Патенты с меткой «ненадежных»

Номер патента: 570129

Опубликовано: 25.08.1977

Автор: Поляков

МПК: G01R 31/26, H01L 21/66

Метки: групповых, испытаний, ненадежных, отбора, потенциально, техники, электронной

...держателями испытуемыхиэделий 5 с формирующими цепочками 6 иштепсельные разъемы 7. Отдельные виткипроводников образуют автономные источники элекчропитания 8, которые через штепсельный разъем и контактное приспособление 9 подсоединены к испытуемому издеРабота устройства происходит следуюшим образом,При вращении ротора-барабана 2 испытуемыми изделиями 5 в витках проводников 3, движущихся в магнитномполе, создаваемом магнитами, установленными вкорпусе 1, действует инуктированная ЭДС.Отдельные витки проводников, вращающиесясовместно с ротором-барабаном в магнитном поле, выполняют роль автономных источников электроэнергии, обеспечивающихэлектропичаннем соответствующие цепи испытуел ыхизделий. Например,при испытаниитранзисторов при...

Номер патента: 1239658

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Барков, Бражникова, Дмитриев, Знаменская, Каленик, Малков, Молодык, Петров, Сизов

МПК: G01R 31/28, H01L 21/66

Метки: кмоп, ненадежных, отбраковки

...загрязненийявлчются основные операции технологического процесса изготовления МОПструктур. Такую же роль, как и загрязняющие примеси, могут играть различные дефекты кристаллической решетки; пустые узлы, дислокации илиЗО сдвиги, возникающие при деформациикристаллов и т,д,Велгячина обратного теплового токав диапазоне температур 50-70"С, обусловленная загрязнениями кристаллаи окисла, зависит как от концентрациипримесей, так и от величины энергиисоответствующей примесному уровню, т,е, виду примесных атомов, Поэтому по величине обратного тепло 40 вого тока в диапазоне температур 50 о,70 С можно судить о наличии загрязнения кристалла, однако из-за разницы в величине Е трудно судить оконцентрации примесей,При 90-120 С приращение обратного...

Номер патента: 1320776

Опубликовано: 30.06.1987

Авторы: Воинов, Кругликов, Ледовской

МПК: G01R 31/00

Метки: ненадежных, непроволочных, отбраковки, потенциально, резисторов

...отбраковкиприборов по качеству,Измерение спектральной плотностимощности низкочастотного шума на частотах Г, и Г, произведенное на малошумящем резисторе нагрузки К, позЬоляет определить коэффициентследующим образом: Деградация резистора связана с изменением его сопротивления и приводит к допусковому отказу. Соответственно и регистрируемая мощность низкочастотного шума также изменяется по за- кону Соотношение (5) устанавливаетсвязь между скоростью деградации сопротивления испытуемого резистора искоростью изменения мощности шума,вьделяющейся на сопротивлении нагрузки,Исследование выражения (5) наэкстремум позволяет определить величину сопротивления резистора нагрузки, на котором скорость изменениямощности шума, вызванная...

Номер патента: 1819352

Опубликовано: 30.05.1993

Авторы: Воронцов, Ильюк, Молчанов, Остапчук, Пенцак, Чекмезов

МПК: G01R 31/26

Метки: кмоп, ненадежных, отбраковки

...близких к 90 ф, Под максимально допустимым током контроля мч здесь подразумевается такой ток, при котором наступает тепловое равновесие; т,е. энергия джоулева тепла, 35 выделяемого нэ контролируемых р-и-переходах, равна энергии отводимого тепла. При превышении энергии разогрева над отводимой р-и-переход разрушается. Предлагаемый метод является неразрушающим; величину эталона, определяющего угол наклона ВАХ на участке развития лавинного процесса для конкретмых типов приборов определяют опытным путем, поскольку пробивное напряжение зависит как от топологических размеров полупроводниковых элементов и их ухода. так и от изменения технологических процессов изготовления ИС, Для этого приборы, от- бракованные нэ первом и втором этапах,...