Патенты с меткой «отбраковки»

Номер патента: 1329486

Опубликовано: 10.04.1995

Авторы: Ерофеев, Зотов, Неганов, Поздняков, Цветков, Шалаев, Шаткин

МПК: H01J 23/30

Метки: высокочастотного, диэлектрических, опорных, отбраковки, пакета, прибора, свч, стержней

СПОСОБ ОТБРАКОВКИ ОПОРНЫХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СТЕРЖНЕЙ ДЛЯ ВЫСОКОЧАСТОТНОГО ПАКЕТА ПРИБОРА СВЧ, содержащего замедляющую систему и N опорных диэлектрических стержней, включающий измерение характеристик поглощения СВЧ-мощности опорным диэлектрическим стержнем и определение его годности, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности труда и увеличения выхода годных, в макете, содержащем замедляющую систему с N-1 опорными диэлектрическими стержнями, помещенную в цилиндрической обойме со сквозным продольным пазом, определяют затухание G1 СВЧ-мощности, в макет через продольный паз устанавливают один стержень, закрепляют его прижимом ножевого типа, повторно измеряют затухание G2 СВЧ-мощности, а о годности стержня...

Номер патента: 1245094

Опубликовано: 20.05.1999

Авторы: Горюнов, Сергеев, Широков

МПК: G01R 31/26

Метки: мощных, отбраковки, транзисторов

Устройство для отбраковки мощных транзисторов, содержащее клемму для подключения эмиттера испытуемого транзистора, соединенную с выходом стабилизатора тока, клемму для подключения базы испытуемого транзистора, соединенную с общей шиной, клемму для подключения коллектора испытуемого транзистора, вольтметр, измерительный вход вольметра соединен с выходом генератора линейно нарастающего напряжения, а вход синхронизации вольтметра подключен к последовательно соединенным формирователю импульсов и дифференцирующей цепи, отличающееся тем, что, с целью повышения достоверности отбраковки транзисторов, в него введены аналоговый сумматор, генератор низкой частоты, усилитель низкой частоты в...

Номер патента: 1729210

Опубликовано: 27.05.1999

Автор: Сергеев

МПК: G01R 31/26

Метки: отбраковки, транзисторов

Устройство для отбраковки транзисторов, содержащее клеммы для подключения базы, эмиттера и коллектора испытуемого транзистора, источник напряжения питания, генератор тока, образцовый транзистор, два резистора, первые выводы которых соединены соответственно с клеммой для подключения коллектора испытуемого транзистора и с коллектором образцового транзистора, база которого подключена к общей шине устройства и к клемме для подключения базы испытуемого транзистора, клемма для подключения эмиттера которого соединена с выходом генератора тока, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности отбраковки, оно снабжено аналоговым запоминающим устройством, дифференциальным усилителем и...

Номер патента: 1639344

Опубликовано: 27.07.2000

Авторы: Намм, Олешко, Толмачев, Штанько

МПК: H01L 21/66

Метки: а2в6, возбуждением, кристаллов, отбраковки, приборов, растворов, соединений, твердых, электронным

Способ отбраковки кристаллов соединений группы A2B6 и их твердых растворов для приборов с электронным возбуждением, включающий возбуждение кристалла электронным пучком и измерение люминесценции, отличающийся тем, что, с целью повышения экономичности, ускорения и упрощения способа, возбуждение осуществляют электронным пучком в диапазоне плотностей энергий от 0,01 до 0,3 Дж/см2, регистрируют спектры импульсной катодолюминесценции в направлении под острым углом к нормали к поверхности кристалла при различных плотностях энергии электронного пучка, строят зависимость интенсивности катодолюминесценции при произвольно выбранной фиксированной длине волны из области...

Номер патента: 1825155

Опубликовано: 27.08.2002

Авторы: Дмитриев, Новиков, Пиганов, Чернобровин

МПК: G01R 31/26

Метки: биполярных, отбраковки, транзисторов

Способ отбраковки биполярных транзисторов, включающий приложение напряжения питания между коллектором и эмиттером транзистора, измерение тока и сравнение его с допустимым значением, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности способа, между коллектором и эмиттером прикладывают высокочастотное напряжение и увеличивают его амплитуду до лавинообразного открывания транзистора, после чего уменьшают амплитуду высокочастотного напряжения между коллектором и эмиттером транзистора до его лавинообразного выключения, при этом фиксируют амплитуду высокочастотного напряжения между коллектором и эмиттером транзистора, постоянные составляющие тока и напряжения эмиттера и амплитуду...

Номер патента: 1528159

Опубликовано: 27.08.2002

Авторы: Авдошин, Дмитриев, Пиганов, Чернобровин

МПК: G01R 31/26

Метки: дрейфовых, отбраковки, транзисторов

Способ отбраковки дрейфовых транзисторов, включающий подачу напряжения питания, измерение тока в цепи коллектор - эмиттер и сравнение его с эталоном, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности отбраковки, напряжение питания подают высокочастотным и синусоидальным на фиксированной частоте при отключенном базовом выводе транзистора, затем амплитуду высокочастотного синусоидального напряжения питания линейно увеличивают от минимального значения до значения, при котором транзистор скачком открывается, уменьшают амплитуду высокочастотного синусоидального напряжения питания до значения, при котором происходит лавинообразное запирание транзистора, фиксируют амплитуды высокочастотного...

Номер патента: 1646394

Опубликовано: 27.08.2002

Авторы: Дмитриев, Леднев, Миронов, Пиганов, Чернобровин

МПК: G01R 31/26

Метки: дрейфовых, отбраковки, транзисторов

Устройство для отбраковки дрейфовых транзисторов, содержащее генератор высокочастотного синусоидального напряжения, клемму для подключения коллектора испытуемого транзистора и клемму для подключения эмиттера испытуемого транзистора, которая соединена с первым выводом резистора и через конденсатор - с общей шиной устройства, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности отбраковки, оно снабжено управляемым усилителем, генератором треугольного напряжения, детектором, дифференцирующим блоком, инвертором, четырьмя пороговыми блоками, регистром и блоком индикации, при этом выход генератора высокочастотного синусоидального напряжения подключен к входу управляемого усилителя,...

Номер патента: 1536987

Опубликовано: 27.08.2002

Авторы: Буренина, Дмитриев, Пиганов, Чернобровин

МПК: G01R 31/26

Метки: мощных, отбраковки, транзисторов

Устройство для отбраковки мощных транзисторов, содержащее клемму для подключения коллектора испытуемого транзистора, клемму для подключения эмиттера испытуемого транзистора, соединенную с выходом стабилизатора тока и входом дифференцирующей цепи, выход которой подключен к входу блока формирования импульсов, клемму для подключения базы испытуемого транзистора, соединенную с общей шиной, клемму "Пуск" и блок индикации, отличающееся тем, что, с целью повышения достоверности отбраковки, оно снабжено генератором тактовых импульсов, двоичным счетчиком, цифроаналоговым преобразователем, усилителем мощности, двоично-десятичным счетчиком, блок индикации выполнен с дополнительными входами, причем...

Номер патента: 1780441

Опубликовано: 20.12.2005

Авторы: Горчаков, Капитонов, Пиганов, Шопин

МПК: H01C 17/00

Метки: отбраковки, пленочных, резисторов

Устройство для отбраковки пленочных резисторов, содержащее блок измерения величины сопротивления, соединенный с блоком отбраковки, содержащем последовательно соединенные дифференцирующую ячейку и нуль-орган, блок выборки-хранения, компаратор и регистрирующий блок, причем сигнальный вход блока выборки-хранения, второй вход компаратора и вход дифференцирующей ячейки соединены с выходом блока измерения величины сопротивления, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и достоверности отбраковки, в блок отбраковки дополнительно введены последовательно соединенные первый источник опорного напряжения и второй компаратор, второй источник опорного напряжения и третий компаратор и элемент...