводит в непрерывное движение конвейер 2, через щетки 19 (фиг. 3) напряжение от шин 10 (фиг.2) подается по проводам 33к контактам 18.При подходе держателя 3 ламп (фиг.1) к устройству 12 (фиг.2) загрузки ламп ролики 27 (фиг. 3, 4) катятся по внутренней поверхности,.:путевых кулаков 35 (фиг,2),перемещая направляющие 22, 23 (фиг. 4) навстречу друг другу, разводя тем самым втулки 17 с контактами 18 (гнезда) в противоположные стороны на ширину чуть более длины лампы. Ролик 31, наезжая на кулак 1.1 (фиг,2), приподнимает прижим 30 на величину диаметра лампы. Таким образом, при дальнейшем движении позиции захваты 29.(фиг,3,4) похнлтывают лампу из...

Номер патента: 1539696

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Казинов, Шеремет

МПК: G01R 31/303

Метки: интегральных, отбраковки, схем

...измерения на пределе чувствительности измерителя вольт-амперных характеристик (режим микротоков).В интегральной микросхеме, имеющей вольт-амперную характеристику 4, в лроцессе ее эксплуатации с течением времени под действием протекающего электрического тока идет процесс деградации структуры р-п-перехода, приводящий к увеличению токов утечки и, в конечном счете, к нарушению работоспособности интегральной схемы. При осуществлении способа для повышения чувствительности и достоверности контролируется вольт-амперная характеристика нескольких р-и- переходов, расположенных по всему кристаллу и соединенных параллельно.Для этого все выводы интегральной схемы необходимо включить по схеме, составленной с учетом следующих правил:каждый...

Номер патента: 1543573

Опубликовано: 15.02.1990

Авторы: Горбылев, Ладонкин, Неретин, Юськаев

МПК: H05B 41/04

Метки: ламп, люминесцентных, отбраковки, стартеров

...соединены с Электромагнитом и люминесцентными лампами 20, которые через коммутационйую панель 21 соединены с блоком 8 ли индикации, Блок 7 памяти сохраняет информацию об испытуемых лампахна время, требуемое оператору дляотбора забракованных ламп. 4 ил,контроля на короткое замыкание, а на люминесцентных лампах установлены фотодатчики 22, подключенные к ключевым усилителям блока памяти.Устройство работает следующим об" разом.Испытуемые лампы стартеров 11 подключают к контактам коммутационной панели 21, при этом подключение короткозамкнутых ламп стартеров вызывает срабатывание блока 8 контроля на короткое замыканиекоторый включает световую и звуковую сигнализации.В течение времени, определяемого блоком 9 управления, на лампы стартеров...

Номер патента: 1567894

Опубликовано: 30.05.1990

Авторы: Невзоров, Проценко, Тараненко, Терловой, Чередниченко

МПК: G01M 3/02

Метки: крышек, отбраковки

...этой позиции мембрана 10 соответствующего вакуум- насоса 5 находится в крайнем верхнем положении, и магнитный стержень 11, выступая из одного из отверстий 8, притягивает падающую крышку 24 и обеспечивает ее центрирование по уплотнительной прокладке 25 на сферическом гнезде 6 этого вакуум 5 1 О 15 20 25 30 35 40 аь 50 55 насоса 5. Одновременно с этим магнитный стержень 11 обеспечивает необходимый предварительный натяг прокладки 25 на гнезде 6, обеспеч ивая таким образом плотность посадки крышки 24 на гнезде 6.При вращении несущего ротора 1 ролик 13, перемещаясь по пазу копира 14, увлекает за собой шток 12 мембраны 10 вакуум- насоса 5, вследствие чего мембрана 10 прогибается, увеличивая объем надмембранной полости 9 и производя через...

Номер патента: 1587587

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Беккер, Заколдаев, Щетинин

МПК: G11C 17/00

Метки: запоминающих, микросхем, отбраковки, постоянных, программируемых, устройств

...со скоростьк:заряженных частиц из зоны разрушения перемычки; д - заряд частиц.Вектор скорости движения заряженных частиц совпадает с направлением электрического поля. В результате перемещения заряженных частиц возможно образование электропроводящего мостика в разрушенной области перемычки и электроды замыкаются, т. е. запоминающий элемент восстанавливается.В предлагаемом способе отбраковки микросхем путем их электромагнитной тренировки в поле постоянного магнитного поля на движущиеся между электродами пере.мычки заряженные частицы действует сина Лоренца, выводящая эти частицы из зоны разрушения перемычки. Следовательно, в зоне разрушения перемычки исключается возможность создания проводящего мостика из заряженных частиц материала...

Номер патента: 1640660

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Воинов, Кураченко

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, кмоп, надежности, отбраковки, схем, уровням

...у и нижней границе ее изменения РуИзвестно, что при проведении испытаний по биноминальной схеме при отсутствии отказов в процессе испытанийРу=(1 -у)" (3) где и - минимальное количество испытаний.Для определения количества минимально необходимых испытаний положим РуРтр,При этом условии соотношение (3) принимает видР,р (1 -у)(4)Логарифмируя неравенство (4), получим(5)Ограничиваясь минимальным значением и, получимп и (6)откуда и следует формула изобретения, На чертеже показана схема реализации способа.На схеме обозначены источник 1 питания, переменный резистор 2 нагрузки, испытуемая микросхема 3, блок 4 функционально-параметрического контроля, например стенд контроля интегральных схем "Повод".Напряжение питания с источника 1 подается на...

Номер патента: 1648566

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Балаганский, Лагов, Платонов, Цукерман, Яхин

МПК: B03B 13/06

Метки: включениями, минералов, отбраковки, пораженных, прозрачных, сепаратор

...5, защищенный от прямого света лазера 4 экраном 7, через молочное стекло регистрирует эту освещенность и преобразует ее в электрический сигал И (фиг,4, И (т. Сигнал фотодатчика 5 проходит на вычитающий элемент 11 и интегратор 10 (фиг,1), Последний производит интегрирование сигнала И 5(фиг.4, Ио(т. Постоянная интегрирования т 4 берется равной не менее 100 Ть где Т - время развертки лазерного луча поверхности куска наибольшего размера. При таком условии за время анализа точечного включения в куске сигнал с интегратора 10 практически не изменяется. Сигналы на входах вычитающего элемента 11 по усредненной амплитуде практически равны (фиг.4, Иь (т), И 1 о (т) при т ", 1 з - 14). поэтому на его вь;ходе наблюдается небольшой сигнал...

Номер патента: 1649390

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Лухвич, Новиков

МПК: G01N 19/04

Метки: адгезионной, отбраковки, покрытиями, прочности

...для контроля адгезионнои проч. - , ности покрытий на деталях и их отбраковки.Целью изобретения являет.,я повышение точности отбраковки деталей с никелевыми и медными покрытиями путем .учета скорости нагрева до заданной температуры,На фиг.1 схематически представлены циклы нагрев - выдержка - охлаждение, отличаюциеся различными скоростями нагрева. Сплошные линии У 1 - У характеризуют замедленные скорости нагрева, когда покрытия в результате осуществления цикла не отслаивавтся. Штриховые лииии У, - У характеризуют повышенные скорости нагрева, приводящие к отслоению покрытий, Л 1 и том У( 1 в минимальная тигается за счет учета влияния скорости нагрева до. заданной температуры на результаты контроля адгеэионной прочности. Деталь с...

Номер патента: 1658101

Опубликовано: 23.06.1991

Авторы: Глинских, Мезенин, Михайлов, Почуев

МПК: G01R 21/02

Метки: величине, компонентов, отбраковки, радиоэлектронных, сопротивления, теплового

...датчик 1 разности температур, термостат2, в котором размещены испытуемый 3и эталонный 4 компоненты, находящееся в тепловом контакте с датчиком 1разности температур, источник питания 5, усилитель 6 термоЭДС и блок 7регистрации ухода измерительного параметра за пределы допуска, источникпитания 5 снабжен третьим выводом иподключен вторым и третьим выводамик вторым выводам соответственно испытуемого и эталонного компонентов. Информация о величине отклонения теплового сопротивления испытуемого компонента 3 подается в виде напряжения Фна выходе усилителя 6 термоЭДС. Подключение испытуемого 3 и эталонного 4компонентов одновременно и к одномуисточнику питания 5 позволяет повысить производительность иэмерений.2 ил ератур а 9 (1)...

Номер патента: 1689878

Опубликовано: 07.11.1991

Автор: Бычков

МПК: G01R 29/08

Метки: антенн, величине, заданной, коэффициента, отбраковки, эллиптичности

...риваемой ситуации по признаку увеличения или уменьшения относительной фазы сигнала на выходе измерительной антенны однозначно можно определить превышает или не превышает КЭ испытуемой антенны ве личину КЭ измерительной антенны, имеющей встречное по отношению к испытуемой антенне направление вращения вектора напряженности электрического поля. Аналогичная ситуация имеет место в случае, если 15 измерительная антенна имеет правое направление вращения вектора напряженности электрического поля и КЭ 0,3, а измеряемое поле с левым направлением вращения, однако в этом случае, если КЭ 20 измеряемого поля больше 0,3, то относительная фаза сигнала на выходе измерительной антенны уменьшается, а если меньше 0,3, то увеличивается. Аналогичные...

Номер патента: 1712969

Опубликовано: 15.02.1992

Автор: Боженкин

МПК: H01C 17/00

Метки: керамических, оснований, отбраковки, преимущественно, резисторов, цилиндрических

...крепятся к дну чаши 2 вибробункера винтом 5.Воронка 3 и основание 4 установлены однаотносительно другого с зазороми соединены между собой винтами через распорныевтулки б. Коническая поверхность основания 4 выполнена перфорированной - имеетотверстия б, расположенные по периметруоснования под воронкой 3. Поверхность последней, обращенная к полому основанию,выполнена конической с углом конуса, равным углу конуса полого основания. В центреворонки 3 имеется отверстие для прохождения керамических оснований,Устройство для отбраковки керамических оснований, применяемых для изготовления резисторов, работает следующимобразом.При включении вибропривода 1 вибробункера керамические основания резисторов, попадая в воронку 3 устройства отбраковки,...

Номер патента: 1714545

Опубликовано: 23.02.1992

Авторы: Аношина, Киселев, Лупиков, Харлан

МПК: G01R 33/12

Метки: магнитов, отбраковки, постоянных

...интегрирование сигнала электродвижущей силы Еи, Стабилизацию испытуемых магнитов 1 осуществляют путем воздействия на них переменным магнитным полем напряженностью Нр, соответствующей магнитному полю в изделии при максимальнодопустимых нагрузках. Частным случаем переменного магнитного поля является синусоидальный закон изменения напряженности Нр зп и 1.Измеренную с помощью прибора 8 величину электродвижущей силы Еи сравнивают с электрод вижу щей силой Еэ, полученной при измерении в этом же электромагните-имитаторе эталонных постоянных магнитов, Эталонные магниты выбирают в соответствии с требованиями, предъявляемыми к характеристикам электрических машин и аппаратов. Наиболее общим из них является требование к магнитному потоку...

Номер патента: 1761696

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Бойко, Дякивский, Качалин, Оленич, Притула

МПК: C03B 27/02

Метки: закаленных, изоляторов, отбраковки, стеклянных

...тер- тельном термо да е мо да е После закалки изоляционные детали с температурой поверхности 30 С погружают в воду с температурой 25 С, где выдерживают 3 минуты, после чего помещают в газовую среду с температурой 330 С и выдерживают там 5 минутТо же, что в п.1 только температура поверхности детали 40 С, температура газовой среды 350 С, время выдержки в газовой среде 10 минут То же, только температура поверхности детали 115 С, температура газовой среды 390 С, время выдержки в газовой с еде 20 мин т 9,5 81,1 9,3 3,3 86,3 96,8 обладающие сходными признаками. Это позволяет сделать вывод о соответствии технического решения критерию "существенные отличия".Предлагаемый способ отбраковки закаленных стеклянных изоляторов реализован следующим...

Номер патента: 1763300

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Карманов, Попов, Тарасенко, Чепурной

МПК: B65B 35/40

Метки: отбраковки, подачи, предметов, упаковываемых

...ролика 13, закрепленного на нем, от кулачка 14, а также цилиндрических зубчатых колес 15 - 18 передающих движение командоаппарату, выполненного в виде вращающегося, диска 19 с двадцатью подвижными пальцами 20, расположенными по его периферии и периодически взаимодействующими с одной стороны с рычагом 21 электромагнита 22, а с другой стороны с неподвижным копиром 23 возврата пальцев в исходное положение и планкой 24 шарнирно закрепленного вспомогательного двуплечего рычага 25, периодически взаимодействующего посредством закрепленной на нем же планки 26 с упором 12 основного рычага 11.Механизм контроля целостности упаковываемых предметов состоит из привода, содержащего эксцентрик 27, обойму 28 и рычаг 29, шарнирно закрепленный на...

Номер патента: 1764001

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Панов, Щербак

МПК: G01R 31/02

Метки: нелинейной, отбраковки, рабочей, резистивной, структуры, характеристикой

...ресурсные затраты при проведении испытаний на надежность. Изобретение обеспечивает оперативность получения первичной диагностической инФормации, высокую чувствительность и может быть использовано в автоматизированных системах производства резистивных структур. 1 ил. точник 2 постоянного напряжения, например генератор пилообразного напряжения, фильтр 3, селективный микровольтметр 4 и двухкоординатный самописец 5. Выходы источника 1 переменного и постоянного 2 напряжений соединены с входом фильтра 3 и первым входом самописца 5, а также с первым выводом объекта 6 контроля, второй вывод которого соединен с общим выводом. Выход" фильтра 3 через микровольтметр 4 соединен с вторым входом самописца 5.Устройство работает следующим...

Номер патента: 1767587

Опубликовано: 07.10.1992

Автор: Шехтман

МПК: G01R 31/36, H01M 10/42, H01M 6/50 ...

Метки: времени, источника, отбраковки, химического, хранения

...степенью достоверности отбраковывает ХИТ с током само- разряда большим; чем 2 К 11 осР, уже при К 1 ) изтемпературы Т, при которой внутреннее сопротивление исочика го(Т) при слаботоковом разряде (с анодной поляризацией (50 мВ) становится вышемаис 1 д 0, де, Тср ности определения наличия в ХИТ саморазряда с током более сильным, чем 1,Р, необходимо понижение температуры от комнатной до такой температуры Т, при которой изменение падения напряжения на 5 внутреннем сопротивлении ХИТ, равное при токе 1 оР величине го(Т)1 оР, во-первых, можно зарегистрировать используемым вольтметром и, во-вторых, оно больше дно(Т) величины характерного среднеквад ратичного разброса значений естественного термодинамического изменения ЭДС ХИТ данного типа при...

Номер патента: 1775745

Опубликовано: 15.11.1992

Авторы: Зинченко, Кис, Оболенская

МПК: H01H 49/00

Метки: отбраковки, реле, электромагнитных

...обмотке до начала срабатывания реле по возрастающему закону, для того чтобы не сообщить в обмотку излишек энергии, а в момент начала срабатывания реле, когда начинают размыкаться его нормально-замкнутые контакты, отключить внешнее напряжение от элементов реле на весь дальнейший период его работы, вплоть до возвращения в исходное состояние,Данные условия наиболее благоприятны для обеспечения его компонентам возможности максимально проявить свои индивидуальные свойства в совместном формировании комплексной характеристики реле, информация которой может быть использована для прогнозирования его качества и надежности,Как следует из аналогов и прототипа, наиболее информационными параметрами электромагнитных реле являются ток контактов и ток...

Номер патента: 1781715

Опубликовано: 15.12.1992

Авторы: Майзельс, Рогачиков, Филатов, Шрайнер

МПК: H01H 11/04

Метки: контактов, магнитоуправляемых, отбраковки

...В этом исходном состоянии на постоянное подмагничивание накладывают серию коротких импульсов, амплитуда и длительность которых выбирают из условия обеспечения оптимальной амплитуды вибрации замкнутой контактной пары. Серии импульсов чередуются, После действия каждой серии импульсов герконы размыкаются. В результате соударения контакт-деталей при замыкании замкнутая контактная пара вибрирует возле нейтральной оси, и контактные поверхности 5 10 скользят друг относительно друга, меняя точки контактирования. Серия коротких импульсов поддерживает и упорядочивает процесс вибрации контакт-деталей в течение всего периода их действия.При этом в момент действия импульса Наиболее динамичен процесс смены точекконтактирования при минимальном...

Номер патента: 1470047

Опубликовано: 30.01.1993

Авторы: Васильев, Горбачев, Каракозов, Параев

МПК: G01N 29/14

Метки: давлением, отбраковки, сварке, сварных, соединений

...давлений для счета анавливают в зависи 1470047сигналы акустической эмиссии преобразователем 5, счетчиком 9 считают число п импульсов акустической эмис" сии, Затем устанавливают рабочие образны (на чертеже не показаны) алюминиевой и медной вольги между матрицей 2 и пуансоном 3 и сдавлива" ют образцы возрастающим давлением, С помощью ключа 8 на. счетчике 9 регистрируют и считают Фактическое число и сигналов акустической эмисРсии от раствескивания оксидной пленки в диапазоне давлений от 50 до 300 ИПа, При соотношении 1 = пэЬ3 рабочие образы свариваютесли указанное соотношение не выпол- няется, то образцы считают непригодными для сварки Сварку и отбраковку производят следующим образом. Рабочие образцы устанавливают между матрицей 2 и...

Номер патента: 1804366

Опубликовано: 23.03.1993

Авторы: Малинкин, Николаев, Пруцков, Чулков

МПК: B21J 13/08, B30B 15/30

Метки: заготовок, немерных, отбраковки

...4 рычага 7 и также поворачивает его, вводя флажок 16 во взаимодействие с датчиком 19.Далее заготовка 2 контактирует с роликом 14 подпружиненного пружиной 5 рычага 8 и, поворачивая его, вводит флажок 17 во взаимодействие с датчиком 20,Поворот рычагов 6-8 происходит по дугам, ограниченным соответствующими упорами 9-11, В процессе прохождения заготовки 2 Г;роисходит поочередный сход с нее роликов 12-14 и возвращение подпружиненных рычагов 6-8 в исходное положение,При одновременном возбуждении датчиков 19 и 20(имеет место наличие одновре 5 10 15 20 менного контакта заготовки 2 с роликами 13 и 14, вызывающего рабочее взаимодействие флажков 16 и 17 с датчиками 19 и 20), возможном при длине заготовки, большей допустимой, единичные сигналы...

Номер патента: 1819352

Опубликовано: 30.05.1993

Авторы: Воронцов, Ильюк, Молчанов, Остапчук, Пенцак, Чекмезов

МПК: G01R 31/26

Метки: кмоп, ненадежных, отбраковки

...близких к 90 ф, Под максимально допустимым током контроля мч здесь подразумевается такой ток, при котором наступает тепловое равновесие; т,е. энергия джоулева тепла, 35 выделяемого нэ контролируемых р-и-переходах, равна энергии отводимого тепла. При превышении энергии разогрева над отводимой р-и-переход разрушается. Предлагаемый метод является неразрушающим; величину эталона, определяющего угол наклона ВАХ на участке развития лавинного процесса для конкретмых типов приборов определяют опытным путем, поскольку пробивное напряжение зависит как от топологических размеров полупроводниковых элементов и их ухода. так и от изменения технологических процессов изготовления ИС, Для этого приборы, от- бракованные нэ первом и втором этапах,...

Номер патента: 2002973

Опубликовано: 15.11.1993

Авторы: Годлевский, Градов

МПК: F02K 9/96

Метки: двигателей, жидкостных, малой, отбраковки, ракетных, тяги

...4. электрические проводники измерительной цепи изолированы от продуктов сгоранияжаропрочным трубопроводом 5. Над чувствительной мембраной датчика в корпусе выполнены отверстия 6. К камере 1 крепятсякожухи 7 и 8, которые образуют отводящуюполость 9. В канале вокруг резьбового сое 10 динения датчика с камерой выполнена кольцевая проточка 10 для охлаждающейжидкости. Во время испытаний приемнаякамера для продуктов сгорания установленапод соплом двигателя и соосно с ним,15 Предлагаемый способ с помощью опи. санного устройства реализуется следующим образом.Истекающие из сопла 11 двигателя продукты сгорания 12 попадают в сужающуюся20 приемную камеру и сжимаются в ней, послечего попадают на чувствительную мембрану4 датчика давления 3,...

Номер патента: 1757367

Опубликовано: 15.12.1993

Автор: Кулаков

МПК: H01G 9/24

Метки: диэлектриком, конденсаторов, оксидным, отбраковки

...конденсаторов основан на следующем.35Через две секунды после начала зарядаконденсатора 2 ток заряда как минимум на3 порядка меньше величины, нормированной для тока утечки любого иэ йзвестныхоксидных конденсаторов. Величина тока 40утечки конденсатора со скрытыми дефектами отличается от тока утечки конденсаторав несколько рэз (этот ток регламентируется. в ТУ, а методика измерения тока оговоренав ГОСТ 21315.3-75). 45 Таким образом, устанавливая зарядный ток конденсатора 2 близким к предельно допустимому (постоянная времени цепи заряда 0,01-0,1 с), диагностическим признаком выбирают величину тока утечки, которая у дефективного конденсатора на 1- 2 порядка больше, чем у бездефектного.В таблице приведены определенные экспериментально на...

Номер патента: 1380432

Опубликовано: 30.11.1994

Авторы: Белоусов, Васильев, Горбачев, Горелов, Параев

МПК: G01N 29/14

Метки: давлением, отбраковки, сварке, сварных, соединений

СПОСОБ ОТБРАКОВКИ СВАРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ ПРИ СВАРКЕ ДАВЛЕНИЕМ алюминиевой и медной фольги, заключающийся в том, что сжимают алюминиевую и медную фольгу внешним давлением с возрастающей нагрузкой, регистрируют сигналы акустической эмиссии, превышающие заданный порог амплитуды, считают их, сравнивают количество сигналов с наперед заданным значением, относят к некондиционным те сварные соединения, при сварке которых зарегистрировано количество сигналов меньше наперед заданного значения, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности отбраковки, сигналы акустической эмиссии считают в диапазоне давления 100 - 800 МПа.