Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1757367
Автор: Кулаков
Текст
(Б 1) 5 Н 0109 24 СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИКГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ ССС Р)ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Н 1; ,: .".":.:21 (21) 4801467/21.:. -.: .: . напряженйя ИПН 1,равйцм величине номинальйого (22) 23,01.90 -. - , напряжения ИК 2, и выборЙоминала резистора 3 из (46) 15.12.93 Бюл. Йя 45-46:.: , условия полуения вепвйны постоянной времени . (71) Уральский электромеханический завод".Цепи заряда ИК 2 в пределах 001 - О,1 с 8 ка- (2) Кулаков Вд .".: . честве аномального вида зависимбсти параметров (54) СПОСОБ ОТБРАКОВКИ КОНДЕНСАТОРОВ заряда ИК 2 от времени, заряда использована зави- С ОКСИДНЫМ ДИЭЛЕКТРИКОМ симость превышейиявеличины тока заряда, изме-(57) Изобретение относится к радиоэлектронной ренного спустя 2 с, после вйдачи напряжения ИПН технике и может использоваться при производстве 1 на ИК 2 над велйчиной предельно-допустимого конденсаторов с оксидным диэлектриком. Цель зйачения тока утечки дпя данйого типа конденсатоизобретения - снижение трудоемкости. Источник 1 ра, Ток утечки измеряют М 5 (через 2 с), нажав постоянного напряжения (ИПН) включен поспедо- кнопку 4. Измеренное зйачение тока сравнивают с вательно с испытуемым конденсатором (ИК) 2, ре- табличным для данноготипойоминала конденсатозистором 3 и кнопкой 4, шунтирующей микроам-раибракуют ИК 2,еспиеготокбольше табличного.перметр (М) 5; Новым в способе является набор3 1757367 Ток утечки (мкА) Изобретение относится крадиоэлектронной технике и может быть использованов производстве конденсаторов с оксиднымдиэлектриком,Цель изобретения - снижение трудоемкости.На чертеже изображена электрическаясхема, реалйзующая предложенный способ,Источйик 1 "постоянного напряжениявкл 1 очен последовательно с испытуемым 10койдейсатором 2 через; резистор 3. Кнопка4 (нормально-замкнутая) шунтирует микроамперметр 5,Способ осуществляют следующим образом,:15,Величину напряжения источника 1 постоянного напряжения выбирают равнойвеличйне номинального напряжения испытуемого конденсатора 2, Величину номинала резистора 3 выбирают из условия 20получения величины постоянной временицепи заряда конденсатора 2 в пределах. 0,01-0,1 с. Подключают конденсатор 2 к источнику 1 постоянного напряжения черезрезистор 3 и, спустя 2 с после подачи нарастающего напряжения источника 1 на испытуемый конденсатор 2, измеряют ток,протекающий через конденсатор 2, и сравнивают его с током, приведенным в таблице,Если для данного конденсатора 2 измеренный ток меньше, чем ток, указанный в таблице, конденсатор 2 считают надежным.Данный способ отбраковки конденсаторов основан на следующем.35Через две секунды после начала зарядаконденсатора 2 ток заряда как минимум на3 порядка меньше величины, нормированной для тока утечки любого иэ йзвестныхоксидных конденсаторов. Величина тока 40утечки конденсатора со скрытыми дефектами отличается от тока утечки конденсаторав несколько рэз (этот ток регламентируется. в ТУ, а методика измерения тока оговоренав ГОСТ 21315.3-75). 45 Таким образом, устанавливая зарядный ток конденсатора 2 близким к предельно допустимому (постоянная времени цепи заряда 0,01-0,1 с), диагностическим признаком выбирают величину тока утечки, которая у дефективного конденсатора на 1- 2 порядка больше, чем у бездефектного.В таблице приведены определенные экспериментально на выборке около 300000 шт. разнь 1 х типономинэлов предельные значения токов утечки, используемые для отбраковки конденсаторов К 52-1, К 52-1 б,Пример конкретной реализации.На источнике 1 постоянного напряжения устанавливают нэпряженйе; равное величине номинального напряжения проверяемого конденсатора 2, Последовательно с конденсатором 2 подключают резистор 3, ограничивающий максимальный зарядный ток величиной 1 А (величина сопротивления резистора в Омах равна номинальному напряжению конденсатора в Вольтах), Через 2 с после начала заряда конденсатора 2 нажимают на кнопку 4 и с помощью микроамперметра 5 измеряют ток утечки кондейсатора 2, который не должен превышать величины, указанной в таблице. Конденсаторы, ток утечки которых превышает укэзаннь 1 е значения, бракуют, Реаль- . ный отсев по результатам входного контроля на.предприятии, как правило, не превышает 0,1, но встречается партионный брак, в котором отсев достигает (50- 60)о, Изготовитель в этом случае признает нарушение технологического процесса на стадии "спекэния анодов".Способ обеспечивает снижение трудоемкости отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком по сравнению с прототипом.(56) Авторское свидетельство СССРМ 997113, кл. Н 01 С 9/24, 1981.Авторское свидетельство СССР1 Ф 942183, кл. Н 01 0 9/24, 1980.1757367 Продолжение таблицы ектор Е.Пап п Составитель Техред М.Мо адовнтал Редактор Т,Курко Тираж Подписное НПО "Поиск" Роспатента13035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Заказ 3354 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 1 Ф о р м у л а и 3 о б р е т е н и я: номинального напряжения испытуемогоСПОСОБ ОТБРАКОВКИ КОНДЕНСАТО- конденсатора, величину номинала резисто- РОВ С ОКСИДНЫМ ДИЭЛЕКТРИКОМ; ра выбирают из условияполучения велйчивключающий подачу нарастающего напря-.: ны постоянной времени цепи заряда жения от источника постоянного напряже-: кондейсатора в пределах 0,01 - 0,1 с, а в ния на испытуемый конденсатор; качестве аномального" вйда зависимости соединенный последовательно с источни параметров заряда от времени заряда иском постояйного напряжения через рези-;пользуют зависимость"спревышением вестор, и отбраковку конденсаторов по лйчины тока заряда конденсатора, аномальному виду временной зависимостиизмеренного через 2 с после подачи нара- параметрОв заряда, отличающийся тем;стающего напряжения йа испытуемый кончто, с целью снижения трудоемкости, вели- "0 денсатор, над величиной предельно допучину напряжения источника постоянного стимого значения тока-утечкидля данного напряжения выбирают равной величине типа конденсатора,
СмотретьЗаявка
04801467, 23.01.1990
Уральский электромеханический завод
Кулаков В. Д
МПК / Метки
МПК: H01G 9/24
Метки: диэлектриком, конденсаторов, оксидным, отбраковки
Опубликовано: 15.12.1993
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1757367-sposob-otbrakovki-kondensatorov-s-oksidnym-diehlektrikom.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком</a>
Предыдущий патент: Способ защиты металлического сооружения от электрохимической коррозии и устройство для его осуществления
Следующий патент: Способ заводнения залежи
Случайный патент: Контейнеровоз